*

dr inż. Dariusz Buchczik

Katedra Pomiarów i Systemów Sterowania
Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki
ul. Akademicka 16, pok. 115
[email protected]
 *

* „Przedmiot obejmuje zagadnienia związane z

podstawowymi pojęciami miernictwa, obiektami i
metodami pomiarów, wzorcami, przyrządami i
przetwornikami pomiarowymi, czynnościami
metrologicznymi oraz budową i zasadami użytkowania
najważniejszej aparatury pomiarowej. Problematyka
dotyczy wielkości elektrycznych (czas i częstotliwość,
napięcie i natężenie prądu elektrycznego, składowe
impedancji RLC) oraz wybranych wielkości
nieelektrycznych (temperatura, odkształcenie i siła,
ciśnienie). Uczestnicy nabywają umiejętności
wykonywania pomiarów laboratoryjnych, interpretacji
wyników wraz z oszacowaniem ich niepewności.”

Karta przedmiotu dostępna jest na USOSie

Lecture 1 2
 *
Wykład (aula C) – 30 h
dr inż. Dariusz Buchczik (p. 115)
Ćwiczenia (sala 211) – po 15 h (1. połowa semestru)
dr inż. Alicja Wiora (p. 117)
mgr inż. Faisal Saleem (p. 118)
Laboratoria (sala 208) – po 15 h (2. połowa semestru)
dr inż. Dariusz Buchczik (p. 115)
dr inż. Witold Ilewicz (p. 115)
dr inż. Alicja Wiora (p. 117)
dr inż. Tomasz Grychowski (p. 111)
dr inż. Roman Wyżgolik (p. 107)

Przedmiot kończy się egzaminem.

Hasło do zapisu samodzielnego na kurs PM na PZE: oscyloskop512

Lecture 1 3
 *
Istota pomiaru: wielkości fizyczne i wartości wielkości, pomiar, wzorzec miary, hierarchia wzorców,
spójność pomiarowa, skale pomiarowe, jednostki miar i układy jednostek, jednostki podstawowe i
pochodne, układ jednostek SI.
Proces pomiarowy: pomiar, obiekt pomiaru, model obiektu, miara wielkości, warunki odniesienia,
warunki znamionowe użytkowania.
Wybór metody i zasady pomiaru: metoda pomiarowa, zasada pomiarowa, klasyfikacja metod
pomiarowych.
Ogólna charakterystyka przyrządów pomiarowych: schemat blokowy, równanie przetwarzania,
statyczne i dynamiczne charakterystyki przyrządów pomiarowych.
Pomiar czasu i częstotliwości: sekunda, wzorce częstotliwości, zegar atomowy, częstościomierz i
czasomierz cyfrowy, błąd zliczania, błąd dopuszczalny dla funkcji pomiaru częstotliwości i okresu.
Pomiar napięcia: wzorce napięcia, zjawisko Josephsona, konstrukcja przetworników c/a i a/c,
charakterystyki i błędy przetworników c/a i a/c, kryterium Nyquista, zjawisko aliasingu. Karty
pomiarowe. Systemy pomiarowe, oprogramowanie systemów pomiarowych, środowisko LabVIEW.
Pomiar napięcia zmiennego: miary okresowego napięcia przemiennego, przetworniki napięcia
zmiennego na napięcie stałe. Oscyloskopy elektroniczne: oscyloskop analogowy, oscyloskop cyfrowy,
próbkowanie stroboskopowe.
Pomiary składowych impedancji RLC: wzorce rezystancji, zjawisko kwantowe Halla, układy
mostkowe, mostek Wheastone’a, mostki prądu przemiennego, cyfrowy pomiar składowych RLC.
Czujniki i metody pomiaru wybranych wielkości nieelektrycznych: temperatury, odkształcenia i siły,
ciśnienia.
Prawne aspekty miar: Konwencja Metryczna, Międzynarodowe Biuro Miar i Wag, Generalna
Konferencja Miar, GUM.

Lecture 1 4
 *
Błędy pomiarów, błąd bezwzględny i względny, klasyfikacja błędów wg własności
statystycznych, klasyfikacja ze względu na warunki pomiaru. Dokładność przyrządów
pomiarowych, błąd dopuszczalny przyrządu i sposoby jego wyrażania, oddziaływanie przyrządu
na wielkość mierzoną. Niepewność wyników pomiarów: składniki niepewności typu A i B,
niepewność standardowa, złożona niepewność standardowa, niepewność rozszerzona,
szacowanie złożonej niepewności standardowej przy pomiarach metodą pośrednią.
Rozkład normalny, funkcja gęstości prawdopodobieństwa, dystrybuanta rozkładu, zmienna
standaryzowana, poziom istotności, współczynnik ufności, tabele rozkładu normalnego. Błędy
pomiarów, dokładność, błąd bezwzględny i względny, klasyfikacja błędów wg własności
statystycznych: błąd przypadkowy i systematyczny, poprawka, błąd nadmierny (gruby),
klasyfikacja ze względu na warunki pomiaru: błąd podstawowy i dodatkowy, oddziaływanie
przyrządu na wielkość mierzoną, błąd metody. Dokładność przyrządów pomiarowych, błąd
dopuszczalny przyrządu i sposoby jego wyrażania (klasa dokładności, zależności
matematyczne, np. ±(% odczytu + % zakresu), wykresy), rozkłady dopuszczalnych błędów
bezwzględnego i względnego wzdłuż zakresu, oddziaływanie przyrządu na wielkość mierzoną.
Szacowanie niepewności wyniku pomiaru metodą bezpośrednią (seria pomiarów) i pośrednią,
niepewność bezwzględna i względna. Charakterystyki i błędy przetworników c/a:
charakterystyka idealna przetwornika c/a, równanie przetwarzania, jednostka kwantyzacji,
błędy zera, wzmocnienia, liniowości różniczkowej i całkowej, czas ustalania, charakterystyki i
błędy przetworników a/c.

Lecture 1 5
 *
Przebieg ćwiczeń
Sprawdzanie obecności; Sprawdzanie zadań domowych; Odpytywanie z poprzednich zajęć.
W przypadku zarządzenia godzin dziekańskich/rektorskich zajęcia przesuwają się o tydzień (nie przepadają).

Nieobecności
Należy przedstawić usprawiedliwienie (od lekarza, policji, sądu …, nie od opiekuna)
Odrabianie z inną grupą, jeśli jest taka możliwość
3 nieobecności nieusprawiedliwione = brak zaliczenia ćwiczeń

Kartkówki
Warunkiem zaliczenia ćwiczeń jest uzyskanie oceny min. 3,00 z kartkówek liczonej według wzoru:
Ocena Końcowa=0,2⋅K1+0,27⋅K2+0,3⋅K3+0,23⋅K4
gdzie K1 do K4 to oceny z kolejnych kartkówek.
Kartkówki dostępne są na stronie: pm.wiora.pl
W tym roku brak jest możliwości poprawiania kartkówek wg opisu dostępnego na tej stronie.
Terminy kartkówek: 3., 5., 7., 8. zajęcia z PM ćw.

Możliwość zaliczenia ćwiczeń lub poprawy oceny końcowej z ćwiczeń możliwe będzie na tzw. terminie
zerowym egzaminu pisemnego z PM, który odbędzie się w 2. połowie semestru po uzgodnieniu ze starostą
roku.

Lecture 1 6
 *
Wprowadzenie do laboratoriów odbędzie się na jednym z wykładów pod
koniec pierwszej połowy semestru.
Tematyka: przetworniki AC/CA, pomiary napięcia przemiennego, pomiar czasu i
częstotliwości, oscyloskop cyfrowy, mostki RLC, karta DAQ.

Nieobecności
Należy przedstawić usprawiedliwienie (od lekarza, policji, sądu …, nie od opiekuna)
Odrabianie w terminie odrobieniowym lub z inną grupą, jeśli jest taka możliwość.
3 nieobecności nieusprawiedliwione = brak zaliczenia laboratoriów

Zaliczenie
Obecność na wszystkich ćwiczeniach laboratoryjnych.
Obronione wszystkie sprawozdania na ocenę pozytywną.
Ocena końcowa z laboratorium stanowi średnią arytmetyczną ocen uzyskanych z danego
ćwiczenia.
Lecture 1 7
 *
Część pisemna (prowadzona przez A.Wiora)
1. Do egzaminu pisemnego można przystąpić po uzyskaniu zaliczenia z ćwiczeń.
Przewidziane są trzy terminy tego egzaminu – dwa w czerwcu/lipcu i jeden we
wrześniu.
2. Termin zerowy egzaminu zostanie przeprowadzony w 2. połowie semestru.
3. Zakres materiału: ćwiczenia, laboratorium
4. Do egzaminu w terminie zerowym ma prawo przystąpić każdy student, przy czym w
przypadku osób, które:
a. Uzyskały zaliczenie z PM ćw. – termin nieobowiązkowy - ocena uzyskana z egzaminu
• jest oceną z części pisemnej tylko wtedy, gdy jest pozytywna (ocena negatywna nie
jest brana pod uwagę w obliczaniu oceny końcowej z przedmiotu)
• jeśli jest wyższa niż ocena uzyskana w ramach ćwiczeń staje się oceną końcową z
ćwiczeń
b. Nie uzyskały zaliczenia z ćwiczeń – jest to termin obowiązkowy, podczas którego mają
możliwość uzyskania takiego zaliczenia (bez możliwości przyjęcia tej oceny jako oceny z
egzaminu)
Część ustna (prowadzona przez D.Buchczik, S.Budzan, T.Grychowski, W.Ilewicz,
K.Jabłoński, A.Kozyra, J.Wiora, R.Wyżgolik)
1. Do egzaminu ustnego można przystąpić po uzyskaniu zaliczenia z ćwiczeń i
laboratoriów
2. Przewidziane są trzy terminy tego egzaminu – dwa w czerwcu/lipcu i jeden we
wrześniu.
3. Egzamin ustny odbywa się poprzez rozmowę z egzaminatorem
4. Zakres materiału: wykład, ćwiczenia, laboratorium
Lecture 1 8
 *

Ocena końcowa z przedmiotu=0,2* ocena z ćwiczeń+ 0,2* ocena z

laboratorium+0,6*średnia arytmetyczna z egzaminów (wszystkie
terminy)

Skala ocen:

≥ 3,00 do 3,33 dostateczny (3,0)

> 3,33 do 3,75 dostateczny plus (3,5)
> 3,75 do 4,24 dobry (4,0)
> 4,24 do 4,60 dobry plus (4,5)
> 4,60 do 5,00 bardzo dobry (5,0)

Lecture 1 9
 *

Lecture 1 10
 *

Lecture 1 11
 *

Lecture 1 12
 *

Lecture 1 13
 *

Lecture 1 14
 *

Lecture 1 15
 *

Lecture 1 16
 *

Lecture 1 17
 Koniec wykładu 0

Dziękuję za uwagę!