Jfet 2
Jfet 2
Jfet 2
1 – Structure
Contrairement aux transistors bipolaires dont le fonctionnement repose sur deux types de
porteurs les trous et les électrons, les transistors unipolaires fonctionnent avec un seul type de
charges, les trous ou les électrons. Le transistor à effet de champ à jonction est un premier
exemple de transistor unipolaire.
Sur un substrat (P+) très fortement dopé, on
Source Grille Drain
diffuse une zone dopée N : le canal. Au centre du
dispositif, on diffuse une grille nommée aussi
Mur porte ou gate, dopée P+ reliée au substrat et de
d'isolement part et d'autre de cette grille, deux îlots très
fortement dopées N+ : la source (zone d’entrée
des électrons dans le dispositif) et le drain (zone
P+ de sortie des charges). Il existe aussi des JFET
N+ N+
(acronyme pour Junction Field Effect Transistor)
ayant un canal P qui sont complémentaires des
transistors canal N.
Canal N Pour ces transistors canal P, toutes les tensions et
Fig 1 les courants sont à inverser.
Substrat P+
Le symbole utilisé pour les représenter est donné ci-dessous. Le trait qui correspond au
D D canal est continu. La grille et le canal forment une jonction
PN ; la flèche correspondante est orientée dans le sens passant
G G de cette jonction. Sur les schémas, elle est parfois décalée du
côté de la source.
S S
Canal N Canal P
Fig. 2
2 – Fonctionnement
2.1 – Etude expérimentale
On procède au relevé des caractéristiques en utilisant le montage ci-après. En
fonctionnement normal la jonction grille–canal est polarisée en inverse : le courant d’entrée IG
est très faible et les courants drain et source sont identiques.
Dans le réseau des caractéristiques de sortie ID = f(VDS), on observe quatre zones
différentes. Une zone linéaire dite résistive, un coude, une zone de saturation (ID ≈ constant) et
une zone d’avalanche.
ID ID I DSS Ugs = 0
RG
Ugs = –1,5
mV V G Ugs = –3
VGS VDS
Ugs = –6 U DS
Résis Coude Saturation Avalanche
Fig. 3
-1V -3V
S G D S G D
N+ P+ N+ N+ P+ N+
N N
P+ Substrat P+ Substrat
Fig. 4-a Fig. 4-b
Pour les tensions VDS faibles, le canal se comporte comme une résistance ohmique dont la
valeur est fonction de sa section et donc de la tension inverse entre la grille et la source. Le
JFET est alors équivalent à une résistance commandée par une tension. Pour une valeur VP
suffisamment négative de VGS, la conduction s’annule. On dit que le canal est « pincé » et que
VP est la tension de pincement.
" Zone du coude
0 1 2 La largeur de la zone isolante est également influencée par la
5
tension entre le drain et la source. Du côté de la source sa largeur
S G D
N+ P+ N+ est : e1 = k VGS .
N Du côté du drain, elle est : e2 = k VGD . Quand VDS augmente, la
valeur du courant drain résulte de deux phénomènes compétitifs :
P+ Substrat une croissance liée au caractère ohmique du canal et une
Fig. 5 diminution liée au pincement progressif de ce canal.
3 – Réseaux de caractéristiques
3.1 – Réseau d'entrée
Ig Les transistors JFET doivent uniquement être utilisés avec des
tensions VGS négatives et inférieures à la tension de claquage
inverse.
La caractéristique d’entrée est celle d’une diode polarisée en
inverse. On a donc toujours :
IG = 0
Fig. 6
Les JFET sont caractérisés par une grande dispersion des valeurs des paramètres. Pour un
même type, le courant drain maximum IDSS et la tension VGS de pincement VP peuvent varier
d’un facteur 4 à 5. Ainsi pour un 2N 5459, on note les valeurs suivantes :
4 mA < IDSS < 16 mA et – 2 V > VP > – 8 V.
R E –1,5
RG
VS –3
RS
–6 Ugs = –6
Fig. 8 Ugs Uds
La grille est reliée à la masse par une résistance RG de forte valeur. Comme le courant grille
est nul, le potentiel de grille est nul. Le courant drain produit dans la résistance de source une
chute de tension égale à RS.ID . La tension grille-source vaut donc : VGS = VGM – VSM = –
RS.ID . La grille est bien négative par rapport à la source.
L’équation de la droite d’attaque est : VGS = – RS.ID
et celle de la droite de charge est : VDS = E – (RS + RD).ID
L'intersection de ID = – VGS/RS avec la caractéristique de transfert définit la tension VGS et la
valeur de ID. L’intersection de la droite de charge et de la caractéristique qui correspond à VGS
donne la valeur de VDS.
Si le courant drain augmente, la chute de tension dans la résistance de source augmente ce
qui diminue la conduction du canal et donc le courant drain. Il y a une contre-réaction qui
stabilise le point de fonctionnement.
ρS
E
ZS = S
= < ρS
s.v E 1 + s. ρS
Ce montage est caractérisé par un gain en tension légèrement inférieur à l’unité, une très
grande impédance d’entrée et une impédance de sortie faible. C’est un montage adaptateur
d'impédance.
1 – Structure
MOSFET est un acronyme pour « Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor ».
Les MOSFET ou transistors MOS sont des transistors à effet de champ dont la grille
métallique est totalement isolée du canal par une mince couche isolante d’oxyde de silicium
(SiO2) d’épaisseur voisine de 0,1 µm.
La grille, la couche de silice et le canal constituent un condensateur dont la polarisation
peut modifier la conductivité du canal. Le changement peut résulter soit d’une modification de
la concentration en porteurs majoritaires et l’on a des MOS à canal diffusé ou à déplétion,
soit d’une modification de la concentration en porteurs minoritaires et l’on a alors des MOS à
canal induit ou à enrichissement.
Pour ce type de transistors le courant d’entrée est nul puisque que la grille est isolée. La
résistance d’entrée est toujours supérieure à 1010 Ω.
G B
P
S N
Fig.16
Pour un potentiel VGS nul et sous l’action de la tension drain-source, un courant drain ID
circule dans le canal. Sa section diminue quand on se rapproche du drain. Si VGS est négatif,
on induit par effet capacitif des charges positives dans le canal et donc des recombinaisons : la
population en électrons diminue et la conduction du canal diminue. Le potentiel du canal est
d'autant plus positif que l'on se rapproche du drain. Au contraire, si VGS est positif la zone
appauvrie en porteurs régresse dans le canal et le courant drain augmente. Selon la valeur de la
tension grille-source, le canal est plus ou moins conducteur.
2.2 – Caractéristiques
Pour les tensions VGS positives, il y a un accroissement
Id
Ugs +4V du nombre de porteurs libres dans le canal
(enrichissement) et pour les tensions VGS négatives, on a
+2V
un appauvrissement. L’expression du courant drain est
+0V comme pour un JFET donnée par :
–2V
I D = I DSS
!#1 − V $& 2
" V%
GS
–4V P
Fig. 18
Pour ce type de transistor il n’y a pas de canal créé lors de la fabrication. Pour les tensions
de grille VGB négatives, la jonction drain-substrat est bloquée et le courant drain ID est nul. Les
seuls porteurs libres dans la zone P sont des électrons d’origine thermique. Si VGB est assez
positif, les charges négatives du matériau P se regroupent au voisinage de la grille et forment
une couche conductrice entre le drain et la source. Cette couche se comporte comme une zone
N qui est induite dans la zone P par inversion de la population des porteurs.
La tension de seuil minimale pour induire un canal est notée Vth (th est mis pour threshold
= seuil). Si VGB croît au-delà du seuil, la section du canal augmente et ID croît. Par
construction le substrat est souvent relié à la source et VGB est alors égal à VGS. Sur le symbole
des MOS à canal induit, le canal est représenté par un trait discontinu. Une flèche indique le
sens pour lequel la jonction substrat-canal est passante. Il existe également des transistors
complémentaires dans lesquels le canal induit est de type P.
3.2 – Caractéristiques
Id Les caractéristiques de sortie de ce type de transistor ont
Ugs +8V l’aspect habituel de celles des transistors à effet de
+6V champ.
+4V La caractéristique de transconductance est parabolique et
son équation est de la forme :
+2V ID = K(VGS – Vth)².
Les tensions de commande et de sortie ont cette fois le
Mos canal N induit (enrichissement) Uds même signe : la liaison directe est possible entre les
Fig. 19
étages successifs.
5 – Transistors CMOS
+Vdd Le circuit de base de cette technologie est l’inverseur CMOS.
(P) Si l’entrée est au niveau logique 1 (E = + VDD) le transistor Q1
Q1 (canal P) est bloqué et le transistor Q2 (canal N) est saturé. Le
Entrée
potentiel de la sortie S est donc égal à – VBB qui correspond au niveau
Sortie
logique 0.
A contrario quand l’entrée est au niveau logique 0 (E = – VBB) le
Q2 transistor Q1 est saturé et le transistor Q2 est bloqué. La sortie S est au
(N) potentiel + VDD.
–Vbb
Fig. 21
On réalise ainsi un inverseur logique. En dehors des périodes de transition un seul
transistor est passant et de ce fait aucun courant ne circule entre VDD et VBB.
C’est pour cette raison que la consommation des circuits est
Uem Vdd aussi faible.
0V Lors des périodes de transition, il apparaît une impulsion de
Usm courant entre VDD et VBB. Elle est due à la charge des
condensateurs équivalents aux entrées des transistors suivants.
Si la consommation est pratiquement nulle en basse fréquence
Id1
(fractions de mW), elle croît avec la vitesse de fonctionnement
du circuit. En haute fréquence, la consommation peut devenir
Id2 comparable à celle de circuits réalisés avec des transistors
Fig. 22 bipolaires.
+Vdd
(P)
Il est aussi possible de constituer des amplificateurs avec une paire
Potentiel de de CMOS ; le transistor de type P est polarisé par un potentiel
polarisation
Q1 continu constant appliqué sur sa grille. Il se comporte alors comme
Sortie une résistance qui constitue la résistance de charge du transistor de
type N.
Entrée du
signal La surface occupée sur une puce par un transistor est bien plus faible
Q2
que celle occupée par une résistance d’où l’intérêt du montage.
–Vbb (N)
Fig. 23
6 – Transistors V-MOS
S Dans ce type de transistor à structure verticale, le
G
Silice substrat joue le rôle du drain. Quand la tension VGS est
supérieure à la tension de seuil, un large canal N est
N+
P induit dans la zone P de la rainure du V par inversion
+ de population. Pour ce type de transistor le courant
– +
– + drain peut atteindre plusieurs ampères et contrairement
Canal induit – aux MOS conventionnels la pente est constante et
N (épitaxie) voisine de 0,25 A/V.
De plus ils ont l’avantage d’avoir une dérive
N+ thermique faible. Quand la température augmente leur
courant drain diminue. Il n’y a donc aucun risque
D
d’emballement thermique avec ce type de transistor.
Leur temps de commutation est bref et comme les
Fig. 24 capacités internes sont petites ils sont utilisables
jusqu’à plus de 500 MHz.
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