SERVICIO NACIONAL DE ADIESTRAMIENTO EN TRABAJO INDUSTRIAL

PLAN DE TRABAJO
DEL ESTUDIANTE
 TRABAJO FINAL DEL CURSO

1. INFORMACIÓN GENERAL

Apellidos y Nombres: Ramos ramos Jhan Pierre ID: 001531552

Dirección Zonal/CFP: LIMA-CALLAO
Carrera: Mecatrónica Automotriz Semestre: III
Curso/ Mód. Formativo Calidad total
Tema del Trabajo: Optimización de la Producción de Teléfonos Inteligentes

2. PLANIFICACIÓN DEL TRABAJO

ACTIVIDADES/
N° CRONOGRAMA/ FECHA DE ENTREGA
ENTREGABLES
Descargar el
01 22/05/2024
trabajo
Buscar
02 22/05/2024
información
Transcribir las
03 23/05/2024
preguntas
04 Observar videos 23/05/2024
Responder las
05 24/05/2024
preguntas
06 Entregar la tarea 24/05/2024

3. PREGUNTAS GUIA
Durante la investigación de estudio, debes obtener las respuestas a las siguientes interrogantes:

Nº PREGUNTAS

1 Cuáles son las principales causas subyacentes de los problemas de calidad y las
ineficiencias en el proceso de producción de teléfonos inteligentes en TechElectro?
¿Qué medidas específicas se están implementando para abordar el aumento en el número
2
de defectos, la insatisfacción de los clientes y la ineficiencia en la producción?

¿Cómo se están utilizando las herramientas y técnicas de estadística aplicada a procesos

3
para analizar los datos de producción y tomar decisiones basadas en datos para mejorar la
calidad y la eficiencia?
¿Qué áreas específicas del proceso de producción de teléfonos inteligentes están siendo
4 identificadas como los principales focos de mejora según los análisis realizados por el
equipo de expertos en calidad y procesos?

¿Cuáles son las expectativas de la alta dirección de TechElectro en cuanto a los resultados
5
esperados de la implementación del programa de Calidad Total en términos de mejora de
la calidad del producto y eficiencia en la producción?

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 TRABAJO FINAL DEL CURSO

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 TRABAJO FINAL DEL CURSO

HOJA DE RESPUESTAS A LAS PREGUNTAS GUÍA

1.

Las principales causas subyacentes de los problemas de calidad e ineficiencias en la

producción de teléfonos inteligentes en TechElectro son:

Defectos en Componentes Críticos: Problemas con la calidad de la cámara,

pantalla y batería.

Cadena de Suministro: Retrasos en la entrega de materiales y recepción de

componentes de baja calidad.

Procesos de Producción Ineficientes: Tiempos de producción prolongados y altos

costos operativos.

Fallas en el Control de Calidad: Inspección insuficiente y procesos de pruebas

inadecuados.

Gestión de Producción y Capacitación: Falta de capacitación del personal y

problemas de comunicación entre departamentos.

Problemas de Diseño y Desarrollo de Producto: Diseños deficientes y cambios

frecuentes sin control adecuado.

Recomendaciones:

1. Implementar un sistema de gestión de calidad integral.

2. Optimizar la cadena de suministro.
3. Mejorar los procesos de producción.
4. Capacitar y desarrollar al personal.
5. Revisar y optimizar el diseño del producto.

2.
Inspección Rigurosa:

 Implementación de inspección al 100% de los productos antes de su salida de la línea

de producción.
 Introducción de puntos de control adicionales durante el proceso de producción.

Insatisfacción de los Clientes

1. Soporte al Cliente Mejorado:

o Fortalecimiento del equipo de soporte técnico.
o Creación de más canales para recibir y responder a la retroalimentación de los
clientes.
2. Proceso de Devoluciones Eficiente:
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 TRABAJO FINAL DEL CURSO
o Simplificación del proceso de devoluciones y reembolsos.
o Análisis de devoluciones para identificar patrones y causas comunes de
insatisfacción.

Ineficiencia en la Producción

1. Optimización de Procesos:
o Realización de estudios de tiempos y movimientos.
o Implementación de principios de manufactura ajustada (lean manufacturing).
2. Automatización:
o Inversión en maquinaria y tecnología automatizada.
o Utilización de sistemas de monitoreo en tiempo real para detectar y corregir
ineficiencias.

3.

TechElectro está utilizando herramientas y técnicas estadísticas para mejorar la calidad y la

eficiencia en la producción de teléfonos inteligentes. Las principales medidas incluyen:

Gráficos de Control y Cpk: Monitoreo y evaluación de la variabilidad del proceso para

corregir desviaciones y asegurar el cumplimiento de las especificaciones de calidad.

Diagramas de Pareto y ANOVA: Identificación y priorización de las principales causas de

defectos y análisis de la variabilidad entre grupos de producción.

Metodología Seis Sigma y Diagramas de Ishikawa: Uso de enfoques estructurados para

identificar y eliminar causas de defectos y abordar las raíces de los problemas.

Sistemas de Monitoreo en Tiempo Real y Análisis Predictivo: Detección y corrección

inmediata de problemas, y predicción de futuros problemas de calidad para tomar medidas
preventivas.

Beneficios

Mejora de la Calidad: Reducción de defectos y cumplimiento de los estándares de calidad.

Aumento de la Eficiencia: Optimización de procesos y reducción de costos operativos.

Decisiones Basadas en Datos: Implementación de cambios y mejoras fundamentadas en

análisis estadísticos.

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 TRABAJO FINAL DEL CURSO

4.

El equipo de expertos en calidad y procesos de TechElectro ha identificado varias áreas

específicas del proceso de producción de teléfonos inteligentes como principales focos de
mejora. Estas áreas incluyen componentes internos como la cámara, la pantalla y la batería, el
proceso de ensamblaje, la gestión de la cadena de suministro, el proceso de pruebas y
verificación, la gestión de devoluciones, y la capacitación y desarrollo del personal. Las
medidas implementadas incluyen controles de calidad adicionales, capacitación del personal,
optimización de la gestión de inventarios, simplificación de los procesos de devoluciones y
mejora de las relaciones con proveedores. Estas acciones están diseñadas para reducir la
variabilidad, mejorar la eficiencia y garantizar que los productos cumplan con los estándares
de calidad de la empresa.

5.
Mejora de la Calidad del Producto:

1. Reducción de Defectos: Se espera una disminución sustancial en el número de

defectos en los teléfonos inteligentes, especialmente en componentes críticos como la
cámara, la pantalla y la batería.
2. Cumplimiento de Especificaciones de Calidad: La empresa aspira a cumplir
consistentemente con sus altos estándares de calidad, asegurando que cada producto
entregado satisfaga las expectativas del cliente.
3. Mayor Satisfacción del Cliente: La mejora en la calidad del producto debería
traducirse en una mayor satisfacción del cliente, reduciendo las quejas y las
devoluciones, y fortaleciendo la reputación de la marca.

Aumento de la Eficiencia en la Producción:

1. Reducción de Tiempos de Ciclo: Se espera una optimización de los procesos de

producción, lo que resultará en una reducción de los tiempos de ciclo y una mayor
capacidad de producción.
2. Menores Costos Operativos: La eficiencia mejorada debería conducir a una reducción
en los costos de producción, lo que aumentará la rentabilidad de la empresa.
3. Mayor Flexibilidad y Adaptabilidad: El programa de Calidad Total debería permitir
a TechElectro responder de manera más ágil a cambios en la demanda del mercado y a
nuevas oportunidades de negocio.

6.

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TRABAJO FINAL DEL CURSO

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 TRABAJO FINAL DEL CURSO
PROCESO DE EJECUCIÓN
INSTRUCCIONES: debes ser lo más explícito posible. Los gráficos ayudan a
transmitir mejor las ideas. No olvides los aspectos de calidad, medio ambiente y
SHI.
Calcule la varianza y la desviación estándar del número de defectos por lote.
¿Qué significan estos valores en términos de variabilidad en la producción?

1_Para calcular la varianza y la desviación estándar del número de defectos por

lote, primero necesitamos tener los datos de los defectos por lote. Luego,
utilizaremos estas fórmulas:

1. Varianza (σ²):

σ2=∑i=1n(xi−xˉ)2n\sigma^2 = \frac{\sum_{i=1}^{n}(x_i - \bar{x})^2}{n}σ2=n∑i=1n(xi

−xˉ)2

2. Desviación estándar (σ):

σ=σ2\sigma = \sqrt{\sigma^2}σ=σ2

Donde:

 xix_ixi es el número de defectos en el i-ésimo lote.

 xˉ\bar{x}xˉ es la media del número de defectos por lote.
 nnn es el número total de lotes.

Datos de Defectos por Lote:

Lote Defectos
1 12
2 8
3 9
4 14
5 7

3. Desviación Estándar (σ):

σ=6.8≈2.61\sigma = \sqrt{6.8} \approx 2.61σ=6.8≈2.61

Interpretación:

 Varianza (σ²): 6.8

 Desviación Estándar (σ): aproximadamente 2.61

Estos valores indican la variabilidad en el número de defectos por lote. Una mayor
varianza o desviación estándar implica una mayor dispersión de los datos
respecto a la media. En este caso, una desviación estándar de aproximadamente
2.61 indica que, en promedio, el número de defectos por lote varía

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 TRABAJO FINAL DEL CURSO
aproximadamente 2.61 unidades respecto a la media de 10 defectos por lote. Una
varianza de 6.8 indica que esta variación es moderada.

Suponga que el número de defectos sigue una distribución normal. Estime la

probabilidad de que un lote tenga más de 10 defectos.
4_Datos:

 Media (μ): 10 (defectos por lote)

 Desviación estándar (σ): 2.61 (defectos por lote)

Cálculo:

Para calcular la probabilidad de que un lote tenga más de 10 defectos,

necesitamos estandarizar el valor de 10 en términos de la distribución normal y
luego buscar el área bajo la curva de la distribución normal para valores mayores
que este.

1. Estandarización:

z=X−μσ=10−102.61=0z = \frac{X - \mu}{\sigma} = \frac{10 - 10}{2.61} =

0z=σX−μ=2.6110−10=0

2. Probabilidad acumulada: Utilizando una tabla de distribución normal

estándar o una calculadora, podemos encontrar que la probabilidad
acumulada para z=0z = 0z=0 es aproximadamente 0.5.
3. Probabilidad de más de 10 defectos: La probabilidad de que un lote
tenga más de 10 defectos es el complemento de esta probabilidad
acumulada:

P(X>10)=1−P(X≤10)=1−0.5=0.5P(X > 10) = 1 - P(X \leq 10) = 1 - 0.5 =

0.5P(X>10)=1−P(X≤10)=1−0.5=0.5

Resultado:

La probabilidad de que un lote tenga más de 10 defectos es del 50%.

Interpretación:

Dado que estamos suponiendo una distribución normal para el número de

defectos por lote, esta probabilidad del 50% indica que hay una igual probabilidad
de que un lote tenga más de 10 defectos que de que tenga 10 o menos defectos.

Calcule el índice de capacidad del proceso (Cpk) para evaluar si el proceso de

producción cumple con las especificaciones de calidad establecidas.

5_ Datos:

 Media del proceso (μ): 10 (defectos por lote)

 Desviación estándar del proceso (σ): 2.61 (defectos por lote)
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 TRABAJO FINAL DEL CURSO
 Límite superior de especificación (USL): 10 defectos
 Límite inferior de especificación (LSL): 0 defectos

Fórmula del Cpk:

Cpk=min⁡(USL−μ3σ,μ−LSL3σ)Cpk = \min\left(\frac{USL - \mu}{3\sigma}, \frac{\mu -

LSL}{3\sigma}\right)Cpk=min(3σUSL−μ,3σμ−LSL)

Cálculos:

1. Cálculo de los componentes del Cpk:

USL−μ3σ=10−103×2.61=07.83=0\frac{USL - \mu}{3\sigma} = \frac{10 - 10}{3

\times 2.61} = \frac{0}{7.83} = 03σUSL−μ=3×2.6110−10=7.830=0

μ−LSL3σ=10−03×2.61=107.83≈1.28\frac{\mu - LSL}{3\sigma} = \frac{10 - 0}{3

\times 2.61} = \frac{10}{7.83} \approx 1.283σμ−LSL=3×2.6110−0=7.8310≈1.28

2. Cálculo del Cpk:

Cpk=min⁡(0,1.28)=0Cpk = \min(0, 1.28) = 0Cpk=min(0,1.28)=0

Resultado:

El valor del índice de capacidad del proceso (Cpk) es de 0.

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 TRABAJO FINAL DEL CURSO

lote defectos PORCENTAJE % PORCCENTAJE ACUMULADO

1 12 28 % 28 %
2 8 24 % 52 %
3 9 18 % 70 %
4 14 16 % 86 %
5 7 14 % 100 %

Conclusión

El diagrama de Pareto revela que el lote 4 y el lote 1 son los mayores contribuyentes a los
defectos totales, representando el 52% de todos los defectos. Al centrarse en mejorar estos
lotes, TechElectro puede lograr una reducción significativa en el número total de defectos.

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 TRABAJO FINAL DEL CURSO

DIBUJO / ESQUEMA/ DIAGRAMA

[NOMBRE DEL TRABAJO]

[APELLIDOS Y NOMBRES] [ESCALA]

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 TRABAJO FINAL DEL CURSO

LISTA DE RECURSOS

INSTRUCCIONES: completa la lista de recursos necesarios para la ejecución del trabajo.

1. MÁQUINAS Y EQUIPOS
Máquinas de Ensamblaje Automático
Máquinas de Soldadura por Reflujo
Sistemas de Inspección Óptica Automatizada
Máquinas de Prueba de Baterías

3. HERRAMIENTAS E INSTRUMENTOS
Diagrama de Pareto
Diagrama de Ishikawa
Análisis de la Varianza
Control Estadístico de Procesos

5. MATERIALES E INSUMOS
Lapiz
Cuaderno
Laptop

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