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    Utilisation de L'analyse V I

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    Utilisation de l'Analyse v I

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    Utilisation et interprétation de

    l’analyse V/I

    ZI Toul Europe secteur B


    54200 TOUL
    Tél. : 03.83.43.85.75
    Email : [email protected]
    www.deltest.com
    Utilisation et interprétation de l’analyse V/I

    Utilisation du Test V/I

    Le test V/I est une excellente technique pour trouver des pannes sur des cartes
    électroniques, c’est d’autant plus probant lorsque la documentation et les schémas sont
    inexistants. Lorsque vous faites des tests V/I, la carte doit être libre de potentiel, non
    alimentée. Cette technique est d’autant plus efficace lorsque vous avez la possibilité
    d’avoir deux cartes (une carte étalon et une carte défectueuse).
    Un courant constant et un signal alternatif sont appliqués entre chaque patte et la
    masse du composant à tester. On obtient alors l’affichage d’une caractéristique de
    l’impédance où l’axe X représente la tension, l’axe Y le courant.

    A partir de la relation : (Zl = Vl/Il) vous voyez donc que la caractéristique représente
    l'impédance du composant sous test. Le stimulus est habituellement un signal sinusoïdal.
    Pour les composants sensibles aux fréquences telles que capacités et inductances,
    l'impédance est fonction de la fréquence utilisée. En conséquence, une fréquence
    variable pour le stimulus est nécessaire pour ces types de composants. Il est à
    remarquer, aussi, que la résistance (impédance source) de limitation de courant forme,
    avec le composant sous test, un pont diviseur de tension. Pour obtenir une trace
    correcte, l'impédance source doit être de la même grandeur que l'impédance du
    composant sous test à la fréquence considérée. C'est ainsi qu'il est nécessaire pour
    cette technique d'avoir une gamme très large d'impédance source pour le test de
    nombreux et divers composants.

    Il n'est pas nécessaire d'être un spécialiste de cette technique pour pouvoir l'utiliser
    correctement.

    Copyright  2006 DELTEST


    Utilisation et interprétation de l’analyse V/I

    Comprendre les affichages

    Bien que parfois les signatures soient complexes, il n'est pas nécessaire de les
    interpréter pour pouvoir le utiliser cette technique de l’analyse V/I. La comparaison
    entre signature étalon et réelle obtenue sur la carte en test, permet la plupart du
    temps d’identifier les pannes avec un minimum de connaissances. Rappelez-vous que la
    caractéristique V/I est la résultante de tous les composants connectés au noeud sous
    test.

    Différents composants dans différentes configurations, produiront différentes


    signatures. Par exemple, un court-circuit affichera une ligne verticale, car en théorie le
    courant est infini (voir ci-dessous), alors qu'un circuit ouvert affichera une ligne
    horizontale, car il n'y a dans ce cas aucun courant (voir ci-dessous).

    Open Circuit: Short


    Circuit:

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    Utilisation et interprétation de l’analyse V/I

    Une résistance pure donnera une ligne diagonale, car le courant est proportionnel à la
    tension appliquée.
    Les signatures V/I des résistances pures sont des droites (voir Diagramme 1). La
    valeur de la résistance sous test affecte la pente de la droite; plus la valeur sera
    importante, plus la droite se rapprochera de l'horizontale (circuit ouvert). La
    résistance source de l'ASA (Analyse de Signature Analogique) doit être choisie afin
    d'obtenir, pour une bonne résistance, une droite la plus proche possible des 45°. En
    mode comparaison, une différence entre la pente de deux résistances indique une
    différence de valeur des résistances sur les deux cartes.

    Diagram 1: Diagram 2:

    820 Ohm Resistor 0.47uF Capacitor


    SETTINGS SETTINGS
    Frequency : 1.2kHz Frequency : 4.8kHz
    Source Impedance : 1k Ohms Source Impedance : 100 Ohms
    Curve : sine wave Curve : sine wave
    Voltage : 10V peak to peak Voltage : 2V peak to peak

    Les condensateurs de faibles valeurs ont des signatures elliptiques presque plates et
    horizontales, alors que pour les fortes valeurs les signatures seront toujours elliptiques
    et plates, mais verticales. La signature optimale doit être proche d'un cercle (voir
    Diagramme 2), lequel peut être obtenu en choisissant la fréquence et l'impédance
    source les plus appropriées. Typiquement, une grande capacité demandera une
    fréquence et une impédance source de faibles valeurs. Un condensateur avec un
    courant de fuite, donnera une courbe inclinée due à l'effet de la résistance effective
    en parallèle avec la capacité (voir courbe rouge sur diagramme 2).

    Copyright  2006 DELTEST


    Utilisation et interprétation de l’analyse V/I

    Les signatures des inductances sont elliptiques ou circulaires, mais montrent parfois
    une hystérésis (voir Diagramme 3). Les inductances de grande valeur ont des
    signatures elliptiques plates presque horizontales similaires à celles des condensateurs.
    La signature optimale est un cercle parfait. Les inductance munie d’une ferrite par
    exemple, ne pourront peut être pas être ajustées, car des inductance de même valeur
    peuvent donner des signatures différentes en fonction des matériaux (ferrite, fer,
    cuivre, etc ...). Habituellement, les inductances nécessitent une impédance source de
    faible valeur et une fréquence élevée pour pouvoir afficher une signature elliptique.

    Une inductance ouverte peut être facilement détectée par comparaison d’une carte
    étalon par rapport à une carte en panne, c’est une panne fréquente sur des cartes avec
    des composants CMS.

    Diagram 3: Diagram 4:

    10mH Inductor 1N4148 Diode


    SETTINGS SETTINGS
    Frequency : 1.2kHz Frequency : 60Hz
    Source Impedance : 100 Ohms Source Impedance : 1k Ohms
    Curve : triangle wave Curve : sine
    Voltage : 4V peak to peak Voltage : 6V peak to peak

    La signature d'une diode peut être facilement identifiée (voir Diagramme 4). La partie
    verticale de la signature indique la partie "bias" inverse, la tension "turn-on" et la
    tension inverse "drop" peuvent être facilement identifiées. La partie horizontale de la
    signature est la région de la tension inverse de non conduction de la diode qui est
    effectivement en circuit ouvert. Les diodes défectueuses peuvent facilement être
    identifiées par une déviation de leurs caractéristiques. Par exemple, une diode ayant un
    courant de fuite inverse significatif aura une partie de la signature en diagonale dans la
    région inverse, similaire à une résistance.

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    Utilisation et interprétation de l’analyse V/I

    Les diodes Zener conduisent dans les deux parties de la signature. La caractéristique
    de courant inverse est similaire à celle d’une diode (voir ci-dessous). La caractéristique
    dans la direction inverse est aussi similaire à une diode jusqu'à ce que le "break-down"
    ou (la tension Zener) soit atteint, à partir duquel le courant croît rapidement (voir
    Diagramme 5). La tension de test doit être supérieure à celle de la tension Zener pour
    obtenir une signature correcte.

    Diagram 5: Diagram 6:

    BZX55C5V1 Zener Diode PNP Transistor


    SETTINGS SETTINGS
    Frequency : 60Hz Frequency : 120Hz
    Source Impedance : 1k Ohms Source Impedance : 1k Ohms
    Curve : sine Voltage : 4V peak to peak
    Voltage : 20V peak to peak Pulse Type : Bipolar : (V+ 0.12) (V- -
    0.7V)
    Positive start : 0us stop : 4.18ms
    Negative start : 4.18ms stop : 8.33ms

    Les transistors bipolaires NPN et PNP ont des signatures similaires aux diodes (voir
    Diagramme 4) lors du test entre les jonctions base/collecteur et base/émetteur. Si
    vous testez entre collecteur et émetteur, la signature apparaîtra comme un circuit
    ouvert. Le générateur d'impulsions peut être utilisé pour appliquer une tension "bias",
    via une résistance correcte, sur la base du transistor afin d'observer la commutation
    du transistor (voir Diagramme 6). Le générateur d'impulsions peut aussi être utilisé
    pour déclencher des composants de types triacs et thyristors.

    Résumé
    Afin d'utiliser le test V/I dans toutes ces possibilités comme outils de diagnostic, il
    est important de se focaliser sur les différences des signatures entre carte bonne et
    la carte suspecte, plutôt que d'essayer d'analyser en détail le pourquoi et le comment
    de ces différences. La majorité des noeuds d'une carte tiendra compte des
    combinaisons de composants en parallèle et en série, rendant ainsi l'analyse complexe.

    Copyright  2006 DELTEST


    Utilisation et interprétation de l’analyse V/I

    Paramètres ASA suggérés


    Il y a une multitude de combinaisons possibles de tous les paramètres de l'ASA
    pouvant être définis par l'utilisateur. Cette flexibilité permet de tester une très large
    gamme de composants pouvant présenter, parfois quelques difficultés pour un
    utilisateur inexpérimenté. Les tableaux ci-après, indiquent les paramètres de test
    typiques pour certains types de composants. Ces tableaux peuvent être utilisés pour
    obtenir très rapidement une signature caractéristique représentative pour un
    composant donné.

    Condensateur (Tension = 4V c/c, courbe = Sinus)


    Gamme Fréquence de test Impédance source
    100µF – 1000µF 37.5Hz – 100ΩΩ
    10µF – 100µF 37.5Hz - 300Hz 100ΩΩ
    1µF – 10µF 37.5Hz - 300Hz 1kΩΩ
    10nF - 1000nF Ω
    37.5Hz - 2.4kHz 10kΩ
    1nF - 10nF Ω
    37.5Hz - 2.4kHz 100kΩ
    0.1nF - 1nF 37.5Hz - 600Hz 1MΩΩ

    Inductances (Tension = 2V c/c, courbe = Sinus)


    Gamme Fréquence de test impédance source
    10mH - 100mH 2.4kHz - 240Hz 100ΩΩ
    1mH - 10mH Ω
    4.8kHz - 2.4kHz 100Ω
    100µH - 1000µH 12kHz - 4.8kHz 100ΩΩ

    Résistance (tensions = 4V c/c; Fréquence = 60Hz, courbe = Sinus)


    Gamme Impédance source
    500kΩΩ - 10MΩ
    Ω Ω
    1MΩ
    Ω - 500kΩ
    50kΩ Ω Ω
    100kΩ
    Ω - 50kΩ
    5kΩ Ω Ω
    10kΩ
    Ω - 5kΩ
    500Ω Ω Ω
    1kΩ
    Ω - 500Ω
    10Ω Ω Ω
    100Ω

    CI digitaux: Tension = 4V c/c, fréquence de test = 37.5Hz


    Impédance source = 10kΩ

    CI analogiques: Tension = 10V c/c, fréquence de test = 37.5 Hz


    Impédance source = 10kΩ

    Diodes: Tension = 2V c/c, fréquence de test = 37.5Hz


    Ω
    Impédance source = 10 kΩ

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