Universidade de São Paulo - USP

Escola de Engenharia de Lorena

Maria Eduarda de Oliveira D’Avila Gardingo - 10685240
Vitor Yang Chiba - 10685275
15 de Outubro de 2019
Quarto Relatório de Fı́sica Experimental IV
Interferência de Ondas Planas
Objetivo
• Analisar a interferência entre duas ondas planas

• Determinar o comprimento de onda de um laser a partir da medição

do parâmetro Λ, relacionado com a interferência entre ondas planas

Resumo
O fenômeno da interferência é analisado quando há o encontro de duas
ondas, para as quais vale o princı́pio da superposição. Essa interferência
pode ser destrutiva ou construtiva. Os experimentos descritos nesse relatório
consistiram na análise prática desses conceitos estudados em sala, e foram re-
alizados por um grupo de 2 alunos. A proposta foi apresentada na disciplina
Fı́sica Experimental 4, e os procedimentos foram executados no laboratório
presente na Escola de Engenharia de Lorena - Universidade de São Paulo
(EEL-USP). O experimento se baseou na utilização de um aparato que pro-
duziu uma diferença de caminho percorrido por dois feixes coerentes e foi
capaz de sobrepô-los, o que gerou um padrão de interferência. Os experi-
mentos obtiveram resultados satisfatórios.

3
Conteúdo
1 Introdução Teórica 5

2 Procedimento Experimental 7

3 Resultados e Discussão 9
3.1 Determinação do comprimento de onda pela interferência en-
tre ondas planas utilizando a escala do retı́culo . . . . . . . . . 9
3.2 Determinação do comprimento de onda pela interferência en-
tre ondas planas utilizando a ampliação de lente . . . . . . . . 11

4 Conclusão 14

4
1 Introdução Teórica
Sabe-se que as equações de Maxwell, as quais governam o eletromagne-
tismo e a óptica, são lineares em relação aos campos elétrico e magnético.
Assim, é válido o princı́pio da superposição e o campo resultante é dado pela
soma vetorial dos campos gerados por cada uma das fontes, dado que há
mais de uma fonte de campo. Essa soma depende da relação entre as fases
dos feixes em cada ponto, e resulta numa região de máximos e mı́nimos de
campo elétrico, conhecido como padrão de interferência .
Para que este padrão seja apresentado, as fontes utilizadas devem ser
coerentes, o que significa que a diferença de fase entre elas não varia com
o tempo. Outro fator a ser analisado é o comprimento de coerência, que
corresponde à máxima diferença de percurso entre os dois feixes sem que
haja perda da relação de fase entre os campos elétricos das ondas que o
constituem.
A interferência entre ondas coerentes pode ser de dois tipos: cons-
trutiva ou destrutiva. A primeira se refere a situação em que a diferença de
fase entre as ondas é nula ou múltiplo par de π, e nela teremos um campo
resultante de mesma frequência e amplitude dada pela soma das amplitudes
de cada onda. A segunda (interferência destrutiva), por sua vez, acontece
quando a diferença de fase for um múltiplo ı́mpar de π. Nesta, a amplitude
é dada pela diferença das amplitudes de cada onda.
Considerando dois feixes de ondas planas monocromáticas de mesma
frequência e coerentes entre si, cujos vetores de propagação formam entre si
um ângulo θ e cujos campos elétricos estejam na mesma direção, temos que,
a partir da equação 1, os máximos ocorrem quando o argumento do cosseno
é igual a nπ , sendo n um número inteiro, chegando na equação 2.
θ
I(x) = 4I0 ocs2 (kxsin( )) (1)
2
θ
kxsin( ) = nπ (2)
2

A distância Λ entre dois máximos consecutivos é dada por:

π λ
Λ= θ
= (3)
ksin( 2 ) 2sin( 2θ )

Por fim, o interferômetro de Michelson, instrumento utilizado no experi-

mento a ser apresentado neste relatório, se baseia num feixe de luz atingindo

5
um bloco de vidro onde uma das superfı́cies é coberta com um filme refletor
que aumenta a refletividade da interface, a qual atua como um divisor de
feixes. Um segundo bloco de vidro (idêntico ao primeiro, mas sem o filme
refletor) e dois espelhos completam o interferômetro de Michelson.

Figura 1: Esquema do interferômetro de Michelson. Fonte: Halliday

Considerando a luz deixando o ponto P e encontrando o divisor de feixes

M, a luz se divide em dois raios, em direção aos espelhos M1 e M2, onde as
ondas são totalmente refletidas e se dirigem para M, através do qual chegam
ao olho do observador (na imagem, por meio do telescópio).
A diferença de fase entre os dois raios é causada pela diferença de cami-
nho óptico percorrido, e deve-se levar em conta também os ganhos de fase
decorrentes da reflexão, já que toda vez que os raios são refletidos em meios
de maior ı́ndice de refração há um ganho de fase de π.
Esse interferômetro pode ser utilizado para medir o comprimento de
coerência de uma dada fonte de luz, pois quando a diferença de caminho
aumenta as franjas de interferência ficam menos nı́tidas. O comprimento de
coerência é definido então como a diferença de caminho no momento em que
a nitidez das franjas diminui de 50%, sendo essa nitidez definida como:

Imax − Imin
V = (4)
Imax + Imin

Sendo Imáx e Imı́n os valores de intensidade máxima e mı́nima no padrão de

interferência.

6
2 Procedimento Experimental
a) Primeiramente, utilizou-se um laser e um divisor de feixe (sistema for-
mado por um semi-espelho e um espelho) e ajustou-se-o de tal forma
que os dois feixes emergentes estivessem aproximadamente paralelos
entre si, horizontais. Com isso, produzimos uma diferença de cami-
nho óptico entre dois feixes provenientes de uma mesma fonte coerente
(laser de He/Ne).

b) Posicionou-se os 4 espelhos (planos) sobre a bancada para que o feixe

principal percorresse aproximadamente 5 m antes de iluminar o cen-
tro de uma escala micrométrica, posicionada no centro da bancada.
Ajustou-se os espelhos (altura e inclinação) para que o feixe incidisse
próximo ao centro dos espelhos e estivesse sempre horizontal, mantendo
a mesma altura em relação à bancada. Bloqueou-se o feixe secundário
do divisor para não se confundir durante esse alinhamento.

c) Posicionou-se um espelho plano para que o feixe transmitido através

da escala micrométrica percorresse, aproximadamente, 2 m até o centro
do anteparo, mantendo-se sempre no plano horizontal.

d) Posicionou-se uma lente de distância focal 5 ou 6 cm após a escala mi-

crométrica de tal forma que esta estivesse próxima ao foco da lente.
Ajustou-se lateralmente a lente, de modo que o feixe do laser passasse
pelo seu centro. Foi possı́vel observar então a imagem da escala mi-
crométrica projetada no anteparo.

e) Desbloqueou-se o feixe secundário do divisor de feixes e ajustou-se a

orientação do espelho 100% refletor do divisor de modo que ocorresse
a superposição dos feixes na escala micrométrica. Fez-se o ajuste fino
observando o aparecimento de um padrão de interferência nı́tido no
anteparo.

f) Mediu-se a distância percorrida pelo feixe entre o divisor de feixes e a

escala micrométrica e a separação entre os feixes no divisor. Com isso,
determinou-se o ângulo entre os feixes.

g) Neste experimento a escala micrométrica foi utilizada para medir a

separação entre máximos consecutivos sem a necessidade de calcular o
fator de ampliação introduzido pela lente. Repetiu-se o procedimento
de medida para mais dois valores de distância lateral entre os feixes, e
determinou-se o comprimento de onda do feixe.

7
 h) Em seguida, focalizou-se nitidamente o retı́culo, mediu-se a distância
lente-retı́culo (S) e lente anteparo (S’), e a distância entre máximos no
anteparo. Com esses dados e usando o fator de ampliação da imagem,
calculou-se a separação entre máximos no retı́culo e determinou-se o
comprimento de onda do laser. Repetiu-se este passo para mais duas
separações entre os feixes após o divisor.

Figura 2: Montagem do sistema utilizado no experimento, mostrando o laser

e o divisor de feixes (ao fundo), a escala micrométrica e a lente (no centro
da bancada), o anteparo (papel branco no lado direito) e os espelhos (um no
lado direito, dois no lado esquerdo) posicionados para aumentar o caminho
óptico. Fonte: Apostila São Carlos

Figura 3: Padrão de interferência observado no anteparo Fonte: Apostila São

Carlos

8
3 Resultados e Discussão
3.1 Determinação do comprimento de onda pela inter-
ferência entre ondas planas utilizando a escala do
retı́culo
Nesse experimento, devido a três medições diferentes utilizando separações
laterais distintas, é possı́vel determinar um θ variado a partir do triângulo
retângulo formado
b
tgθ = (5)
a

sendo a a distância percorrida pelo feixe e b a separação entre os feixes no

divisor, é possı́vel calcular o ângulo. Assim, temos:
1, 8
tgθ = → θ1 = 0, 0030◦
500
1, 5
tgθ = → θ2 = 0, 0036◦
500
1, 2
tgθ = → θ3 = 0, 0024◦
500

Calculando a incerteza de θ, temos:

ϑθ 2 ϑa ϑb
( ) = ( )2 + ( )2 (6)
θ a b
ϑθ1 2 0, 05 2 0, 05 2
( ) =( ) +( ) → ϑθ1 = ±0, 0001◦
0, 0036 500 1, 8
ϑθ2 2 0, 05 2 0, 05 2
( ) =( ) +( ) → ϑθ2 = ±0, 0001◦
0, 0030 500 1, 5
ϑθ3 2 0, 05 2 0, 05 2
( ) =( ) +( ) → ϑθ3 = ±0, 0001◦
0, 0024 500 1, 2

Das medições realizadas experimentalmente, é possı́vel traçar uma

relação a partir da distância entre máximos, o ângulo θ e o comprimento de
onda λ pela equação:
λ
Λ= (7)
2sen( 2θ )

9
 Tabela 1: Determinação dos ângulos θ entre os feixes
Distância Percorrida pelo feixe (a) Separação dos feixes no divisor (b) θ
500cm ± 0, 05cm 1, 8cm ± 0, 05cm 0, 0036 ± 0, 0001◦
◦

500cm ± 0, 05cm 1, 5cm ± 0, 05cm 0, 0030◦ ± 0, 0001◦

500cm ± 0, 05cm 1, 2cm ± 0, 05cm 0, 0024◦ ± 0, 0001◦

Sabendo que a distância entre máximos Λ medida para cada separação lateral
entre feixes está representada na tabela 2:

Tabela 2: Determinação das distâncias entre máximos Λ

Separação dos feixes no divisor Λ
1, 8cm ± 0, 05cm 0, 1mm ± 0, 05mm
1, 5cm ± 0, 05cm 0, 2mm ± 0, 05mm
1, 2cm ± 0, 05cm 0, 3mm ± 0, 05mm

Tem-se pela equação 7:

λ1 −5
0, 01 = 0,0036 → λ1 = 3, 6.10 cm
2sen( 2 )
λ2
0, 02 = → λ2 = 6, 0.10−5 cm
2sen( 0,0030
2
)
λ3 −5
0, 03 = 0,0024 → λ3 = 7, 2.10 cm
2sen( 2 )

Calculando a incerteza de λ pela da propagação de erros e modificando a

equação 7:
θ
λ = 2Λsen (8)
2
δλ δλ
ϑ2λ = ( )2 ϑ2θ + ( )2 ϑ2Λ (9)
δθ δΛ
θ θ
ϑ2λ = (Λcos2 ( )(0, 0001)2 + (2sen )2 (0, 05)2
2 2

0, 0036 0, 0036 2
ϑλ1 2 = ((0, 01)cos2 ( )(0, 0001)2 +(2sen ) (0, 005)2 → ϑλ1 = ±2, 059.10−5 cm
2 2

10
 0, 0030 0, 0030 2
ϑλ2 2 = ((0, 02)cos2 ( )(0, 0001)2 +(2sen ) (0, 005)2 → ϑλ2 = ±2, 061.10−5 cm
2 2
0, 0024 0, 0024
ϑλ3 2 = ((0, 03)cos2 ( )(0, 0001)2 +(2sen )2 (0, 005)2 → ϑλ3 = ±2, 107−5 cm
2 2
∴
λ1 = 3, 6.10−5 cm ± 2, 059.10−5 cm = 360nm

λ2 = 6, 0.10−5 cm ± 2, 061.10−5 cm = 600nm

λ3 = 7, 2.10−5 cm ± 2, 107−5 cm = 720nm

3.2 Determinação do comprimento de onda pela inter-

ferência entre ondas planas utilizando a ampliação
de lente

Tabela 3: Determinação das distâncias entre máximos no anteparo

Separação dos feixes no divisor distâncias entre máximos
1, 8cm ± 0, 05cm 0, 3cm ± 0, 05cm
1, 5cm ± 0, 05cm 0, 6cm ± 0, 05cm
1, 2cm ± 0, 05cm 0, 9cm ± 0, 05cm

A partir da medição das distâncias da escala micrométrica até a lente (s)

e da lente até o anteparo (s0 ), tem-se que:

s = 6, 5cm ± 0, 05cm

s0 = 206, 0cm ± 0, 05cm

Sabendo que a magnificação da imagem é dada por:
s0 i
M =− = (10)
s o
Temos que:
206, 0
M =− → M = −31, 69
6, 5

Calculando a incerteza de M pelas derivadas parciais:

ϑM 2 ϑs0 ϑs
( ) = ( 0 )2 + ( )2
M s s
11
 ϑM 2 0, 05 2 0, 05 2
( ) =( ) +( )
−31, 69 206 6, 5

ϑM = ±0, 244
∴
M = −31, 69 ± 0, 244

Das medidas realizadas no anteparo, tem-se que:

Dessa forma, fazendo uso da magnificação da imagem M , tem-se que:

0, 3
(−31, 69) = → o1 = −9, 466.10−3 cm
o1
0, 6
(−31, 69) = → o2 = −1, 893.10−2 cm
o2
0, 9
(−31, 69) = → o3 = −2, 840.10−2 cm
o3
sendo o sinal negativo, apenas a representação da inversão da imagem quando
o objeto está sujeito sobre essas circunstâncias. Calculando a incerteza de o:
i
o=
M

ϑo 2 ϑi ϑM 2
( ) = ( )2 + ( )
o i M

ϑo1 0, 05 2 0, 244 2
( −3
)2 = ( ) +( ) → ϑo1 = ±1, 579.10−3 cm
−9, 466.10 0, 3 −31, 69
ϑo2 0, 05 2 0, 244 2
( )2
= ( ) + ( ) → ϑo2 = ±1, 584.10−3 cm
−1, 893.10−2 0, 6 −31, 69
ϑo3 0, 05 2 0, 244 2
( −2
)2 = ( ) +( ) → ϑo3 = ±1, 592.10−3 cm
−2, 840.10 0, 9 −31, 69
∴
o1 = −9, 466.10−3 cm ± 1, 579.10−3 cm

o2 = −1, 893.10−2 cm ± 1, 584.10−3 cm

12
 o3 = −2, 840.10−2 cm ± 1, 592.10−3 cm

Calculando os comprimentos de onda e as suas devidas incertezas pelas

equações 7 e 9:
λ4
0, 00946 = → λ4 = 3, 405.10−5 cm
2sen( 0,0036
2
)
λ5 −5
0, 01893 = 0,0030 → λ5 = 5, 678.10 cm
2sen( 2 )
λ6 −5
0, 0284 = 0,0024 → λ6 = 6, 816.10 cm
2sen( 2 )

0, 0036 0, 0036 2
ϑλ4 2 = (9, 466.10−3 )cos2 ( )(0, 0001)2 + (2sen ) (1, 579.10−3 )2
2 2
−5
→ ϑλ4 = ±1, 127.10 cm
0, 0030 0, 0030 2
ϑλ5 2 = (1, 893.10−2 )cos2 ( )(0, 0001)2 + (2sen ) (1, 584.10−3 )2
2 2
−5
→ ϑλ5 = ±1, 456.10 cm
0, 0024 0, 0024 2
ϑλ6 2 = (2, 840.10−2 )cos2 ( )(0, 0001)2 + (2sen ) (1, 592.10−3 )2
2 2
−5
→ ϑλ6 = ±1, 728.10 cm

Determinando as médias λm1 e λm2 das duas formas experimentais:

λ1 + λ2 + λ3
λm1 = → λm1 = 560nm
3
λ4 + λ5 + λ6
λm2 = → λm2 = 530nm
3

Determinando os desvios padrão σ1 e σ2 das duas formas experimentais, sa-

bendo que o desvio padrão é definido:
r
(x1 − x̄)2 + (x2 − x̄)2 + (x3 − x̄)2
σ= (11)
n

13
 r
(3, 6.10−7 − 5, 6.10−7 )2 + (6, 0.10−7 − 5, 6.10−7 )2 + (7, 2.10−7 − 5, 6.10−7 )2
σ1 =
3

→ σ1 = 1, 5.10−7

r
(3, 405.10−7 − 5, 3.10−7 )2 + (5, 678.10−7 − 5, 3.10−7 )2 + (6, 816.10−7 − 5, 3.10−7 )2
σ2 =
3

→ σ2 = 3.257.10−7

Determinando o erro relativo (%E) das medidas de λ:

λmedido − λteorico
%E = (12)
λteorico

(5, 60.10−7 ) − (6, 30.10−7 )

%E1 = → %E1 = 11, 11%
(6, 30.10−7 )
(5, 30.10−7 ) − (6, 30.10−7 )
%E2 = → %E2 = 15, 87%
(6, 30.10−7 )

• Devido aos cálculos de desvio padrão, podemos identificar que o método

do item g é o mais preciso. Além disso, podemos perceber que a di-
ferença entre a média do primeiro método e o comprimento teórico
(630nm) do laser (dado fornecido pelo material de São Carlos) é menor
comparado com a diferença da média com o comprimento fornecido.

4 Conclusão
Podemos concluir, portanto, que é possı́vel determinar o comprimento
de onda de um laser a partir do padrão de interferência entre dois feixes
advindos desse mesmo laser. A realização do experimento apresentou erros

14
relativos maiores que 5%, o que evidenciou a ocorrência de erros, provavel-
mente no manuseio do equipamento. Por fim, foi apresentada maior precisão
no primeiro método de análise, o que se manifestou na comparação entre os
desvios.

Referências
• SERWAY, Raymond A.; JEWETT, John W.. Princı́pios de Fı́sica 4:
Óptica e Fı́sica Moderna. São Paulo: Cengage Learning, 2010.

• HALLIDAY, David; RESNICK, Robert; WALKER, Jearl. Fundamen-

tos de Fı́sica: Óptica e Fı́sica Moderna. Rio de Janeiro: Ltc, 2012.

• INSTITUTO DE FÍSICA DE SÃO CARLOS (São Paulo). Univer-

sidade de São Paulo. Laboratório de Óptica. 2015. Eduardo Ri-
beiro de Azevedo e Luiz Antônio de Oliveira Nunes. Disponı́vel em:
¡http://granada.ifsc.usp.br/labApoio/images/apostilas/fisicaiv-quimicos.pdf¿.
Acesso em: 28 ago. 2019.

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