Interaction Rayons X matière

1. Absorption
2. Diffusion
3. Diffraction
4. Fluorescence
Interaction Rayons X matière
 Interaction Rayons X matière
 Les rayons X peuvent être :
 transmis sans changer de direction : on parle de radiographie X que l’on utilise pour la
détection de porosités ou de fissures par exemple,
 transmis en changeant de direction ou diffusés :
 sans perte d’énergie : diffusion élastique, elle est à l’origine de la diffraction des
rayons X par les cristaux,
 avec perte d’énergie (une partie de l’énergie est cédée à un électron) : on parle
alors de diffusion inélastique, l’effet Compton.
 Sous l’action du rayonnement incident, un photo-électron d’un atome de l’échantillon
peut être éjecté de la couche électronique qu’il occupait.
 L’électron éjecté est remplacé par un électron d’une couche supérieure. Ce saut
électronique s’accompagne d’un rayonnement X appelé rayonnement de
fluorescence, il est utilisé pour l’analyse chimique des cristaux.
 Ces phénomènes s’accompagnent d’un fort dégagement de chaleur.
 Absorption des Rayons X

 Phénomène mis en évidence l’existence des

rayons X
 Rayons invisibles capables de traverser des objets
de différentes épaisseurs
 Degré d’absorption dépend de:
 La nature chimique (Z)
 La densité
Roentgen  L’épaisseur
prix Nobel 1901 Mme Roentgen
1895
 Mesure de l'atténuation des RX

 Quand un faisceau de rayons X d’intensité I traverse une couche de matériau

d’épaisseur dx, l’intensité du faisceau émergent décroît d’une quantité dI telle que :
 dI = μ.I.dx
 où μ est le coefficient d’absorption linéaire (homogène à l’inverse d’une longueur).
 L’intensité du rayonnement transmis par un matériau d’épaisseur x est données:

I(x) = I0 e- μ x
 La loi de Beer-Lambert
Variation du coefficient d’absorption
μ = f()
 Discontinuités qui s’interprètent par l’effet photoélectrique,
absorption du photon par l’atome avec expulsion d’un électron.
 Emission d’un rayonnement secondaire dit de « fluorescence » et
éventuellement d’électrons Auger et secondaires.
 L’énergie h. du photon primaire soit supérieure à l’énergie de
liaison de l’électron. Une couche donnée, par exemple la couche
K, ne sera ionisée que par des radiations de fréquence 
supérieure à K telle que h.K = WK = h.c/K. La longueur d’onde
doit être inférieure à K
 Dès que  est inférieur à K, la couche K est ionisée et l’absorption
par cette couche est maximale, elle décroît ensuite avec . Le
même phénomène se produit avec les couches L mais
l’amplitude relative des discontinuités est plus faible.
 Variation du coefficient d’absorption
μ = f(Z)
 L’absorption croît avec le numéro atomique de l’élément.
 Les éléments légers sont peu absorbants alors que les éléments lourds le sont
beaucoup.
 L’accroissement de  avec Z n’est pas continu et présente des discontinuités qui
ont la même origine que les précédentes.
 Exemple: la raie K du cuivre ( = 1, 542Å)
 Les éléments de numéro atomique inférieur ou égal à 27 (cobalt) ont une
longueur d’onde critique K supérieure à  (KCo = 1, 608Å). C’est l’inverse pour
les éléments suivants (nickel : KNi = 1, 489 Å) et l’ionisation de la couche K
devient alors impossible.
 Pour la radiation KCu, il y a une brusque diminution du coefficient  entre le
cobalt et le nickel.
 Applications: Radiographie X

Source de
rayons X
1mm
5 mm x

20 mm

Image
projetée

CCD
Caméra
Al-20%pdsCu affiné
<G> = 4 K/mm; <V> = 39 µm/s

Thèse de Soltani Hadjer soutenue le 17/12/2020

Applications: Fenêtres et écrans

 Les fenêtres des tubes et des détecteurs sont constituées par des matériaux
peu absorbants donc ayant des petits numéros atomiques.
 Comme la tenue au vide des matériaux organiques est insuffisante, le
béryllium (z=4), malgré sa mise en œuvre difficile, reste le matériau
principal pour cet usage.
 Les verres classiques absorbent beaucoup aussi utilise-t-on des verres
spéciaux (verre de Lindemann) comme récipients pour les échantillons.
 À l’opposé le plomb (z=82) est le matériau privilégié pour la réalisation des
écrans soit sous forme de feuilles de métal soit sous forme de verres au
plomb.
 Applications: Filtres

 Un écran, dont la discontinuité est K, absorbe fortement les radiations de

longueurs d’onde plus courtes que K. Le doublet K est accompagné par la raie
K dont l’intensité relative est assez importante.
 Les phénomènes de diffraction dus à la radiation K se superposent à ceux dus à
la radiation K et compliquent l’interprétation des diagrammes. Comme la raie K
a une longueur d’onde plus faible que la raie K, on peut trouver un filtre qui
absorbe beaucoup la raie K et peu la raie K
 Pour constituer le filtre, il faut prendre un élément dont la discontinuité K
s’intercale entre les deux raies. Si un tel filtre permet d’éliminer la raie K, il ne
permet ni l’élimination du fond continu, ni la séparation des raies K1 et K2.
 Pour obtenir une lumière réellement monochromatique, il faut utiliser des
monochromateurs à cristal.
Diffusion des rayons X

 la matière éclairée par des rayons X réémet un rayonnement de longueur

d’onde égale ou supérieure à celle du rayonnement incident : c’est le
rayonnement diffusé. Son intensité est très faible mais avec le rayonnement
diffusé sans changement de longueur d’onde, on peut observer des
phénomènes d’interférences si le milieu étudié est périodique.

 Cohérente
 Incohérente
Diffusion incohérente: L’effet Compton

 Découvert par A. H. Compton en 1926.

 Résulte du choc entre le photon incident et l’électron.
 ’ −  = h/m.c (1 − cos )
 La longueur d’onde du photon diffusé est fonction de la
direction d’observation.
 Pas de relation de phase entre les ondes incidentes et diffusées.
 Les ondes diffusées par les différents électrons n’interfèrent
jamais, les intensités s’ajoutent simplement.
 En radiocristallographie, la diffusion Compton est un phénomène
parasite qui se traduit par une augmentation du bruit de fond.
 Diffusion cohérente ou diffusion Thomson
 La diffusion cohérente est due à une interaction élastique entre le rayonnement et la
matière.
 Soit (𝑉) un volume quelconque contenant 𝑁 atomes et leurs 𝑁𝑍 électrons, chaque
électron étant repéré par un vecteur 𝑟𝑗 .
 Ce volume est soumis à un faisceau de rayons X incident de vecteur d’onde associé 𝑘0
, modélisé par l’onde plane 𝐸0 𝑒−𝑖(𝜔𝑡−𝑘0 .𝑟 ) .
 Nous cherchons à déterminer l’expression de l’onde diffusée par l’ensemble des
électrons de (𝑉), lors du processus de diffusion Thomson (𝑘0=𝑘=2𝜋/𝜆=𝜔/𝑐).
Diffusion cohérente ou diffusion Thomson

 L’expression de l’onde diffusée par le volume (𝑉) s’obtient en sommant les

contributions de tous les électrons :
 L’onde diffusée est le produit de l’onde diffusée par un électron seul et
d’un terme d’interférences dépendant de la répartition des électrons et,
par suite, des positions atomiques dans le volume (𝑉).
 Le terme d’interférences est appelé amplitude de diffusion et noté 𝐴(𝑞), où
𝑞 =𝑘 −𝑘0 est le vecteur de diffusion.
 L’intensité diffusée 𝐼(𝑞 ) est donnée par le module au carré de l’amplitude
de diffusion.
 𝑨(𝒒⃗ )=∫𝝆(𝒓⃗) 𝒆−(𝒊𝒒⃗.𝒓⃗)𝒅𝑽
 On constate que l’amplitude de diffusion se calcule comme la transformée
de Fourier de la densité électronique.
 Diffusion cohérente ou diffusion Thomson

 Les paramètres sont montrés sur la figure

avec:
 q : le vecteur de diffusion.
 2: l'angle entre les vecteurs d'ondes incident
et diffusé.
 Aj, Aj' : les amplitudes diffusées par les
éléments A et A'.
 k0 ,k : les vecteurs d'onde des faisceaux
incident et diffusé.
 Il existe une relation de phase entre l'onde
incidente et l'onde diffusée
I=∣Σ Aj exp iqrj∣²
 Facteur de diffusion atomique

 Principe du calcul:
 On peut considérer en première approximation, que la matière est constituée d’atomes
indépendants et négliger l’influence des liaisons chimiques dans la répartition
électronique.
 La densité électronique est seulement fonction de r.
 Si on désigne par z le nombre d’électrons, on peut écrire :

 Aél est l’amplitude diffusée par un électron isolé, l’élément de volume dv qui contient
(r).dv électrons diffuse avec une amplitude dAS = Aél .(r).dv
 Facteur de diffusion atomique

 Propriétés du facteur de diffusion atomique:

 Il est une fonction décroissante de sin /.
 Les valeurs des facteurs de diffusion atomique ont fait l’objet de nombreuses études et
calculs.
 Des valeurs fiables sont tabulées dans les « Tables Internationales de Cristallographie ».
 Les électrons qui interviennent le plus dans la diffraction cohérente sont les électrons des
couches internes : les facteurs de diffusion d’un atome et de ses ions ne diffèrent que
pour les faibles valeurs de .
 La contribution des électrons de liaison et qui ont donc des répartitions diffuses, décroît
très vite avec .
 Diffusion des rayons X par un cristal
(La diffraction des rayons X)
 Dans un cristal, on admet que la densité électronique (r) est la superposition des densités
électroniques individuelles i(r), centrées sur les points ri, des atomes constituant le cristal

 La relation donnant l’amplitude diffractée :

 devient alors (V = (a, b, c) = V∗−1) :

 Dans un cristal la densité électronique est tripériodique. Si a, b et c sont les vecteurs de base
du réseau, on a : (r) =  (r + ua + vb + wc) avec r = xa + yb + zc (u, v, w entiers et 0 x, y, z < 1.)
L’expression de AS peut donc également s’écrire :
 Diffusion des rayons X par un cristal
(La diffraction des rayons X)
 Si l’on pose :

 et si m, n, p sont les nombres de mailles suivant Ox, Oy et Oz, on tire :

 Chaque somme vaut :

 La fonction FS qui est la transformée de Fourier de la densité électronique d’une maille

s’appelle le facteur de structure.
 L’amplitude diffusée et l’intensité du
signal

 L’intensité diffractée est donc :

 Diffusion des rayons X par un cristal
(La diffraction des rayons X)
 La figure de diffraction d’une structure périodique est égale au produit de la figure
de diffraction du motif par une fonction caractéristique de la seule périodicité de la
structure.
 La figure de diffraction d’un cristal est formée de points distincts correspondant
chacun à un nœud du réseau réciproque
 Condition de diffraction:
Règles d’extinction
 La loi de Bragg étant satisfaite, on aura diffraction si FS est non nul, le facteur de structure
peut s’écrire:

 La condition pour que le facteur de structure ne soit pas nul est la suivante pour chaque
type de réseau:
Mode de réseau Condition de diffraction sur h k l
P : Primitif (Simple) Pas d’extinction
I: Centré h+k+l = 2n
C: Bases Centrées h+k = 2n
F: Faces Centrées h, k, l, de même parité
 La diffraction des rayons X

 La longueur d'onde des rayons X étant de l'ordre de grandeur des distances

interatomiques (quelques angström), les interférences des rayons diffusés vont être
alternativement constructives ou destructives. Selon la direction de l'espace, on va
donc avoir un flux important de photons X, ou au contraire très faible ; ces variations
selon les directions forment le phénomène de diffraction X.
 Ce phénomène a été découvert par Max von Laue (Prix Nobel en 1914), et
longuement étudié par sir William Henry Bragg et son fils sir William Lawrence Bragg
(prix Nobel commun en 1915),
 Les directions dans lesquelles les interférences sont constructives, appelées " pics de
diffraction ", peuvent être déterminées très simplement par la loi de Bragg :
 La loi de Bragg
 Chacun des faisceaux diffractés se comporte en ce qui concerne sa direction comme
s’il était réfléchi selon la loi classique de la réflexion sur l’un des plans réticulaires du
cristal : chaque plan cristallographique joue le rôle de miroir et réfléchit environ 10−1 à
10−3 % de la radiation incidente.
 Considérons un faisceau de rayon X de longueur d’onde λ tombant avec une incidence
θ sur une famille de plans cristallins (hkl) définis par leur distance interréticulaire dhkl.
 Il y a diffraction si la loi suivante, appelée loi de Bragg, est vérifiée :

2d sin() = n
n: ordre de la diffraction.
 La loi de Bragg

 On peut démontrer la loi de Bragg en considérant la figure suivante. La différence de

marche entre les deux faisceaux diffractés par deux plans réticulaires consécutifs est
égale à 2dhklsin(θ). Une interférence additive apparaît lorsque cette différence de
marche est un multiple entier n de la longueur d’onde λ.
 Exercice d’application (Diffraction) :

 On envoie des rayons X de longueur d’onde λ = 0,15405 nm sur un fil de cuivre. On mesure les
angles 2 des anneaux de diffraction successifs suivants : 43,3°, 50,4°, 74,1°, 89,9°, 95,1°,
116,9°, 136,4° et 144,7 °.
1. Calculer le paramètre de la maille et en déduire le rayon atomique du cuivre.
2. Pourquoi n’y-a-t-il que 8 anneaux de diffraction ?
3. On utilise un fil en alliage nickel-cuivre. L’angle de diffraction correspondant aux plans (420)
est de 149,75°. Calculer le paramètre de la maille.
4. Déterminer le % atomique en cuivre de cet alliage en appliquant la règle des mélanges. On
donne les paramètres de maille du cuivre 0,36153 nm et du nickel 0,35238 nm.
5. Déterminer le % massique en cuivre de cet alliage. On donne les masses molaires du cuivre
63,54 g.mol-1 et du nickel 58,71 g.mol-1
Emission de photoélectrons
Emission de photons: La fluorescence X

 Le photon X cède toute son énergie à un électron de l'atome qui s'élève à

un niveau d'énergie supérieur et devient excité.
 Le rayonnement de fluorescence correspond à l'émission d'un photon suite
à la désexcitation de ce niveau d'énergie.
 L'onde émise ne présente pas de relation de phase avec l'onde incidente
et son énergie dépend de la nature chimique de l'atome.
 En résumé: Les interactions RX matière
1. Absorption
Diffraction des rayons X:
2. Diffusion
 Réseau cristallin
1. Incohérente:
 Facteur de structure
1) Compton
 Conditions de diffraction
2. Cohérente:
 Loi de Bragg:
1) Diffusion:
1. Cas général
2. Réseau cristallin: Diffraction 2d sin() = n
3. Emission
1. Photo-électron (Auger)
2. Fluorescence