Chapitre I : Diffraction Des Rayons X

Définition:
Les rayons X sont des ondes électromagnétiques de longueur d’onde comprise entre 0,1 Å et 10
Å. Les rayons X utilisés en radiocristallographie ont des longueurs d’onde voisines de 1 Å, ordre
de grandeur des distances interatomiques dans les cristaux métalliques.

Quand un faisceau de rayons X tombe sur un matériau métallique, une partie du faisceau pénètre
dans le matériau ; elle est, pour une part, transmise (si l’échantillon est suffisamment mince) et,
pour l’autre part, absorbée. L’autre partie du faisceau est diffusée, c’est-à-dire réémise sous forme
d’un rayonnement X de même longueur d’onde que le rayonnement incident, dans des directions
différentes de celles du faisceau incident. Ce dernier phénomène est à la base de la diffraction
des rayons X par les cristaux.

Tubes à rayons X
Sous sa forme la plus simple, on peut schématiser un tube à rayons X de la manière suivante
(figure 1) : dans une enceinte dans laquelle on a réalisé le vide, un filament f, la cathode, le plus
souvent en tungstène, est chauffé par le passage d’un courant électrique de faible intensité (3 à 5
A sous 6 à 10 V). Sous l’effet de cet échauffement, le filament émet des électrons. Une différence
de potentiel V de quelques dizaines de kilovolts (≤60 KV) est appliquée entre la cathode et une
pièce métallique massive : l’anticathode A ou anode. Les électrons e émis par la cathode sont
accélérés et viennent bombarder l’anticathode avec une énergie cinétique élevée eV.

Sous le siège de ce bombardement électronique, l’anticathode est le siège d’une émission de

rayons X. De plus, l’anticathode s’échauffe fortement et doit être refroidie par une circulation d’eau
sous pression (5 à 7 bar).

Figure 1 : Principe d’un tube à rayons X.

Émission X. Spectre des rayons X

Sous l’impact des électrons, l’anticathode est le siège d’un rayonnement

1
X complexe dû à deux phénomènes bien distincts :
— un spectre continu qui ne dépend, en première approximation, que de la tension V;
— un spectre de raies ou spectre caractéristique qui dépend de la nature de l’anticathode ; la
figure 2 montre le spectre du rayonnement émis par une anticathode de cuivre.
Quand on veut un rayonnement monochromatique, on utilise une raie du spectre caractéristique
(très généralement la raie Kα qui est la plus intense, figure 2).
Quand on veut un rayonnement polychromatique, on utilise le spectre continu.

Figure 2 : Spectre de rayons X émis par une anticathode de cuivre.

Absorption des rayons X

Quand un faisceau de rayons X tombe sur un matériau métallique, une partie du faisceau est
absorbée. Après un parcours de longueur x dans le matériau, l’intensité I(x) du faisceau d’intensité
initiale I0 est donnée par la relation :

( )= exp −

ρ : masse volumique du matériau métallique irradié par les rayons X,

μ: coefficient d’absorption linéique du matériau,
μ/ρ : coefficient massique d’absorption du matériau.

Ce coefficient massique d’absorption est caractéristique d’un élément chimique ; il ne dépend pas
de l’état physique du corps, ni des combinaisons chimiques dans lesquelles il entre. Pour les 92

2
éléments naturels, les valeurs de (μ/ρ) sont données, en fonction de la longueur d’onde λ du
rayonnement X, dans les Tables internationales de cristallographie. Les courbes donnant
l’évolution de (μ/ρ ) en fonction du numéro atomique Z sont données, pour les principaux
rayonnements utilisés en métallographie, sur la figure 3. Sur ces courbes, on constate des
discontinuités dues au phénomène d’absorption par fluorescence. L’existence de ces
discontinuités est utilisée dans la filtration des rayons X.

Figure 3 : Coefficient massique d’absorption des rayonnements Cu Kα, Mo Kα et Cr Kα

pour les principaux éléments naturels.

Filtration des rayons X

En métallographie, le plus souvent, on désire utiliser une radiation monochromatique. Or si,
dans le spectre caractéristique d’une anticathode, les radiations K sont nettement plus intenses
que le fond continu, elles comportent à côté du doublet Kα1– Kα2 que l’on peut conserver dans la
plupart des expérimentations courantes, la radiation Kβ de longueur d’onde plus faible (figure 2).
La présence de cette raie risquant de créer des confusions dans le dépouillement des clichés ou
diagrammes de rayons X, il est nécessaire de l’éliminer. On peut y arriver très simplement, de
manière approchée, en utilisant un filtre comportant un élément dont la discontinuité d’absorption
se place entre les deux longueurs d’onde Kα et Kβ. Le principe de la filtration de la raie Kβ du
molybdène par un filtre en zirconium est illustré sur la figure 4.

3
.
Figure 4 : Principe de la filtration de la raie Kβ du molybdène par un filtre en zirconium.

Détection des rayons X

Pour détecter les rayons X, en fait appel au plusieurs techniques basaient sur les écrans
fluorescents ; les films photographiques et les compteurs.

Diffraction des rayons X par les cristaux

Conditions de diffraction. Loi de Bragg

Lorsqu’un faisceau de rayons X monochromatiques (de longueur d’onde λ) tombe sur un
matériau métallique, une partie du faisceau est diffusée par les atomes du cristal, c’est-à-dire
réémise sous forme d’un rayonnement X de même longueur d’onde. Pour que l’intensité du
rayonnement X réémis soit observable, il faut que les rayonnements diffusés par les différents
atomes du cristal soient en phase et forment ainsi un faisceau diffracté. Cette condition de
diffraction est illustrée sur la figure 5 et connue sous le nom de loi de Bragg qui s’exprime sous la
forme :

2 . sin( ) = . λ

d : distance entre deux plans réticulaires consécutifs,

λangle des rayons X incidents ou diffractés avec le planréticulaire,
n : nombre entier appelé ordre de la réflexion.

4
Cette loi montre que, pour un matériau donné et un faisceau de rayons X monochromatiques, il
n’y aura diffraction des rayons X que pour des angles d’incidence θ bien déterminés. Ces angles
sont en relation avec les distances entre les plans réticulaires produisant les réflexions.

Figure 5 : schéma expliquant la condition de la loi de Bragg.

Remarques sur la loi de Bragg

 On peut montrer que lorsque l’angle d’incidence est différent de θ il y a annihilation
complète, par interférence, des rayonnements diffusés. Un cristal ne donne naissance à un
faisceau diffracté que lorsque la condition de Bragg est satisfaite.
 Notation des réflexions : le nombre n est l’ordre de la réflexion. Une réflexion du premier
ordre sur des plans réticulaires (h k l) se dénommera h k l. Une réflexion du deuxième ordre
se dénommera 2h 2k 2l. On peut donc avoir pour les réflexions un ensemble de trois
nombres ayant un diviseur commun. La valeur de ce diviseur donne l’ordre n de la
réflexion.

Exemple : ainsi, on parle de réflexion 111 du premier ordre sur les plans réticulaires (111) et de
réflexion 222, réflexion du deuxième ordre sur ces mêmes plans réticulaires.

Intensité des réflexions

Pour une intensité incidente I0, l’intensité I des rayons X diffractés dépend principalement:

- de l’angle de Bragg θet de la longueur d’onde λ;

- de la répartition des atomes dans la maille élémentaire (facteur de structure Fhkl) ;
- du volume V du matériau irradié ;
- de l’état de perfection du réseau cristallin.

La mesure des intensités diffractées est indispensable, dans de très nombreuses applications de
la radiocristallographie, à la description de la structure des matériaux métalliques (identification et
dosage des phases, description de la texture cristallographique, etc.).

Méthodes expérimentales de diffraction des rayons X utilisées en métallographie

Les différentes techniques d’analyse cristalline des corps solides dérivent de trois méthodes
principales différentes, chacune possédant plusieurs méthodes dérivées. Ces trois méthodes
5
diffèrent par le type de rayonnement utilisé (mono ou polychromatique) et par le caractère mono
ou polycristallin du solide étudié. Elles sont indiquées dans le tableau 1.

Tableau 1 : Classification de diverses méthodes expérimentales de diffraction des rayons X.

La méthode des poudres ou méthode de Debye-Scherrer est celle essentiellement utilisée dans
les laboratoires de métallographie. Ce sont ses principales utilisations que nous allons développer
en premier.

Notons qu’il est possible d’obtenir des diagrammes de diffraction des rayons X avec des
matériaux non cristallins : solides à l’état amorphe (verres) ou liquides. La caractéristique
essentielle du diagramme est la présence d’un anneau (maximum d’intensité) très intense, suivi
de faibles oscillations de l’intensité diffractée. L’analyse de la structure de cette courbe permet
d’obtenir des renseignements sur la répartition des atomes ou molécules dans le corps.

Méthode de Debye-Scherrer (principe) :

Pour obtenir un diagramme Debye-Scherrer ou diagramme de poudres, on fait tomber un
faisceau étroit, monochromatique, de rayons X sur un échantillon Polycristallin. Il y a toujours un
grand nombre de petits cristaux pour lesquels une famille de plans réticulaires donnés (h1 k1 l1) fait
avec le faisceau incident l’angleθ1 défini par la relation de Bragg :

. =2 sin ( )

Chacun de ces cristaux donne un faisceau réfléchi, dévié d’un angle θ1 par rapport au faisceau
incident comme indiqué sur la figure 6. L’ensemble des faisceaux réfléchis forme un cône axé sur

6
le faisceau incident et d’angle au sommet 2θ1 (figure 7). Chaque cône est caractéristique d’une
certaine distance réticulaire dh1k1l1 et d’un certain ordre n de réflexion.
De la mesure de l’angle θ1, connaissant λ, on peut calculer dh1k1l1/n et déterminer ainsi les
distances des différents plans réticulaires du cristal.
Il existe de très nombreux montages permettant la mise en œuvre pratique de cette méthode. Ces
montages diffèrent par :
— la manière d’obtenir le rayonnement monochromatique, (filtre, monochromateur, compteur à
fort pouvoir de résolution en énergie) ;
— le type d’échantillon utilisé (poudre, échantillon massif, échantillon mince) ;
— le type de détecteur de rayons X utilisé (film, compteur).

Figure 6: Méthode de Debye-Scherrer. Géométrie de la réflexion : diffraction du faisceau

par un cristal correctement orienté.

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 Figure 7: Cônes de diffraction des rayons X par l’échantillon E.

Identification des raies d’un cliché de poudres

La première phase du dépouillement d’un diagramme de poudres est l’identification des plans
réticulaires ayant donné lieu aux réflexions observées. On distingue trois cas.

 Structures cubiques
Elles sont caractérisées par le seul paramètre a (longueur de l’arête du cube élémentaire).
Le cliché de poudres permet facilement de déterminer la maille et le type de réseau.

 Structures à deux paramètres (hexagonales et tétragonales)

Le diagramme de poudres permet généralement, à l’aide d’abaques de Hull, de déterminer
la maille et les paramètres.

Cas des structures cubiques

La valeur de dhkl ne dépend que du seul paramètre a:

=
√ℎ + +

Le cliché Debye-Scherrer permet d’abord de déterminer sans tâtonnements la maille et le type de

réseau :
— dans le cas du système cubique simple, toutes les réflexions hkl sont possibles ; les positions
des raies sont, en partant centre, 100 - 110 - 111 - 200,... (Figure 8 et tableau 2) ;
— dans le cas du système cubique centré, les seules réflexions possibles sont celles pour
lesquelles la somme h+k+l est paire (facteur de structure différent de zéro) ; la succession des
raies est, du centre vers l’extérieur, 110 - 220 - 211,... (Figure 8 et tableau 2) ;
— dans le cas du système cubique à faces centrées, les réflexions possibles sont celles pour
lesquelles h, k, l sont tous de même parité ; la succession des raies est donc 111 - 200 - 220,...
(Figure 8 et tableau 2).

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 Figure 8 : Diagrammes de Debye-Scherrer : schéma des différentes raies présentes dans
les clichés de matériaux de structure cubique.

Dans le tableau 2 sont indiqués les rapports à la première distance dh1k1l1 possible des distances
dhkl pour les trois types de réseau. Sur le diagramme, on cherche d’abord le rapport des distances
des deux premières raies. Si l’on trouve pour ce rapport , le diagramme est celui du
système cubique à faces centrées. S’il est au contraire égal à , on cherche la valeur du
e
rapport correspondant à la 7 raie. Si l’on trouve , le système est cubique centré ; si l’on
trouve , le système est cubique simple. Quel que soit le montage utilisé, les mesures
sont toujours suffisamment précises pour permettre de distinguer le type de réseau sans
ambiguïté.
Connaissant le type de réseau, l’indexation de toutes les raies se fait sans difficulté. Le paramètre
a est alors calculé au moyen de la relation :

= ℎ + +

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 Tableau 2 : Liste des premières réflexions des réseaux cubiques.

Cas des structures à deux paramètres

La valeur de dhkl dépend des deux paramètres a et c :

=
ℎ + + ( )

d’où lg( ) = lg( ) − lg h + k + l a

c

On constate qu’à la constante lga près, les valeurs de lg dhkl ne dépendent que de c/a. À partir de
la liste des dhkl observés sur le diagramme de Debye-Scherrer, on trace sur une bande de papier
des repères correspondant aux différentes valeurs de lg dhkl. On place cette bande sur un abaque
de Hull (figure 9). On la déplace horizontalement et verticalement jusqu’à ce que tous les repères
de la bande coïncident avec une courbe hkl de l’abaque.
La bande coupe l’axe des ordonnées pour une certaine valeur du rapport c/a. Par simple lecture,
on peut indexer l’ensemble des raies, puis calculer les paramètres a et c en résolvant un système
d’équations à deux inconnues.

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Figure 9 : Abaque de Hull d’un cristal de réseau quadratique.

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