République Algérienne Démocratique et Populaire

Ministère l’Enseignement Supérieur et de La Recherche

Scientifique

Université 20 août1955
-SKIKDA-
TP

Département : Génie Mécanique

Spécialité : Génie Des Matériaux
Master 02

Thème
Diffraction Des Rayons X
Présenté par :
Dirigé par :
 ABED ABDERRAOUF
 BECHIRI SEIFEDDINE *DR :
A.M.BEN ALI
 BERNOUS SAIFEDDINE
 LATAMNA ABDELOUAHID
 CONTENU

1-Introduction
2-Définition
3- Le Principe
4- La méthode
5- Les applications
6- Applications de la diffraction de rayons X sur les
matériaux nanostructures
7-Conclusion
1-Introduction:
On appelle rayons X les ondes électromagnétiques dont les
fréquences sont comprises entre 10¹⁶ Hz et 10²⁰ Hz. Les longueurs
d’ondes sont de l’ordre de 10-⁸ à 10-¹²m, et les énergies des photons
X sont comprises entre 40 et 4x10⁵ eV (1 eV correspond à 1,6x10-¹⁹
J, c’est l’énergie d’un photon dans l’infra-rouge). [1]

2-Définition :
La diffraction des rayons X est une technique de caractérisation des
matériaux qui exploite le phénomène de diffraction des rayons X par
les atomes d'un échantillon cristallin. Lorsque des rayons X
rencontrent un réseau cristallin, ils interagissent avec les atomes et
diffractent dans des directions spécifiques en raison de la périodicité
du réseau.
Cela produit un motif de diffraction qui peut être enregistré et
analysé pour déterminer la structure cristalline de l'échantillon. La loi
de Bragg, qui décrit la condition constructive de la diffraction, est
souvent utilisée dans ce contexte.
La diffraction des rayons X est largement utilisée en science des
matériaux pour déterminer la structure cristalline, la taille des
cristaux, l'orientation des grains et d'autres propriétés liées à la
cristallinité des matériaux. Elle est également cruciale dans l'étude
des nanoparticules et des matériaux nanostructures. [1]

3- Le Principe:
Le matériau est bombardé par un faisceau de rayons X
monochromatiques et parallèles de longueur d’onde connue produit
par une anticathode de cuivre. L’échantillon est placé au centre d’un
dispositif rotatif et tourne lui-même d’un mouvement uniforme autour
de l’axe situé dans son plan (cercle goniométrique). Le faisceau
incident qui se diffracte sur la structure cristalline du matériau vérifie
la loi de Bragg :
- n. = 2.d.sin ø
- avec l la longueur d’onde du faisceau incident,
- d la distance entre 2 plans cristallins,
- ø l’angle des rayons diffractés.
Le compteur goniométrique mesure l’intensité du rayonnement X
diffracté sur le matériau. L’enregistrement réalisé est la courbe de
l’intensité des rayons X diffractés en fonction des angles de
diffraction. [2]

Loi de Bragg

4- La méthode :
On prépare l’échantillon sous la forme d’une poudre aplanie dans
une coupelle, ou bien sous la forme d’une plaquette solide plate. On
envoie des rayons X sur cet échantillon, et un détecteur fait le tour
de l’échantillon pour mesurer l’intensité des rayons X selon la
direction. Pour des raisons pratiques, on fait tourner l’échantillon en
même temps, ou éventuellement on fait tourner le tube produisant
les rayons X.
Diffraction des poudres: Cette méthode est utilisée pour analyser
des échantillons sous forme de poudre, où les cristaux sont orientés
de manière aléatoire.
Diffraction sur monocristal: Dans cette méthode, un seul cristal est
utilisé pour obtenir des informations sur sa structure cristalline
unique.
Diffraction aux petits angles: Cette méthode permet d’analyser les
structures à plus grande échelle, comme les macromolécules
biologiques. [3]

La méthode

5- Les applications:
La technique est utilisée pour caractériser la matière. Cela concerne:
5-1-La recherche : lorsque l’on crée un nouveau matériau (souvent
des céramiques), que l’on veut connaître le résultat d’une réaction
chimique ou physique (par exemple en métallurgie, pour reconnaître
les produits de corrosion ou savoir quel type d’acier on a fabriqué),
en géologie (géochimie) pour reconnaître la roche prélevée à un
endroit, en biologie, pour étudier la structure des protéines par
exemple ;
5-2-Pour le suivi de production dans une usine (contrôle de la
qualité du produit) : dans les cimenteries, les fabriques de
céramiques, etc. ;
5-3-Dans l’industrie mécanique : pour qualifier et suivre les états
de contrainte générés par les processus de production (grenaillage,
rectification…)
5-4- En production : cela sert notamment à vérifier que l’on n’a pas
fabriqué une autre molécule de même formule, mais de forme
différente (on parle de polymorphisme). [4]

6- Applications de la diffraction de rayons X sur les

matériaux nanostructures :
6-1-Caractérisation structurale des nanostructures: La diffraction
de rayons X permet de déterminer la structure atomique des
nanostructures, révélant leur agencement et leur taille.
6-2-Analyse des propriétés physiques et chimiques: Grâce à la
diffraction de rayons X, il est possible d’étudier les propriétés
physiques et chimiques spécifiques des nanostructures, telles que
leur conductivité électrique ou leur réactivité.
6-3-Etudes de croissance et de transformation des
nanostructures: En utilisant la diffraction de rayons X, il est
possible de suivre la croissance des nanostructures au fil du temps
et d’étudier leur transformation lors de réactions chimiques ou de
changements de conditions.

Exemple
Diffraction de rayons X des poudres de CoFe2O4 obtenues par
voie hydrothermale (poudres 1S1, 1S3, 1PV). Le pic de
diffraction repéré par un astérisque * correspond au pic le plus
intense de la phase α-Fe2O3.
La phase cristalline et la taille des cristallites ont été déterminées par
diffraction des rayons X. Les diagrammes de diffraction des rayons X
des poudres ont été enregistrés dans un diffractomètre Empyrean
(PANAlytical) équipé de CuKα comme source de rayonnement (λ
=0,15406 nm). Les diagrammes sont enregistrés sur une gamme de
2θ de 25 à 65 ° avec un pas de 0,02°. Les conditions d’émission
nominales (tension VRX/courant IRX) étaient de 45 kV/35 mA. Ce
diffractomètre n’est pas équipé d’un monochromateur arrière, et le
phénomène de fluorescence du fer a rendu les diagrammes RX très
bruités et donc difficilement exploitables en termes d’affinement
Rietveld. Pour obtenir des informations sur l’intensité des pics de
diffractions, les diagrammes ont été traités à l’aide du logiciel Origin
et les pics proches déconvolués.
L’identification des phases cristallines a été faite en comparant le
diffractogramme obtenu avec les profils existants dans la base de
données du Centre international de données de diffraction (ICDD).
La taille des cristallites a été estimée en intégrant la largeur à mi-
hauteur (FWHM) des pics d’intensité les plus élevés de la structure
spinelle, et en utilisant la formule de Scherrer.
* La formule de Scherrer, ou relation de Laue-Scherrer, est une
formule utilisée en diffraction des rayons X (DRX) sur des poudres
ou échantillons polycristallins. Elle relie la largeur des pics de
diffraction — ou des anneaux de Debye-Scherrer — à la taille des
cristallites.
Si t est la taille du cristallite (son diamètre si on l’estime sphérique), ε
est la largeur intégrale d’un pic, λ est la longueur d’onde de l’onde
incidente et θ est la moitié de la déviation de l’onde (la moitié de la
position du pic sur le diffractogramme), alors la formule de Scherrer
s’écrit :

Où D est la taille des cristallites (nm), k est le facteur de forme avec

une valeur égale à 0,9, λ est la longueur d’onde du rayonnement X
de l’anticathode de cuivre (Kα = 0,15406 nm), β est la FWHM des
pics de diffraction et θ est l’angle de Bragg.
La précision sur la taille des cristallites par cette méthode est difficile
à quantifier, mais il semble raisonnable d’avoir une erreur de ± 1 nm
sur des tailles d’une vingtaine de nanomètres ,C’est-à-dire une
précision de l’orde de 5%.En plus de la taille de cristallites, des
informations sur la distribution cationique ont été aussi obtenues par
des diagrammes de diffraction des rayons X à partir des rapports
d’intensité de certains pics de diffraction dans le cas des ferrites de
cobalt de structure spinelle, seuls les sites tétraédriques contribuent
au facteur de structure des plans d’indice de Miller tels que
h+k+l=4n, alors que pour les plans tels que h+k+l=4n+2, seuls les
sites octaédriques contribuent. Donc, les sites tétraédriques ne
contribuent qu’à la diffraction des plans (220) et (422), alors que les
sites octaédriques ne contribuent qu’à la diffraction des plans (222).
Ainsi, les rapports d’intensité I(220)/I(222), I(422)/I(222) donnent une
indication de l’occupation des sites tétraédriques et octaédriques,
respectivement.
L’intensité des pics a été extraite à l’aide du logiciel Origin. Pour la
détermination de la distribution cationique, des diffractogrammes
théoriques avec différents cations distribués dans les sites A (sites
tétraédriques) et B (sites octaédriques) ont été construits en utilisant
le logiciel carine. Les rapports I(220)/I(222) et I(422)/I(222) des
diffractogrammes théoriques ont également été calculés et, enfin, les
résultats obtenus ont été comparés aux résultats expérimentaux,
permettant de déterminer la distribution cationique de l’échantillon.

M(surfactent) :
Echantillon X Surfactant
M(nitrate de Fe)
1S1 1 SDS 1
1S3 1 SDS 0.5
1PV 1 PVP 1

Tableau : Nature et quantité de surfactant de la synthèse

hydrothermale de CoFe2-O4

Diagramme de diffraction de rayons X des poudres de CoFe2O4 obtenues par voie

hydrothermale (poudres 1S1, 1S3, 1PV). Le pic de diffraction repéré par un astérisque
* correspond au pic le plus intense de la phase α-Fe2O3.

La largeur des pics de diffraction varie d’une poudre à l’autre,

indiquant des différences dans la taille des cristallites. En particulier,
les pics de diffraction sont plus fins pour la poudre obtenue en
utilisant PVP comme surfactant que pour les poudres obtenues avec
SDS, ce qui correspond à une taille moyenne de cristallites plus
élevée pour la poudre 1PV que pour les poudres 1S1 et 1S3. [5]

7-Conclusion :
La diffraction des rayons X est une technique puissante utilisée pour
étudier la structure cristalline des matériaux. En analysant les motifs
de diffraction résultants, les scientifiques peuvent déterminer la
disposition des atomes dans un cristal. Cette méthode a des
applications étendues en science des matériaux, en biologie
structurale et en chimie. En conclusion, la diffraction des rayons X
joue un rôle essentiel dans la compréhension approfondie de la
structure des matériaux, ouvrant la voie à des avancées
significatives dans divers domaines de la recherche.

Les Références
[1]Cullity, B. D., & Stock, S. R. (2001). Elements
of X-ray Diffraction. Prentice Hall.

Laboratoire privé spécialisé dans l’analyse, les

[2]

essais et l’expertise des matériaux depuis

1993.USA.

[3] Meliad – Analyse par diffraction des rayons X

‘’A New Method of Chemical Analysis’’, A. W.

[4]

Hull, J. Am. Chem. Soc.

[5] Thèse de mémoire – Fr.