Driou
Driou
Driou
THÉSE
présentée
devant l'Institut National des Sciences Appliquées de Lyon
pour obtenir
LE GRADE DE DOCTEUR
École doctorale : Électronique Électrotechnique Automatique
Formation Doctorale : Génie Électrique
par
Asif HAMMOUD
Ingénieur de l’Université Tichreen de Syrie
Soutenue le : 21 Octobre 2010 devant la Commission d'examen
Jury :
Cette thèse a été préparée au laboratoire AMPERE, INSA de Lyon avec le financement du Ministère de l'électricité, Syrie
INSA Direction de la Recherche - Ecoles Doctorales – Quadriennal 2007-2010
Je souhaite exprimer mes premiers remerciements au Ministère d'électricité de Syrie
pour le financement de cette étude.
M. Charles JOUBERT, qui m'a fait l'honneur de présider mon jury de thèse;
M. Stéphane LEFEBVRE et M. Yvan AVENAS pour avoir accepté d'être rapporteur de ce
travail;
M. Serge PELISSIER de sa participation au jury en tant qu’examinateur du travail présenté.
Je voudrais remercier M. Hervé MOREL de m’avoir acceuilli au début de cette thèse
dans son laboratoire, et pour ses judicieux conseils.
Je remercie M. Dominique BERGOGNE pour avoir encadré cette thèse, pour le sotien
tout au long de cette période, pour ses remarques constructives et pour ses qualités
humaines et surtout la confiance et la liberté dont lui a fait preuve.
Enfin, je remercie ma femme ,Hanan, qui m'accompagné et me soutient dans le temps
de cette thèse, pour sa patience et sa compréhension. Et je n'oublie pas ma p'tite étoile,
Eva, qui, à sa naissance, marque un nouveau espoir de ma vie.
Table des matières
Introduction générale 2
1 Les réseaux de distribution d'énergie électrique 5
1.1 Présentation générale des réseaux . . . . . . . . . . . . . . . . 6
1.2 Structure générale . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
1.2.1 Le réseau de transport . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
1.2.2 Les réseaux de répartition . . . . . . . . . . . . . . . . 8
1.2.3 Les réseaux de distribution haute tension . . . . . . . . 9
1.3 Les lignes électriques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
1.3.1 Bases physiques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
1.3.2 Equations de la lignes . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
1.3.3 Propriétés électriques des lignes de transport . . . . . . 15
1.3.4 Schéma équivalent d'une ligne . . . . . . . . . . . . . . 15
1.4 Problématique de la distribution d'énergie électrique . . . . . 16
1.4.1 Contraintes physiques sur le produit "électricité" . . . 16
1.4.2 Analyse des nouvelles contraintes sur le réseau . . . . . 19
1.4.3 Production décentralisée . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
1.4.4 Energies nouvelles . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
1.5 L'électronique de puissance dans les réseaux du futur . . . . . 31
1.5.1 Les systèmes FACTS et HVDC pour le contrôle des ré-
seaux . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
1.5.2 Transmission de l'énergie électrique par HVDC . . . . 35
1.5.3 Les technologies de transport de l'électricité . . . . . . 38
1.5.4 Les avantages et les applications du HVDC et du HVDC
Lightr . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
1.6 Les perturbations électriques dûes à la foudre . . . . . . . . . 41
1.6.1 Présentation de la foudre . . . . . . . . . . . . . . . . . 42
1.6.2 L'énergie de la foudre . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
1.6.3 Eets de la foudre . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
1.6.4 Eets d'un coup de foudre direct sur un réseau électrique 44
1.6.5 Les surtensions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
1.6.6 Les origines des surtensions transitoires . . . . . . . . . 46
1.7 La Protection Electrique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
1.7.1 La protection parallèle (en tension) . . . . . . . . . . . 48
1.7.2 La protection série . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
1.8 Conclusion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
Table des matières iii
d'énergie électrique
Sommaire
1.1 Présentation générale des réseaux . . . . . . . . . . . 6
Toute défaillance sur ces réseaux peut entraîner des défauts d'alimentation
sur des zones étendues, des chutes de tension importantes ou même des pertes
de synchronisme des alternateurs de centrales. Des dispositions sont prises
an qu`un incident ou une avarie sur une unité de production ou une ligne
de transport n'ait que peu ou pas de répercussion sur les utilisateurs. Ils
sont aujourd'hui équipés de systèmes de protection très élaborés, sélectifs,
permettant l'élimination des défauts pouvant les aecter et ainsi nuire à la
fois et à la qualité de fourniture, à la sécurité des biens et des personnes.
Dans un pays, les réseaux de transport et de distribution publics assurent
le transfert d'énergie électrique de points de production aux points de consom-
mation.
en cas d'urgence.
Le niveau de tension doit être élevée car les pertes Joules sont inversement
2 1
proportionnelles au carré de la tension (Pj = k/U ) pour une puissance de
service constante où (U ) est la tension du réseau et (k) une constante qui
dépend des lignes. Le transport d'énergie électrique peut être réalisé avec des
liaisons à courant continu (HV DC) ou à courant alternatif (AC). Les lignes
AC pour les longues distances ont des inconvénients liés aux problèmes de
stabilité et de compensation de l'énergie réactive pour conserver un bon niveau
de tension. Les liaisons à courant continu n'ont pas ces problèmes et ont même
des avantages économiques (lignes moins chères pour les mêmes conditions de
transport sur des distances susamment longues). Par contre, ils nécessitent
l'utilisation de convertisseurs AC/DC et DC/AC relativement chers. Il s'agit
là de la principale motivation de notre travail : l'utilisation de convertisseurs
statiques haute tension. Ce point est abordé dans les paragraphes suivants.
Enn, le réseau de transport est constitué essentiellement de lignes aé-
2
riennes de forte section, avec des sections des lignes variant de 570 mm à
1200 mm2 . [Bor00], [Pav05], et [Car91]. Cependant nous rencontrons aussi
des réseaux de transport (225 kV) en câble souterrain de longueur limitée
à quelques kilomètres pour l'alimentation des zones urbaines. Ces lignes et
câbles de réseau de transport sont généralement à structure maillée pour ga-
rantir la continuité de service et de fourniture d'une part, et pour augmenter
la puissance de court-circuit d'autre part. Cependant, la nécessité de main-
tenir les courants de court-circuit à un niveau acceptable conduit de plus en
plus, les exploitants à démailler de façon permanente, en un certain nombre de
poches indépendantes. Nous pouvons aussi noter l'utilisation de câbles HVDC
supra conducteur en zone urbaine.
1 Puissance
√ √
de service P = 3.U.I.cosΦ, donc le courant√I = P/( 3.U.cosΦ) Les
pertes Joules
√ Pj = R.I et en remplaçant I : Pj = R.P /( 3.U.cosΦ) = k/U où :
2 2 2 2
k = R.P 2 /( 3.cosΦ)2
1.2. Structure générale 9
réseaux est essentiellement aérienne. Par contre, lorsqu'ils sont proches des
villes, les lignes deviennent des câbles enterrés sur des longueurs n'excédant
pas quelques kilomètres.
HTB : Un > 50 kV
HTA : 50 kV > Un > 1 kV
BTB : 1 kV > Un >0.5 kV
BTA :0.5 kV > Un > 50 V
TBT : Un < 50 V
Un : Tension nominale (valeur efficace en volts)
An de réduire les coûts du matériel, un accord dans les niveaux de tension
a été prise en compte, ainsi les niveaux de tension à considérer sont montrés
dans le Tab. 1.1 :
HTA BT
50 Hz 50 Hz (Average in 10 sec) Va-
1% for the interconnected riations to 95% of time :
system ±1% for the interconnected
Frequency
1% for the non- system
interconnected system ±2% for the non-
interconnected system
éloignées mesurant parfois plus de 1000 km. Ces lignes se distinguent par la
quantité d'électricité qu'elles transportent. Les exigences n'étant pas toujours
les mêmes, plusieurs facteurs techniques, économiques et environnementaux
inuent sur la planication des nouvelles lignes de transport.
di du
− du = R.dx.i + L.dx. , −di = G.dx.u + C.dx. (1.1)
dt dt
Si l'on divise par dx et si l'on tient compte que u et i sont fonctions des deux
variables x et t, on obtient les équations fondamentales de la ligne électrique
1.3. Les lignes électriques 13
∂u ∂i ∂i ∂u
− = R.i + L. , − = G.i + C. (1.2)
∂x ∂t ∂x ∂t
En particulier, si u et i sont des grandeurs alternatives de pulsation ω, on
peut les présenter par des phaseurs :
dU dI
− = R.I + jωLI , − = G.U + jωCU (1.3)
dx dx
où les paramètres R et L dépendent en général de la fréquence en raison
des eets pelliculaires. Avec la dénition :
dU dI
− =Z I , − =Y U (1.5)
dx dx
Par dérivation de la première des équations (1.5) on obtient :
d2 U dI
2
= −Z =Z Y U (1.6)
dx dx
La solution générale de cette équation diérentielle est :
avec
p p
γ = α + jβ = Z Y = (R(ω) + jωL(ω))(G + jωC) (1.8)
où :
dU d2 U
= −A γ e−γx + B γ e−γx , = A γ 2 e−γx + B γ 2 eγx = γ 2 U (1.9)
dx dx2
Le courant s'obtient tenant compte de l'équation (1.5) :
dU 1 γ −γx γ γx
I=− =A e −B e (1.10)
dx Z Z Z
14 Chapitre 1. Les réseaux de distribution d'énergie électrique
et si on pose :
s s
Z R(ω) + jωL(ω)
Z c = = = impédance caractéristique (1.11)
Y G + jωC
on obtient enn :
A −γx B −γx
I= e − e (1.12)
Zc Zc
Pour une ligne de longueur l, on calcule A et B. Les équations (1.7) et
(1.12) donnant la tension et le courant au point x de la ligne. En donnant les
valeurs en début de ligne (x = 0), on obtient les équations (1.15, 1.16), et en
donnant celles à la n de la ligne (x = l), les équations (1.19, 1.20).
Avec la valeurs en début de ligne, on a :
A B
U 1 =A+B , I 1 = − (1.13)
Zc Zc
1 1
A= (U 1 +Z c I 1) , B= (U 1 +Z c I 1) (1.14)
2 2
Ce qui conduit à :
1 1
U= (U 1 +Z c I 1 ) e−γx + (U 1 −Z c I 1 ) e−γx (1.15)
2 2
et le courant
1 1
I= (U 1 +Z c I 1 ) e−γx − (U 1 −Z c I 1 ) e−γx (1.16)
2Zc 2Zc
Et la valeurs en n de ligne :
A −γl B γl
U 2 = A e−γl + B eγl , I 2 = e − e (1.17)
Zc Zc
Et les valeurs de A et B :
1 1
A= (U 2 +Z c I 2 ) eγl , B= (U 2 −Z c I 2 ) e−γl (1.18)
2 2
on obtient :
1 1
U= (U 2 +Z c I 2 ) eγ(l−x) + (U 2 −Z c I 2 ) e−γ(l−x) (1.19)
2 2
1 1
I= (U 2 +Z c I 2 ) eγ(l−x) − (U 2 −Z c I 2 ) e−γ(l−x) (1.20)
2Z c 2Z c
1.3. Les lignes électriques 15
U 2
I= sinh γ(l − x) + I 2 cosh γ(l − x) (1.22)
Z c
Toutes les équations données dans ce paragraphe ont été déduites pour le
régime stationnaire mais peuvent être transposées au cas dynamique à l'aide
de la transformation de Fourier ou de Laplace.
2. Les pertes doivent être faibles an que la ligne possède un bon rende-
ment ;
xl1 r1 xln rn
xc 1 xc n
Fig. 1.3 L'impédance d'une ligne de transport est composée d'une série de
sections identiques.
d'une ligne à 50 Hz lorsque la longueur est inférieur à 250 km. Notons que R
et XL augmentent avec la longueur de la ligne, tandis que XC diminue avec
celle-ci.
Xl R
i
2.Xc 2.Xc
électrique
Dans ce paragraphe, nous allons passer en revue les contraintes sur le ré-
seau de distribution. Ces contraintes peuvent se diviser en deux : les contraints
classiques (physiques) qui concernent le produit électricité et les nouvelles
contraintes comme la production décentralisée. Cet impact de la production
à base de sources renouvelables pose de nouvelles contraintes, peu connues
auparavant.
Les caractéristiques des charges sur le réseau font que le courant absorbé
par celles-ci n'est pas en phase avec la tension aux bornes. Le cosinus de
l'angle entre le courant et la tension est appelé facteur de puissance, il
caractérise l'échange de puissance et constitue un facteur de qualité dans
la mesure où une valeur diérente de l'unité entraîne pour le réseau un
accroissement de courant et donc une surcharge et des pertes, ainsi que
des chutes de tension. En pratique, on caractérise l'échange d'énergie non
18 Chapitre 1. Les réseaux de distribution d'énergie électrique
Les lignes courtes peuvent être considérées comme une impédance série
entre les deux points reliés et se représentent par un simple schéma
monophasé équivalent sur la Fig. 1.5.
Ligne aérienne : 0, 4 Ω/km.
Ordre de grandeur de X =
Câble souterrain : 0, 04 Ω/km.
1.4. Problématique de la distribution d'énergie électrique 19
de l'ensemble du réseau. Par rapport à ces unités classiques, les unités décen-
tralisées sont caractérisées par des puissances ne dépassant pas 50 à 100 MW,
ne sont pas planiées de manière centralisée, ni actuellement coordonnées,
elles sont généralement raccordées au réseau de distribution et ne sont pas
non plus actuellement destinées à assurer des services systèmes. Cette pro-
duction décentralisée se développe dans tous les pays, sur la base d'unités de
co-génération, d'énergies renouvelables ou de production traditionnelle, ins-
tallées par des producteurs indépendants. De nombreuses raisons, techniques
et économiques, justient le développement de ce type de production, parmi
lesquelles nous relevons les suivantes :
la technologie disponible actuellement ore les garanties de abilité pour
des unités de 100 kW à 150 MW ;
les sites pour une production de puissance réduite sont plus faciles à
trouver ;
la production est réalisée à proximité de son utilisation, de manière à
réduire les frais de transport et à améliorer l'ecacité énergétique ;
le gaz naturel, vecteur énergétique souvent utilisé en production dé-
centralisée, est supposé être facilement disponible dans la plupart des
centres de consommation et conserver un prix stable ;
les systèmes basés sur le gaz sont construits en beaucoup moins de temps
et représentent des investissements nettement moins importants en com-
paraison avec les grosses centrales classiques utilisant un autre vecteur
d'énergie primaire ;
les rendements énergétiques supérieurs des systèmes de co-génération ou
à cycle combiné (gaz et vapeur) permettent une réduction des frais de
fonctionnement ;
les politiques des états pour promouvoir des technologies propres an de
réduire les émissions de CO2 , et promouvoir les énergies renouvelables
par des subsides et des interventions dans les tarifs, qui conduisent à des
conditions économiques intéressantes.
La caractéristique fondamentale de la production décentralisée est d'être
pilotée par un autre facteur que la demande d'électricité.
Il en résulte des incertitudes sur :
la localisation géographique ;
la dynamique du développement ;
les niveaux et moments d'activité de production ;
les conséquences sur le développement des réseaux électriques.
Ces derniers doivent en eet être en mesure d'une part, d'accueillir la
production décentralisée quand elle est active et d'autre part, d'acheminer
la puissance de substitution quand la production décentralisée est inactive.
La production décentralisée a donc inévitablement un impact plus ou moins
22 Chapitre 1. Les réseaux de distribution d'énergie électrique
En outre, il faudra veiller aux eets sur le maintien des niveaux maximals
et minimals de la puissance de court-circuit, sur la sélectivité des protections,
sur le niveau de tension (surtensions).
Fig. 1.8 Eolienne à vitesse variable basée sur une machine asynchrone à
double alimentation. [Rob06]
Fig. 1.9 Eolienne à vitesse variable basée sur une machine synchrone à
grand nombre de paires de pôles. [Rob06]
1.4. Problématique de la distribution d'énergie électrique 29
1.4.4.3 Photovoltaique
Principe : La conversion directe de l'énergie lumineuse en énergie élec-
trique, soit L'eet photo-voltaïque été découvert par le physicien français
Becquerel en 1839.[Bub98]
Cette conversion est assurée par les cellules photo-voltaïques qui sont le
2 2
plus souvent composées de silicium avec un ecacité de 120 W/m (100 W/m
en 1999).[ES07]
2. L'Onduleur :
L'insertion d'énergie à caractère aléatoire dans un réseau isolé pose des pro-
blèmes plus contraignants que dans un grand réseau continental interconnecté.[EDF06].
La puissance fournie par ces générateurs est par nature aléatoire. Les varia-
tions de vents ou d'ensoleillement se traduisent par de fortes variations de
30 Chapitre 1. Les réseaux de distribution d'énergie électrique
du futur
Ces dernières années les réseaux électriques ont déjà connu un accroisse-
ment considérable des interconnexions et ont été exploités de plus en plus
près de leurs limites de stabilité et de sécurité en raison des contraintes écono-
miques et d'une opposition croissante à la construction de nouveaux ouvrages
(lignes, centrales) dans des zones à forte densité de population.
Ces liaisons à courant continu ont prouvé aussi que par action rapide sur
les convertisseurs électroniques, elles pouvaient améliorer le comportement des
réseaux en matière de stabilité et d'amortissement d'oscillations, et qu'elles
constituaient aussi un moyen d'augmenter la exibilité des réseaux à courant
alternatif et pouvaient donc intervenir dans leur contrôle.
Une première classe qualiée de systèmes mixtes est constituée par des
systèmes classiques de contrôle (transformateurs à prises, transforma-
teurs décaleurs de phase, banc de condensateurs) dans lesquels les in-
terrupteurs mécaniques ont été remplacés par des interrupteurs électro-
niques à semi-conducteurs utilisant des thyristors ;
Deux autres classes sont basées sur l'utilisation de convertisseurs élec-
troniques de puissance.
Niveau de
300 à 50 à 2 x 160 Mvar
puissance
800 Mvar 500 Mvar
Tab. 1.3 Inventaire des systèmes en service de l'heure actuel dans les réseaux
et leurs fonctions
SVC : Static Var Compensator
TCSC : Thyristor Controlled Series Capacitor
TSSC : Thyristor Switched Series Capacitor
SVG : Static Var Generator
UPFC : Unied Power Flow Controller
1.5.2.1 Introduction
Un peu d'histoire : En 1882 la Edison Electric Light Company de
Thomas Edison fonde la première centrale électrique du monde à base de 6
dynamos Jumbo le 4 septembre pour produire du courant continu dans le
quartier de Wall Street de Manhattan, d'une capacité de 1 200 lampes pour
éclairer 85 maisons, bureaux ou boutiques.[edi]
7
Puissance (GW)
6
0
1 920 1 940 1 960 1 980 2 000 2 020
stations de conversion. L'aérien est moins cher (une liaison aérienne à cou-
rant continu serait plus chère que l'aérien alternatif jusqu'à 500 km environ).
La Fig. 1.14 montre la structure de coût des éléments de réseau en courant
continu et en courant alternatif.
900
800 C
al A
t tot
û
700 Co l DC
tota
Coût
600
Le coût [M€]
[3]
500
400 (3)
[2]
300
200 (2)
[1]
100
(1)
0
0 200 400 500 600 800 1 000
La dist ance [km]
En bref, les lignes DC présentent une solution pratique dans des conditions
particulières, où les lignes AC ne sont pas une solution acceptable.
Donnons quelques exemples pour illustrer cette comparaison :
2. Il faut aller par exemple en Chine pour trouver de grands projets aérien à
courant continu : Xiangjiaba-Shanghai pour 6400 MW sur 2071 km ! [Yua08]
Sur un plan qualitatif, les liaisons à courant continu présentent des avan-
tages certains :
Pour la répartition sur un réseau maillé, le courant alternatif est à la
merci de la seconde loi de Kirchho, en particulier en cas d'incident ceci
peut provoquer des phénomènes incontrôlés [Mer08] ;
En courant continu, les ux ne dépendent que des consignes aux deux
extrémités de la liaison ;
Pour la stabilité, les alternateurs d'un réseau alternatif doivent avoir des
vitesses rigoureusement identiques. Ces contraintes de stabilité rendent
40 Chapitre 1. Les réseaux de distribution d'énergie électrique
Malgré ces avantages, les liaisons à courant continu ne se sont vraiment déve-
loppées que dans des circonstances particulières : liaisons sous-marines, liai-
sons longues distances. En eet, le réseau alternatif a été dès le début incom-
parable pour mutualiser les moyens tant de production que de transport, ce
qui est un élément clef de la résistance aux chocs que sont les incidents. Et, si
les technologies à courant continu ont beaucoup progressé au cours des qua-
rante dernières années, les technologies à courant alternatif ont aussi évolué.
Avec les technologies d'il y a quarante ans, on ne pourrait pas exploiter le
réseau dans les conditions actuelles. Les progrès ont favorisé l'alternatif dans
deux domaines :
2. Prévention des coupures. Les lignes HVDC ne peuvent pas être mises
en surcharge. La technologie HVDC permet de maîtriser le débit de
l'énergie transportée. Avec le HVDC, l'énergie peut ainsi faire l'objet de
1.6. Les perturbations électriques dûes à la foudre 41
Les surtensions induites par la foudre dans les réseaux d'énergie électriques
et les réseaux de communication sont de nos jours l'une des causes principales
des problèmes de qualité d'énergie fourni aux consommateurs et de compati-
bilité électromagnétique. Ces dernières années, en raison de la demande crois-
sante d'une meilleure qualité d'énergie électrique corrélée avec l'utilisation
répandue de dispositifs électroniques sensibles connectés aux lignes de distri-
bution, la protection contre des perturbations induites par la foudre est de-
venue d'une importance primordiale. Par conséquent, l'évaluation précise des
42 Chapitre 1. Les réseaux de distribution d'énergie électrique
surtensions induites par la foudre est devenue essentielle pour une protection
ecace des systèmes électriques et électroniques. En outre, les composants
électroniques sensibles utilisés dans les systèmes de communication et dans
les réseaux électriques peuvent subir des perturbations à des niveaux de plus
en plus bas d'interférences électromagnétiques induites. En conséquence, le
problème de l'évaluation des perturbations induites par la foudre dans les
câbles souterrains a récemment attiré plus d'attention comparé au passé.
On distingue quatre types principaux de perturbations, d'origine naturelle
ou articielle, pouvant induire dans les équipements électriques, électroniques
et électrotechniques des surcharges momentanées ; ce sont :
Une observation plus ne montre que cette répartition globale des charges
est modiée par les courants d'air internes au nuage. Ils ont tendance à grou-
per les charges sous forme de cellules positives et négatives juxtaposées. Ces
cellules ont une durée de vie de l'ordre de 30 minutes et une charge de plu-
sieurs centaines de Coulombs. Lorsque la diérence de potentiel entre le sol
et le nuage devient supérieure à la rigidité diélectrique de l'air (généralement
estimée entre 10 et 30 kV/cm suivant le taux d'humidité), l'arc se développe
[Lar95].
Tout d'abord, une colonne d'air ionisée (pilot stream) se forme et se rap-
proche du sol. Après une extension de 30 à 50 m de cette colonne, une décharge
plus intense, le précurseur (stepped leader), se forme et permet au pilot stream
de continuer sa progression d'un bond supplémentaire de 30 à 50 m. La pé-
riode de ces bonds évolue d'une centaine de microsecondes au moment de
l'amorçage jusqu'à entre 5 et 10 µs lorsque la colonne approche du sol [Lar95].
Quand le précurseur se rapproche du sol, la charge positive locale du sol se
concentre (plus précisément les charges négatives présentes dans cette région
sont repoussées). Une fois le champ électrique susant, un canal ionisé part
du sol (streamer) en direction du précurseur. Quand ces deux canaux se ren-
contrent, les charges se neutralisent et créent un chemin de basse impédance
qui permet à un courant de plus en plus important de transiter du nuage vers
le sol (arc en retour ou return stroke). C'est cette zone fortement conductrice
qui crée le ash associé à l'éclair.
√
A fréquence ≤ 3 longue fréquence faible
industrielle >1s industrielle
(défaut d'isolement)
1. La foudre par impact sur les lignes aériennes. En tombant sur la ligne,
la foudre crée une onde de courant de plusieurs milliers d'ampères qui
provoque une surtension sur les appareils raccordés à la ligne ;
4. Les parasites industriels. Ils sont créés par des postes à soudure, des
lampes à décharges, des moteurs, des fours à arc... ;
Ceci se traduit par un courant de fuite très faible pour un limiteur de ten-
sion et une résistance série la plus faible possible pour un limiteur de courant.
Pendant la phase de limitation (en tension ou en courant), le composant doit
pouvoir dissiper une énergie la plus élevée possible.
48 Chapitre 1. Les réseaux de distribution d'énergie électrique
I = K.V α
où K est une constante spécique au composant,
α coecient de non-linéarité.[F.N01]
Une rapide présentation des diérents composants utilisés contre les sur-
tensions est proposée dans le tableau Tab. 1.5[Com00]
Toutefois, le courant résultant de tel défaut peut atteindre des valeurs très
importantes. La seule limitation étant l'impédance propre de l'installation et
la capacité du générateur à délivrer la puissance à la charge dégradée.
fusibles,
composants polymères (PolySwitch ®),
supraconducteurs,
bilames.
Les courants de court circuit peuvent être limités par des systèmes de régu-
lation ; le fusible ne joue alors plus le même rôle : sa place est importante dans
les installations sur le plan de la sécurité mais sa fonction devient celle d'un
organe de coupure ultime, moins sélectif. Si de nouveaux composants avec des
caractéristiques électriques meilleures qu'actuellement arrivent sur le marché,
les caractéristiques électriques des fusibles devront évoluer et certains pro-
duits devraient être moins complexes. La protection série deviendrait hybride
1.8. Conclusion 51
réseau de distribution
Sommaire
2.1 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
2.5 Conclusion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 84
2.1 Introduction
à hautes températures ;
à hautes fréquences ;
à fortes puissances, en milieu hostile (températures élevées, sources de
radiations...) ;
à hautes tensions.
En 1955, Lely [Lel55] proposa un nouveau concept pour faire croître des
couches de SiC de haute qualité. Il mit au point une méthode de fabrication
de substrats relativement purs et présentant une faible densité de défauts. De
nombreuses équipes de recherche aux États-Unis, en Russie, en Allemagne et
au Japon se lancent alors sur l'étude du SiC. Puis cet engouement fut freiné
par la possibilité d'accroître la taille des substrats ce qui conduit, les années
suivantes, à une baisse de l'intérêt porté au SiC et à l'abandon de l'activité,
sauf en Russie.
1978 est une année majeure dans le SiC avec l'arrivée de la technique
2.2. Le carbure de silicium 55
Au début des années 1980 les substrats deviennent plus grands, et ceci
relance les études sur le SiC dans de nombreux pays : aux États-Unis, au
Japon et en Europe.
Les LED en SiC sont déjà commercialisées et les progrès eectués sur cette
technologie laissent supposer que de nombreuses autres applications devraient
voir le jour dans un avenir proche.
+
Le canal vertical du JFET est formé entre les deux couches enterrées P .
Ce canal est caractérisé par les paramètres b, h, Ndd avec :
Chapitre 2. L'électronique de puissance et le réseau de
60 distribution
h : la longueur du canal vertical ;
b : la demi-largeur du canal vertical ;
Ndd : le niveau de dopage du canal vertical.
Fig. 2.5 Evolution de la section des deux canaux du JFET dans le régime
linéaire.
La Fig. 2.6 montre le régime sous linéaire (Vds ≤ Vdssat ). En augmen-
tant la tension de Vds, l'extension de la zone de charge d'espace devient
de plus en plus large dans le canal. Le courant présente une variation
sous linéaire avec la tension Vds et amorce une saturation.
La Fig. 2.7 montre le régime de saturation (Vds ≥ Vdssat ). Le canal
conducteur est pincé, les zones de charge d'espace se rejoignent, le cou-
rant Ids est égal au courant de saturation Idssat .
Fig. 2.6 Evolution de la section des deux canaux du JFET dans le régime
sous-linéaire.
Fig. 2.7 Evolution de la section des deux canaux du JFET dans le régime
pincé.
être utilisé sans diode de roue libre externe. Pour polariser le JFET en mode
inverse, une tension négative est appliquée entre drain et source pour polariser
la diode interne en direct, et la tension de contrôle Vgs est comprise entre
0 V et la tension de pincement, an de contrôler l'état du canal.
Les caractéristiques statiques en inverse du JFET sont montrées sur la Fig. 2.10
◦
à des température comprises entre la température ambiante et 300 C.
Sur les gures précédentes, on peut constater que le courant inverse du
JFET circule même si la tension Vgs est inférieure à la tension de pincement,
parce que une diode interne existe entre drain et source. On peut distinguer
deux (chemins) pour le courant en inverse selon la valeur de tension Vgs ap-
pliquée : pour les faibles valeurs de Vds, le courant va circuler principalement
Chapitre 2. L'électronique de puissance et le réseau de
64 distribution
250 5
200 4
Vds [V]
Ids [A]
150 3
100 2
50 1
0 0
-50 -1
-3 -2 -1 0 1 2 3
Temps [us]
500 6
5
400
4
300
Vds [V]
3
Ids [A]
2
200
1
100
0
0 -1
-3 -2 -1 0 1 2 3
Temps [us]
Fig. 2.12 Les formes d'ondes du courant IDS et de la tension VDS à l'ouver-
ture du transistor JFET-SiC à la température 25 ◦ C et pour une tension VDS
= 300 V.
Fig. 2.14 Les formes d'ondes des courants et tensions du transistor JFET
durant la fermeture du transistor pour une tension VDS = 250 V.
JFET 1
V C L
IGBT I
JFET 2
Les pertes totales estimées pour ce bras sont la somme des pertes en com-
mutation mesurées et les pertes en conduction calculées, en prenant en consi-
dération l'inuence de la température et pour un courant nominal de 0,5A.
La Fig. 2.16 montre la variation des pertes totales en fonction de la fréquence
pour diérentes températures. Cette expérience montre la possibilité d'utili-
ser les JFET dans un bras d'onduleur jusqu'à des fréquences de l'ordre de
100 kHz.
Le laboratoire Ampère, en collaboration avec le groupe SAFRAN, a ensuite
◦
réalisé un onduleur triphasé fonctionnant à 200 C, [Ber08]. Cet onduleur,
réalisé avec six JFET-SiCED (1200 V - 15 A) fonctionne pour une tension
de 540 VDC, et délivre un courant de charge de 15 A crête à la fréquence de
10 kHz.
Toujours à partir du JFET-SiC un hacheur dévolteur a été réalisé avec un
JFET-SiC et une diode Schottky SiC par Kelley [Kel05]. Le type de JFET
utilisé est de type normalement ouvert avec une tenue de tension de 600 V.
Ce montage tend à montrer la relation entre le rendement du JFET et la
température. Kelley a montré que le rendement diminue avec l'augmentation
de la température. Ici, la plupart des pertes sont dûes à la diode Schottky-SiC
à haute température.
Un onduleur triphasé de 4 kW a été réalisé par Cilio [Cil07]. Ce montage
Chapitre 2. L'électronique de puissance et le réseau de
70 distribution
Fig. 2.16 Estimation des pertes totales d'un bras d'onduleur à JFET en
fonction de la fréquence. D'après [Ber05]
V JFET I L
Vin SBD C Vo
a
b
c
une résistance à l'état passant de 1,35 Ω. Les pertes totales mesurées pour
une puissance de 20 kW et une fréquence de 50 kHz étaient de 149 W. Dans
le cas où les interrupteurs utilisés sont des IGBT-Si, et pour une puissance
de 10 kW avec une fréquence de 20 kHz, les pertes totales mesurées étaient
de 336 W. On voit ici l'avantage des JFET-SiC sur les IGBT-Si dans le cas
d'une application haute tension (6kV). Ces mesures ont été utilisées pour éva-
Fig. 2.20 Schéma électrique équivalent du PFC triphasé réalisé avec des
transistors JFET-SiC et des diodes Schottky-SiC.[Cas07]
BJT ont été pratiquement remplacés par l'IGBT et dans certains cas le thy-
ristor aussi. Le choix se fait plus facilement puisqu'on retrouve trois groupes :
la famille des thyristors (bipolaire) pour les très grandes puissances, les MOS-
FET pour les applications hautes fréquences et les IGBT (conduction mixte)
pour les puissances moyennes et les fréquences moyennes.
Dans la partie qui suit, une comparaison entre JFET, BJT de famille de
SiC et IGBT en Silicium est présenté d'après les travaux de W. Franke [Fra09].
Ensuite, une étude menée par nous même compare un module IGBT-Si du
commerce à un module imaginaire fait de 40 puces de JFET-SiC (ces puces
sont disponibles aujourd'hui sous forme d'échantillons).
Par conséquent, les pertes totales de IGBT, BJT et JFET sont dénies
comme les pertes en commutation et conduction, les pertes dans le driver
sont prises en compte.
Chapitre 2. L'électronique de puissance et le réseau de
74 distribution
L'IGBT possède une chute de tension à l'état passant qui peut se décom-
poser en deux composantes :
Fig. 2.21 Comparaison des pertes totales pour BJT, JFET et IGBT sous
les conditions suivantes : 150 ◦ C, 40 KHz, 6 A, 600 V. [Fra09]
est un degré de liberté qu'il faut explorer. Le calibre en courant, imposé par
la charge, est une aaire de mise en parallèle. Aussi nous avons fait l'étude
présentée dans le paragraphe suivant.
Les paramètres d'une puce unique de JFET-SiC sont les suivantes : VDS = 1200 V,
max
IDS = 45 A, valeurs mesurées à Ampère. Les conditions de notre comparaison
sont :
3
JFET
2,5 IGBT
2
I [kA]
1,5
0,5
0
0 0,5 1 1,5 2 2,5 3 3,5 4 4,5
V [v]
◦ ∗ ∗∗
à 125 C JFET-SiC IGBT-Si
Tab. 2.2 Valeurs à 125 ◦ C pour une tension VDC = 500 V et à courant
nominal
(∗ : mesuré au laboratoire Ampère, ∗∗ : d'après le datasheet de l'IGBT)
à la fermeture :
2.3. Le JFET en SiC 77
t on
com 1
PON = .V.I.tOn .f
2
à l'ouverture :
com 1
POF F = .V.I.tOf f .f
2
com
d'où des pertes totales en commutation (Ptot ) somme des pertes en com-
mutation à l'ouverture et à la fermeture :
Par comparaison, le module de 40 JFET possède les pertes les plus faibles
en commutation. Les pertes en commutation de l'IGBT sont élevées et dé-
nissent une limite en hautes fréquences. A pertes en conduction constantes, le
module de JFET est plus ecace pour les applications hautes fréquences.
5
IGBT(900A)
Pert es - Commut at ion [kW] IGBT(600A)
4 IGBT(300A)
JFET(900A)
JFET(600A)
3 JFET(300A)
0
1 10 100
Fréquence [kHz]
con 2
PJF ET = RON .Ief f
con 2
Ptot−JF ET = 40.RON .Ief f
où :
RON , Ief f : sont la résistance à l'état passant et le courant ecace d'un
seul JFET respectivement.
con 2
PIGBT = Rint .Ief f + VCE,sat .Imoy
3,5
IGBT
Pert es en conduct ion [kW]
3 JFET
2,5
1,5
0,5
0
0 200 400 600 800 1 000
Courant [A]
2
Pdriver = c.vdriver .f
Commande de grille unipolaire, entre vdriver et zéro.
où f est la fréquence de commutation,
vdriver , la tension appliquée en sortie du driver.
et c, le condensateur équivalent à la capacité de la grille.
c est un condensateur xe qui appelle le même courant pic que la Grille
du JFET en fonctionnemnet normal. c permet de faire des calculs approchés
sans prendre en compte les variations des capacitées du JFET et permet aussi
de tester et caractériser les drivers de JFET de façon normative.
La Fig. 2.27 montre les pertes de commande pour le module JFET et
◦
IGBT en fonction de la fréquence, à la température 125 C. A partir de cette
gure, nous pouvons dire que les pertes de commande dans le cas du module
de JFET sont plus hautes. Ceci est dû à la diérence de tension de pincement
des IGBT et des JFET et à la diérence de capacité d'entrée.
Fig. 2.27 Les pertes de commande des modules à JFET et IGBT en fonction
de la fréquence à la température 125 ◦ C.
2.3. Le JFET en SiC 81
Les pertes totales : Nous allons calculer les pertes totales pour le module
de JFET et l'IGBT en fonction du courant et de la fréquence an de pouvoir
faire une comparaison générale, non dépendante d'une application. Par consé-
quent, les pertes totales sont la somme de toutes les pertes de (commutation,
conduction et driver) :
1 2 2
Ptot−JF ET = 40.( .V.Imoy .(tOn + tOf f ).f + RON .Ief f + c.vdriv .f )
2
où :
f est la fréquence de commutation,
Imoy : la valeur moyenne du courant d'un seul JFET,
Ief f : la valeur ecace du courant d'un seul JFET,
c : la capacité équivalente de la grille d'un seul JFET,
vdriv : la tension de driver.
et pour l'IGBT :
1 2 2
Ptot−IGBT = .V.Imoy .(tOn + tOf f ).f + Rint .Ief f + VCE,sat .Imoy + c.vdriv .f
2
La Fig. 2.28, la Fig. 2.29, la Fig. 2.30, et la Fig. 2.31, montrent les
résultats de cette comparaison :
7
IGBT(100kHz)
6 IGBT(10kHz)
Pert es t ot ales [kW]
IGBT(1kHz)
5 JFET(100kHz)
JFET(10kHz)
4 JFET(1kHz)
0
0 200 400 600 800 1 000
Courant [A]
Fig. 2.28 Les pertes totales en fonction du courant pour une gamme de
fréquence (1 kHz, 10 kHz et 100 kHz) à 125 ◦ C.
Chapitre 2. L'électronique de puissance et le réseau de
82 distribution
6
IGBT(300A)
JFET(300A)
5
Pert es t ot ales [kW]
0
1 10 100 1 000
Fréquence [kHz]
Fig. 2.29 Les pertes totales en fonction de la fréquence pour une valeur de
courant : 300 A à 125 ◦ C.
12
IGBT(600A)
10 JFET(600A)
Pert es t ot ales [kW]
0
1 10 100 1 000
Fréquence [kHz]
Fig. 2.30 Les pertes totales en fonction de la fréquence pour une valeur de
courant : 600 A à 125 ◦ C.
En conclusion, d'après la Fig. 2.32, les pertes dans le module IGBT sont
plus importantes que dans le module JFET quand la fréquence est haute.
Par contre, lorsque l'on se trouve dans la gamme haute du courant, l'IGBT
retrouve des performances meilleures si on réduit la fréquence. C'est donc le
2.3. Le JFET en SiC 83
16
IGBT(900A)
14 JFET(900A)
Pert es t ot ales [kW]
12
10
0
1 10 100 1 000
Fréquence [kHz]
Fig. 2.31 Les pertes totales en fonction de la fréquence pour une valeur de
courant : 900 A à 125 ◦ C.
Fig. 2.32 Les pertes totales en fonction de la fréquence pour les modules
JFET-SiC et IGBT-Si à 125 ◦ C.
Chapitre 2. L'électronique de puissance et le réseau de
84 distribution
2.4 Discussion autour la possibilité d'utiliser le
de distribution
2.5 Conclusion
Dans ce chapitre, nous avons présenté les avantages possibles d'utiliser les
composants de puissance à base de SiC par rapport aux composants en Si, avec
pour objectif des applications directement connectées au réseau de distribution
électrique. Dans ce type d'applications, les propriétés remarquables du SiC
mises à prot sont la conductivité thermique et la tenue en tension associée à
de faibles résistances passantes. La capacité à fonctionner à haute température
n'est pas utile dans les conditions normales d'exploitation. Par contre lors
de transitoires sur les réseaux, dûs à des manoeuvres d'origine humaine ou
suite à des surcharges ou, plus naturellement, suite à des chocs de foudre, la
robustesse des composants en SiC est un atout. Le chapitre qui suit, aborde
cette problématique.
Chapitre 3
Impact d'un choc de foudre
Sommaire
3.1 Le JFET sous un choc de foudre . . . . . . . . . . . . 86
3.2.1 Principe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 93
3.2.2 Calibration du paramètre thermo-sensible . . . . . . . 95
3.2.3 Séquence de commutation des interrupteurs K1 , K2 , K3
et K4 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99
3.2.4 Moyen de mesure . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 101
3.3 Validation Expérimentale et Mesures . . . . . . . . . 102
Toutefois, aujourd'hui seuls les JFET en SiC sont facilement disponibles. Nous
nous sommes donc concentrés sur ce composant. Les JFET en carbure de
silicium pourraient être utilisés dans les onduleurs de couplage pour augmenter
le rendement de ces systèmes. C'est pourquoi nous nous sommes penchés sur
la problématique du choc de foudre sur ce composant dont les caractéristiques
issues du SiC promettent une robustesse accrue par rapport aux composants
classiques comme l'IGBT en silicium.
Dans ce chapitre, nous allons montrer la possibilité d'utiliser les JFET en
SiC dans un convertisseur directement relié au réseau de distribution. Ceci im-
plique de prévoir un ensemble de protections contre les agressions électriques
externes, en particulier les chocs induits par la foudre.
Ainsi, nous allons présenter dans ce chapitre, premièrement la norme qui
montre les paramètres principaux du choc de foudre, puis le générateur de
choc qui est réalisé pour produire un choc compatible avec la norme interna-
tionale, deuxièmement, un dispositif expérimental pour soumettre le JFET à
un choc de foudre et estimer la température durant le choc. Enn, les résultats
expérimentaux obtenus sont confrontés à une tentative de modélisation.
V(t) et I(t) sont respectivement les tensions et courants dans la ligne d'ali-
mentation. Les coecients α et β peuvent être donné directement. Le temps de
montée est entre 10% et 90% de la valeur maximale et la durée de décroissance
à 50% de cette valeur, voir la Fig. 3.2.
88 Chapitre 3. Impact d'un choc de foudre
Par la suite, des normes "génériques" spéciant le niveau d'essai qui doit
être tenu par tous les équipements destinés à être exploités dans un environ-
nement donné ou des normes "de produits" spéciant le niveau d'essai qui
doit être tenu par le produit ou la famille de produits concernée, se référeront
à cette norme "de base" pour la méthode d'essai.
En eet, la norme CEI 801-5 (1991) est remplacé par le norme CEI 61000
-4-5 (2009) qui a les niveaux d'essai suivants : ± 1 kV en mode diérentiel et
± 2 kV en mode commun.
Nous avons choisi la norme CEI 61000 -4-5 dans notre travail car elle
correspond au cas d'un onduleur relié au réseau mais pas exposé directement
en plein air.
3.1. Le JFET sous un choc de foudre 89
K1 R2 L
+
C R1 R3
C = 5 µF, L = 50 µH,
R1 = 16.5 Ω, R2 = 11 Ω, R3 = 66 Ω.
(a)
(b)
Dans le cadre de l'impact d'un choc de foudre vis à vis des JFET, le
premier cas n'est pas à traiter car, côté continu, ce sont les condensateurs du
bus DC qui supportent en premier lieu le choc. Par contre, quand l'onduleur
est soumis à un choc de foudre sur le point milieu des bras, côté alternatif, ce
sont les interrupteurs de puissance qui sont directement sollicités. C'est donc
ce second cas que nous allons étudié.
du côté alternatif.
3.1.3.2 Simplication
Le Tab. 3.1 est utilisé pour lister les six circuits correspondants de la Fig. 3.4.
Nom du cas a b c d e f
Polarité du choc + + +
Tab. 3.1 Les six cas possibles quand un choc de foudre est appliqué sur le
point ottant d'un bras d'onduleur à base de JFET-SiC
3.2.1 Principe
Nous nous proposons de transcrire au SiC les méthodes déjà utilisées pour
estimer les températures internes de composants de puissance en silicium. Le
principe est, premièrement, d'appliquer les surtensions produites par le géné-
rateur de foudre directement sur le composant JFET-SiC, pour diverses condi-
tions de polarisation du JFET, (les trois cas précédents), deuxièmement, de
1
mesurer un paramètre thermo-sensible (TSP ) an de calculer la température
interne du JFET pendant le choc.
Pour obtenir la température interne du dispositif lors d'un choc, pour les
trois cas cités, nous avons utilisé deux paramètres thermo-sensibles séparés
(TSP). Le choix de deux paramètres thermo-sensibles, en fonction de la po-
larisation de la grille du JFET permet de simplier l'expérience et de réduire
les erreurs possibles.
(a) (b)
(c) (d)
(e) (f)
Fig. 3.4 Les chemins possibles du courant de foudre appliqué à la sortie d'un
bras d'onduleur à base du JFET-SiC (la ligne en gras présente le chemin du
courant de choc)
2,8
2,6
2,4 VGS=VTO
VF [V]
2,2
1,8
1,6
0 50 100 150 200 250 300 350 400 450
T [°C]
0,8
0,6
VF [V]
VGS=0
0,4
0,2
0
0 50 100 150 200 250 300 350 400 450
T [°C]
mode inverse (polarisation négative sur le drain) par une source d'alimentation
continue HP 6652A (0 -20 V/0 -25 A), qui permet également de contrôler
le courant. Le JFET a été mis à l'état bloqué en polarisant sa grille avec
une tension négative proche de la tenue en tension de cette jonction pour
bloquer complètement le canal (V gs ≈ V br). En faisant varier la valeur
de la température appliquée, nous mesurons la valeur de la chute de tension
mesurée aux bornes de la diode par un multimètre à haute résolution. A noter
que la réalisation de ces mesures nécessite des températures xes pour éviter
l'inuence de l'auto-échauement sur la chute de tension mesurée.
Les mesures ont été réalisées pour diérents niveaux de température entre
◦
la température ambiante et la température à 400 C. La Fig. 3.5 montre la
calibration de la diode interne du JFET en fonction de la température.
Canal 300mA TRON = −1, 17.102 + 1, 31.103 VF − 1, 42.103 VF2 + 6, 99.102 VF3
Les températures sont en °C, les tensions sont en Volts.
Tab. 3.2 Les équations utilisées pour estimer la température à l'aide des
paramètres thermo-sensibles.
K1 K3 K4
R2 L D2 D1 Rs
Im
Vc + Rg + Vm
C R1 R3 K2 Gate
Q V
driver F
Vg
1
K1
0
1
t1
K2
0
t2
1
K3
0
t3
1
K4
0
t4
t t1 t2 t3 t4 t (usec)
Ra Rg
E− P1 Cg
+ Vg VGS
Rb
L'ensemble des valeurs peuvent ensuite être superposées sur la même courbe
pour former la réponse thermique.
100 Chapitre 3. Impact d'un choc de foudre
Quatre interrupteurs sont utilisés et sont contrôlés par une unité logique
programmable. Maintenant nous passons au principe de fonctionnement qui
est résumé par le chronogramme de la Fig. 3.8.
Le transistor sous test (Q) est fermé en début de cycle, pour assurer
le passage de courant de choc jusqu'à la n de la durée choisie pour
l'impulsion de courant ∆t1 ;
L'interrupteur K3 doit être fermé avant le déclenchement du choc, an
de mettre le composant directement sous test ;
L'interrupteur K4 doit être fermé après l'ouverture de K2 avec un léger
retard ∆t3 an de faire circuler le courant de mesure Im ;
Le générateur de courant de mesure est découplé du circuit de puis-
sance par l'interrupteur K4 et la diode D1 et aussi une résistance Rs de
quelques milliers d'Ohms, an de réduire la variation de potentiel vue
par la source, et par conséquent de générer le courant le plus constant
possible Im .
3.2. Dispositif expérimental 101
Composant JFET-SiC
Eectivement, toutes les mesures présentées ont été réalisées en mode com-
2
mun. Le composant sous test (DUT ) est placé loin de l'inductance et les capa-
cités du générateur de choc de manière à assurer au mieux son fonctionnement
en dépit du courant induit dans le circuit de test.
Nous avons bien essayé d'éviter le couplage entre le DUT et le reste de
circuit pour obtenir des mesures propres.
La commande des transistors (les interrupteurs), est eectuée par un mo-
dule de commande, développé spéciquement pour ce travail.
3
Ce module de commande comprend une carte FPGA an de piloter les
grilles de quatre interrupteurs utilisés dans notre travail, avec quatre sorties
de bre optique.
A partir de la Fig. 3.8, on peut observer que ∆t1 est une durée variable et
les autres durées en dépendent. Cette période ∆t1 est xée par l'opérateur.
Nous allons revenir à la Fig. 3.3 pour simplier tous les cas de notre
expérience. Cette gure montre un bras d'onduleur qui contient de deux JFET.
Chaque JFET peut être dans l'état ON ou OFF selon le contrôle de la grille
du JFET.
Dans notre expérience, nous étudions un seul JFET à la fois, comme justié
en début de chapitre.
K1 K3 K4
R2 L D2 D1 Rs
Im
Rg Q + Vm
Vc + V
R1 R3 K2 F
C
Vg −
+
Les points bleus dans le prol de la température estimée sont calculés pour
104 Chapitre 3. Impact d'un choc de foudre
35
30
25
20
IF [A]
15
10
5
0
-5
-50 0 50 100 150 200 250
Time [us]
(a) IDS
140
120
100
80
VF [V]
60
40
20
0
-20
-50 0 50 100 150 200 250
Time [us]
(b) VDS
chaque acquisition.
90
estimated temperature
80
70
60
T [°C]
50
40
30
20
0 50 100 150 200 250 300
Time [us]
K1 K3 K4
R2 L D2 D1 Rs
Q Im
Vc + V + Vm
C R1 R3 K2 Vg Rg F
+
−
80
70
60
50
40
IF [A]
30
20
10
0
-10
-50 0 50 100 150 200 250
Time [us]
(a) ISD
14
12
10
8
VF [V]
6
4
2
0
-2
-50 0 50 100 150 200 250
Time [us]
(b) VSD
2.89
2.87
2.86
2.85
2.84
2.83
0 50 100 150 200 250 300
Time [us]
55
estimated temperature
50
45
40
T [°C]
35
30
25
20
0 50 100 150 200 250 300
Time [us]
passant mais en inverse, de la source vers le drain, donc il existe deux chemins
3.3. Validation Expérimentale et Mesures 109
80
70
60
50
40
IF [A]
30
20
10
0
-10
0 50 100 150 200
Time [us]
(a) ISD
16
14
12
10
VF [V]
8
6
4
2
0
-2
0 50 100 150 200
Time [us]
(b) VSD
pour le courant dans le JFET, car le canal et la diode sont à l'état passant.
La Fig. 3.18(a) représente le courant IF qui circule de la source au drain
dans le canal et la diode et la Fig. 3.18(b) représente la tension source-drain
VF mesurée aux bornes du JFET testé pour une impulsion complète du choc.
Après une série de mesures en faisant changer la durée ∆t1 par pas variant
entre 2 µs et 20 µs, on peut évaluer la chute de tension VF aux bornes du JFET
110 Chapitre 3. Impact d'un choc de foudre
165
160
155
150
VF [mV]
145
140
135
130
125
120
0 50 100 150 200 250
Time [us]
65
60
55
50
T [°C]
45
40
35
30
25
0 50 100 150 200
T ime [us]
x25 x4 x1
1 d
RT H = .
λth A
où :
W
λth : la conductivité thermique pour SiC-4H [ ]
cm. ◦ C
d : l'épaisseur de la maille de l'élement JFET [cm]
2
A : la surface du JFET [cm ]
CT H = c.ρ.d.A
où :
J
c : la chaleur massique (specic heat) [ ]
g. ◦ C
3
ρ : le mass volumique (density) [g/cm ]
◦ ◦
Les valeurs de λth , c, ρ étant respectivement de 2,7 W/cm. C , 0,69 J/g. C ,
3
3,211 g/cm (pour le SiC). La puce, d'une épaisseur de 350 µm et la surface
2 ◦
active est 5,8 mm environ et la température ambiante 27 C .
Dans la suite, nous allons montrer les résultats expérimentaux et les simu-
lations pour les trois cas précédents.
Bien que le courant dans ce cas (canal-On) soit inférieur aux deux autres
cas, nous observons que la température est plus élevée.
90
80 Simulation
Mesure
70
T [°C] 60
50
40
30
20
0 50 100 150 200 250
T ime [us]
(a)
4
3
P [kW]
0
0 50 100 150 200 250
T ime [us]
(b)
3.4.1 CEM
La propagation d'une perturbation en mode commun est considérée par la
plupart des ingénieurs en CEM comme le principal problème !
55
Simulation
50 Mesure
T [°C] 45
40
35
30
25
0 50 100 150 200 250
T ime [us]
(a)
1
0,8
0,6
P [kW]
0,4
0,2
0
0 50 100 150 200 250
T ime [us]
(b)
70
Simulation
Mesure
60
T [°C] 50
40
30
20
0 50 100 150 200
T ime [us]
(a)
1,2
0,8
P [kW]
0,6
0,4
0,2
0
0 50 100 150 200
T ime [us]
(b)
3.5 Discussion
Dans la Fig. 3.26 par exemple, la diode drain-source est située entre la
+
caisson P de source et le drain, alors que la dissipation de puissance se
produit dans le canal et la diode en conduction inverse. Dans ce cas, le TSP
3.6. Conclusion 117
3.6 Conclusion
Pour produire une surtension induite par un choc de foudre, nous avons
fabriqué un générateur de choc compatible avec la norme CEI 61000 -4-5.
Nous avons décrit notre dispositif expérimental qui est capable de mettre
le JFET sous surtensions et de mesurer la réponse thermique sous forme d'une
image de tension, an de connaître la température de la puce du JFET lors
du choc.
Puis, une présentation de tous les cas possibles d'un JFET dans un bras
d'onduleur sous un choc de foudre a été étudié, en prenant en considération
la polarité de la foudre.
Nous avons obtenu comme résultat que le JFET peut supporter un choc
de foudre suivant la norme CEI 61000 -4-5 à 1,4 kV.
Nous avons mis en évidence la complexité des phénomènes mis en jeu avec
notamment :
Dans le premier chapitre nous avons vu dans quel contexte se situe notre
étude. Le réseau de distribution de l'énergie électrique tel que nous le connais-
sons aujourd'hui va muter dans les années qui viennent par l'arrivée de l'élec-
tronique de puissance. C'est ce qui a motivé nos travaux sur la possibilité d'uti-
liser un nouveau composant : le JFET en carbure de silicium (SiC) comme
interrupteur dans les convertisseurs reliés au réseau. Les propriétés excep-
tionnelles du SiC laissent en eet penser que des performances techniques en
matière de réduction des pertes et de montée en fréquence sont atteignables.
Le chapitre second contient une étude comparative d'un module IGBT (si-
licium) du commerce à un module virtuel associant 40 puces de JFET en SiC.
Ces puces sont actuellement disponibles sous forme d'échantillons, elles ont
été caractérisées au laboratoire. On observe, dans ce chapitre, que les JFET
en SiC permettent une montée en fréquence et/ou une réduction des pertes
par rapport à une solution classique à IGBT.
1. Asif Hammoud. «Comportement électro-thermique d'un JFET en SiC soumis à un choc de foudre».
Congrès Jeunes Chercheurs en Génie Électrique. (JCGE'08). Lyon : France. 2008
2. Dominique Tournier, Dominique Bergogne, Asif Hammoud, Dominique Planson, Rami Mousa,
Hervé Morel, Bruno Allard and Olivier Brevet. «Current limiting with SiC JFET structures». In 5th
International Conference on Integrated Power Electronics Systems, (CIPS'08). Nuremberg:
Germany. 2008
3. Dominique Bergogne, Asif Hammoud, Dominique Tournier, Cyril Buttay, Youness Hamieh, Pascal
Bevilacqua, Abderahime Zaoui, Hervé Morel and Bruno Allard. «Electro-thermal behaviour of a SiC
JFET stressed by lightning-induced overvoltages». In 13th European Conference on Power
Electronics and Applications. (EPE '09). Barcelona : Spain. 2009
Bibliographie
[Ela02] A. Elasser and T.P. Chow. Silicon carbide benets and advan-
tages for power electronics circuits and systems. Proceedings of the
IEEE, volume 90, no. 6 :969986, 2002. 67
[Fis90] F.A. Fisher, J.A. Plimer and R.A. Perala. Lightning protec-
tion of aircraft. Lightning Technologies, page 499, 1990. 42
Prénoms : Asif
TITRE : Etude des convertisseurs haute tension pour la protection et la coordination des réseaux de distribution.
RESUME :
Les réseaux électriques sont de plus en plus interconnectés entre eux, et, en particulier, avec de nouveaux systèmes de productions
locaux (les énergies renouvelables). L'acheminement vers le réseau de distribution se fera par l'intermédiaire de liaisons en courant
continu. Ces liaisons peuvent améliorer le comportement des réseaux à courant alternatif en utilisant des systèmes de contrôle rapides basé
sur l'électronique de puissance et la commande. D'un autre côté, le développement rapide dans le domaine d'électronique de puissance a
permis d'augmenter les projets de transmission d'énergie par courant continu.
Parmi les interrupteurs de puissance en développement, le JFET en SiC est le plus avancé et permet d'imaginer des convertisseurs
directement reliés aux réseaux. Dans ce cas il seront exposés aux contraintes du réseau, en particulier les chocs de foudre. L'objectif initial
de cette thèse est de montrer la possibilité d'utiliser les JFETs en SiC dans un convertisseur directement relié au réseau de distribution et
d'initier une étude sur la robustesse des JFET soumis aux surtensions induites par le choc de foudre.Une étude comparative, à partir de
modèles et de données extraites de mesures, permet de penser que, dans certaines applications, l'utilisation des JFET est avantageuses par
rapport à l'IGBT.Un dispositif expérimental a été développé pour soumettre un JFET à un choc de foudre et mesurer son comportement
dans un bras d'onduleur. Ce dispositif permet d'étudier les 6 cas possibles de fonctionnement du JFET, et prend en compte la polarité du
choc.Les premières conclusions montrent que le JFET, dans son environnement de bras d'onduleur, résiste bien aux chocs définis dans la
norme et qu'il reste un travail à approfondir sur la modélisation électro-thermique de JFET.
Composition du jury :