UNIVERSIDADE FEDERAL DE SERGIPE

DEPARTAMENTO DE FÍSICA DO CAMPUS DE ITABAIANA - DFCI

DIFRAÇÃO DE RAIOS X

JOSÉ ALEX VIEIRA DOS SANTOS

Disciplina:
LABORATÓRIO DE FÍSICA MODERNA 2
Turma- 01
Período- 2022.1
PROF. DR. JOSÉ GERIVALDO DOS SANTOS DUQUE

Itabaiana – SE
Novembro de 2022
 1. Resumo

Neste experimento, realizamos um estudo da estrutura fina do átomo de Cobre

(Cu), onde observamos a estrutura fina do átomo por meio da medida de difração
de raios X. Para isso, utilizamos um difratômetro Empyrean da Panalytical com
radiação Cu-𝐾𝛼 (𝜆 = 1,5418 Å), com potência do tubo do raio X de 16 kW
(40𝐾𝑉/40𝑚𝐴) e geometria Bragg-Bretano. A partir da análise dos dados
determinamos os comprimentos de ondas médio para as radiações
características 𝐾𝛼1 e 𝐾𝛼2 do Cobre (Cu), 𝜆1 = (1,5443 ± 0,0001) Å e 𝜆1 =
(1,5482 ± 0,0004) Å, e a diferença de energia entre as radiações 𝐾𝛼1 e 𝐾𝛼2 , ∆𝐸 =
(20 ± 2) eV. Os resultados obtidos quando comparados com os encontrados na
literatura mostraram uma boa concordância.

2. Introdução

Em física atômica, a estrutura fina da raia espectral de um átomo

corresponde ao seu desdobramento (separação) em outras linhas de
frequências próximas, detectáveis através de um espectroscópio de boa
resolução. Esta estrutura pode ser analisada por meio da difração de raios X e
explicada através da teoria da física quântica; devido à quebra parcial da
degenerescência de um nível de energia do modelo de Bohr. A descoberta da
estrutura fina do átomo de hidrogênio concedeu o Nobel de Física à Willis
Eugene Lamb em 1955 [10].

Figura 01: Níveis de energia do raio X mais altos para o átomo de urânio e as transições
permitidas pelas regras de seleção.

Fonte: [1].
 A figura 04 mostra um diagrama de níveis de energia para o átomo de 92U,
incluindo os seus níveis raios X até 𝑛 = 4. Esse diagrama fornece a energia do
átomo quando falta um elétron de números quânticos 𝑛, 𝑙 e 𝑗. A energia desses
níveis aumenta com os valores decrescente de 𝑛, e 𝑙. Assim, o nível de energia
de raio X para 𝑗 = 𝑙 + 1/2 tem energia mais baixa e o nível para a outra
possibilidade, 𝑗 = 𝑙 − 1/2, tem energia mais alta. Em cada transição de níveis,
um fóton de raio X é emitido levando o excesso de energia. A frequência do fóton
está relacionada à energia 𝐸 transportada por ele través da relação usual, 𝐸 =
ℎ𝑣. Contudo, as transições devem obedecer às seguintes regras de seleção para
variação dos números quânticos:

∆𝑙 = ±1
(1)
∆𝑗 = 0, ±1

O diagrama de níveis de energia de raio X da Figura 01, mostra as

transições que obedecem a essas regras de seleção. A totalidade dos raios X
emitidos nessas transições (mais algumas outras observadas pouco
frequentemente e que violam às regras de seleção) constitui o espectro discreto
de raio X de um átomo. Todas as transições da camada 𝐾 produzem linhas das
denominadas séries 𝐾, com 𝐾𝛼 correspondendo à transição para a camada 𝐿,
𝐾𝛽 para a camada 𝑀, etc... Todas as transições da camada 𝐿 produzem linhas
das séries 𝐿, e assim por diante [1]. Dessa forma, o elétron que ocupa a vaga de
a camada K pode vir das camadas L, M, N etc., e, portanto, temos uma série de
linhas de raios X designadas 𝐾𝛼 , 𝐾𝛽 , 𝐾𝛾 etc. Se o estado vago está na camada
L, os elétrons podem cair das camadas M, N etc. dando subir para as linhas de
raios X 𝐿𝛼 , 𝐿𝛽 , etc., e assim por diante.

A forte dependência em 𝑗, característica das camadas internas de todos

os átomos, com exceção daqueles com 𝑍 muito pequeno, é parcialmente devida
ao aumento da intensidade da interação entre o momento de dipolo magnético
do spin (𝑆) e o campo magnético interno do átomo que é gerado pelo momento
angular orbital do elétron (𝐿), interação conhecida como acoplamento spin-órbita
[1]. O módulo do momento angular orbital do elétron tem valores discretos que
são dados por:
 𝐿2 = 𝑙(𝑙 + 1)ℏ2 (2)

em que 𝑙 = 0,1,2,3 …

Além disso, O momento angular orbital 𝐿 também possui uma restrição

em sua direção: o ângulo formado entre 𝐿 e o eixo z não pode aleatório (Figura
02).

Figura 02: Representação do momento angular orbital.

Fonte: [2].

Assim, sua componente 𝐿𝑧 também é quantizada e pode ser expressa por:

𝐿𝑧 = 𝑚𝑙 ℏ (3)

em que 𝑚𝑙 é o número quântico magnético e pode ser igual a 0, ±1, ±2, ±3, … ±
𝑙, ou seja, 𝑚𝑙 pode assumir valores inteiros entre 0 e ±𝑙.

Assim como o momento angular orbital, o momento angular de spin e sua

componente também são quantizados e os valores dos seus módulos são dados
por:

𝑆 2 = 𝑠(𝑠 + 1)ℏ2
(4)
𝑆𝑧 = 𝑚𝑠 ℏ

onde 𝑚𝑙 é o número quântico de spin e tem valor ±1/2, e 𝑠 = 1/2.

Se não existisse a interação spin-órbita, os momentos angulares orbital

(L) e de spin (𝑆) do elétron seriam independentes. Isto é, ambos os vetores
precessionariam aleatoriamente em torno do eixo z, mantendo constantes suas
intensidades e componentes, 𝐿, 𝐿𝑧 , 𝑆, 𝑆𝑧 . Contudo, devido a existência de
ambos, um campo magnético forte, cuja orientação é dada por 𝐿, atua sobre o
elétron atômico e produz um torque sobre seu momento de magnético de spin.
Este torque não muda a intensidade 𝑆, mas faz uma força de acoplamento entre
𝐿 e 𝑆 fazendo a orientação de um depender do outro. Em consequência, esses
vetores descrevem um movimento de precessão em torno de sua soma em vez
de precessionarem em torno do eixo z. Por não precessionarem em torno do
eixo z, as componentes z, 𝐿𝑧 e 𝑆𝑧 , desses vetores, não têm valores constantes.

Figura 03: 𝐋, 𝐒 e 𝐉 para um caso típico de um estado com 𝑙 = 2, 𝑗 = 5/2, 𝑚𝑗 = 3/2.

Fonte: [1].

Essa situação está ilustrada na Figura 3, onde 𝐋 e 𝐒 aparecem

precessionando devido ao acoplamento spin-órbita. O movimento desses
vetores é complexo, mas não muito complexo, pois eles se movem de forma que
sua soma, o momento angular total 𝐉, satisfaz a lei de conservação do momento
angular em mecânica quântica. Isto é, se o átomo estiver no espaço livre, sem
que haja torques agindo sobre ele, seu momento angular total

𝐉=𝐋+𝐒 (5)

mantém uma intensidade constante 𝐉 e uma componente 𝐉𝐳 também constante,

enquanto suas componentes 𝐉𝐱 e 𝐉𝒚 , flutuam em tomo de zero. Os vetores 𝐋 e 𝐒
precessam em torno de sua soma e suas componentes na direção de 𝐉
permanecem constantes de forma que 𝐉 seja constante. Simultaneamente, 𝐉
precessa em torno do eixo dos z, mantendo uma componente 𝐉𝐳 .
 A intensidade e a componente z do momento angular total 𝐉 são
especifìcadas por dois números quânticos 𝑗 e 𝑚𝑗 , de acordo com as condições
usuais de quantização:

𝐽2 = 𝑗(𝑗 + 1)ℏ2
(6)
𝐽𝑧 = 𝑚𝑗 ℏ

onde

1
𝑗=𝑙± e 𝑚𝑗 = −𝑗, −𝑗 + 1, … , +𝑗 − 1, +𝑗 (7)
2

A estrutura fina pode ser observada a partir das informações extraídas da

difração de raios X, onde é possível obter a diferença de energia entre os níveis,
a qual corresponde a energia da radiação característica emitida por elétrons
durante as transições entre os níveis de energia do material que compõe o tubo.

O método mais utilizado para produzir raios X consiste em fazer com que
um elétron de alta energia (gerado no cátodo do tubo catódico) colida com um
alvo metálico (ânodo). Na Figura 04, o fenômeno é mostrado em nível atômico.
Quando esse elétron atinge o alvo (I), um elétron da camada K de um átomo do
material é liberado na forma de fotoelétron (II), fazendo com que haja uma
vacância nessa camada. Para ocupar o espaço deixado por esse elétron, um
outro elétron de uma camada mais externa passa à camada K (III), liberando
energia na forma de um fóton de raio X (IV). A energia desse fóton corresponde
à diferença de energia entre as duas camadas.

Figura 04: A produção de raios X a nível atômico.

Fonte: [5].
 Estudos sobre a geração de raios X mostram que ao aumentar a diferença
de potencial entre os terminais, aumenta-se a intensidade e a faixa de
comprimentos de onda produzidos pelo tubo, Figura 05.

Figura 05: A relação entre a diferença de potencial entre os terminais do tubo e as

intensidades de cada comprimento de onda produzido.

Fonte: [7].

Ao analisar o espectro mostrado acima, nota-se que para voltagens mais

altas, são produzidos certos comprimentos de onda em intensidades bem mais
altas que as demais. Essa é a chamada radiação característica do alvo. Os
demais comprimentos de onda são chamados de radiação branca, pois assim
como a luz branca e o ruído branco, é formada por vários comprimentos de onda.
Usa-se também o termo “bremsstrahlung” (do alemão “radiação de frenamento”).
Assim, observa-se que quanto mais se aumenta a diferença de potencial (cada
curva mostrada ao lado representa o espectro para uma determinada voltagem),
mais a radiação característica se destaca em relação à radiação contínua,
possibilitando a utilização de um comprimento de onda pré-determinado [5].

O comportamento do espectro de raios X é explicado através das

transições de níveis atômicos de energia. Para cada diferente transição de níveis
de energia, um comprimento de onda diferente é emitido. A radiação 𝐾𝛼1 (Figura
06), é produzida quando um elétron transita da camada LIII para a camada K,
enquanto a radiação 𝐾𝛽1 é gerada quando o elétron transita da camada MIII para
K [5].
 Figura 06: Níveis de energia e emissões de radiação referentes a cada transição.

Fonte: [6].

O estudo da difração dos raios-X em cristais se deu com Laue a partir de

1912. Dos experimentos de Röntgen, Laue sabia que o comprimento de onda
dos raios-x era da ordem do espaçamento entre os átomos em um cristal. Logo,
um cristal serviria como uma grade ideal para a difração dos raios-x.
Experimentos foram feitos para detectar o fenômeno, e em 1912 Laue conseguiu
obter o primeiro diagrama de difração, utilizando o sulfato de cobre [5].

Quando um feixe de raios X incide sobre um átomo ocorre o espalhamento

da radiação em todas as direções. Porém, a interferência construtiva dos raios
X espalhados por um conjunto de átomos, caracteriza o padrão de difração para
um determinado material. Se considerarmos feixes de raios X paralelos entre si,
incidindo sobre planos atômicos também paralelos, separados por uma distância
𝑑, a diferença de caminho percorrido pelos feixes incidentes e difratados será
dada por 2𝑑𝑠𝑖𝑛(𝜃) [4].Dessa forma, para que haja uma interferência construtiva
das ondas espalhadas, é necessário que seja obedecida a condição mostrada
abaixo (onde θ é o ângulo de incidência):

𝑚𝜆 = 2𝑑 sin 𝜃 (8)

em que 𝑚 é o número de ordem de um dos máximos de intensidade (em geral

utiliza-se 𝑚 = 1) e 𝜃 é o ângulo de Bragg. A relação acima é conhecida como lei
de Bragg.
 Figura 07:Representação da difração de raios X segundo Bragg.

Fonte: [3].

A menor estrutura usada para representar um cristal é a célula unitária,

isto é, um cristal é formado por diversas células unitárias arranjadas
tridimensionalmente (esse arranjo é também chamado de rede cristalina).
Existem células unitárias com sete tipos de simetria: cúbica, tetragonal,
ortorrômbica, romboédrica (ou trigonal), hexagonal, monoclínica e triclínica. O
que diferencia esses tipos de células unitárias é a relação parâmetros de rede
definem a célula unitária da seguinte forma: 𝑎, 𝑏 𝑒 𝑐 indicam o comprimento dos
três eixos, enquanto 𝛼, 𝛽 𝑒 𝛾 são os três ângulos existentes em um vértice da
célula. A figura a seguir mostra as sete células unitárias e seus parâmetros de
rede [5]:

Figura 08: Sistema cristalino e seus respectivos parâmetros de rede.

Fonte: [5].

Com base nesses sete sistemas podemos obter as 14 redes de Bravais,

que foi descoberto pelo cristalógrafo A. Bravais em 1848, que são conhecidos
como redes de Bravais, como mostrado abaixo [5]:
 Figura 09: Representação das 14 redes de Bravais.

Fonte: [5].

A representação do plano cristalino é feita no espaço recíproco, em que

utilizamos três índices h, k e l, conhecidos com índices de Miller. Os índices de
Miller são usados para nomear esses planos e são definidos como sendo o
inverso do valor em que o plano corta os eixos convencionais [5].

A distância interplanar, o parâmetro de rede e os índices de Miller, estão

relacionados em uma expressão matemática em que permite determinar a
distância interplanar de cada estrutura cristalina (tabela 01).

Tabela 01: Equações para as distâncias entre os planos atômicos em termos dos parâmetros
de rede e dos índices de Miller.

Sistema Cristalino Distância interplanar

1 ℎ2 + 𝑘 2 + 𝑙 2
Cúbico 2 =
𝑑ℎ𝑘𝑙 𝑎2
1 ℎ2 𝑘 2 𝑙 2
Tetragonal 2 = + +
𝑑ℎ𝑘𝑙 𝑎2 𝑏2 𝑐 2
1 ℎ2 + 𝑘 2 + 𝑙 2 𝑙 2
Ortorrômbico 2 = + 2
𝑑ℎ𝑘𝑙 𝑎2 𝑐
1 4 ℎ2 + ℎ ∙ 𝑘 + 𝑘 2 𝑙2
Hexagonal 2 = ( ) +
𝑑ℎ𝑘𝑙 3 𝑎2 𝑐2
1 1 ℎ2 𝑘 2 sin2 𝛽 𝑙 2 2 ∙ ℎ ∙ 𝑙 ∙ cos 𝛽 𝑙2
Monoclínico 2 = ( + + + ) +
𝑑ℎ𝑘𝑙 sin2 𝛽 𝑎2 𝑏2 𝑐2 𝑎∙𝑐 𝑐2
 ℎ2 ∙ 𝑏2 ∙ 𝑐 2 ∙ sin2 𝛼 + 𝑘 2 ∙ 𝑎2 ∙ 𝑐 2 ∙ sin2 𝛽
1 1 +𝑙 ∙ 𝑎 ∙ 𝑏 ∙ sin2 𝛾 + 2 ∙ ℎ ∙ 𝑘 ∙ 𝑎 ∙ 𝑏 ∙ 𝑐 2 ∙ (cos 𝛼 ∙ cos 𝛽 − cos 𝛾 )
2 2 2
Triclínico 2 = 2
𝑑ℎ𝑘𝑙 𝑉 +2 ∙ 𝑘 ∙ 𝑙 ∙ 𝑎2 ∙ 𝑏 ∙ 𝑐 ∙ (cos 𝛽 ∙ cos 𝛾 − cos 𝛼 )
[ +2 ∙ ℎ ∙ 𝑙 ∙ 𝑎 ∙ 𝑏2 ∙ 𝑐 ∙ (cos 𝛼 ∙ cos 𝛾 − cos 𝛽 ) ]
Fonte: [5].

Neste experimento iremos investigar a estrutura cristalina da amostra de

Si, e determinar os parâmetros de rede do cobre.

3. Objetivos

Neste experimento, nosso objetivo é investigar a estrutura cristalina da

amostra de Si usando difração de raios X e identificar as radiações
características 𝐾𝛼 e 𝐾𝛽 . Além disso, determinar os parâmetros de rede e estudar
a estrutura fina (interação spin-órbita) do cobre.

4. Materiais Utilizados

• Almofariz de ágata;
• Porta amostra;
• Graxa de silicone;
• Espátula;
• Difratômetro

A figura abaixo mostra os materiais utilizados no experimento.

Figura 10: Materiais utilizados no experimento de espectro dos elementos.

Fonte: Próprio autor.

 5. Procedimento Experimental

Nesse experimento utilizamos um difratômetro Empyrean da Panalytical

com radiação Cu-𝐾𝛼 (𝜆 = 1,5418 Å), com potência do tubo do raio X de 16 kW
(40𝐾𝑉/40𝑚𝐴) e geometria Bragg-Bretano. Essa geometria permite que um feixe
monocromático incidente na amostra rotacionada em ângulo 𝜃 enquanto os
dados são coletados por um detector que se move em 2𝜃.

Inicialmente, foi necessário preparar a amostra. Então, trituramos o silício

cristalino sólido utilizando o almofariz até obter um pó bem fininho. Em seguida,
colocamos uma pequena quantidade do pó obtido em um porta amostra, que no
nosso caso também é de silício. Para fixar o pó no porta amostra adicionamos
uma pequena quantidade de graxa espalhada de forma uniforme no centro do
porta amostra. Após, colocamos o porta amostra em um suporte de metal
higienizado com álcool e o levamos ao difratograma. Então, programamos as
condições de medida no programa que manipula a máquina. Para essa amostra
a mediada de difração de raio X foi realizada em um intervalo angular (2𝜃) entre
15° e 120°, com uma variação (passo) de 0,006° e intervalo de tempo de 100 s.
Ao final da medida o difratômetro nos forneceu o difratograma da amostra (Figura
11).

O segundo passo consistiu no estudo deste difratograma no programa

Origin. O tipo do arquivo que o difratômetro nos fornece não abre no Origin.
Assim, temos que fazer uma convenção no tipo do arquivo, isso foi feito usando
o programa ConvX. Mudamos do arquivo tipo Philips PC RD para o ASCII
2theta,I com extensão .dat. Sendo possível abrir este novo arquivo no Origin.
Após converter o arquivo, plotamos um gráfico da intensidade dos picos em
função de 2𝜃, e identificamos os picos correspondentes às radiações
características. Então, utilizando o programa mencionado, realizamos o ajuste
não linear utilizando a função de Lorentz para os picos cuja separação entre as
radiações 𝐾𝛼1 e 𝐾𝛼2 podiam ser distinguidas, e coletamos as posições angulares
fornecida para cada pico expressas em 2θ, e suas respectivas incertezas.

A fim de obter os parâmetros de rede e os índices de Miller

correspondentes a cada pico, realizamos o refinamento Rietveld utilizando o
programa DBW, usando como padrão a ficha cristalográfica do silício (Si),
presente na referência [6]. Então, a partir do refinamento coletamos os índices
de Miller, os valores dos parâmetros de rede e o tipo de rede cristalina, cúbica
de face centrada. Os resultados dos parâmetros de rede correspondente ao
silício obtidos foram de 𝑎 = 𝑏 = 𝑐 = (5,444 ± 0,003)Å.

Como o gráfico é dado em 2θ, precisamos determinar a posição angular

de cada pico dividindo por dois o valor fornecido pelo gráfico. Além disso, como
vamos trabalhar com funções trigonométricas, devemos converter os valores
obtidos para radianos. A incerteza do ângulo é igual a incerteza obtida no ajuste
dividida por dois, também em radianos. Os dados estão apresentados na tabela
01.

6. Resultados e Discussão

O gráfico a seguir mostra o difratograma obtido através da medida de

difração de raios X (usamos os índices de Miller para nomear os picos). A partir
do gráfico podemos identificar as radiações características, 𝐾𝛼1 e 𝐾𝛼2 .

Figura 11: Padrão de difração obtido para a amostra de Si.

 Como já foi mencionado, o padrão obtido é único para cada material, ou
seja, o difratograma é tido como uma impressão digital do material. Assim,
podemos identificar a sua composição por meio da análise do seu difratograma.
Os picos do espectro correspondem à interferência construtiva. Analisando o
padrão obtido podemos observar que os picos correspondentes a 𝐾𝛼1 e 𝐾𝛼2 só
são distinguíveis para altos valores do ângulo.

A partir da análise do gráfico verificamos que as radiações 𝐾𝛼1 e 𝐾𝛼2 são

responsáveis pela duplicação dos picos nos espectros. Nota-se que, quando ∆𝜃
é muito menor do que a largura a meia altura, não há separação entre os picos;
quando ∆𝜃 é da mesma ordem de grandeza da largura a meia altura já é possível
separar os dois picos e se ∆𝜃 é muito maior que a largura a meia altura os picos
podem ser totalmente distinguidos.

Os comprimentos de ondas correspondentes a 𝐾𝛼1 e 𝐾𝛼2 , são originados

a partir dos dois valores de 𝑗, quando 𝑙 = 1. Assim, a análise de estrutura fina
nos permite separar as radiações características. E dentro desta, tem vários
comprimentos de ondas, pois as transições que são originadas da camada K
para a camada L tem dois valores de 𝑗 que possibilita essa transição, 𝑗 = 1/2 e
𝑗 = 3/2. Uma vez que a camada K ficou com uma vacância, já que o elétron
desacelera no alvo de cobre. Como o átomo no estado de vacância apresenta
menor energia, os demais elétrons querem preenchê-lo, e ao transitar, liberam
energia na forma de um fóton de raio X. Com isso, essa vacância que ficou é
preenchida pelos elétrons das camadas mais externas. Contudo, para que essa
transição ocorra é necessário a obediência da regra de seleção imposta pela
equação (1). Portanto, considerando a distribuição eletrônica para o Cobre,
teremos:

1𝑠 2 2𝑠 2 2𝑝6 3𝑠 2 3𝑝6 4𝑠 1 3𝑑10

Os valores de 𝑙 correspondem as terminologias, 𝑠 (𝑙 = 0), 𝑝 (𝑙 = 1), 𝑑 (𝑙 =

2), … assim, utilizando a regra de seleção, só podem ocorrer transições das
subcamadas 2𝑝 e 3𝑝 para a subcamada 1𝑠, o que corresponde ao estado com
𝑛 = 1 e 𝑙 = 0.
 Com o objetivo de determinar as distâncias interplanares (𝑑), coletamos
os índices de Miller e os valores dos parâmetros de rede obtidos no refinamento.
Também coletamos o tipo de rede cristalina, cúbica de face centrada, para saber
a expressão a ser utilizada para determinar as distâncias interplanares. A tabela
abaixo mostra os valores índices de Miller e os valores dos ângulos referentes a
cada pico com suas respectivas incertezas.

Tabela 01: Valores dos ângulos e índices de Miller referente a cada pico.

HKL (𝜃 ± 𝛿𝜃 ) rad

004 0,603267(2)
004 0,60496(1)
133 0,666508(2)
133 0,668449(7)
224 0,768217(3)
224 0,770614(7)
333 0,828631(3)
333 0,831510(7)
044 0,931219(7)
044 0,93458(1)
135 0,995663(6)
135 0,99952(1)

A partir desses dados calculamos a distância entre os planos referente a

cada pico, distância interplanar (𝑑), com sua respectiva incerteza. Para isso
usamos as equações (9) e (10). Os resultados estão apresentados na tabela 02.

1
𝑑ℎ𝑘𝑙 = √ ∙𝑎 (9)
ℎ2 + 𝑘 2 + 𝑙2

1
𝜎𝑑ℎ𝑘𝑙 = √ ∙𝜎 (10)
ℎ2 + 𝑘 2 + 𝑙 2 𝑎
 Tabela 02: Valores das distâncias interplanares e suas respectivas incertezas.

hkl (𝑑 ± 𝛿𝑑 ) Å

004 1,361(1)
004 1,361(1)
133 1,2489(9)
133 1,2489(9)
224 1,1113(8)
224 1,1113(8)
333 1,0477(8)
333 1,0477(8)
044 0,9624(7)
044 0,9624(7)
135 0,9202(7)
135 0,9202(7)

A partir dos dados da tabela 02, calculamos o comprimento de onda para

as radiações características 𝐾𝛼1 e 𝐾𝛼2 referente a cada pico. Os resultados estão
apresentados na tabela 03.

O comprimento de onda é dado por:

2𝑎 sin 𝜃
𝜆= (11)
√ℎ2 + 𝑘 2 + 𝑙 2

A incerteza do comprimento de onda é dada por:

2
𝜕𝜆 2𝑎 cos 𝜃
𝜎𝜆 = √( )
𝜎𝜃 = ∙ 𝜎𝜃 (12)
𝜕𝜃 √ℎ2 + 𝑘 2 + 𝑙 2

Tabela 03: Valores dos comprimentos de onda e suas respectivas incertezas.

hkl (𝜆 ± 𝛿𝜆 ) Å

004 1,5443(3)
004 1,548(2)
133 1,5443(2)
133 1,5481(8)
224 1,5443(3)
 224 1,5481(6)
333 1,5443(3)
333 1,5484(6)
044 1,5443(4)
044 1,548(1)
135 1,5443(3)
135 1,5482(6)

A partir dos resultados apresentados na tabela 03, determinamos os

valores médios do comprimento de onda para as radiações características 𝐾𝛼1 e
𝐾𝛼2 do Cobre (Cu), e suas respectivas incertezas. Para isso usamos as equações
apresentadas a seguir.

A média é dada por:

∑𝑛𝑖=1 𝜆𝑖 (13)
𝜆̅ =
𝑛

O desvio padrão e a incerteza do tipo A são dados por:

∑𝑛𝑖=1(𝜆𝑖 − 𝜆̅)²
𝜎=√ (14)
𝑛−1

𝜎
𝜎𝐴 = (15)
√𝑛

A incerteza do tipo B é dada pela propagação da Eq. 17, isto é:

2 2 2
1 𝜕𝜆̅ 𝜕𝜆̅ 𝜕𝜆̅ (16)
𝜎𝐵 = √ ( 𝜎 ) +( 𝜎 ) + ⋯+ ( 𝜎 )
𝑛 𝜕𝜆1 𝜆1 𝜕𝜆2 𝜆2 𝜕𝜆𝑛 𝜆𝑛

ou

1 2 2 2
𝜎𝐵 = √(𝜎𝜆1 ) + (𝜎𝜆2 ) + ⋯ + (𝜎𝜆𝑛 ) (17)
𝑛

Assim, a incerteza do tipo C é dada por:

𝜎𝐶 = √(𝜎𝐴 )2 + (𝜎𝐵 )2 (18)

 Os valores obtidos foram:

𝜆1 = (1,5443 ± 0,0001)Å e 𝜆1 = (1,5482 ± 0,0004)Å .

A partir da Eq. 19 obtivemos a energia para as radiações características

𝐾𝛼1 e 𝐾𝛼2 do Cobre (Cu), e através da Eq. 20 determinamos as respectivas
incertezas.

ℎ𝑐
𝐸= (19)
𝜆̅

2
𝜕𝐸 ℎ𝑐
𝜎𝐸 = √( 𝜎̅𝜆 ) = 2 𝜎̅
𝜆 (20)
𝜕𝜆̅ (𝜆̅ )

Os valores de energia obtidos são:

𝐸1 = (8 049,7 ± 0,7) eV e 𝐸2 = (8 029 ± 2)eV

Usando a Eq. 21 Calculamos a diferença de energia entre as radiações

características 𝐾𝛼1 e 𝐾𝛼2 do Cobre (Cu), e através da Eq. 22 determinamos sua
incerteza.

ℎ𝑐 ℎ𝑐
𝑓 = ∆𝐸 = − (21)
𝜆1̅ 𝜆̅2

2 2
𝜕𝑓 𝜕𝑓 ℎ𝑐 ℎ𝑐
𝜎∆𝐸 = √( 𝜎𝜆̅1 ) + ( 𝜎𝜆̅2 ) = ∙ 𝜎𝜆̅1 + ∙ 𝜎̅ (22)
𝜕𝜆̅1 𝜕𝜆̅2 (𝜆1̅ )² (𝜆̅2 )² 𝜆2

Substituindo os valores nas equações 15 e 16, obtemos:

∆𝐸 = (20 ± 2) eV

A partir desses resultados podemos verificar que a medida de difração de

raios X nos permite observar a estrutura fina dos átomos. Por meio da análise
do padrão de difração obtido, foi possível observar que os picos em maior ângulo
apresentam uma separação, o que evidencia a estrutura fina na distribuição de
energia, representando as transições de estados quânticos de camadas
atômicas diferentes, de 𝑛 = 2 e 𝑗 = 1/2 e 𝑛 = 1 e 𝑗 = 1/2.
 7. Conclusão

Neste experimento, realizamos um estudo da estrutura fina do átomo de

Cobre (Cu), onde observamos a estrutura fina do átomo por meio da medida de
difração de raios X. Observamos que a separação entre os picos de difração
torna-se mais evidente para maior ângulo na figura de difração, representando
transições de estados quânticos de camadas atômicas diferentes, 𝑛 = 2 e 𝑗 =
1/2 e 𝑛 = 1 e 𝑗 = 1/2. Também determinamos os parâmetros de rede de uma
amostra de silício, a partir do método de difração de raios X em pó, produzido
por um tubo de raios X de Cobre, e obtivemos as distâncias interplanares. Além
disso, determinamos os comprimentos de onda médio para as radiações
características 𝐾𝛼1 e 𝐾𝛼2 do Cobre (Cu), 𝜆1 = (1,5443 ± 0,0001) Å e 𝜆1 =
(1,5482 ± 0,0004) Å. A diferença de energia entre as radiações 𝐾𝛼1 e 𝐾𝛼2 foi de
∆𝐸 = (20 ± 2) eV.

8. Referências Bibliográficas

[1] – EISBERG, R., RESNICK, R., Física Quântica: átomos, moléculas,

sólidos, núcleos e partículas. Elsevier, Rio de Janeiro, p.135-137, 1979.

[2] – ALONSO, M., FINN, J.E., Física Vol. III (em espanhol): Fundamentos
Quânticos e Estatísticos.

[3] – HALLYDAY, David; RESNICK, Robert; Fundamentos de Física – Óptica

e Física Moderna; vol. 4.; LTC; Rio de Janeiro; 2016.

[4] – YOUNG, Hugh D.; FREEDMAN, Roger A.; Física II, Sears e Zemansky –
Ótica e Física Moderna; vol. 4.; Pearson Education do Brasil; São Paulo; 2016.

[5] – BLEICHER, L.; Sasaki, J. M.; Introdução à difração de raios X em cristais.

Ceará, setembro de 2000. (Apostila).

[6] – Disponível em: http://fisica.ufpr.br/varalda/files/Difracao_Raios-

x_Lab_Moderna_Varalda.pdf. Acesso em: 05 de set. 2022.