Verfahren zur Klassifizierung von Partikeln in der

Automobilindustrie mittels
Lumineszenzspektroskopie

Von der Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik

der Universität Stuttgart zur Erlangung der Würde eines
Doktor-Ingenieurs (Dr.-Ing.) genehmigte Abhandlung

Vorgelegt von
Günther Schmauz
aus Biberach a. d. Riß

Hauptberichter: Univ.-Prof. Dr.-Ing. Prof. E.h. Dr.-Ing. E.h.

Dr. h.c. mult. Engelbert Westkämper
Mitberichter Prof. Dr.-Ing. habil. Manfred Piesche

Tag der Einreichung: 25. November 2009

Tag der mündlichen Prüfung: 11. November 2010

Institut für Industrielle Fertigung und Fabrikbetrieb der Universität Stuttgart

2010
IPA-IAO Forschung und Praxis
Berichte aus dem
Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und
Automatisierung (IPA), Stuttgart,
Fraunhofer-Institut für Arbeitswirtschaft und
Organisation (IAO), Stuttgart,
Institut für Industrielle Fertigung und
Fabrikbetrieb (IFF), Universität Stuttgart
und Institut für Arbeitswissenschaft und
Technologiemanagement (IAT), Universität Stuttgart

Herausgeber:
Univ.-Prof. Dr.-Ing. Prof. e.h. Dr.-Ing. e.h. Dr. h.c. mult. Engelbert Westkämper
und
Univ.-Prof. Dr.-Ing. habil. Prof. E.h. mult. Dr. h.c. mult. Hans-Jörg Bullinger
und
Univ.-Prof. Dr.-Ing. Dr.-Ing. E.h. Dieter Spath
Günther Schmauz

Verfahren zur Klassifizierung

von Partikeln in der
Automobilindustrie mittels
Lumineszenzspektroskopie

Nr. 500

Fachverlag · 71296 Heimsheim

Dr.-Ing. Günther Schmauz
Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung (IPA), Stuttgart

Univ.-Prof. Dr.-Ing. Prof. e.h. Dr.-Ing. e.h. Dr. h.c. mult. Engelbert Westkämper
ord. Professor an der Universität Stuttgart
Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung (IPA), Stuttgart

Univ.-Prof. Dr.-Ing. habil. Prof. E.h. mult. Dr. h.c. mult. Hans-Jörg Bullinger
ord. Professor an der Universität Stuttgart
Präsident der Fraunhofer-Gesellschaft, München

Univ.-Prof. Dr.-Ing. Dr.-Ing. E.h. Dieter Spath

ord. Professor an der Universität Stuttgart
Fraunhofer-Institut für Arbeitswirtschaft und Organisation (IAO), Stuttgart

D 93
ISBN 978-3-939890-66-9
Jost Jetter Verlag, Heimsheim

Dieses Werk ist urheberrechtlich geschützt. Die dadurch begründeten Rechte, insbesondere
die der Übersetzung, des Nachdrucks, des Vortrags, der Entnahme von Abbildungen und
Tabellen, der Funksendung, der Mikroverfilmung oder der Vervielfältigung auf anderen Wegen
und der Speicherung in Datenverarbeitungsanlagen, bleiben, auch bei nur auszugsweiser
Verwertung, vorbehalten. Eine Vervielfältigung dieses Werkes oder von Teilen dieses Werkes
ist auch im Einzelfall nur in den Grenzen der gesetzlichen Bestimmungen des Urheber-
rechtsgesetzes der Bundesrepublik Deutschland vom 9. September 1965 in der jeweils
gültigen Fassung zulässig. Sie ist grundsätzlich vergütungspflichtig. Zuwiderhandlungen
unterliegen den Strafbestimmungen des Urheberrechtsgesetzes.
© Jost-Jetter Verlag, Heimsheim 2010.
Printed in Germany.
Die Wiedergabe von Gebrauchsnamen, Handelsnamen, Warenbezeichnungen usw. in diesem
Werk berechtigt auch ohne besondere Kennzeichnung nicht zu der Annahme, dass solche
Namen im Sinne der Warenzeichen- und Markenschutz-Gesetzgebung als frei zu betrachten
wären und daher von jedermann benutzt werden dürften.
Sollte in diesem Werk direkt oder indirekt auf Gesetze, Vorschriften oder Richtlinien (z. B.
DIN, VDI, VDE) Bezug genommen oder aus ihnen zitiert worden sein, so kann der Verlag keine
Gewähr für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Aktualität übernehmen. Es empfiehlt sich, ge-
gebenenfalls für die eigenen Arbeiten die vollständigen Vorschriften oder Richtlinien in der
jeweils gültigen Fassung hinzuzuziehen.
Druck: printsystem GmbH, Heimsheim
Geleitwort der Herausgeber

Über den Erfolg und das Bestehen von Unternehmen in einer marktwirtschaftlichen
Ordnung entscheidet letztendlich der Absatzmarkt. Das bedeutet, möglichst frühzeitig
absatzmarktorientierte Anforderungen sowie deren Veränderungen zu erkennen und
darauf zu reagieren.

Neue Technologien und Werkstoffe ermöglichen neue Produkte und eröffnen neue
Märkte. Die neuen Produktions- und Informationstechnologien verwandeln signifikant
und nachhaltig unsere industrielle Arbeitswelt. Politische und gesellschaftliche Verände-
rungen signalisieren und begleiten dabei einen Wertewandel, der auch in unseren Indu-
striebetrieben deutlichen Niederschlag findet.

Die Aufgaben des Produktionsmanagements sind vielfältiger und anspruchsvoller ge-

worden. Die Integration des europäischen Marktes, die Globalisierung vieler Industrien,
die zunehmende Innovationsgeschwindigkeit, die Entwicklung zur Freizeitgesellschaft
und die übergreifenden ökologischen und sozialen Probleme, zu deren Lösung die Wirt-
schaft ihren Beitrag leisten muss, erfordern von den Führungskräften erweiterte Perspek-
tiven und Antworten, die über den Fokus traditionellen Produktionsmanagements deutlich
hinausgehen.

Neue Formen der Arbeitsorganisation im indirekten und direkten Bereich sind heute
schon feste Bestandteile innovativer Unternehmen. Die Entkopplung der Arbeitszeit von
der Betriebszeit, integrierte Planungsansätze sowie der Aufbau dezentraler Strukturen
sind nur einige der Konzepte, welche die aktuellen Entwicklungsrichtungen kennzeich-
nen. Erfreulich ist der Trend, immer mehr den Menschen in den Mittelpunkt der Arbeits-
gestaltung zu stellen - die traditionell eher technokratisch akzentuierten Ansätze
weichen einer stärkeren Human- und Organisationsorientierung. Qualifizierungspro-
gramme, Training und andere Formen der Mitarbeiterentwicklung gewinnen als Diffe-
renzierungsmerkmal und als Zukunftsinvestition in Human Resources an strategischer
Bedeutung.

Von wissenschaftlicher Seite muss dieses Bemühen durch die Entwicklung von Methoden
und Vorgehensweisen zur systematischen Analyse und Verbesserung des Systems Pro-
duktionsbetrieb einschließlich der erforderlichen Dienstleistungsfunktionen unterstützt
werden. Die Ingenieure sind hier gefordert, in enger Zusammenarbeit mit anderen
Disziplinen, z. B. der Informatik, der Wirtschaftswissenschaften und der Arbeitswissen-
schaft, Lösungen zu erarbeiten, die den veränderten Randbedingungen Rechnung
tragen.

Die von den Herausgebern langjährig geleiteten Institute, das

- Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung (IPA),
- Fraunhofer-Institut für Arbeitswirtschaft und Organisation (IAO),
- Institut für Industrielle Fertigung und Fabrikbetrieb (IFF), Universität Stuttgart,
- Institut für Arbeitswissenschaft und Technologiemanagement (IAT), Universität Stuttgart
arbeiten in grundlegender und angewandter Forschung intensiv an den oben aufgezeig-
ten Entwicklungen mit. Die Ausstattung der Labors und die Qualifikation der Mitarbeiter
haben bereits in der Vergangenheit zu Forschungsergebnissen geführt, die für die Praxis
von großem Wert waren. Zur Umsetzung gewonnener Erkenntnisse wird die Schriften-
reihe „IPA-IAO - Forschung und Praxis“ herausgegeben. Der vorliegende Band setzt diese
Reihe fort. Eine Übersicht über bisher erschienene Titel wird am Schluss dieses Buches
gegeben.

Dem Verfasser sei für die geleistete Arbeit gedankt, dem Jost Jetter Verlag für die Auf-
nahme dieser Schriftenreihe in seine Angebotspalette und der Druckerei für saubere
und zügige Ausführung. Möge das Buch von der Fachwelt gut aufgenommen werden.

Engelbert Westkämper Hans-Jörg Bullinger Dieter Spath

Vorwort

Die vorliegende Arbeit entstand während meiner Tätigkeit als wissenschaftlicher

Mitarbeiter und Projektleiter der Abteilung Reinst- und Mikroproduktion am Fraunhofer
Institut für Produktionstechnik und Automatisierung IPA, Stuttgart.

Herrn Professor Dr.-Ing. Prof. E.h. Dr.-Ing. E.h. Dr. h.c. mult. Engelbert Westkämper
danke ich für die wissenschaftliche Betreuung und Förderung der Arbeit sowie die
Übernahme des Hauptberichts. In gleicher Weise danke ich Herrn Prof. Dr.-Ing. Manfred
Piesche für die Übernahme des Mitberichts und die eingehende Durchsicht meiner
Arbeit. Meinen Dank möchte ich ebenso Herrn Dr.-Ing Udo Gommel für die
wohlwollende Unterstützung und Ermöglichung meiner Arbeit aussprechen.

Eine besondere Anerkennung gebührt allen beteiligten Kolleginnen und Kollegen der
Abteilung Reinst- und Mikroproduktion für die zielführende Diskussion und die
konstruktive Kritik während der Entstehung der Arbeit. Explizit möchte ich mich bei den
Herren Dipl.-Phys. Markus Rochowicz, Dr.-Ing. Andreas Schüle und Dr.-Ing. Jochen
Schließer für ihre wertvollen Beiträge bei der Herausarbeitung der Schwerpunkte der
schriftlichen Arbeit sowie bei Frau Jutta Frey für die Unterstützung bei der Planung,
Durchführung und Auswertung der Versuchsreihen bedanken.

Zum Dank für das entgegengebrachte Verständnis, das Vertrauen und den großen
Rückhalt während der Entstehung der Arbeit widme ich das Buch meiner Frau Sabine.

Stuttgart, im Dezember 2010

Inhaltsverzeichnis

Abkürzungen und Formelzeichen 12

1 Einleitung 17
1.1 Problemstellung 17
1.2 Zielsetzung und Vorgehensweise 18

2 Ausgangssituation und Aufgabenstellung 20

2.1 Begriffe und Definitionen 20
2.1.1 Kontamination 20
2.1.2 Schädigungspotenzial von Partikeln 21
2.2 Ausgangssituation 23
2.2.1 Festlegung von Sauberkeitsgrenzwerten in der Automobilindustrie 23
2.2.2 Technische Sauberkeitsanalysen nach VDA-Band 19 25
2.2.2.1 Bestimmung der Masse der Partikel 26
2.2.2.2 Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl 26
2.2.2.3 Bestimmung des Partikelmaterials 27
2.3 Zusammenfassung und Aufgabenstellung 31

3 Analyse der Randbedingungen und Ableitung von

Anforderungen an das Verfahren 33
3.1 Praxistypische Kontaminationen in der Automobilindustrie 33
3.1.1 Fertigungsprozess 33
3.1.2 Fertigungsumgebung 35
3.1.3 Betriebsmittel 36
3.1.4 Personal 37
3.1.5 Verpackung und Transport 37
3.1.6 Zusammenfassung 38
3.2 Gruppierung der relevanten praxistypischen Partikel 39
3.2.1 Typische Sauberkeitsanforderungen in der Automobilindustrie 39
3.2.2 Gruppierung der Partikel anhand von Materialeigenschaften 40
3.3 Ableitung von einfachen Materialklassen für Restschmutzpartikel 42
3.4 Anforderungen an ein Verfahren zur Partikelklassifizierung 44
3.4.1 Anforderungen an den Versuchsaufbau 44
3.4.2 Anforderungen an die Methode 45
4 Stand der Technik 47
4.1 Verfahren zur Materialbestimmung 47
4.1.1 Charakterisierung der spektroskopischen Verfahren 47
4.1.2 Röntgenfluoreszenzspektroskopie (RFA) 48
4.1.3 Elektronenspektroskopie (ESCA) 49
4.1.4 Infrarot-Spektroskopie 50
4.1.5 Raman-Spektroskopie 51
4.1.6 Lumineszenzspektroskopie 51
4.1.7 Fazit 52
4.2 Lumineszenzverhalten der Materialklassen 54
4.2.1 Organische Materialien 54
4.2.1.1 Naturstoffe 56
4.2.1.2 Synthetische Polymere 57
4.2.2 Keramiken und Mineralien 57
4.2.2.1 Natürliche Mineralien 58
4.2.2.2 Technische Keramiken 59
4.2.3 Metalle 59
4.2.4 Fazit 59

5 Entwicklung eines Versuchsaufbaus zur vollständigen

Klassifizierung von Partikeln 61
5.1 Erstellung eines Versuchsaufbau-Konzepts 61
5.2 Entwicklung der Funktionseinheiten des Versuchsaufbaus 62
5.2.1 Beleuchtungseinheit 62
5.2.2 Probenaufnahme und Messkammer 70
5.2.3 Empfänger 72
5.2.4 Optik 75
5.2.5 Automatisierungstechnik 77
5.3 Integration der Funktionseinheiten zu einem Gesamtaufbau 79
5.3.1 Zusammenführung der optischen Einheit 79
5.3.2 Mechanische Integration 80
5.4 Realisierung des Versuchsaufbaus 80
5.5 Überprüfung der prinzipiellen Eignung der Funktionseinheiten 81
5.5.1 Beleuchtung 81
5.5.2 Bildaufnahme und -auswertung 83
5.5.3 Spektroskopie-Einheit 83

10
5.5.4 Mechanik 85
5.6 Abgleich mit den Anforderungen an den Versuchsaufbau 85

6 Entwicklung einer Methode zur vollständigen Klassifizierung von

Partikeln 87
6.1 Ablaufplanung zur Entwicklung der Methode 87
6.2 Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl mit dem Versuchsaufbau 88
6.2.1 Erzeugung von Grauwertbildern 88
6.2.2 Auswertung von Grauwertbildern 90
6.3 Bestimmung der Materialklasse mit dem Versuchsaufbau 93
6.3.1 Erzeugung der Lumineszenzspektren 93
6.3.2 Auswertung der Spektren 94
6.4 Messablauf 102
6.4.1 Abrastern der Oberfläche 102
6.4.2 Anfahren der Partikel zur Spektrenaufnahme 103
6.4.3 Methodikschema 104
6.4.4 Berechnung der Messzeit 105
6.5 Abgleich mit den Anforderungen an die Methode 105

7 Erprobung und Bewertung 107

7.1 Festlegung der Entwicklungsschwerpunkte 107
7.2 Entwicklung des Testprogramms 107
7.2.1 Auswahl von Testpartikeln 107
7.2.2 Erstellung von Testanalysefiltern 108
7.3 Experimente und Ergebnisse 109
7.3.1 Ablauf des Testprogrammes 109
7.3.2 Überprüfung der Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl 110
7.3.3 Überprüfung der Differenzierung lumineszierender und nicht
lumineszierender Partikel 114
7.3.4 Überprüfung der Materialklassifizierung mittels Lumineszenzspektren 121
7.4 Bewertung der Partikelklassifizierung mit dem entwickelten Verfahren 125

8 Zusammenfassung und Ausblick 126

9 Summary 129

10 Literaturverzeichnis 132

11
Abkürzungen und Formelzeichen

A [mm²] bestrahlte Fläche

ABS Acrylnitril-Butadien-Styrol

Al Aluminium

Al2O3 Korund

AlZrO2 Aluminiumzirkondioxid

ATR abgeschwächte Totalreflexion

BR Butadien-Kautschuk

BSE Back Scattering Electrons

CCD Charged Coupled Devise

CBN kubisches Bornitrid

Cr Chrom

D [mm] Objektivdurchmesser

D2 Deuterium

DIN Deutsches Institut für Normung

Ee [W˜m-2] Beleuchtungsstärke

Ee [J] Energie des bindenden Elektronenorbiotals

E’e [J] Energie des antibindenden Elektronenorbiotals

EDX energiedispersive Röntgenspektroskopie

e [C] Elementarladung eines Elektrons

E-Modul Elastizitätsmodul

EPDM Ethylenprolyendienkautschuk

ESCA Elektronenspektroskopie zur chemischen Analyse

eV [J] Elektronenvolt

12
f‘ Brennweite

FEPA Federation of European Producers of Abrasives

FFU Filter-Fan-Unit

h [J˜s] Plancksches Wirkungsquantum

HAL Halogenlicht

HBO Quecksilberbogenlampe

Hg Quecksilber

HPLC high performance liquid chromatography

HWB [nm] Halbwertsbreite

HWB50 Halbwertsbreite bei 50% relativer Intensität

I(O) wellenlängenabhängige Intensität

Ir relativer Intensitätswert

Ia absoluter Intensitätswert

Ie [W˜sr-1] Strahlstärke

IR Infrarot

ISO Internationale Organisation für Normung

k Blendenzahl

K K-Elektronenorbital

KLT Kleinladungsträger

LASER Light Amplification by Stimulated Emission of Radiation

Le [W˜sr-1˜m-2] Strahldichte

LED Light Emitting Diode

Li erste Schale des L-Elektronenorbitals

Lii zweite Schale des L-Elektronenorbitals

Liii dritte Schale des L-Elektronenorbitals

13
LM Lichtmikroskop

MO Molekülorbital

n Brechzahl

NA numerische Apertur

NBR Nitrilbutadienkautschuk

NR Naturkautschuk

OPZ optischer Partikelzähler

PA Polyamid

PAN Polyacrylnitril

PE Polyethylen

PE-LD Polyethylen niedriger Dichte

PEEK Polyetheretherketon

PC Polycarbonat

PET Polyethylenterephtalath

PF Phenolformaldehyd

PMMA Polymethylmetacrylat

PP Polypropylen

PPSU Polyphenylsulfon

PS Polystyrol

PSU Polysulfon

PUR Polyurethan

PVDF Polyvinyldienfluorid

PVC Polyvinylchlorid

REM Rasterelektronenmikroskop

RFA Röntgenfluoreszenzanalyse

14
s Standardabweichung
2
s Varianz

SE Sekundärelektronen

SHWB Bandensymmetrie bei halber Intensität

SiC Siliziumkarbid

SiO2 Siliziumdioxid

Sn Zinn

SZWB Bandensymmetrie bei zehntel Intensität

T [%] Transmission

UP ungesättigtes Polyester-Harz

UV ultraviolettes Licht

VDA Verband der Automobilindustrie

VDI Verein Deutscher Ingenieure

VIS sichtbares Licht

XBO Xenonbogenlampe

Xe Xenon

xo oberer Vertrauensbereich

xu unterer Vertrauensbereich

z Arbeitsabstand

Zn Zink

ZrO Zirkonoxid

ZWB [nm] Zehntelwertsbreite

ZWL [nm] zentrale Wellenlänge

ZWL100 [nm] zentrale Wellenlänge bei 100% relativer Intensität

1s Atomorbital des Wasserstoffatoms

15
Griechische Formelzeichen

D [°] halber Öffnungswinkel

E Energiedifferenz zwischen Atom- und Molekülorbital

c [m/s] Lichtgeschwindigkeit

H Dehnung

Hkin [J] kinetische Energie

)e [W] Strahlungsfluss (emittierte Strahlungsleistung)

I [J] Austrittspotenzial

M [°] Bildfeldwinkel

O [nm] Wellenlänge

Q [s-1] Frequenz

S bindendes Doppelbindungsorbital

S* antibindendes Doppelbindungsorbital

T [°] Öffnungswinkel der numerischen Apertur

V [GPa/mm²] Spannung

V bindendes Molekülorbital

V* antibindendes Molekülorbital

W Transmissionsgrad

: [sr] Raumwinkel

16
1 Einleitung

1.1 Problemstellung

Die Entwicklung der Automobilindustrie in den letzten zwei Jahrzehnten ist geprägt
durch zwei entscheidende Faktoren. Die Leistungsdichte der Kraftfahrzeugmotoren,
insbesondere von Dieselfahrzeugen, wurde mit einhergehender Verringerung des
Schadstoffausstoßes kontinuierlich erhöht /Köberle 2004/. Gleichzeitig konnten in diesem
Zeitraum der Fahrkomfort und die Fahrsicherheit stetig verbessert werden, wodurch sich
die Zahl der Verkehrstoten in Deutschland seit Anfang der Neunziger Jahre halbiert hat
/Destatis 2006/. Erreicht wurden diese beiden Trends durch den Einsatz elektronischer
Steuer- und Regelsysteme sowie von immer enger tolerierten und höher belasteten
mechanischen Komponenten, während Gewicht und Baugröße der Aggregate und
Systeme beständig reduziert wurde /Getrag 2006, Rochowicz 2006b/. Beispiele hierfür
sind das Dieseleinspritzsystem Common-Rail und das Antiblockiersystem /Senske 2008/.

Einhergehend mit dieser fortschreitenden Entwicklung ist die steigende Sensibilität der
eingesetzten elektronischen und mechanischen Komponenten gegenüber Feststoffrück-
ständen, sog. Partikeln /Stöhr 2003, Wolff 2006/. So beträgt z. B. die Düsenöffnung der
aktuellen Dieselinjektoren weniger als 100 μm. Das Eindringen größerer Partikel in den
Injektor kann daher zum Verstopfen der Düsennadel führen /Köberle 2004/. Weitere
typische Fehlerbilder aufgrund von Partikeln sind Verstopfen von Ventilen, Verklemmen
von Schiebern, Kurzschlüsse elektronischer Schaltungen, Undichtigkeiten in hydraulischen
Drucksystemen, Schädigung von Lagern sowie höherer Verschleiß durch Abrasion
/Buttenhauser 2004, Gösel 2005, Hydac 2005, Grossmann 2008, Schmauz 2008b/.
Betroffen sind beinahe sämtliche Kraftstoff, Öl, Wasser und Luft führende Systeme sowie
elektronische Bauteile /Ernst 2008, Schilling 2008/. Selbst im Abgastrakt, beispielsweise
im Turbolader, reagieren einzelne Komponenten kritisch auf Partikel.

Aus dieser Entwicklung heraus hat sich die sog. »Technische Sauberkeit« von
Komponenten und Baugruppen in der Zuliefererkette der Automobilindustrie zu einem
verbindlichen Qualitätsmerkmal etabliert /Grossmann 2003/. So legen zahlreiche Firmen
interne Qualitätsvereinbarungen und Vorschriften Sauberkeitswerte für kritische Zuliefer-
komponenten fest /MAN 2006, VW 2006/. Die Anforderungen an die Sauberkeit sind
umso anspruchsvoller, je funktionskritischer ein Bauteil ist. Handelt es sich zusätzlich um
ein sicherheitsrelevantes System, etwa das Bremssystem, sind die Reglementierungen
bezüglich Verunreinigungen entsprechend strikter, da eine fehlerfreie Funktion über die
gesamte Lebensdauer des Automobils gewährleistet werden muss.

Analog zu den etablierten Qualitätsmerkmalen wie Oberflächenbeschaffenheit und

Maßhaltigkeit muss auch die Einhaltung der geforderten Sauberkeit messtechnisch
nachgewiesen werden. Der VDA-Band 19 und die ISO 16232 geben hierzu den aktuellen
Stand der Sauberkeitsprüfung von Bauteilen und Aggregaten, auch Restschmutzprüfung
bezeichnet, wieder /VDA 19, ISO 16232/. Die darin vorgestellten Prüfprozeduren sind als
Referenz zur Charakterisierung der Sauberkeit von Bauteilen anzusehen /Ernst 2003,
Rochowicz 2003, Behrning 2004/. In Anlehnung an diese beiden Standards wurden von
den betroffenen Herstellern Firmen interne Produkt angepasste Prüfspezifikationen zur
Bestimmung der Bauteilsauberkeit erstellt /Schmauz 2005/. Wichtigstes Kriterium zur
Beurteilung der Bauteilsauberkeit sind entsprechend dieser Spezifikationen Größe und
Anzahl der auf dem Bauteil vorhandenen Partikel. Partikel unterhalb einer bestimmten
Größe und Anzahl können weder zum Verstopfen oder Verklemmen mechanischer
Aggregate, noch zum Kurzschluss elektronischer Schaltungen führen und werden
deshalb als unkritisch betrachtet. Der Grenzwert für die zulässige Partikelanzahl und
-größe auf einer Komponente wird vom Hersteller Produkt spezifisch festgelegt.

Darüber hinaus tragen die physikalischen Eigenschaften eines Partikels, die durch dessen
Material bestimmt werden, entscheidend dazu bei, ob Partikel einer bestimmten Größe
kritisch für die Funktionsfähigkeit eines Bauteils ist /Ernst 2006, BMW 2008/. In
Baugruppen mit mechanischer Funktion, z. B. Ventilen oder Pumpen, können lediglich
Partikel mit einer gewissen Härte zum Ausfall führen, da weichere Partikel mechanisch
zerkleinert oder abgeschert werden /Continental 2007a/. In elektronischen Bauteilen, z. B.
Steuergeräten mit Leiterplatten, können lediglich elektrisch leitende Partikel Kurzschlüsse
generieren /Bosch 2008/. Im Gegensatz dazu können bei Dichtelementen zur Abtrennung
Fluid führender Wellensysteme, z. B. Radial-Wellendichtringen, auch relativ weiche
Partikel, etwa organische Fasern einer bestimmten Größe zu Undichtigkeiten führen. Für
die vollständige Beschreibung der Bauteilsauberkeit sind somit nicht nur die Größe und
Anzahl der Partikel zu bestimmen, sondern auch deren Material bzw. die aus dem
Material resultierenden physikalischen Eigenschaften, beispielsweise Härte /BMW 2008/.

Entsprechend VDA-Band 19 und ISO 16232 stellt die energiedispersive Röntgenanalyse

am Rasterelektronenmikroskop (REM-EDX) das Verfahren nach Stand der Technik zur
Analyse des Partikelmaterials dar /Kaindl 2008/. Dieses Verfahren ist ein aufwändiges
Laborverfahren zur hochgenauen Elementanalyse und daher zur Serien begleitenden
Bestimmung der Bauteilsauberkeit in der Serienproduktion nur bedingt geeignet /Daimler
2003/. Hinzu kommt, dass es sich bei den Zulieferbetrieben in der Automobilindustrie
hauptsächlich um mittelständische Unternehmen handelt /Krieg 2008/, für die der
Aufbau eines Analyselabors mit aufwändiger Messtechnik nicht finanzierbar ist.

Darüber hinaus ist es mehrheitlich nicht notwendig, die exakte elementare oder
molekulare Zusammensetzung der Partikel technisch aufwändig zu analysieren, da die
Eigenschaften eines Materials durch dessen Stoffgruppe, z. B. Metall oder Polymer,
beschrieben werden können. Es genügt die Kenntnis der Stoffgruppe eines erfassten
Partikels, um dessen Schädigungspotenzial bewerten zu können. Allerdings fehlt bisher
ein einfaches Verfahren als Alternative zur REM-EDX, welches die erfassten Partikel ohne
aufwändige und somit teure Technik der jeweiligen Stoffgruppe zuordnen kann.

1.2 Zielsetzung und Vorgehensweise

Zielsetzung: Ziel dieser Arbeit ist die Entwicklung eines Verfahrens zur einfachen
Bestimmung der Materialeigenschaften von Partikeln. Den Anforderungen in der Praxis
der Automobilindustrie und deren Zulieferbetrieben entsprechend, soll das Verfahren

18
Restschmutzpartikel in Materialklassen einteilen, welche die relevanten physikalischen
Materialeigenschaften abbilden. Um eine vollständige Beurteilung des Schädigungs-
potenzials der Partikels und somit die vollständige Beschreibung der Bauteilsauberkeit zu
erhalten, muss das Verfahren zusätzlich zur Materialklasse die Größe und Anzahl der
erfassten Partikel bestimmen.

Vorgehensweise: Ausgehend von der derzeitigen Situation in der Automobilindustrie

zur Bestimmung der Bauteilsauberkeit wird zunächst die Aufgabenstellung dieser Arbeit
formuliert (Kap. 2: Ausgangsituation und Aufgabenstellung). Im zweiten Schritt werden
anhand der im Automobilbau auftretenden kritischen Partikelarten Materialklassen
abgeleitet, welche die relevanten Materialeigenschaften zur vollständigen Beschreibung
des Schädigungspotenzials von Restschmutzpartikeln abbilden. Entsprechend des
spezifischen Bedarfs der Zielgruppe werden die Anforderungen an das zu entwickelnde
Verfahren aufgestellt (Kap. 3: Randbedingungen und Anforderungen).

Zur Auswahl eines geeigneten Prinzips zur Bestimmung der Materialklasse von Partikeln
werden Analyseverfahren des Stands der Technik anhand der Anforderungen einander
gegenübergestellt und bewertet (Kap. 4: Stand der Technik). Auf Grundlage dieser
Bewertung wird das für die beschriebene Anwendung geeignetste Messprinzip in einem
Versuchsaufbau umgesetzt (Kap. 5: Entwicklung eines Versuchsaufbaus).

Im nächsten Schritt wir eine Methode erarbeitet, welche die Vorgehensweise festlegt, wie
mit dem Versuchsaufbau praxistypische Restschmutzpartikel vollständig klassifiziert
werden (Kap. 6: Entwicklung einer Messmethode). Abschließend wird das entwickelte
Verfahren anhand praxisnaher Versuchsreihen erprobt und bewertet (Kap. 7: Erprobung
und Bewertung).

Betrachtung der Ausgangssituation und

Formulierung der Aufgabenstellung

Analyse der Randbedingungen und

Ableitung von Anforderungen

Bewertung des Stands der Technik

Entwicklung eines Versuchsaufbaus

Entwicklung einer Methode

Erprobung und Bewertung des Verfahrens

Verifiziertes Verfahren zur einfachen und vollständigen

Beschreibung der Bauteilsauberkeit

Abbildung 1-1: Visualisierung der Entwicklungsschritte für ein Verfahren zur vollständigen Bestimmung der
Bauteilsauberkeit

19
2 Ausgangssituation und Aufgabenstellung

2.1 Begriffe und Definitionen

2.1.1 Kontamination

Stoffe, welche potenziell eine negative Auswirkung auf die Qualität eines Erzeugnisses
aufweisen, werden als Kontamination bezeichnet und können chemischer, physikalischer,
biologischer oder radiologischer Natur sein. Partikel gehören zu den physikalischen
Verunreinigungen und sind einzeln vorliegende Teilchen in festem Zustand. Diese können
sich auf Produktionsoberflächen, in der umgebenden Raumluft, in Prozessmedien oder
auf dem Produkt befinden /Gommel 1998/.

Restschmutzpartikel oder kurz Restschmutz sind Partikelrückstände auf Komponenten

im Automobil, welche deren korrekte Funktion oder die des Systems, in welche die
Komponente verbaut ist, beeinträchtigen können /Daimler 2003/. Das Qualitätsmerkmal
Technische Sauberkeit bewertet Restschmutzpartikel auf Komponenten und Systemen
im Automobil. Bauteile frei von den spezifisch kritischen Partikeln gelten als technisch
sauber. Einzelne Partikel, welche aufgrund ihrer physikalischen Eigenschaften (Größe,
Form und Material) zum Totalausfall einer Komponente oder ganzer Systeme führen
können, werden als Killerpartikel bezeichnet. Die Verfahren zur Bestimmung der
Technischen Sauberkeit werden im VDA-Band 19 und in der ISO 16232 beschrieben.

Fasern

natürliche künstliche

tierische pflanzliche mineralische synthetische veränderte Sonstige

z. B. Asbest Polymere natürliche z. B. Glasfaser
Polymere
Seide Wolle Haar
regenerierte Zellulose- regenerierte etc.
Samen Bast Blätter Zellulose Ester Proteine
z. B. Baumwolle z. B. Hanf z. B. Sisal

Polyester Polyamid Polyolefine etc.

z. B. PE, PP

Abbildung 2-1: Faserarten und deren Klassifizierung /David 1999/

Nicht metallische Partikel, die bei gleichzeitig einheitlichem Querschnitt eine sehr große
Länge im Vergleich zur Breite aufweisen, gelten als Fasern /Continental 2007a, BMW
2008/. Fasern können entsprechend Abbildung 2-1 in künstliche und natürliche Fasern
eingeteilt werden. Natürliche Fasern sind pflanzlichen, tierischen oder mineralischen
Ursprungs und werden bei der Weiterverarbeitung chemisch nicht verändert. Den
Hauptbestandteil der künstlichen Fasern bilden synthetische Polymere (etwa Nylon und
Polyester) sowie aufbereitete natürliche Polymere (z. B. Zelluloseester). Weitere Vertreter
dieser Gruppe sind Glas- und Kohlefasern /David 1999/.

2.1.2 Schädigungspotenzial von Partikeln

Partikuläre Kontaminationen führen im Automobil zu unterschiedlichsten Ausfällen. Die

Partikel bedingten Fehlerbilder können – abgesehen von genereller Verkürzung der
Lebensdauer – in folgende Kategorien unterteilt werden:

x Verstopfen von Ventilen und Düsen

x Verklemmen von bewegten Komponenten

x Beschädigung von Lagerlaufflächen

x Leckagen in Fluid führenden Dichtungssystemen

x Kurzschlüsse in elektronischen Schaltungen

Ob ein Partikel zu einem dieser Schädigungsmechanismen führen kann, wird von dessen
Größe, Form, Anzahl und Material bestimmt. Wichtigstes Kriterium zur Beurteilung des
Schädigungspotenzials eines Partikels in der Qualitätssicherung der Automobilindustrie ist
die Partikelgröße, welche über die Länge eines Partikels gegeben ist. Wird das Partikel
durch einen Quader angenähert, so ist die größte der drei Dimensionen des Quaders die
Länge und somit die Partikelgröße. Die Partikelbreite ist die zweite Dimension, senkrecht
zur Partikellänge.

Die Leitungsabstände elektronischer Komponenten im Automobil betragen derzeit

minimal 85μm /IPC 2003/. Um einen Kurzschluss zu verursachen, müssen die Partikel eine
bestimmte Größe aufweisen. Kleinere Partikel sind entsprechend unkritisch, sofern diese
sie agglomerieren. In Dichtungselementen aus Elastomeren, beispielsweise O-Ringen,
müssen die Partikel die zu trennenden Bereiche miteinander verbinden, um den Austritt
eines Fluids bewirken zu können. Somit führen lediglich Partikel, welche länger sind als
der Dichtungsquerschnitt oder eine entsprechende Breite aufweisen, zu Undichtigkeiten.
Kurze und schmale Partikel werden vom elastischen Dichtmaterial umschlossen und sind
somit nicht relevant. In mechanischen Komponenten und Aggregaten bestimmt die
Kombination aus Partikellänge und -breite, ob eine Funktionsstörung eintreten kann
/Krines 2006/. Auch vergleichsweise lange Partikel sind unkritisch solange die
Partikelbreite unterhalb eines systemabhängigen kritischen Werts, z. B. Ventilöffnung,
liegt. Überschreitet die Partikelbreite diesen Wert, so kann dieses Partikel im Extremfall
etwa zum Verstopfen von Ventilen, Verklemmen von Schaltschiebern und Nockenwell-
enstellern sowie Beschädigung von Lagern führen /Berger 2006, Dorr 2007, Grossmann
2008/. Je mehr Partikel im Funktionssystem vorhanden sind, desto größer ist die
Wahrscheinlichkeit des Auftretens eines Ausfalls.

21
Ob die beschriebenen Schadensfälle jedoch tatsächlich eintreten, ist darüber hinaus nicht
nur von der Partikelgröße, -form und -anzahl abhängig. Vielmehr sind zusätzlich deren
Materialeigenschaften – im Speziellen elektrische Leitfähigkeit, Härte und Verformbarkeit
der Partikel – von Bedeutung.

Die elektrische Leitfähigkeit beschreibt die Fähigkeit eines Stoffes, elektrischen Strom
zu leiten. Diese physikalische Größe hängt von der Anzahl der vorhandenen
Ladungsträger, entweder positiv oder negativ geladener Ionen oder Elektronen, sowie
deren Beweglichkeit ab. Bei Normaltemperatur sind lediglich Metalle gute elektrische
Leiter /Gottstein 2008/. Das bedeutet, dass in elektrischen Komponenten nicht
metallische Partikel auch mit einer Größe von deutlich mehr als dem Leitungsabstand
nicht zu Kurzschlüssen und somit zu Funktionsstörungen führen. Platinen und zugehörige
Komponenten wie Gehäuse und Steckverbindungen müssen daher lediglich frei von
metallischen Partikeln sein. Ursache für die Ausfälle elektronischer Komponenten in den
letzten Jahren ist der Kosten bedingte Verzicht auf einen Schutzlack. Da sich zudem die
Anzahl der elektronischen Systeme im Automobil in den letzten 15 Jahren mehr als
verzehnfacht hat, wird die Überprüfung der Sauberkeit dieser Komponenten immer
wichtiger /Senske 2008/. Typische elektronische Komponenten im Automobil dienen z. B.
der Steuerung des Einspritzsystems, der Schaltung in Automatikgetrieben und der
Zündung des Airbags.

In Aggregaten mit bewegten Komponenten oder auf Dichtflächen bestimmen neben

Größe und der Breite die mechanischen Eigenschaften Härte und Verformbarkeit das
Schädigungspotenzial von Partikeln.

Werden Festkörper einer äußeren Kraft ausgesetzt, so bilden sich im Innern des
Festkörpers Formänderungswiderstände aus, welche der äußeren Kraft entgegengesetzt
wirken. Dieser Widerstand gegenüber einer Verformung wird als Härte bezeichnet
/Martens 1889/. Weisen Restschmutzpartikel etwa in Lagerlaufflächen oder in Ventilen
eine geringe Härte auf, so werden diese mechanisch abgeschert oder zerstückelt, auch
wenn die Partikel die kritische Größe und Breite überschritten haben. Ein großes
Schädigungspotenzial haben somit lediglich Partikel mit einer bestimmten Geometrie und
Härte. Da Partikel die Oberflächen von Werkstoffen aus Materialien geringerer Härte
deformieren, führen beispielsweise in Gleitlagern lediglich Partikel mit einer höheren
Härter als das Lagermaterial zu Verschleiß bzw. im Extremfall zum Ausfall des Aggregats.
Messtechnisch wird die Härte von Materialien indirekt durch Aufbringen eines genormten
Prüfkörpers mit definierter Kraft und Messung der Eindringtiefe oder der Abdruckfläche
ermittelt. Je nach verwendetem Prüfkörper und eingesetzter Methode unterscheiden sich
die Verfahren zur Härteprüfung nach Vickers, Brinell, Rockwell und Shore /DIN 843-4/.

Ein weiterer mechanischer Materialkennwert zur Beurteilung des Schädigungspotenzials

ist die elastische (reversible) und plastische (dauerhafte) Verformbarkeit der Partikel. Die
elastische Verformbarkeit kennzeichnet die Eigenschaft eines Körpers, unter Kraft-
einwirkung seine Form zu ändern und nach Wegnahme der Kraft seine vorherige Form
wieder anzunehmen. Diese Materialeigenschaft bestimmt z. B. das Schädigungspotenzial
von Partikeln auf Dichtflächen von Komponenten, die Fluid führende Bereiche abtrennen,
etwa Wellendichtringe, O-Ringe und Zylinderkopfdichtungen. Partikel mit hoher

22
Verformbarkeit passen sich der Dichtfläche an und beeinträchtigen die Dichtfunktion
nicht, auch wenn sie eine große Breite bzw. Dicke aufweisen. Der Elastizitätsmodul E (E-
Modul) ist bei diesem Vorgang das Maß des Widerstandes (Spannung V) des
Partikelmaterials gegenüber der Verformung. Materialien mit geringen E-Modulen sind
weich und lassen sich leichter verformen als Materialien mit einem hohen E-Modul
/Brevier Technische Keramik 2003, Gottstein 2008/.

Zur vollständigen Beurteilung der Bauteilsauberkeit ist somit die Bestimmung der Partikel-
anzahl, -größe und, je nach Anwendungsfall, der mechanischen oder elektrischen
Materialeigenschaften, welche durch das Partikelmaterial gegeben sind notwendig.

2.2 Ausgangssituation

2.2.1 Festlegung von Sauberkeitsgrenzwerten in der Automobilindustrie

Können Partikelrückstände die Funktion einer Komponente beeinträchtigen, so wird die

Komponente als sauberkeitskritisch bezeichnet. Aus diesem Grund wird die Komponente
mit Sauberkeitsanforderungen belegt, die durch die Partikelmerkmale Masse, Größe,
Anzahl und Material beschrieben werden /Daimler 2004/.

x Gesamtmasse aller Partikel

Die Gesamtmasse aller auf den relevanten Bauteiloberflächen befindlichen Partikel darf
bei Anwendung dieses Kriteriums einen bestimmten Wert (in mg) nicht überschreiten.
Dabei handelt es sich um ein integrales Merkmal zur Einordnung des Sauberkeitsniveaus,
welches jedoch keine Rückschlüsse auf Größe und Art der Partikel zulässt. Aus diesem
Grund wird die Bestimmung der Gesamtmasse der Partikel nur zur Überwachung des
Sauberkeitsniveaus von stärker verunreinigten Komponenten eingesetzt.

x Größtes Partikel

Auf den relevanten Bauteiloberflächen dürfen sich bei Reglementierung der Partikelgröße
keine Partikel oberhalb einer bestimmten Größe befinden, während die Anzahl kleinerer
Partikel nicht reglementiert wird.

Messtechnisch wird die Partikelgröße durch den sog. Feret-max Durchmesser

angenähert. Dieser Durchmesser ist der maximale Abstand zweier paralleler Tangenten,
die an den gegenüberliegenden Seiten des Partikels anliegen (s. Abbildung 2-2 a).

Eine weitere Möglichkeit zur Beschreibung der Partikelgröße entsprechend der Richtlinien
ist das Prinzip des äquivalenten optischen Kreisdurchmessers. Die Partikelgröße
entspricht dabei dem Durchmesser eines ideal runden Partikels mit dem Flächeninhalt des
willkürlich geformten Partikels (s. Abbildung 2-2 b).

23
 a) b)

Fläche = 176,7 μm² Fläche = 176,7 μm²

Feret-max Durchmesser = 20μm Äquivalenter optischer

Kreisdurchmesser = 15 μm

Abbildung 2-2: Bestimmung der Partikelgröße eines willkürlich geformten Partikels /VDA 19/
a) Feret-max Durchmesser, bestimmt durch den maximalen Abstand zweier Tangenten
b) äquivalenter optischer Kreisdurchmesser desselben Partikels

x Anzahl von Partikeln bestimmter Größenbereiche

Zusätzlich zur maximal zulässigen Größe der Partikel kann die Anzahl von Partikeln
bestimmter Größenbereiche reglementiert werden. Zur einheitlichen Angabe solcher
Sauberkeitsanforderungen definiert der VDA-Band 19 und die ISO 16232 Größenklassen
mit diskreten Klassengrenzen von 5 bis 1000μm entsprechend Tabelle 2-1.

Größenklasse Größe x [μm]

B 5 bis < 15
C 15 bis < 25
D 25 bis < 50
E 50 bis < 100
F 100 bis < 150
G 150 bis < 200
H 200 bis < 400
I 400 bis < 600
J 600 bis < 1000
K t 1000

Tabelle 2-1: Partikelgrößenklassen nach VDA-Band 19 und ISO 16232

Jedem dieser Partikelgrößenbereiche wird ein Großbuchstabe zugeordnet, der die

Größenklasse kennzeichnet. Je nach Bauteilanforderungen werden für jede Größenklasse
maximal zulässige Partikelanzahlen festgelegt. Produkt spezifisch können Größenklassen
zusammengefasst oder nicht berücksichtigt werden. Die angegebene zulässige Anzahl
bezieht sich dann auf den zusammengefassten Größenbereich.

Die beschriebenen Kriterien können zur Festlegung der Sauberkeitsspezifikation eines

Bauteils bei Bedarf miteinander kombiniert werden. Tabelle 2-2 zeigt beispielhafte eine
typische Sauberkeitsspezifikation.

24
 Größenklasse Partikelgröße [μm] zulässige Partikelanzahl
D-E 25 bis < 100 8000
F-G 100 bis < 200 250
H 200 bis < 400 16
I 400 bis < 600 4
J 600 bis < 1000 1
K >=1000 0
Maximale Länge des größten Partikels: 700 μm
Zulässige Gesamtmasse der Partikel: 2 mg

Tabelle 2-2: Beispiel einer Sauberkeitsspezifikation

x Partikelmaterial

Wird die Bauteilsauberkeit auf Grundlage des größten zulässigen Partikels oder der
maximal zulässigen Partikelanzahl bestimmter Größenintervalle festgelegt, kann diese
Forderung zusätzlich mit einer Materialeinschränkung kombiniert werden. So können
anwendungsbezogen etwa auf elektrischen Komponenten lediglich metallische Partikel
ab einer bestimmten Größe ausgeschlossen werden, während nicht metallische Partikel
nicht reglementiert werden. Wird das Sauberkeitsmerkmal Gesamtmasse der Partikel zur
Beschreibung der Bauteilsauberkeit herangezogen, wird keine Materialdiskriminierung
durchgeführt, da die Partikelmasse nur kumulativ für alle Partikel ermittelt werden kann.

Welche Partikelmerkmale zur Festlegung von Sauberkeitsspezifikationen verwendet

werden ist abhängig vom System und muss individuell erarbeitet werden. Die kritische
Partikelgröße oder -form kann einerseits über die Spaltmaße und Lagertoleranzen der
Aggregate abgeschätzt werden. Diese theoretischen Werte werden über Versuchsreihen
und Funktionsfehlerraten praktisch verifiziert. Daneben ist die Relevanz des Systems und
dessen Funktionsbeeinträchtigung durch Partikel von Bedeutung. Je größer ein durch
Partikel erzeugter Schaden sein kann, desto stärker muss die Eintrittswahrscheinlichkeit
eines Schadenfalls minimiert werden und desto weniger Partikel bestimmter Größen sind
zulässig. Die Beschränkung auf bestimmte Materialien ist davon abhängig, ob die
Komponente in einem elektronischen oder mechanischen System verbaut wird oder das
Bauteil eine Dichtfunktion in einem Drucksystem übernimmt.

2.2.2 Technische Sauberkeitsanalysen nach VDA-Band 19

Automobilbauteile, die mit Sauberkeitsanforderungen belegt sind, weisen größtenteils

komplexe Geometrien mit Sacklöchern, Bohrungen und Kanälen auf. Deshalb ist es nur in
Ausnahmefällen möglich, die Partikel direkt auf dem Bauteil z. B. mittels Labormikroskop
zu detektieren und zu vermessen. Partikel werden zuerst nasschemisch von den
relevanten Bauteiloberflächen abgereinigt. Dieser Vorbereitungsschritt für die eigentliche
messtechnische Bestimmung der Partikel wird als Extraktion bezeichnet. Zur
anschließenden Analyse der Partikel werden in Abhängigkeit von den zu ermittelnden
Partikelmerkmalen folgende Analysemethoden eingesetzt:

25
 x Bestimmung der Gesamtmasse der Partikel über eine Differenzwägung

x Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl mittels Mikroskopie oder Extinktions-

Partikelzählung

x Bestimmung des Partikelmaterials mittels energiedispersive Röntgenspetroskopie

am Rasterelektronenmikroskop (REM-EDX)

Die Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl mittels Lichtextinktion erfolgt direkt in der
Analyseflüssigkeit. Bei den anderen erwähnten Verfahren müssen die Partikel zunächst
auf ein sog. Analysefilter übertragen werden. Welches Verfahren dabei eingesetzt wird,
richtet sich nach dem gewählten Kriterium zur Beschreibung der Bauteilsauberkeit.
Abbildung 2-3 zeigt den normkonformen Ablauf zur Bestimmung der technischen
Sauberkeit von Bauteilen.

Standardablauf
Direktinspektion Bauteil / Prüfobjekt
Sonderablauf

Extraktion:
Ultraschall Spritzen Spülen Schütteln

Analyse:
Filtration

Gravimetrie Licht- Rasterelektronen- Flüssigkeits-

mikroskopie mikroskopie mit partikelzähler
Elementanalyse

Dokumentation

Abbildung 2-3: Ablaufschema einer Sauberkeitsprüfung nach VDA-Band 19 und ISO 16232

2.2.2.1 Bestimmung der Masse der Partikel

Zur gravimetrischen Analyse werden die Partikel des Prüfbauteils kumulativ über den
Massenzuwachs des Analysefilters bestimmt. Dies erfolgt durch die Wägung der leeren
Filtermembran vor der Filtration und der beladenen Membran nach Filtration und
Trocknung. Die Differenz dieser beiden Werte stellt die Gesamtmasse der Partikel dar.

2.2.2.2 Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl

Zur Analyse der Partikelgröße und -anzahl auf der Filtermembran werden Licht- oder
Rasterelektronenmikroskope (REM) eingesetzt. Je nach Verfahren wird das Analyse-
filter entweder mit sichtbarem Licht (Lichtmikroskopie) oder mit Elektronen
(Elektronenmikroskopie) bestrahlt und abgerastert. Aufgrund des Helligkeitskontrastes
der Partikel zur Filtermembran werden diese bei der Lichtmikroskopie mit einem
optischen System auf einer Kamera abgebildet. Bei der Elektronenmikroskopie erfolgt

26
dieser Vorgang auf Grundlage des Materialkontrastes zwischen Partikel und Membran.
Die Größenanalyse der abgebildeten Partikel erfolgt abschließend durch den Einsatz
digitaler Bildverarbeitung auf Grundlage des Feret-max Durchmessers.

Ein weiteres Verfahren zur normkonformen Bestimmung der Partikelgröße ist der
optische Partikelzähler (OPZ) auf Grundlage des Lichtextinktionsprinzips. Diese Geräte
zählen und vermessen die Partikel direkt in der Flüssigkeit, weshalb der Filtrationsschritt
entfällt. Eine mit Flüssigkeit durchströmte Messzelle wird von einem Lichtstrahl durch-
leuchtet, welcher direkt in eine photosensitive Einheit trifft. Diese wandelt das einfallende
Licht in elektrischen Strom um. Strömt nun ein Partikel durch den Lichtstrahl, wird ein Teil
des Lichtes abgeschattet, es gelangt weniger Licht zur photosensitiven Einheit und die
Stromstärke fällt ab. Da der Betrag des Stromstärkeabfalls proportional zur
Schattenfläche des Partikels ist, erfolgt (zusätzlich zur Partikelzählung) die Bestimmung
der Partikelgröße auf Grundlage des äquivalenten optischen Kreisdurchmessers.

Aufgrund der Tatsache, dass der OPZ sowohl Luftblasen, als auch nicht gelöste Öle nicht
von Partikel unterscheiden kann und die Probe nach der Analyse verloren ist, wird dieses
Verfahren nur in Ausnahmefällen eingesetzt, etwa in Funktionsprüfständen von Pumpen
und Injektoren. Das mit Abstand am häufigsten angewandte Verfahren zur Bestimmung
der Partikelgröße und -anzahl ist deshalb die Lichtmikroskopie mit automatisierter
Filterauszählung. Entsprechend Herstellerangaben sind weltweit etwa 400 - 500 dieser
Systeme im Einsatz /Metzger 2008/. Das REM wiederum wird nur dann zur
Größenanalyse eingesetzt, wenn zusätzlich eine Elementanalyse erforderlich ist.

2.2.2.3 Bestimmung des Partikelmaterials

x Normkonforme Materialanalyse mittels REM-EDX

Um die relevanten Materialeigenschaften der Partikel zu ermitteln, wird nicht direkt deren
Leitfähigkeit, Härte oder Verformbarkeit messtechnisch bestimmt. Es wird vielmehr eine
Materialanalyse der Partikel durchgeführt, anhand derer die mechanischen und
elektrischen Materialeigenschaften abgeleitet werden.

Den Stand der Technik zur Materialanalyse stellt gemäß VDA-Band 19 und ISO 16232 die
energiedispersive Röntgenspetroskopie am Rasterelektronenmikroskop (REM-EDX) dar.

Ein gebündelter Elektronenstrahl wird mittels Magnetspulen auf das zu analysierende

Partikel fokussiert und die Oberfläche der Probe mit dem Anregungselektronenstrahl
abgerastert. Dabei können folgende Effekte eintreten, welche zur Bestimmung der
Partikelgröße und -anzahl eingesetzt werden können und aufgrund von Folgeeffekten die
Elementanalyse ermöglichen:

1. Ein Anregungselektron kollidiert mit einem Elektron eines Atoms der Probe und
löst dieses aus dem Atomverband heraus. Es entsteht ein sog. Sekundärelektron
(SE) mit wenigen eV Energie.

2. Ein Anregungselektron wird an einem Atomkern gestreut. Dabei entsteht ein sog.
Rückstreuelektron (Back Scattering Electrons - BSE) mit der Energie einiger keV.

27
Je höher die Ordnungszahl eines Atoms, desto größer ist die Wahrscheinlichkeit, dass
einer der beiden Effekte eintritt. Besteht ein Materialkontrast zwischen Partikel und
Membran, so werden vom Partikel entweder mehr Elektronen oder weniger Elektronen
emittiert als von der Membran. Durch ortsaufgelöste Detektion der BSE werden die
Partikel somit heller oder dunkler als die Filtermembran dargestellt Anhand dieser
Intensitätsunterschiede kann bei bekannter optischer Vergrößerung das Partikel erfasst
und dessen Größe bestimmt werden.

Die anschließende Elementanalyse nutzt einen Folgeprozess bei der Entstehung von
Sekundärelektronen aus. Löst ein Anregungselektron ein kernnahes Elektron aus dem
Atomverband heraus, so springt ein Elektron einer äußeren Schale in das entstandene
Loch (s. Abbildung 2-4). Bei diesem Vorgang wird Energie in Form von Röntgenstrahlung
freigesetzt, die charakteristisch für das jeweilige Atom ist. Durch Messung der Energie der
Röntgenstrahlung kann die Ordnungszahl des emittierenden Atoms bestimmt werden.
Über die Anzahl der eintreffenden Photonen wird zusätzlich der Anteil des jeweiligen
Elements einer Probe ermittelt. Eine REM-EDX-Analyse liefert somit ein qualitatives und
quantitatives Ergebnis der elementare Bestandteile eines Partikels /Dörffel 1994/.

1. Das Anregungselektron kollidiert

Sekundärelektron mit einem Rumpfelektron eines
Energiezustände des Atoms

Anregungselektronen Atoms. Es entsteht ein

Sekundärelektron (SE).
2. Das Elektron einer äußeren,
energetisch höher liegenden
1.
L iii Schale springt in das Loch der
L ii hQ charakteristische energetisch niedrigeren Schale.
Li 3. Röntgenstrahlung 3. Die Energiedifferenz wird in Form
2. von Röntgenstrahlung freigesetzt.
K

Abbildung 2-4: Mögliche Wechselwirkungen eines Elektrons mit atomgebundenen Elektronen als Grundlage zur
Bestimmung des Atoms anhand charakteristischer Röntgenstrahlung /Flegler 1995/

Bewertung der REM-EDX-Analyse zur Bestimmung der Materialeigenschaften:

Die REM-EDX-Analyse liefert die Elemente eines Partikels und deren quantitative
Verteilung. Darüber hinaus wird jedoch keine Aussage über die Molekülstruktur des
Partikels ermöglicht. Anhand einer EDX-Analyse ist es also beispielsweise nicht möglich zu
beurteilen, ob es sich bei einem Partikel mit entsprechendem Aluminium- und
Sauerstoffgehalt um ein nicht leitendes keramisches Al2O3-Korundpartikel oder um die
Oxidschicht eines leitenden Aluminiumpartikels handelt. Ein Rückschluss von elementarer
Zusammensetzung eines untersuchten Partikels auf dessen Materialeigenschaften,
welches das eigentliche Ziel der Analyse darstellt, kann somit nur eingeschränkt gezogen
werden.

Darüber hinaus ist die energiedispersive Röntgenanalytik eine sehr aufwändige

Analysemethode. Es muss Röntgenstrahlung erfasst und deren Energieverteilung ermittelt
werden. Hierzu müssen teure Detektoren eingesetzt werden. Da auch die hoch-

28
energetischen Primärelektronen und BSE (mehrere keV) durch Luftmoleküle in der
Messkammer abgelenkt werden, muss die Analyse zumindest im Niederdruckvakuum
durchgeführt werden. Dies bedingt den Einsatz einer speziellen Probenkammer und
Pumpentechnik (Turbomolekular-Pumpen). Des Weiteren muss die Kammer so gestaltet
sein, dass die erzeugte Röntgenastrahlung nach außen hin abgeschirmt wird.

x Klassifizierung von Metallen über den charakteristischen Glanz

Aufgrund der technisch aufwändigen und nur bedingt aussagekräftigen Materialanalyse

mittels REM-EDX hat sich die Klassifizierung von Metallpartikeln auf Grundlage des
metallischen Glanzes als alternatives Verfahren etabliert. Durch die Beweglichkeit der
Valenzelektronen von Metallen streuen diese das eingestrahlte Licht vollständig zurück
und es entsteht der typische Glanz von Metallen /Gottstein 2008/. Bei Betrachtung mit
einem optischen System erscheinen metallische Partikel deshalb signifikant heller als nicht
metallische Partikel, die das Licht nicht vollständig reflektieren. Durch Festlegung eines
Helligkeitsschwellwertes können Partikel oberhalb dieses Wertes den Metallen und
dunklere Partikel den Nichtmetallen zugeordnet.

Auf Grundlage des gleichen physikalischen Prinzips arbeiten Polarisationsmikroskope. Bei

Beleuchtung metallischer Partikel mit polarisiertem Licht und Betrachtung bzw.
Aufnahme des Reflexionslichtes durch einen um 90° gedrehten Polarisator kann der
Glanz unterdrückt werden. Über eine Differenzauswertung eines Bildes mit diffuser
Beleuchtung mit einem Bild derselben Stelle mit polarisierter Beleuchtung, erfolgt die
Klassifizierung der Metalle und Nichtmetalle /Jomesa 2008/. Abbildung 2-5 zeigt die
Aufnahme eines metallischen und eines nicht metallischen Partikels bei diffuser und
polarisierter Beleuchtung, mit einem um 90° gedrehten Polarisator vor der Kamera. Über
eine Differenzbildauswertung kann das metallische Partikel identifiziert werden.

a) b)
nicht metallisches nicht metallisches
Partikel Partikel
metallisches metallisches
Partikel Partikel

1000 μm 1000 μm

Abbildung 2-5: Prinzip der Polarisationsmikroskopie zur Bestimmung von metallischen Partikeln über deren Glanz
a) metallisches und nicht metallisches Partikel mit diffuser Beleuchtung
b) derselbe Bildausschnitt polarisiert beleuchtet mit 90° gedrehtem Polarisator vor der Kamera

Bewertung der Metallklassifizierung zur Bestimmung der Materialeigenschaften:

Die Klassifizierung von Metallen allein auf Grundlage eines Helligkeitsschwellwerts ist
eine subjektive Methode und vom jeweiligen Bediener abhängig. Bestimmte Metalloxide
und beschichtete Metalle, die nur schwach glänzen, können falsch negativ als nicht
metallische Partikel und glänzende Kunststofffolien hingegen falsch positiv als metallische
Partikel klassifiziert werden.

29
Die Methode der Differenzbildanalyse mittels gekreuzter Polarisatoren umgeht diese
subjektive Klassifizierung. Allerdings ist auch mit diesem Verfahren, genauso wie bei der
einfachen Klassifizierung über den Glanz, keine weitere Differenzierung der nicht
metallischen Partikel möglich. Harte abrasive Mineralien und weiche organische Partikel
können nicht unterschieden werden, weshalb eine Einteilung der Partikel anhand der
Schädigungswirkung auf Grundlage der Härte nicht möglich ist.

x Gegenüberstellung der Verfahren zur Materialbewertung

In Tabelle 2-3 sind die beiden Verfahren einander gegenüber gestellt und anhand der
Kriterien zeitlicher und manueller Aufwand, Kosten der notwendigen Geräte sowie
messtechnische Grenzen verglichen.

Verfahren #1: REM-EDX im Niedervakuum-Betrieb

Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl mit einem automatisierten REM ab einer
Partikelgröße von 50 μm. Anschließend erfolgt die Analyse der Elementverteilung des
Materials der Partikel ab 50μm mit einem integrierten EDX-System im Niedervakuum.

Verfahren #2: Partikelklassifizierung über den metallischen Glanz

Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl mit einem automatisierten Stereomikroskop

ab einer Partikelgröße von 50 μm. Anschließend erfolgt eine Klassifizierung der erfassten
Partikel in metallische und nicht metallische Partikel anhand der Polarisationsmikroskopie
mit Differenzbildauswertung.

Die angegebenen Analysezeiten sind abhängig vom Analyseumfang und hier als
Richtwerte zu verstehen. Ausgegangen wird von der Auswertung einer mit Partikeln dicht
belegten Analysemembran mit etwa 1000 Partikeln > 50 μm. Dies entspricht einer
durchschnittlich verunreinigten Analysemembran, welche als charakteristisch für diese
Anwendung betrachtet werden kann.

Manueller zeitlicher Gerätetechnik

Grenzen des Verfahrens
Aufwand Aufwand und Kosten
Verfahren Einlegen des ca. 4 h - hoher technischer Aufwand automatisiertes REM-EDX
#1 Analysefilters in - keine eindeutige Aussage mit Niederdruckvakuum-
das Gerät bezüglich Materialeigenschaften Betrieb
möglich, da keine Molekülanalyse Æ ab ca. 150 T€
Verfahren Einlegen des ca. 0,5 h - Differenzierung nicht metallischer automatisiertes
#2 Analysefilters in Partikel ist nicht möglich Lichtmikroskop mit
das Gerät Polarisationseinheit
Æ ab ca. 25 T€

Tabelle 2-3: Gegenüberstellung der etablierten Verfahren zur Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl sowie
des Partikelmaterials bei der Bauteilsauberkeitsprüfung

Fazit: Aufgrund der technischen Gegebenheiten ist die REM-EDX-Analyse ein sehr
aufwändiges Analyseverfahren. Darüber hinaus liefert es lediglich die Elementverteilung

30
des Partikelmaterials. Aussagen über die tatsächlichen Materialeigenschaften der
analysierten Partikel sind nur eingeschränkt möglich.

Im Gegensatz hierzu ist der finanzielle Aufwand zur Materialklassifizierung über den
metallischen Glanz mittels Polarisationsmikroskopie – ab etwa 25 T€ Gerätekosten –
deutlich geringer. Hauptnachteil dieses Verfahrens ist jedoch, dass nicht metallische
Partikel nicht weiter differenziert werden können. Keramische und organische Partikel
werden derselben Klasse zugeordnet. Eine vollständige Bestimmung des Schädigungs-
potenzials von Partikeln ist anhand dieses Verfahrens somit nicht möglich.

2.3 Zusammenfassung und Aufgabenstellung

Zusammenfassung

Zur Sicherstellung der Qualität von Produkten in der Automobilindustrie besteht die
Notwendigkeit, die partikulären Rückstände auf sauberkeitskritischen Komponenten
messtechnisch zu bestimmen. Der VDA-Band 19 und die ISO 16232 beschreiben hierzu
die Methoden und Geräte nach Stand der Technik. Zur Festlegung von
Sauberkeitsgrenzwerten und zur Bestimmung der Sauberkeit sind neben der zulässigen
Größe und Anzahl von Partikeln auch deren mechanische und elektrische
Werkstoffeigenschaften von Bedeutung. Diese physikalischen Größen können durch das
Material der Partikel abgeleitet werden. Aus diesem Grund ist die Bestimmung des
Partikelmaterials zur vollständigen Beschreibung der Bauteilsauberkeit unerlässlich.

Nach VDA-Band 19 und ISO 16232 ist die energiedispersive Röntgenspektroskopie am

Rasterelektronenmikroskop das Verfahren nach Stand der Technik zur Bestimmung des
Partikelmaterials. Da die gerätetechnische Umsetzung dieses Prinzips sehr kostspielig ist
und nur die elementare Verteilung des Materials liefert, ist diese Methode zur
Bestimmung der Bauteilsauberkeit in der Serienproduktion nicht geeignet. Vor allem in
der stark mittelstandsgeprägten Zulieferindustrie, die unter erheblichem Kostendruck
steht, ist deren Implementierung nicht finanzierbar. Daher hat sich die Bestimmung der
metallischen Partikel über deren metallischen Glanz mittels Polarisationsmikroskopie
etabliert. Nachteil dieses Verfahrens ist, dass die nicht metallischen Partikel nicht weiter
differenziert werden können.

Es besteht somit ein hoher Bedarf an einem einfachen Analysesystem, welches genau den
Anforderungen und Gegebenheiten in der Automobilindustrie angepasst ist.

Aufgabenstellung

Ziel dieser Arbeit ist die Entwicklung und Umsetzung eines Verfahrens zur einfachen und
vollständigen Bestimmung der Bauteilsauberkeit. Das bedeutet, dass neben der Messung
der Partikelgröße und -anzahl nach VDA-Band 19 die erfassten Partikel anhand ihrer
Werkstoffeigenschaften bewertet werden müssen. Welche Werkstoffeigenschaften für
diese Bewertung relevant sind, ist abhängig vom jeweiligen Bauteil bzw. vom System, in
dem das Bauteil verbaut wird.

31
Um eine hohe Marktakzeptanz zu erzielen, muss das Verfahren die Probleme der
etablierten Verfahren lösen, ohne gleichzeitig neue Nachteile aufzuweisen. In
Konsequenz muss das Verfahren mit deutlich geringerem technischem Aufwand
umsetzbar sein als die energiedispersive Röntgenanalyse am Rasterelektronenmikroskop
(REM-EDX) und eine direkte Klassifizierung des Materials ermöglichen. Gegenüber der
Lichtmikroskopie mit automatisierter Polarisationstechnik zur Metallklassifizierung müssen
auch die nicht metallischen Partikel gesichert weiter differenziert werden können.

Ein solches Verfahren ermöglicht einfache Aussagen über das tatsächliche Schädigungs-
potenzial von Restschmutzpartikeln. Aufbauend auf diesem Wissen kann durch
entsprechende Regelkreise die Prozesssicherheit bei der Herstellung der Produkte und die
Lebensdauer von sauberkeitskritischen Systemen erheblich gesteigert werden.

32
3 Analyse der Randbedingungen und Ableitung von
Anforderungen an das Verfahren

3.1 Praxistypische Kontaminationen in der Automobilindustrie

Für die Entwicklung eines Verfahrens zur einfachen und vollständigen Bestimmung des
Schädigungspotenzials von Partikeln in der Automobilindustrie müssen die relevanten
partikulären Kontaminationen und Werkstoffeigenschaften betrachtet werden. Im ersten
Analyseschritt werden daher die in der Automobilindustrie praxistypischen Partikelquellen
untersucht und die daraus resultierenden Partikelarten und -größen abgeleitet.

Bei der Herstellung von Funktionssystemen im Automobil, z. B. Lenk- oder Bremssystem,

werden selbst gefertigte oder zugekaufte Einzelteile zu Baugruppen gefügt. Von der
Produktion der Einzelteile bis zur Auslieferung des Systems nach der Endmontage kann
das Produkt auf vielfältige Weise partikulär kontaminiert werden. Die Restschmutzpartikel
können etwa bei der mechanischen Bearbeitung des Produkts entstehen, durch die
Umgebung eingeschleppt oder durch Kontakt mit verunreinigten Oberflächen auf das
Bauteil übertragen werden /Gösel 2005/. Diese vielfältigen Partikelquellen können
entsprechend Abbildung 3-1 zusammengefasst werden.

Einflussfaktoren auf die Technischen Sauberkeit

Fertigungsprozess

Personal Betriebsmittel
Technische
Sauberkeit des
Bauteils

Transport /
Umgebung
Verpackung

Abbildung 3-1: Einflussfaktoren auf die Technische Sauberkeit in der Automobilindustrie und deren Zulieferbetrieben

Zur Analyse der praxistypischen Partikelmaterialien und Partikelgrößen ist eine individuelle
Betrachtung jeder dieser Partikelquellen notwendig.

3.1.1 Fertigungsprozess

Die Einzelteile werden hauptsächlich aus Metall, im Speziellen legierte Stähle, Aluminium
und in geringerem Maße Messing, hergestellt /Mitterer 2007/. Die zweite Materialgruppe
bilden die synthetischen Polymere, wobei sämtliche gängigen Duroplaste, Thermoplaste
und Elastomere zum Einsatz kommen. Die zur Fertigung der Einzelteile und Systeme
eingesetzten Verfahren werden entsprechend Tabelle 3-1 in die Hauptgruppen Urformen,
Umformen, Trennen, Fügen und Beschichten unterteilt /DIN 8580/.

1. Urformen 2. Umformen 3. Trennen 4. Fügen 5. Beschichten

Metalle Druckgießen, Walzen, Längen, Spanen, Schneiden Kleben, Aufdampfen,

Fließpressen, Tiefziehen thermisches und Löten, Galvanisieren,
Strangpressen u. a. elektrochemisches Verschrauben thermisches Spritzen,
u. a. Abtragen, Reinigen Lackieren

thermisches Schweißen Auftragsschweißen

Schneiden
u. a. u. a.
Blechbearbeitung
umformende schneidende
Verfahren Verfahren

6. Stoffeigenschaft ändern
Härten, Vergüten, Entkohlen, Aufkohlen
Kunststoffe Spritzgießen, Warmformen, Spanen Kleben, Lackieren,
Pressen, Biegen, u. a. Schweißen, Bedrucken,
Spritzpressen, Abkanten Nieten, Beflocken,
Extrudieren u. a. Einbetten von Beschichten mit
u. a. Metallteilen Kunststoff
u. a. u. a.

Tabelle 3-1: Fertigungsverfahren nach DIN 8580 /Meins 1989/

Beim Urformen werden die Bauteil-Rohlinge und Halbzeuge (Rohre und Stangen) z. B.
mittels Gießen und Pressen hergestellt. Typische prozessbedingte Verunreinigungen sind
mineralische Gusssandpartikel, die an den Oberflächen der Rohlinge zurückbleiben.

Das anschließende plastische Ändern der Form des Halbzeugs oder Rohlings wird als
Umformen bezeichnet. Dabei entstehen Partikel aus dem Material des Rohlings, etwa
durch Abplatzer an Kanten und Radien beim Tiefziehen und Biegen.

Das mechanische Bearbeiten mit geometrisch bestimmten Schneiden (Bohren, Drehen

und Fräsen) fällt unter die Hauptgruppe 3, dem Trennen /DIN 8589-0/. Bei diesen
Prozessen entstehen Partikel aus dem Material des ur- bzw. umgeformten Bauteils. So
werden etwa bei der mechanischen Bearbeitung eines Zylinderkopfrohlings ca. 3 kg
Aluminiumspäne erzeugt /Großmann 2008/. Bauteilabhängig erfolgt anschließend eine
Oberflächenbehandlung durch Spanen mit geometrisch unbestimmten Schneiden. Hierzu
zählen Strahlspanen, Schleifen, Honen, Läppen /DIN 8590-0/. Bei diesen Bearbeitungs-
schritten entstehen ebenfalls Partikel aus dem Material des Rohteils sowie Rückstände
von Prozesspartikeln. Je nach Verfahren handelt es sich um Partikel aus Stahl, NE-
Metallen, natürlichen und synthetischen Mineralien und Keramiken (SiC, Korund Al2O3,
Diamant und kubisches Bornitrid CBN) oder Organik (Polymere) /DIN 8200/. Zu den
trennenden Verfahren zählt darüber hinaus auch die Reinigung von Bauteilen /DIN 8592/.
Dieser Schritt dient der Entfernung der Partikel sowie filmischer Verunreinigungen, etwa
Kühlschmierstoffen und Konservierungsmitteln, von der Bauteiloberfläche.

34
In Abhängigkeit der Anwendung werden die Oberflächeneigenschaften des Bauteils
durch Beschichten, hierzu zählen Galvanisieren, Lackieren und Bedampfen, verändert.
Ziel des Beschichtens ist beispielsweise die Erhöhung des Verschleißwiderstandes eines
Bauteils oder der Korrosionsschutz. Typische Rückstände, die dabei entstehen können,
sind Abplatzer von Beschichtungen.

Im weiteren Produktionsverlauf erfolgt das Fügen, bei dem die gefertigten Einzelteile zu
Funktionsaggregaten (Lenksystem, Motor, Bremsaggregat, usw.) verbaut werden.
Typische Arbeitsschritte beim Fügen sind Schrauben, Verstemmen, Nieten,
Zusammensetzen und Löten. Bei diesen Arbeitsschritten entstehen Partikel an den
Flächen der Fügepartner durch Abrieb oder durch gleichzeitig stattfindendes Umformen
/Gommel 2006, Rochowicz 2007/. Die Partikel sind somit aus dem Material der
beteiligten Fügepartner. Bei der Fertigung elektronischer Steuerkomponenten stellen
Lotperlen typische Fügeverunreinigungen dar.

Nach der Montage der Baugruppen und Aggregate sind die funktionskritischen Bereiche
verschlossen. Die danach folgenden Schritte sind somit nicht mehr als sauberkeitskritisch
zu betrachten. Die im weiteren Fertigungsverlauf, z. B. bei der Endmontage entstehenden
Partikel, werden deshalb nicht weiter berücksichtigt. Tabelle 3-2 gibt einen Überblick
über die für die Bauteilsauberkeit der Produkte und Systeme in der Automobilindustrie
relevanten Produktionsschritte und die daraus resultierenden Partikel.

charakteristische
Hauptgruppe typische Verfahren Partikelmaterial
Partikelrückstände
#1 Urformen Druckgießen, Spritzgießen, Gussrückstände, die im mineralischer Sand
Pressen Material verbleiben
#2 Umformen Tiefziehen, Biegen Partikel aus dem Material Stahl, Aluminium, Messing,
des Rohteil sämtliche gängigen Kunststoffe
#3 Trennen Drehen, Fräsen, Partikel aus dem Material Stahl, Aluminium, Messing,
Bohren, Strahlen, Honen, des Rohteil sowie eingesetzte sämtliche gängigen Kunststoffe,
Läppen, Schleifen Prozesspartikel, die auf dem natürliche und synthetische
Bauteil zurück bleiben Mineralien und Keramiken
#4 Beschichten Lackieren, Galvanisieren Partikel aus dem Zink, Chrom
Beschichtungsmaterial
#5 Fügen Schrauben, Nieten, Bauteilabrieb, Stahl, Aluminium, Messing, Zink,
Verstemmen, Löten, Kleben Lotpartikel Zinn, Kunststoffe und Polymere

Tabelle 3-2: Partikel erzeugende Fertigungsverfahren in der Automobilindustrie und deren Zulieferbetrieben
sowie dabei generierte charakteristische Partikel

3.1.2 Fertigungsumgebung

Üblicherweise findet die Produktion von Automobilkomponenten in einer Umgebung

statt, in der die luftgetragenen Partikel nicht reglementiert werden. Eine Ausnahme bildet
die Montage von hochsensiblen Brems- und Einspritzsystemen, welche in Reinräumen der
Klassen 7 bis 8 nach ISO 14644-1 durchgeführt werden /Ford 2000, Continental 2007b/.
In nicht reglementierten Fertigungsumgebungen können sich Schwebstoffpartikel in der
gesamten Produktion frei verteilen. Schwebstoffpartikel entstehen durch Abrieb, Erosion

35
oder bei industriellen Prozessen und werden entweder direkt an die Luft abgegeben (z. B.
bei Verbrennungsprozessen) oder indirekt durch Aufwirbelung /van Basshuysen 2006/.
Abbildung 3-2 gibt einen Überblick über die Entstehungsprozessen Luft getragener
Partikel und deren Größeneinteilung. Die Größenverteilung und Struktur der erzeugten
Partikel ist abhängig vom jeweiligen Entstehungsprozess. Typische Luft getragene Partikel
in der Fertigungsumgebung sind organischen Ursprungs, etwa Pollen bis maximal 100
μm und Fasern mit einer Größe von bis zu mehreren Millimetern.

Herkunft Luft getragener Unterteilung nach Größe

Partikel (Schwebstoffe)
entsprechend entsprechend
Richtlinie 2008/50/EG ISO 14644-1
Ruß
anorganische Partikel aus
Verbrennungsprozessen
Ultrafeine Partikel
Staub inhalierbarer Ø < 0,1 μm
mineralische und organische Feinstaub
Partikel und Fasern aus PM10 Ø < 10 μm
mechanischen Prozessen oder Mikropartikel
durch Aufwirbelung erzeugt 0,1 μm < Ø < 5 μm
Lungen gängiger
Rauch Feinstaub
sehr kleine Partikel aus PM2,5 Ø < 2,5 μm
Makropartikel
chemischen oder thermischen Ø > 5 μm
Prozessen
PM: Particulate Matter

Abbildung 3-2: Typische Schwebstoffpartikel in nicht reglementierter Umgebung sowie deren Gruppierung nach
Größe und Material /EG 2008, ISO 14644-1/

Anorganische Partikel (Metalle und Mineralien) setzen sich in der Fertigungsumgebung

ohne größere Luftbewegung aufgrund ihrer hohen Dichte sehr schnell aus der Luft ab.
Für Partikel mit einer Dichte von 1 g/cm³ (entspricht Ruß) und 57 μm Größe wird die
Sedimentationsgeschwindigkeit in Luft mit 10 cm/s angegeben /van Basshuysen 2006/.
Erzeugte metallische, keramische und mineralische Partikel sind deshalb lediglich am Ort
ihrer Entstehung bzw. im unmittelbarem Umfeld vorzufinden /Ernst 2009, Schmauz
2009/. Luft getragene Partikel > 50 μm in der Produktionsumgebung von Komponenten
und Funktionssystemen in der Automobilindustrie bestehen somit fast ausschließlich aus
natürlichen organischen Materialien.

3.1.3 Betriebsmittel

Montageanlagen, welche zum Fügen von Einzelkomponenten eingesetzt werden, weisen

eine Vielzahl an bewegten Komponenten auf. Hierzu zählen pneumatische und
elektrische Zylinder, Linear- und Rotationsachsen sowie Energieführungsketten und
Förderbänder. Diese Betriebsmittel können an den Kontaktflächen der bewegten
Elemente durch tribologische Effekte Partikel erzeugen und unkontrolliert in die
Umgebung abgeben. Der Hauptbestandteil der bei diesen Abrasionsprozessen
generierten Partikel ist dabei kleiner als 5 μm /Gommel 2006/. Untersuchungen an
Montageanlagen haben jedoch gezeigt, dass diese vereinzelt auch Partikel bis zu

36
mehreren 100 μm erzeugen können /Ernst 2009/. Je nach eingesetzten Werkstoffen
handelt es sich um Metall-, Kunststoff- oder Gummipartikel. Zusätzlich entstehen Partikel
durch Verschleiß an eingesetzten Werkzeugen, etwa an Bohrern oder Schraubeinsätzen.
Abbildung 3-3 zeigt zwei in der Automobilindustrie typische Montagelinien.

a) b)

Abbildung 3-3: Beispiele von typischen Montageeinrichtungskonzepten und deren Ausführung

a) gekapselte vollautomatisierte Montageanlage
b) offene manuelle Montagelinie

3.1.4 Personal

Einen weiteren Einflussfaktor auf die Sauberkeit von Komponenten und Aggregaten in
der Produktion stellt der Mensch dar. Der Werker kann das Bauteil durch Partikelabgabe
direkt verunreinigen oder Partikel indirekt auf die Bauteiloberfläche verschleppen. Partikel
gibt der Werker in Form von Textilfasern und Haaren ab. Dabei handelt es sich um
natürlich organische (Wolle, Baumwolle) und synthetisch organische Fasern (Polyester,
Polyamid), welche bis zu mehrere Millimeter groß sein können. Zusätzlich gibt der
Mensch Mikroorganismen in Form von Pilzen und Bakterien im Größenbereich zwischen
0,1 und 10 μm sowie Hautschuppen bis zu mehreren Millimetern Größe ab /Schüle
2004/. Partikel auf das Bauteil verschleppen kann der Werker bei dessen Handhabung
etwa durch Kontakt mit verunreinigten Handschuhen oder Händen sowie durch Ablegen
von Bauteilen auf kontaminierten Oberflächen. Dabei handelt es sich um Partikel aus der
Produktion, welche der Werker von verunreinigten Oberflächen der Fertigungsumgebung
aufnimmt und anschließend auf das Bauteil überträgt.

3.1.5 Verpackung und Transport

Weitere Verschmutzungsquellen stellen die Packmittel, im Speziellen Kleinladungsträger

(KLT) nach VDA Empfehlung 4500, Gitterboxen nach DIN 15155 und Kartonagen dar.
Aufgrund der weltweiten Verflechtung der Zulieferbetriebe müssen Einzelteile über weite
Strecken transportiert werden. Packmittel dienen zum Schutz der Bauteile gegenüber
Einflüssen aus der Umwelt (Schmutz und Feuchtigkeit) bei diesen Transportvorgängen.
Unsachgemäßes Verpacken und ungeeignete Packmittel können jedoch genau das
Gegenteil dessen bewirken (s. Abbildung 3-4).

37
 3
direkte Partikel- Partikelabrieb
verschleppung durch am Packmittel
das Packmittel
2 Partikelabrieb 4
am Bauteil

Partikeleintrag
aus der angrenzende
Umgebung Verpackung / Bauteile
1 indirekte
Verschleppung
durch Partikel-
Korrosion der abgabe an: Produktions-
Bauteile in der 5 umgebung
Verpackung
Partikelverunreinigung 6
Werker Betriebsmittel

Abbildung 3-4: Potenzielle Möglichkeiten zur Verunreinigung von Bauteilen durch die Packmittel und den Transport
von Komponenten /Schmauz 2008a/

Beim Verpacken von Bauteilen in verunreinigte Ladungsträger kann es zum Übertragen

der Partikel auf die Bauteiloberfläche kommen. Beim Transport selbst können Partikel
durch Bauteil- oder Packmittelabrieb entstehen, wenn das Packgut nicht im
Ladungsträger fixiert ist. Die dabei entstehenden Partikel sind entweder aus dem Material
des Packmittels (thermoplastische Kunststoffe, Kartonage, Holz, Papier) oder des Bauteils
und können bis zu mehrere Millimeter groß sein. Bei unsachgemäßem Verschließen der
Verpackung ist die Schutzfunktion nicht mehr gegeben und es können Partikel aus der
Transportumgebung ins Innere des Packmittels gelangen. Des Weiteren kann
Transportschmutz, etwa Sand, an den Außenflächen der Verpackung beim Einschleusen
mit in das Produktionsumfeld gelangen und so zu indirekten Verunreinigungen führen.

3.1.6 Zusammenfassung

Bei der mechanischen Bearbeitung der Bauteile entstehen Metall- und Kunststoffpartikel
bis > 1000 μm Größe. Des Weiteren können keramische und mineralische Prozesspartikel
auf den behandelten Oberflächen zurückbleiben. Die wichtigste Quelle für organische
Fasern ist der Mensch, welcher diese Partikel direkt an das Bauteil abgeben kann.
Weiterhin werden organische Fasern über die Umgebungsluft eingetragen. Bei unsach-
gemäßer Verpackung und Transport entstehen Partikel aus dem Material des Packmittels
durch Abrieb. Diese sind im Wesentlichen aus thermoplastischen Kunststoffen und
Kartonagen. Darüber hinaus können größere mineralische und keramische Partikel mit
verunreinigtem Packmittel eingeschleppt werden. Betriebsmittel (z. B. Montageanlagen)
erzeugen Abriebpartikel aus Kunststoff, Gummi und Metall, jedoch in einem kleineren
Größenbereich als bei der mechanischen Bearbeitung der Bauteile. Abbildung 3-5 fast die
betrachteten Partikelquellen in der Fertigung sauberkeitskritischer Systeme in der
Automobilindustrie und deren charakteristischen Partikelarten zusammen.

38
 Praxistypische Partikelmaterialien in Abhängigkeit der Quelle

Betriebsmittel
Abrieb an Maschinen:
legierte Stähle, Al, Cr, Zn,
Fertigungsprozess PMMA, NBR, EPDM, etc.
Personal
Bearbeitungsspäne und
organische Hautschuppen
Prozesspartikel: Al2O3,
und Fasern: Haare, Wolle
CBN, SiC, Diamant,
Baumwolle, Nylon,
Stähle, Al, Sn, Zn, Cr, PP,
Partikel Polyester, Polyacryl, etc.
PET, PS, PC, EPDM, etc.

Umgebung Verpackung
organische Pollen und Abrieb an Packmitteln:
Fasern: Haare, Wolle, Zellulosefasern,
Baumwolle, Nylon, thermoplast. Kunststoffe
Polyester, Polyacryl, etc. (PP, PET, PE), etc.

Abbildung 3-5: Restschmutzpartikel und ihre Quelle in der Automobilindustrie

Welche der betrachteten Partikelquellen die Bauteilsauberkeit am stärksten beeinflusst, ist

abhängig von den jeweiligen Produktionsgegebenheiten und den produktspezifischen
Sauberkeitsanforderungen. Zusätzlich muss betrachtet werden, ob zwischen einzelnen
Fertigungsschritten eine Bauteilreinigung stattfindet, wodurch vorhergehende Partikel
erzeugende Prozesse vernachlässigt werden können.

3.2 Gruppierung der relevanten praxistypischen Partikel

3.2.1 Typische Sauberkeitsanforderungen in der Automobilindustrie

Zur Entwicklung eines praxisnahen Analyseverfahrens ist nicht nur die Kenntnis der
praxistypischen Partikel notwendig, sondern auch deren Relevanz. Dies ergibt sich aus
den physikalischen Partikelmerkmalen Größe und Material. Da je nach Bauteil und
Aggregat unterschiedliche Partikelmaterialien und -größen zur Beschädigung oder zum
Ausfall einer Komponente führen, müssen die praxistypischen Partikel den Produkt
spezifischen Sauberkeitsanforderungen gegenüber gestellt werden. Um ein umfassendes
Ergebnis zu erhalten, müssen die einzelnen elektronischen und Fluid führenden
Funktionssysteme des Automobils betrachtet werden. Entsprechend Kapitel 1.1
unterteilen sich diese in Lenkung, Einspritzsystem, Motor, Bremssystem, Getriebe,
Elektronik, Klimatechnik und Federung.

Tabelle 3-3 zeigt typische repräsentative Sauberkeitsanforderungen und Prüfvorschriften

ausgewählter Funktionssysteme im Automobil und gibt einen Überblick über die zu
reglementierenden Partikel, differenziert nach Partikelgrößen und -materialien.

39
 Spezifikation / System / kleinste rel. geforderte
Liefervorschrift Aggregat Partikelgröße Materialbestimmung
Messtechnische Unterscheidung
BMW QV 33 019 Getriebe 100 μm harte und weiche Partikel sowie
Fasern gefordert
Sämtliche
25 μm Bei Gravimetrie ist zusätzlich größter
Daimler DBL 6516 Fluid führenden
harter Partikel zu bestimmen
Systeme
Je nach Anwendung Unterscheidung
Volkswagen PV 3370 Getriebe 25 μm von abrasiven, metallischen und
organischen Partikeln gefordert
Unterscheidung organische und
Getrag GN 4340 Teil2 Getriebe 5 μm
anorganische Partikel notwendig
Motor und Größter harter Partikel und größte
MAN M3360 50 μm
Einspritzsystem Faser sind zu bestimmen
Elektronische Nur metallisch leitende Partikel
Bosch PV 1279921536 50 μm
Steuergeräte müssen reglementiert werden
Unterscheidung Metall, organische
Continental ATE N 54380.3 Bremssystem 25 μm
Partikel und Fasern gefordert
Nur harte schleifende Partikel
Peugeot BS32 0400 Motor 5 μm
müssen reglementiert werden
ZF Keine harten und abrasiven Partikel
ZFN 5008-1 Lenkung 25 μm
Lenksysteme > 300 μm zulässig

Tabelle 3-3: Sauberkeitsanforderungen kritischer Systeme im Automobil /Peugeot 2000, Daimler 2003, ZF 2004,
BMW 2006, Getrag 2006, MAN 2006, Volkswagen 2006, Continental 2007a, Bosch 2008/

Die betrachteten Firmen internen Vorschriften verlangen die Bestimmung der Größe und
Anzahl der vorhandenen Restschmutzpartikel zur Bewertung der Bauteilsauberkeit. Die
kleinste relevante Partikelgröße beträgt im Extremfall 5 μm. Zur vollständigen Beurteilung
des Schädigungspotenzials der Partikel muss zusätzlich eine Bewertung des Partikel-
materials durchgeführt werden. Die Prüfanweisungen fordern diesbezüglich jedoch keine
hochgenaue Element- oder Molekülanalyse. Es wird vielmehr die Zuordnung der erfassten
Partikel in Stoffgruppen vorgeschrieben, anhand derer die relevanten Werkstoff-
eigenschaften der Partikel abgeleitet werden können. So ist die Differenzierung zwischen
»metallischen« und »nicht metallischen« oder zwischen »organischen« und
»anorganischen« Partikeln eine typische Anforderung. Darüber hinaus wird in einigen
Spezifikationen auch direkt die Unterteilung der Partikel nach Werkstoffeigenschaft, im
Speziellen zwischen »leitenden« und »nicht leitenden« sowie »harten« und »weichen«
Partikeln verlangt. Im Gegensatz zur Größenbestimmung ist eine Materialklassifizierung
lediglich für größere potenzielle Killerpartikel notwendig. Viele Vorschriften verlangen
eine Materialklassifizierung ab Größen mehrerer 100μm, im Extremfall bereits ab 50 μm.

3.2.2 Gruppierung der Partikel anhand von Materialeigenschaften

Um die Differenzierung der Partikel entsprechend ihrer Materialeigenschaften verein-

fachen zu können, müssen die praxistypischen Partikel entsprechend ihrer relevanten
Werkstoffeigenschaften gruppiert werden. Betrachtet werden die elektrische Leitfähigkeit
und die mechanischen Eigenschaften Härte (über Vickers-Härte und Mohshärte) sowie die

40
Festigkeit anhand des Elastizitätsmoduls. Tabelle 3-4 zeigt die Werkstoffeigenschaften
der relevantesten praxistypischen Partikel.

Mohshärte Vickers-Härte E-Modul Leitfähigkeit

Material Werkstoff
[-] HV [-] [kN/mm²] [S/m]
Diamant Keramik 10 10060 1000 10-4
Siliziumcarbid Keramik 9,6 2600 430 – 445 10 – 10-4
-3

Edelstähle Metall 8,5 – 9,5 1000 – 2000 190 – 200 1,36 · 106
Korund Keramik / Mineral 9 2.060 385 – 392 10-10 – 10-12
Quarz Keramik / Mineral 7 1120 94 10-13
Eisen Metall 4 80 196 9,93 · 106
Kupfer Metall 3 40 – 90 124 58·106
Aluminium Metall 2,75 21 – 48 69 35·106
Polycarbonat Polymer - 14 2,6 10-12 – 10-13
Gummi Polymer - - 0,01 – 0,1 10-13 – 10-15

Tabelle 3-4: Mechanische und elektrische Kennwerte einiger Werkstoffe /Schatt 2002, Ashby 2006, Bargel 2008/

x Gruppierung anhand elektrischer Leitfähigkeit

Bei Raumtemperatur liegen lediglich in metallischen Werkstoffen freie Ladungsträger in

Form von Elektronen vor. Daher gelten Metalle als elektrisch leitend, alle anderen
Materialien als nicht leitend. Bei der Sauberkeitsprüfung elektronischer Komponenten
und deren Baugruppen muss demnach lediglich die Bestimmung von Größe und Anzahl
der metallischen Partikel durchgeführt werden. Partikel aus technischer Keramik,
natürlichen Mineralien, sämtlichen Naturstoffen und organischen Polymeren sind als nicht
leitend einzustufen und somit zu vernachlässigen.

x Gruppierung anhand Materialhärte

Zur Einteilung der Partikel in »weich« und »hart« ist neben der Werkstoffhärte auch die
plastische und elastische Verformbarkeit von Bedeutung. So ist beispielsweise Aluminium
gegenüber Polycarbonat kein sehr hartes Material. Jedoch weist es einen viel höheren
Widerstand gegenüber Verformung auf, zu erkennen am deutlich höheren E-Modul.

Abbildung 3-6 zeigt ein typisches Spannungs-Dehnungs-Diagramm der drei Werkstoff-

gruppen Keramiken, Metalle und Polymere. Je größer die lineare Steigung bei kleinen
Dehnungen, desto größer ist das E-Modul. Die Spannung, bei der die lineare Beziehung
zur Dehnung endet, wird als Streckgrenze bezeichnet. Ab dieser Grenzspannung beginnt
die plastische Verformung. Keramische und mineralische Partikel weisen die höchsten
Härte- und Festigkeitswerte auf, Polymere die geringsten. Metalle befinden sich in dieser
Materialeigenschaft zwischen den Polymeren und Keramiken.

41
 Keramiken

Spannung V
Metalle

Polymere

Dehnung İ

Abbildung 3-6: Schematische Darstellung und Vergleich der Werkstoffeigenschaften Spannung und Dehnung von
Kunststoffen, Metallen und Keramiken /Arzt 2005/

Da in mechanischen Aggregaten und auf Dichtflächen von Drucksystemen lediglich harte

bzw. feste Partikel zu einer Funktionsbeeinträchtigung führen, werden keramische,
mineralische und metallische Partikel als funktionskritisch eingestuft. Organische Partikel,
egal ob synthetischen oder natürlichen Ursprungs, sind demgegenüber weich und
elastisch und somit nicht relevant.

Die praxistypischen Partikelmaterialien können somit zur Charakterisierung der relevanten

Werkstoffeigenschaften entsprechend Tabelle 3-5 gruppiert werden.

Harte / feste Partikel weiche / verformbare Partikel elektrisch leitende Partikel

- Metalle - organische Fasern - Metalle

- Mineralien (Sand, Quarz, etc.) - Polymere (Gummi,
- Keramiken (Siliziumcarbid, Kunststoffe)
Korund, Diamant, etc.) - Zellulose (Papier, Kartonage)

Tabelle 3-5: Gruppierung praxistypischer Restschmutzpartikel anhand ihrer physikalischen Werkstoffeigenschaf-

ten entsprechend der gängigen Liefer- und Prüfvorschriften

3.3 Ableitung von einfachen Materialklassen für Restschmutzpartikel

Zur Ableitung von einfachen Materialklassen, welche die Werkstoffeigenschaften der

praxistypischen Kontaminationen aus Abbildung 3-5 widerspiegeln, werden diese
zunächst in Werkstoffgruppen eingeteilt. Die praxistypischen Partikel unterteilen sich in
die Hauptgruppen organische und anorganische Werkstoffe. Die Gruppe der
anorganischen Partikel bilden Metalle, Mineralien und technische Keramiken. Die Gruppe
der organischen Partikel bilden Naturstoffe und Polymere. Fasern (vgl. Kapitel 2.1.1) sind
Untergruppen der beiden organischen Gruppen. Natürliche Fasern sind tierischer oder
pflanzlicher Herkunft, etwa Haare, Seide und Baumwolle, zu den künstlichen Fasern
zählen Polyester, Nylon und Polyacrylnitril.

42
Im zweiten Schritt werden die gebildeten Werkstoffgruppen entsprechend der
Gruppierung in Tabelle 3-5 zusammengefasst. Daraus ergeben sich vereinfachte
Materialklassen, welche die relevanten physikalischen Werkstoffeigenschaften der
Partikel abbilden und für eine vollständige Beschreibung ihrer Schädigungspotenziale
geeignet sind. Zur vollständigen Bestimmung der Bauteilsauberkeit ist somit keine
aufwändige elementare oder molekulare Analyse der Partikel notwendig, sondern
lediglich die Bestimmung der zugehörigen Materialklasse entsprechend Abbildung 3-7.

Werkstoffgruppen
partikuläre
und praxistypische Partikelmaterialien Kontamination
organisch anorganisch

Naturstoffe Polymere Metalle techn. Keramik Mineralien

Fasern Fasern

PET, PA, Thermoplaste: Eisenmetalle: Silikat-

tierisch: Kohlenstoff:
PAN PE, PP, PVC, ABS, legierte Stähle Keramiken:
Haare, Graphit,
POM, PSU, SiO2 Diamant
Wolle, Seide Nichteisen-
Holz PMMA, PC, PTFE, Oxid-
pflanzlich: Metalle: Silikate:
Zellulose: PEEK, PS Keramiken:
Baumwolle, Al, Messing, Quarzsand,
Papier, Duroplaste: Cu, Cr, Zn Al2O3, ZrAl2O3 Glimmer, Glas
Jute, Hanf,
Sisal, Viskose Kartonage UP, EP, PF, PUR Nichtoxid-
Kautschuk Elastomere: Keramiken:
NR, BR, NBR, SiC, CBN
EPDM, Viton

Materialklassen
Klasse #1 metallische Partikel:
und relevante Eigenschaften hart, leitend

Klasse #3a organische Fasern: Klasse #3b organische Partikel: Klasse #2 keramische Partikel:
weich, nicht leitend weich, nicht leitend hart, nicht leitend

Abbildung 3-7: Einteilung der in der Produktion der Automobil- und Zulieferindustrie relevanten Partikel anhand des
Werkstoffes und Eingruppierung in Materialklassen anhand der physikalischen Eigenschaften

Metallische Partikel bilden die Materialklasse #1 und zeichnen sich dadurch aus, dass sie
sowohl hart als auch elektrisch leitend sind. Partikel aus Keramik und die Minerale bilden
die Materialklasse #2 und gelten als sehr hart aber elektrisch nicht leitend. Die
Materialklasse #3 unterteilen sich in #3a organische Partikel und #3b organische Fasern.
Beide Unterklassen werden als weich, verformbar und elektrisch nicht leitend eingestuft.

Welche Partikelklassen zu einem Ausfall führen können, ist abhängig vom Bauteil bzw.
vom System, in dem das Bauteil eingesetzt wird. Grundsätzlich gelten Partikel der
Materialklassen #1 und #2 als potenzielle Killerpartikel. Sind Partikel der Materialklasse #3
relevant, so ist üblicherweise keine Materialklassifizierung erforderlich. In diesem Fall
müssen sämtliche Partikel ohne Materialselektierung gezählt und vermessen werden.

43
3.4 Anforderungen an ein Verfahren zur Partikelklassifizierung

Ausgehend von der Analyse der Ausgangssituation und der Randbedingungen in der
Automobilindustrie können Anforderungen an ein Verfahren zur einfachen und
vollständigen Klassifizierung von Partikeln abgeleitet werden. Das Verfahren setzt sich aus
dem Versuchsaufbau und einer Messmethode zusammen. Der Versuchsaufbau, der im
Rahmen dieser Arbeit realisiert wird, stellt die gerätetechnische Umsetzung des
physikalischen Messprinzips zur Partikelklassifizierung dar. Die Messmethode wiederum
legt die Vorgehensweise fest, anhand derer mit dem Versuchsaufbau charakteristische
Messsignale erzeugt werden und die Zuordnung der Partikel zu der jeweiligen
Materialklasse erfolgt /DIN 1319-1/.

3.4.1 Anforderungen an den Versuchsaufbau

x Materialklassifizierung der Partikel

Signalerzeugung: Mit dem Versuchsaufbau müssen für jede der drei Materialklassen
spezifische Messsignale erzeugbar sein, die eine gesicherte Zuordnung der Partikel in die
jeweils zugehörige Materialklasse ermöglichen. Wichtig ist speziell die Erfassung und
Zuordnung von Partikeln der Materialklassen #1 (Metalle) und #2 (Keramiken), da diese
typische Killerpartikel in der Praxis darstellen. Die kleinste relevante Partikelgröße, welche
mit dem Versuchsaufbau klassifiziert werden muss, beträgt 50 μm.

x Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl

Normkonforme Größenanalyse: Die Materialklassifizierung muss mit der Bestimmung

der Partikelgröße und -anzahl nach VDA-Band 19 in einem Versuchsaufbau integriert
werden. Der relevante Partikelgrößenbereich beginnt ab einer Größe von 5 μm.

x Verfahrensaufwand

Materialkosten: Die Materialkosten des Versuchsaufbaus muss deutlich unter den

Kosten eines Rasterelektronenmikroskops mit energiedispersiver Röntgendetektion
liegen. Um ein konkurrenzfähiges Verfahren mit vollständiger Klassifizierung anbieten zu
können, dürfen die Materialkosten für das zu entwickelnde Verfahren maximal bei 50000
€ liegen /Lankers 2008/. Das Messprinzip, welches dem Versuchsaufbau zugrunde liegt,
muss deshalb so gewählt werden, dass der Versuchsaufbau mit mechanischen und
optischen Standardkomponenten umgesetzt werden kann.

Automatisierung: Nach Vorliegen des Analysefilters müssen sämtliche Verfahrens-

schritte ohne manuelle Tätigkeit ablaufen. Es ist daher entsprechende Soft- und
Hardware für die notwendige Automatisierung des Versuchsaufbaus einzusetzen.

x Technische Randbedingungen

Integration in Lichtmikroskope: Da die Lichtmikroskopie das Standardverfahren zur

Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl darstellt, ist eine weitere Anforderung an den

44
Versuchsaufbau, dass die Komponenten zur Materialklassifizierung in Lichtmikroskope
integriert werden können. Da bereits die große Mehrzahl der betroffenen Firmen in der
Automobilindustrie mit lichtmikroskopischen Systemen in der Qualitätssicherung
ausgerüstet ist, weist eine Erweiterung dieser Systeme zur Materialklassifizierung ein
hohes Marktpotenzial auf.

Beeinträchtigung der Messung: Da Partikel ab 5 μm Größe detektiert und vermessen

werden müssen, wird das Messergebnis bei Durchführung in unkontrollierter Umgebung
durch Eintrag von Partikeln aus der Umgebungsluft verfälscht. Ebenso muss gewährleistet
werden, dass das Ergebnis der Messung durch Umgebungseinflüsse, z. B. Temperatur,
Licht, etc. nicht beeinträchtigt wird.

3.4.2 Anforderungen an die Methode

x Materialklassifizierung der Partikel

Gesicherte Klassenzuordnung: Die Methode muss sicherstellen, dass anhand der mit
dem Versuchsaufbau erzeugten Messsignale eine eindeutige Zuordnung der Partikel in
die jeweilige Materialklasse erfolgt. Vor allem müssen die potenziellen Killerpartikel der
Materialklassen #1 und #2 gesichert erkannt werden. Da die Sicherstellung der
Systemfunktion im Serienbetrieb im Vordergrund steht, muss durch die Methode
sichergestellt werden können, dass Partikel, die nicht eindeutig klassifiziert werden
können, der kritischeren Klasse zugeordnet werden.

x Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl

Normkonforme Größenanalyse: Die Methode zur Bestimmung der Partikelgröße und

-anzahl muss mit der Methode zur Klassifizierung des Partikelmaterials kombinierbar sein.

x Verfahrensaufwand

Manueller Aufwand: Die Methode muss komplett automatisierbar umzusetzen sein. Im

Vergleich zur derzeitigen normkonformen Bauteilsauberkeitsanalyse dürfen keine
zusätzlichen manuellen Präparationsschritte der Partikel oder des Analysefilters
durchgeführt werden müssen. Die Herstellung des Analysefilters und das Einlegen in das
Messgerät sind demzufolge die einzig zulässigen manuellen Arbeitsschritte.

Messzeit: Der zeitliche Aufwand zur vollständigen Bestimmung der Bauteilsauberkeit

darf mit dem zu entwickelnden Verfahren nicht höher sein als bei der REM-EDX-Analyse.
Die Zeitspanne zwischen Vorliegen der Filtermembran mit den Partikeln und Ergebnis-
ausgabe einer typisch belegten Analysemembran darf somit 4h nicht überschreiten.

x Technische Randbedingungen

Zerstörungsfreie Prüfung: Im Schadensfall ist es notwendig, über die im VDA-Band 19

beschriebenen Verfahren hinaus, zusätzliche Analysen an potenziellen Killerpartikeln
durchzuführen. Bei einem Streitfall zwischen Bauteillieferant und Kunde werden

45
bisweilen Gegenanalysen an Partikeln angefordert. Um solche weiterführenden Analysen
zu ermöglichen, darf das Partikel bei Durchführung der Materialklassifizierung nicht
zerstört oder das Material verändert werden.

Tabelle 3-6 listet die Anforderungen an das zu entwickelnde Verfahren zur schnellen
vollständigen Partikelklassifizierung zusammenfassend auf.

Anforderungen an den Anforderungen an die

Versuchsaufbau Methode

- Versuchsaufbau muss ein - Methode muss eine gesicherte

charakteristisches Messsignal für jede Zuordnung der Messsignale zur
Materialklassifizierung Materialklasse erzeugen jeweiligen Materialklasse gewährleisten
der Partikel
- Bestimmung der Materialklasse ab 50 μm
muss gewährleistet sein

- Versuchsaufbau zur - Die Methode zur Materialklassifizierung

Materialklassifizierung muss mit und zur Bestimmung der Partikelgröße
Bestimmung der lichtmikroskopischer Analyse der und -anzahl müssen kombinierbar sein
Partikelgröße und Partikelgrößen kombinierbar sein
-anzahl
- Bestimmung der Partikelgröße muss ab
5 μm normkonform gewährleistet sein

- Materialkosten zur Realisierung des - Messzeit zur Bestimmung der

Versuchsaufbaus dürfen max. 50.000 € Partikelgröße, -anzahl sowie der
betragen Materialklasse einer typisch belegten
Verfahrensaufwand Membran darf max. 4 h betragen
- Der Versuchsaufbau muss voll
automatisiert umgesetzt werden - Es sind keine manuellen
Präparationsschritte zusätzlich zur
Herstellung das Analysefilters zulässig

- Das Ergebnis darf durch Fremdpartikel - Partikel dürfen nicht zerstört oder deren
Technische und weitere Umgebungseinflüsse nicht Material verändert werden
Randbedingungen verfälscht werden

Tabelle 3-6: Resultierende Anforderungen an das zu entwickelnde Verfahren

46
4 Stand der Technik

4.1 Verfahren zur Materialbestimmung

Zur Materialbestimmung steht eine Vielzahl von Methoden und Geräten zur Verfügung.
Die Messprinzipien dieser Verfahren basieren entweder auf chemischen Reaktionen oder
auf physikalischen Wechselwirkungen. Zu den Verfahren auf Grundlage chemischer
Reaktionen zählen die Reaktions-Analyseverfahren, elektro-chemische und thermischen
Verfahren. Die Verfahren auf Grundlage physikalischer Wechselwirkungen unterteilen
sich in die Chromatographie und die optische Spektroskopie /Latscha 2004/.

Analyseprinzipien auf Grundlage Analyseprinzipien auf Grundlagen

chemischer Reaktionen physikalischer Wechselwirkungen

Klassische Spektroskopie
Reaktionsanalyse - Röntgenspektroskopie
- Säure-Base-Titration - Elektronenspektroskopie
- Fällungstitration - IR-Spektroskopie
- Redox-Analyse - RAMAN-Spektroskopie
- Katalyse Thermische Analyse - UV/VIS-Spektroskopie
- Thermogravimetrie - Lumineszenzspektroskopie
Elektroanalyse - Differenz-Thermo-
- Potentiometrie Analyse Chromatographie
- Konduktometrie - Differential Scanning - Gaschromatographie
- Voltammetrie Calorimetry
- Flüssigchromatographie
- Coulometrie klassisch / HPLC

Abbildung 4-1: Verfahren zur Materialanalyse und deren Eingruppierung

Da die Verfahren auf Grundlage chemischer Reaktionen nicht ohne eine Veränderung des
zu untersuchenden Materials ablaufen, scheiden diese aufgrund der Anforderungen an
das zu entwickelnde Verfahren aus. Die Chromatographie kann wiederum lediglich zur
Analyse von Gasen oder Flüssigkeiten, jedoch nicht von partikulären Feststoffen
eingesetzt werden. Aus diesen Gründen werden nachfolgend ausschließlich die
spektroskopischen Verfahren betrachtet.

4.1.1 Charakterisierung der spektroskopischen Verfahren

Sämtliche spektroskopische Verfahren beruhen auf der Betrachtung der Wechselwirkung

zwischen elektromagnetischer Strahlung und Materie. Die jeweiligen Verfahren
unterscheiden sich im Wesentlichen durch die Art der eingesetzten elektromagnetischen
Strahlung. Elektromagnetische Strahlung wird als eine sinuswellenförmige Ausbreitung
eines elektromagnetischen Feldes betrachtet und durch die Wellenlänge O und die
Frequenz Q charakterisiert (Wellentheorie). Es gilt:
 c
O Formel 4-1
Q
mit der Lichtgeschwindigkeit c = 3˜108 m/s im Vakuum. Darüber hinaus kann die
elektromagnetische Strahlung auch als Teilchenstrom, den sog. Photonen beschrieben
werden (Teilchentheorie). Diese Teilchen besitzen keine Masse, können aber die Energie

E hQ Formel 4-2

annehmen, mit h=6,6526˜10-34 Js (Plancksches Wirkungsquantum).

Das elektromagnetische Spektrum erstreckt sich von den langwelligen Radio- und
Funkwellen mit Wellenlängen von 104 m bis zu den hochenergetischen J-Strahlen mit
Wellenlängen bei 10-14 m. Der für das menschliche Auge sichtbare elektromagnetische
Wellenlängenbereich beginnt bei ca. 400nm und endet bei etwa 800nm.

Wellenlänge Frequenz Wellenzahl Energie [J] Energie [eV] Farbe

[nm] [s-1] [cm-1]
ab 400 750·1012 25 000 4,99·10-19 3,11 violett
ab 435 690·1012 22 989 4,59·10-19 2,86 blau
ab 480 625·1012 20 833 4,16·10-19 2,60 blau-grün
ab 500 600·1012 20 000 3,99·10-19 2,49 grün
ab 560 536·1012 17 857 3,56·10-19 2,22 gelb-grün
ab 580 517·1012 17 241 3,44·10-19 2,15 gelb
ab 595 504·1012 16 807 3,35·10-19 2,09 orange
ab 610 492·1012 16 393 3,27·10-19 2,04 rot

Tabelle 4-1: Spektrum und Kennwerte des sichtbaren Lichtes zwischen 400 und 800 nm

Zu kürzeren Wellenlängen schließt sich die ultraviolette Strahlung mit der Unterteilung in
UV-A (340 – 400 nm), UV-B (280 – 340 nm), UV-C (200 – 280 nm) sowie das Vakuum UV
(100 – 200nm) an. Bei höheren Wellenlängen beginnt die Infrarotstrahlung.

4.1.2 Röntgenfluoreszenzspektroskopie (RFA)

Prinzip: Bei der Röntgenfluoreszenzspektroskopie (RFA) wird das zu analysierende

Material in einer Probenkammer mit energiereicher Röntgenstrahlung (O = 0,02 bis 2 nm)
bestrahlt. Aufgrund des Photoeffekts werden dabei kernnahe Elektronen aus dem
Atomverband herausgelöst. Da dieser Atomzustand instabil ist, springt ein Elektron aus
den kernfernen Schalen in die entstandene Leerstelle. Je nach Lage der Schalen zwischen
denen der Übergang stattfindet, wird Röntgenstrahlung einer ganz bestimmten Energie
emittiert (Abbildung 4-2). Das Energiespektrum der Strahlung ist somit abhängig vom
Atomaufbau. Anhand dieser charakteristischen Strahlung lässt sich feststellen, welche
Elemente in einer Probe vorliegen. Die Bestimmung der Gehalte der einzelnen Elemente
ergibt sich durch Messung der Intensität der einzelnen Spektrallinien.

48
 Anregung: a) Folgeprozess: b)
Photoelektron Röntgenemission
hQ
Liii Liii
Lii Lii
Li Li
hQ
K K

Abbildung 4-2: Physikalisches Prinzip der Röntgenfluoreszenz /Dörffel 2004/

a) Herauslösen eines Photoelektrons durch Röntgenstrahlung
b) Emission von Röntgenstrahlung durch Sprung eines Elektrons des höheren Orbitals in die Leerstelle

Grenzen: Die RFA ist wie die REM-EDX ein gerätetechnisch aufwändiges Verfahren. Es
muss Röntgenstrahlung erzeugt und detektiert werden, weshalb ein teurer Röntgen-
detektor und eine aufwändige Probenkammer eingesetzt wird. Des Weiteren können mit
diesem Verfahren lediglich Elemente ab der Ordnungszahl von Fluor detektieren werden
/Otto 2006/. Das bedeutet, dass Kohlenstoff und Sauerstoff, welche die Haupt-
bestandteile der organischen Verbindungen darstellen, nicht detektiert werden können.

4.1.3 Elektronenspektroskopie (ESCA)

Prinzip: Die Elektronenspektroskopie zur chemischen Analyse (ESCA) basiert wie die RFA
auf dem Prinzip des Photoeffekts. Jedoch wird bei der ESCA nicht die Röntgenstrahlung,
sondern die Energie der freigesetzten Elektronen (sog. Photoelektronen) betrachtet. Die
kinetische Energie eines freigesetzten Photoelektrons ergibt sich aus der Differenz
zwischen der Energie der anregenden Röntgenstrahlung und der Austrittsarbeit zu:

H kin h ˜Q - e ˜ I Formel 4-3

mit e als der Elementarladung des Elektrons und I als dessen Austrittspotenzial. Das
Elektronenaustrittspotenzial ist charakteristisch für das Atom und dessen Orbital aus dem
das Elektron herausgelöst wurde. Bei der ESCA wird genau definierte hochenergetische
Röntgenstrahlung verwendet. Misst man nun die Energie des herausgelösten Elektrons,
so kann, in Abhängigkeit der Energie der Anregungsstrahlung, das Austrittspotenzial I
des Elektrons und somit das Atom bestimmt werden /Vohrer 2004/.

Elektrostatische 1. Mittels Röntgenstrahlung werden

Platten Elektronen aus den Atomen der zu
2.
untersuchenden Probe herausgelöst.
2. Über die Spannung an den Platten
werden nur Elektronen ganz bestimmter
Quelle Energie zum Detektor durchgelassen.
Elektronen-
Bahnen 3. Da die Energie des Elektrons
1. 3. charakteristisch für das jeweilige Atom
Probe Elektronen- ist, wird dieses bestimmt.
Probenzuführung Detektor

Abbildung 4-3: Schematischer Aufbau eines Elektronenspektroskops zur Bestimmung der Elemente eines Festkörpers
/Otto 2006/

49
Grenzen: Da die ESCA auf dem gleichen physikalischen Prinzip basiert wie die RFA, ist
die gerätetechnische Umsetzung sehr kostspielig. Hinzu kommt, dass die Analyse im
Hochvakuum durchgeführt werden muss, da Luftmoleküle die Elektronen ablenken
würden. Darüber hinaus spricht gegen die ESCA, dass lediglich Photoelektronen aus der
Probenoberfläche (wenige nm Analysetiefe) detektiert werden können. Bei Vorhanden-
sein einer Verunreinigung auf der Oberfläche ist die Analyse nicht repräsentativ für das
eigentliche Partikelmaterial.

4.1.4 Infrarot-Spektroskopie

Prinzip: Werden Moleküle mit Infrarotstrahlung (IR) bestrahlt, können diese bestimmte
Anteile der IR-Strahlung absorbieren und so in Schwingung versetzt werden. Welche IR-
Strahlung absorbiert und somit abgeschwächt wird, ist abhängig von den jeweiligen
Fragmenten der Moleküle. Über den Vergleich der Wellenlängen der IR-Strahlung vor der
Probe und nach der Probe können diese Molekülfragmente identifiziert werden. Ein IR-
Spektrum stellt somit die Transmission T der IR-Strahlung dar:

I (O )
T ˜ 100% Formel 4-4
I 0 (O )

I0(O) ist die Wellenlängen abhängige Intensität der Strahlung vor Auftreffen und I(O) die
Wellenlängen abhängige Intensität der Strahlung nach Auftreffen auf die Probe.

a) 100 b)

Detektor
Transmission T

IR-Strahlung

[%]
Probe

Prisma
0
Wellenlänge O

Abbildung 4-4: Prinzip der IR-Spektroskopie am Beispiel der ATR-Technik

a) IR-Totalreflexion an einer Probe über ein Prisma zur Verstärkung der Absorption /Otto 2006/
b) typisches IR-Absorptionsspektrum /Badertscher 2006/

Zur Analyse von Festkörpern wird die ATR-Technik (abgeschwächte Totalreflexion) einge-
setzt. Es wird ein Prisma aus Glas mit hoher Brechzahl auf die Probe aufgebracht und IR-
Strahlung in einem Winkel unterhalb des Grenzwinkels eingestrahlt. Durch das
mehrmalige Auftreffen der Strahlung auf den Körper wird so die Absorption verstärkt.

Grenzen: Damit ein Molekül mittels IR-Strahlung zur Schwingung angeregt werden
kann, muss dieses ein Dipolmoment aufweisen oder ein Dipolmoment im Molekül
induzierbar sein. Dies trifft bei organischen Bindungen zwischen den Elementen C, H, O
und N zu /Rücker 1992/. Kristalline Festkörper, z. B. aus Silizium, absorbieren keine IR-
Strahlung und können somit nicht analysiert werden. Die IR-Spektroskopie wird deshalb
zur Analyse organischer Materialien (z. B. Kunststoffe, Fette und Öle) eingesetzt. Weiterer

50
Nachteil der IR-Spektroskopie ist, dass IR-Strahlung verhältnismäßig niederenergetisch ist.
Schwache Signale können durch Änderung der Umgebungswärme verfälscht werden,
weshalb Partikelproben je nach molekularer Zusammensetzung mehrere 100 μm groß
sein müssen, um ein ausreichendes Absorptionssignal zu liefern /Dörffel 1994/.

4.1.5 Raman-Spektroskopie

Prinzip: Trifft elektromagnetische Strahlung auf ein Molekül, so bleibt die Energie der
Streustrahlung und somit deren Frequenz unverändert /Rayleigh 1871/. Es können jedoch
zusätzlich Streuvorgänge am Molekül auftreten, bei denen eine Frequenzverschiebung
auftritt /Raman 1928/. Diese zusätzlichen Wellenlängen entstehen dadurch, dass die
eintreffende Strahlung entweder einen bestimmten Energiebetrag an das Molekül abgibt
(Stokes-Linie) und es zu Rotationsschwingungen anregt oder die Energie einer
Rotationsschwingung des Moleküls aufnimmt (Anti-Stokes-Linie). Die Differenz zwischen
eingestrahlter und gestreuter Wellenlänge wird als Raman-Frequenzverschiebung
bezeichnet und ist charakteristisch für das Molekül. Die Raman-Spektroskopie liefert
somit eine direkte Aussage über die Molekülstruktur /Valet 2006/.

Rayleigh V0: Frequenz der eintreffenden und

Band elastisch gestreuten Strahlung
vvib: Frequenz der Rotationsenergie des
Stokes angestrahlten Moleküls
Energie

Band Anti-Stokes v0 + vvib: Frequenz der emittierten

Band Strahlung nach Aufnahme der
Rotationsenergie
v0 - vvib: Frequenz der emittierten
Strahlung nach Rotationsanregung
v0 - vvib v0 v0 + vvib des Moleküls
Frequenz

Abbildung 4-5: Lage des Stokes- und Anti-Stokes-Bandes gegenüber der elastischen Rayleigh-Strahlung /Otto 2006/

Grenzen: Die Intensitäten von Raman-Spektren sind außerordentlich schwach, und

können nur über sehr empfindliche und somit teure Detektoren erfasst werden. Wird die
Probe bei der verwendeten Anregungswellenlänge zusätzlich zur Lumineszenz angeregt,
so wird das Raman-Spektrum durch das stärkere Lumineszenzsignal überlagert und es ist
keine Analyse möglich. Hinzu kommt, dass metallische Proben Licht ausschließlich
unverändert reflektieren und daher mit dieser Technik nicht analysiert werden können.

4.1.6 Lumineszenzspektroskopie

Prinzip: Trifft bestimmte elektromagnetische Strahlung auf ein Molekül, so können die
Elektronen diese Energie absorbieren und in einen angeregten Zustand übergehen. Da
dieser Zustand instabil ist, kehren die Elektronen wieder in ihren Grundzustand zurück
und setzen dabei wiederum elektromagnetische Strahlung frei (s. Abbildung 4-6). Es
entsteht Lumineszenz /Riehl 1971/. Die spektrale Verteilung der absorbierten und
emittierten Strahlung ist abhängig vom Orbitalaufbau des entsprechenden Moleküls,
weshalb Rückschlüsse vom Lumineszenzsignal auf die Molekülstruktur möglich sind.

51
 a) b)

Abbildung 4-6: Mikroskopische Aufnahme eines Partikels aus Kunststoff (PPSU) zur Visualisierung der Lumineszenz
a) bei Beleuchtung mit VIS-Strahlung reflektiert das Partikel sichtbares Licht der gleichen Wellenlänge
b) bei Beleuchtung mit unsichtbarer UV-Strahlung emittiert das Partikel sichtbares Licht

Grenzen: Lumineszenzspektren sind im Gegensatz zu IR- und Raman-Spektren keine

feinstrukturigen Spektren mit einzelnen Peaks, sondern weisen größtenteils nur eine
einzelne breite Bande auf. Da zusätzlich das Lumineszenzsignal anorganischer nicht
metallischer Materialien in Abhängigkeit von Fremdstoffen variieren kann, ist eine
eindeutige Zuordnung des Lumineszenzlichts zu einem Material nur bedingt möglich.
Darüber hinaus erzeugen Metalle kein Lumineszenzsignal und können analog zur Raman-
Spektroskopie mit dieser Technik nicht analysiert werden.

4.1.7 Fazit

Zur Auswahl des geeigneten Prinzips für die Materialklassifizierung werden die Verfahren
anhand der in Kapitel 3.4 formulierten Anforderungen bewertet. Neben der prinzipiellen
Anwendbarkeit zur Klassifizierung der Partikel in die abgeleiteten Materialklassen werden
die Materialkosten zur Umsetzung des Prinzips in einen Versuchsaufbau sowie manueller
und zeitlicher Analyseaufwand betrachtet. Zusätzlich wird die Möglichkeit der
Kombination des jeweiligen Verfahrens mit der lichtmikroskopischen Bestimmung der
Partikelgröße und -anzahl beurteilt. Tabelle 4-2 fasst die Bewertung der untersuchten
Verfahren zusammen. Die Anforderungen, die zum Ausschluss des Prinzips führen, sind
in der Tabelle grau hinterlegt. Kriterien, die nach der Betrachtung des Stands der Technik
nicht abschließend bewertet werden können, sind schraffiert.

Die RFA und ESCA weisen dieselben Defizite auf wie die REM-EDX-Analyse. Die
gerätetechnische Umsetzung der Verfahren ist sehr aufwändig und sie können nicht mit
einem lichtmikroskopischen Verfahren kombiniert werden. Diese Messprinzipien scheiden
daher für eine einfache Umsetzung eines Versuchsaufbaus zur Materialklassifizierung aus.

Die Molekühlspektroskopie-Verfahren sind demgegenüber deutlich einfacher umsetzbar

und können direkt mit der Lichtmikroskopie zur Bestimmung der Partikelgrößenverteilung
kombiniert werden. Ausschlusskriterium für die IR-Spektroskopie ist die Tatsache, dass
dieses Messprinzip zur Analyse anorganischer Substanzen nur bedingt eingesetzt werden
kann. Mittels Raman-Spektroskopie können zwar Metalle nicht analysiert werden, da
jedoch alle anderen Materialklassen ein Raman-Signal erzeugen und auch untereinander
differenzierbar sind, ist eine Klassifizierung prinzipiell möglich. Allerdings ist das Raman-
Signal sehr schwach, weshalb teure hochsensitive Detektoren eingesetzt werden müssen.

52
Zeigt die Probe bei der eingesetzten Anregungsstrahlung gleichzeitig Lumineszenz, wird
das Raman-Signal überlagert und die Analyse wird erschwert.

Material- manueller Material- Kombination

Verfahren Analysegrenzen
klassifizierung Aufwand kosten mit Mikroskopie
Röntgenfluoreszenz- Analyse erst ab
+ o - -
analyse (RFA) Element Fluor möglich
Elektronen- Nur Analyse der
+ o - -
spektroskopie (ESCA) Oberfläche möglich
Analyse nur von
IR-Spektroskopie
- + + + organischen
(ATR)
Verbindungen möglich
Raman- Keine Analyse von
Spektroskopie Metallen möglich
o + o +
Lumineszenz überlagert
Raman-Signal
Lumineszenz- Keine Analyse von
spektroskopie Metallen möglich
o + + +
Keine eindeutige
Materialanalyse

Tabelle 4-2: Gegenüberstellung und Bewertung der Verfahren anhand der Anforderungen nach Kapitel 3.4
+ Anforderung erfüllt; o Anforderung teilweise erfüllt; - Anforderung nicht erfüllt

Bezogen auf die Materialkosten ist die Lumineszenzspektroskopie das geeignetste

Prinzip als Basis für das Verfahren zur Materialklassifizierung. Dieses bedarf keiner
aufwändigen Gerätetechnik und ist mit der Lichtmikroskopie kombinierbar. Dadurch
minimiert sich zeitliche Aufwand und es sind keine manuellen Präparationsschritte
notwendig. Nachteilig ist hingegen, dass analog zur Raman-Spektroskopie keine Metalle
analysiert werden können. Des Weiteren sind Lumineszenzspektren wenig feinstrukturig
und können zusätzlich variieren, weshalb die Zuordnung eines Spektrums zu einem
bestimmten Material nur mit einem Unsicherheitsfaktor möglich ist.

Da lediglich eine Zuordnung der Partikel zu den abgeleiteten Materialklassen gefordert ist
und keine hochgenaue Materialanalyse, erfüllt die Lumineszenzspektroskopie die
Anforderung an die Klassifizierung, wenn folgende Bedingungen erfüllt sind:

1. Sämtliche relevante nicht metallische Materialien müssen lumineszieren, um von

den Metallen unterschieden werden zu können.

2. Die Lumineszenzspektren der Materialklassen #2 und #3 müssen grundlegend

unterschiedliche Charakteristika aufweisen, um differenziert werden zu können.

3. Auch wenn das Lumineszenzsignal einiger Materialien der Klasse #2 variiert, muss
eine gesicherte Zuordnung zu dieser Materialklasse gegeben sein.

Nur wenn diese drei Bedingungen gegeben sind, erfüllt die Lumineszenzspektroskopie
sämtliche Anforderung an ein Verfahren zur Materialklassifizierung und kann als
Verfahrensprinzip herangezogen werden. Um dies abschließend zu klären, müssen die
Lumineszenzeigenschaften der Materialklassen untersucht werden.

53
Die erste wissenschaftlich richtige Deutung der Lumineszenz erfolge durch G. G. Stokes,
der erkannte, dass es sich bei Lumineszenz um das Selbstleuchten eines Stoffes handelt,
erzeugt durch Anregung mit Licht /Stokes 1852/. In der Fachliteratur finden sich
umfangreiche Zusammenstellungen der Lumineszenzeigenschaften von Materialien
/Kayser 1908, Lenard 1928, Pringsheim 1951, Przibram 1953, Lieber 1957, Danckworth
1964, Hellwege 1967, Schmillen 1967, Steffen 2000/. Anhand dieser Arbeiten ist
ersichtlich, dass das Lumineszenzverhalten der Materialklassen #2 und #3 auf
verschiedenen Ursachen basiert, bedingt durch den unterschiedlichen molekularen
Aufbau organischer und nicht metallisch anorganischer Materialien. Dies ist ebenso die
Ursache für das Fehlen von Lumineszenz bei metallischen Festkörpern.

4.2 Lumineszenzverhalten der Materialklassen

4.2.1 Organische Materialien

x Absorption von Strahlung

Bilden einzelne Atome ein Molekül, so vereinigen sich die Elektronenorbitale zu einem
Molekülorbital (MO). Dabei entsteht sowohl ein bindendes MO (V), als auch ein
antibindendes MO (V*). Die Energie eines Elektrons im bindenden MO ist um den Betrag
ȕ geringer als im Atomorbital, die Energie im antibindenden MO um den Betrag ȕ höher.

1sa: Atomorbital des

Wasserstoffatoms a
V*
1sb: Atomorbital des
ȕ Wasserstoffatoms b
V: Bindendes Molekülorbital des
Energie

Wasserstofforbitals

1sa 1sb V*: Antibindendes Molekülorbital

ȕ des Wasserstofforbitals

V E: Energiedifferenz zwischen
Atom- und Molekülorbital

Atomorbital Molekülorbital Atomorbital

Abbildung 4-7: Schematische Darstellung des Energieniveaus des bindenden und antibindenden Molekülorbitals
eines Wasserstoffmoleküls /Demuth 1977/

Ein Elektron kann von dem energetisch niedrigen MO (V) in das energetisch höher
gelegene unbesetzte MO (V*) übergehen, wenn die zugeführte Energie genau der
charakteristischen Energiedifferenz 'E zwischen den beiden Orbitalen entspricht. Erfolgt
diese Anregung durch Licht, muss dessen Frequenz

'E 2E h ˜Q Formel 4-5

betragen (s. Abbildung 4-8 a). Aufgrund von Eigenschwingungszuständen der Moleküle
weisen die Molekülorbitale weitere Zwischenenergieniveaus auf, weshalb das

54
anzuregende Elektron nicht nur in den angeregten Grundzustand, sondern auch in
energetisch höhere Schwingungszustände übergehen kann (s. Abbildung 4-8 b).

Dadurch entstehen zusätzliche Absorptionslinien. Da die Schwingungszustände der

Moleküle darüber hinaus mit Rotationszuständen überlagert sind, verbreitern sich die
Absorptionslinien wie in Abbildung 4-8 c) dargestellt /Demuth 1977/. Bei großen
komplexen Molekülstrukturen können in einem Absorptions-Spektrum keine Linien
aufgelöst werden. Je nach Material ist nur eine einzelne Absorptionsbande zu erkennen
mit einer Breite von bis zu mehreren hundert Nanometern /Dörffel 1994/.

a) 3' b) c)
2' 0 0'
1'
0'
0 1'

Häufigkeit
E' e

0 2'
hQ 3
2 0 3'
1
0
Ee Wellenlänge Ȝ

Abbildung 4-8: Elektronenübergänge durch Absorption elektromagnetischer Strahlung /Demuth1977, Zander 1981/
a) Energieübergang eines Elektrons vom bindenden in das antibindende Molekülorbital
b) Zwischenenergieniveaus aufgrund Molekülschwingungen
c) schematische Darstellung der Absorptionsbandenkontur

x Emission von Strahlung

Da der angeregte Zustand eines Moleküls energetisch höher liegt als der Grundzustand,
ist dieser instabil. Um einen Zerfall des Moleküls zu verhindern, kehrt das angeregte
Elektron in seinen Grundzustand zurück (s. Abbildung 4-9).

Die Rückkehr des Elektrons in den energetischen Grundzustand kann entweder durch
strahlungslose Übertragung der Energie an anderen Elektronen, Umwandlung der
Energie in Molekülschwingungen (Schwingungsrelaxation VR), Änderung des Elektronen-
zustandes zwischen zwei Molekülorbitalen (Interne Konversion IC) oder Änderung des
Elektronen-Spin (Interkombinationsübergänge ISC) erfolgen /Hercules 1965/. Kehrt ein
angeregtes Elektron in den energetischen Grundzustand zurück indem es die zuvor
absorbierte Energie durch Emission elektromagnetischer Strahlung abgibt, entsteht
Lumineszenz. Aufgrund der Energieverluste bei den nicht strahlenden Übergängen sind
Energie und somit auch Frequenz der emittierten Strahlung niedriger als die der
anregenden Strahlung. Somit gilt OAnregung < OEmission, was als Stokes‘sche Rotverschiebung
bezeichnet wird /Steffen 1999/.

55
 A: Absorption
F: Fluoreszenz
ISC IC P: Phosphoreszenz
S2 T2
ISC: Interkombinationsübergänge
VR
IC: Interne Konversion
A
Energie

S1 VR: Schwingungsrelaxation
T1: Erster Triplett-Zustand
T1
T2: Zweiter Triplett-Zustand
A
VR S0: Nullter Singulett-Zustand
A
P
S1: Erster Singulett-Zustand
F
S2: Zweiter Singulett-Zustand

S0

Abbildung 4-9: Jablonski-Diagramm zur Darstellung der möglichen Elektronen-Energieübergänge /Dörffel 1994/

Je nach Dauer der Rückkehr des Moleküls in den Ausgangszustand, wird von Fluoreszenz
(kürzer als 10-9 bis 10-7 s) oder Phosphoreszenz (in der Größenordnung von 10-3 s bis zu
mehrere Stunden) gesprochen /Schmillen 1971/. Die zeitliche Verzögerung der
Phosphoreszenz ist dadurch begründet, dass zunächst ein strahlungsloser Prozess abläuft.
Geht also ein Elektron unter Emission von Strahlung von einem Singulett-Zustand in den
Grundzustand über entsteht Fluoreszenz, bei Übergang aus einem Triplett-Zustand
Phosphoreszenz /Krasovitskii 1988/.

4.2.1.1 Naturstoffe
Natürliche organische Verbindungen weisen komplexe Molekülstrukturen auf, die ein
ausgedehntes konjugiertes Doppelbindungssystem (S-Orbitale) und freie n-Elektronen
besitzen. Diese Bindungs- und Elektronensysteme sind für die Absorption der elektro-
magnetischen Strahlung und somit für die Lumineszenz verantwortlich. In Tabelle 4-3
sind einige dieser Bindungssysteme und zugehörige Absorptionswellenlängen dargestellt.

Bindungsart C=O C=S C=N N=N N=O

Omax [nm] des

280 500 240 350 660
Absorptionsbereichs

Tabelle 4-3: Bindungssysteme, welche zu n Æ S* und S Æ S*-Übergängen angeregt werden können (oben) und
zugehörige Anregungswellenlängen (unten) /Otto 2006/

Durch Kombination dieser sog. chromophoren Gruppen oder Hinzufügen von Molekülen
(z. B. CH3, Cl, OH, NH2) verschiebt sich das Maximum der Anregungswellenlänge in den
langwelligeren Bereich. Typische Anregungswellenlängen von organischen Molekülen
liegen im nahen UV- und sichtbaren Bereich /Rücker 1992/. Da die Fluoreszenzbanden

56
spiegelsymmetrisch zur Anregung sind, schließt sich die Fluoreszenz organischer
Moleküle direkt an die langwelligste Absorptionsbande an, weshalb diese Materialien
violett-blau lumineszieren /Schmillen 1971/. Untersuchungen an tierischen und
pflanzlichen Zellen bestätigen die universelle Lumineszenz dieser Stoffe im kurzwelligen
sichtbaren Spektralbereich /Stübel 1913, Förster 1951, Schüle 2004/. Hauptauslöser
dieser Lumineszenz sind komplexe Moleküle mit aromatischen Gruppen, beispielsweise
Proteine, Stoffwechselprodukte, Aminosäuren und Vitamine, welche in allen lebenden
Zellen vorhanden sind /Pringsheim 1951, Schäfer 1988/.

4.2.1.2 Synthetische Polymere

Viele der gängigsten Polymere, etwa die Polyolefine (hierzu gehören PP und PE), PVC und
PVDF, weisen keine S-Orbitale auf, weshalb diese prinzipiell nicht durch elektromag-
netische UV-A Strahlung, sondern nur mit hochenergetischem Vakuum-UV angeregt
werden können. Im Gegensatz dazu besitzen Polymere mit aromatischen Gruppen,
beispielsweise PS, PSU, PET und PAN, konjugierte S-Orbitale. Trotzt dieser prinzipiellen
Unterschiede im Molekülaufbau weisen sämtliche Polymere eine »universelle blaue
Fluoreszenz« bei Anregung mit UV-A auf /Gachkovskii 1963, Hennecke 1988/.
Zusammenstellungen von Lumineszenzuntersuchungen an den gängigsten Polymeren
zeigen, dass bei diesen Phosphoreszenz im Bereich von 420–470 nm und Fluoreszenz von
350 – 400 nm zu erkennen ist. Die Anregungsmaxima liegen dabei je nach Polymer
zwischen 330 und 370nm /Allen 1976/.

Diese Lumineszenz wird als »impurity fluorescence« bezeichnet, hervorgerufen durch

Fremdstoffe in der Polymermatrix, die bei der Herstellung und Weiterverarbeitung
eingebaut werden /Pringsheim 1951, Somersall 1975, Allen 1982/. Diese Fremdstoffe
werden eingesetzt, um die Polymere alltagstauglicher zu machen. Hierzu gehören etwa
Weichmacher, Stabilisatoren sowie Füll- und Farbstoffe. Kein industrielles Polymer wird in
seiner reinen Form eingesetzt, sondern enthält stets Zusätze /Schwarz 2004/. Zusätzlich
können bei der Herstellung des Polymers Verunreinigungen in Form weniger
Fremdmoleküle in die Polymermatrix mit eingebettet werden. Diese haben aufgrund der
geringen Mengen keinen Einfluss auf die funktionellen Eigenschaften des Polymers,
reichen jedoch aus um dieses zur Lumineszenz zu aktivieren /Allen 1978/.

Zusammenfassung Materialklasse #3: Sämtliche organische Materialien können mit

UV-A Strahlung zur Lumineszenz angeregt werden und emittieren sichtbares blaues Licht.

4.2.2 Keramiken und Mineralien

Die Ursache der Lumineszenz von Mineralien und technischen Keramiken lässt sich am
besten anhand des Bändermodells erklären. In Kristallen fügen sich die Molekülorbitale
aufgrund der hohen Packungsdichte zu sog. Bändern zusammen. Die Elektronen weisen
in diesem System keine genau definierte Energie auf, sondern befinden sich in zwei
breiten Energieniveaubändern. Im energetisch niedrigen Valenzband sind die Elektronen
an das jeweilige Atom gebunden. Nehmen die Elektronen einen höheren Energiezustand
an, so gehen sie in das Leitungsband über. Für diesen Übergang muss ein Elektron den
Energiebetrag aufnehmen, welcher der Lücke 'E zwischen Valenzband und Leitungsband
entspricht. Beim Übergang hinterlässt es einen freien Platz, also ein Elektronenloch,

57
welches von einem anderen Elektron des Leitungsbandes eingenommen werden kann.
Dabei wird der Energiebetrag freigesetzt, der zuvor aufgenommen wurde.

Befindet sich jedoch ein Fremdatom im Kristallgitter, so kann ein durch Anregung ins
Leitungsband übergegangenes Elektron statt direkt ins Valenzband zurück zu springen
einen neuen Zustand einnehmen, welcher zwischen Leitungsband und Valenzband liegt.
Die freiwerdende Strahlungsenergie ist kleiner als'E und somit langwelliger als die
absorbierte Strahlung. Es entsteht Lumineszenz. Die Fremdstoffe, die Energiezustände
zwischen Leitungs- und Valenzband generieren, nennt man Aktivatoren /Bandow 1950/.
Hierzu zählen ebenso Gitterleerstellen und -baufehler /Lieber 1957/.

Leitungsband a) Ein Elektron geht mittels Strahlungsabsorption vom

Valenz- in das Leitungsband über
d)
H b) Die Elektronenlücke wird von einem Elektron eines
Aktivators (A) eingenommen
c) Das angeregte Elektron geht in die Elektronenlücke
a)
c) des Aktivators, es entsteht Lumineszenz
d) Das angeregte Elektron wird in einer Haftstelle (H)
A eingefangen, es entsteht Phosphoreszenz
b)

Valenzband

Abbildung 4-10: Aktivierung eines Kristallgitters zur Lumineszenz /Steffen 1999/

Darüber hinaus gibt es Materialien der Klasse #2, welche dieses Phänomen auch im
hochreinen Kristall aufweisen. Bei diesen Materialien weist das Leitungsband kein
einheitliches Energieniveau auf. Die Elektronen können deshalb beim Übergang in das
Leitungsband mehr Energie in Form von elektromagnetischer Strahlung aufnehmen, als
sie bei der Rückkehr in das Valenzband wieder abgeben. Diese Form der Lumineszenz
tritt vor allem bei Halbleitern (Bandlücken d 2,5 eV) auf /Henderson 1999/.

4.2.2.1 Natürliche Mineralien

Es gibt eine Reihe von Mineralien, welche in reiner Form lumineszieren (intrinsiche
Lumineszenz). Wichtigste Vertreter dieser Gruppe sind das Scheelit (CaWO4) und die
Uranminerale /Trinkler 1997, Steffen 2000/. Deren charakteristische Lumineszenz wird
etwa im Bergbau und in der Mineralogie zur einfachen Erkundung von Gesteinsschichten
eingesetzt /Blasse 1994, Steffen 1999/.

Die zweite, weitaus größere Gruppe der Mineralien weist in reiner Form keine
Lumineszenz auf. Diese Lumineszenz wird durch Verunreinigungen oder durch Fehlstellen
im Kristallgitter verursacht (extrinsische Lumineszenz). Die Emissionswellenlänge dieser
Mineralgruppe ist abhängig vom jeweiligen Aktivator und kann variieren. Eine
allgemeingültige Angabe der Emissionswellenlänge ist daher meist nur in Verbindung mit
dem jeweiligen Aktivator möglich. Trotzdem können für die relevanten Mineralien
(vgl. Kapitel 3.3) charakteristische Lumineszenzbereiche angegeben werden. So zeigt
Korund bei Anwesenheit eines Aktivators eine intensive rote Lumineszenz, Quarzkristalle
lumineszieren gelb, Gips beispielsweise grün /Lieber 1957/. Blaue Lumineszenz ist bei

58
wenigen Mineralien zu betrachten, etwa dem Scheelit und Fluorit /Steffen 1999/, welche
für das zu entwickelnde Verfahren nicht von Bedeutung sind. Die Absorptionsbanden der
Mineralien liegen im Bereich um 250nm und 360nm /Haitinger 1934, Danckwortt 1964/.

4.2.2.2 Technische Keramiken

Die Lumineszenz technischer Keramiken findet in vielen Bereichen der Wissenschaft und
Technik Anwendung. Als populäre Beispiele sind Lichtemitterdioden (LEDs) aus
Siliziumcarbid und LASER aus synthetischem Korund zu erwähnen. Diesen synthetisch
hergestellten Al2O3-Keramiken werden gezielt Fremdatome beigefügt (z. B. Chrom),
welche die oben erwähnte extrinsische Lumineszenz hervorrufen. Auch synthetischer
Korund für den Einsatz als Schleif- oder Strahlmittel ist kein hochreines Al2O3. Je nach
Fremdstoffgehalt und -art wird zwischen Normalkorund, Weißkorund, Braunkorund,
Edelkorund und Rubinkorund unterschieden. Aufgrund dieser Tatsache emittieren
synthetische Korunde sichtbares Licht im längerwelligen Spektralbereich > 600 nm bei
Anregung mit UV-A-Strahlung um 350 nm /Jankowiak 2000/. Das SiC, welches ebenfalls
als Schleifmittel eingesetzt wird, besitzt Halbleitereigenschaften und kann deshalb zur
Lumineszenz angeregt werden. Die Lücke zwischen Valenz- und Leitungsband beträgt
2,2 eV, was der Energie elektromagnetischer Strahlung mit der Wellenlänge 564 nm
(gelb-grün) entspricht /Liu 1998/. Bei Diamant wiederum kann eine schwache rosa
Lumineszenz beobachtet werden /Przibram 1953/.

Zusammenfassung Materialklasse #2: Die Lumineszenzbanden der relevanten

keramischen und mineralischen Materialien erstrecken sich vom grünen bis in den roten
Wellenlängenbereich. Eine gemeinsame Absorptionsbande liegt bei 360 nm.

4.2.3 Metalle

Im Metallkristall sind die Valenzelektronen, anders als bei Mineralien und Keramiken, frei
beweglich (delokalisiert) und benötigen keine zusätzliche Energie, um in das Leitungs-
band überzugehen. Aus diesem Grund sind Metalle elektrische Leiter /Wedel 2004/. Da
die frei beweglichen Elektronen (sog. Elekronengas) eintreffende elektromagnetische
Strahlung zudem elastisch, also ohne Energieverlust zurück streuen, entsteht einerseits
der charakteristische metallische Glanz und andererseits können sie nicht zur
Lumineszenz angeregt werden /Gottstein 2008/.

4.2.4 Fazit

Sämtliche organischen Materialien lumineszieren bei Anregung mit UV-A Strahlung im

kurzwelligen sichtbaren Bereich mit Maxima unter 500 nm. Das Lumineszenzsignal dieser
Materialklasse weist nur eine einzige breite Emissionsbande auf. Das Lumineszenzsignal
der relevanten Mineralien und Keramiken kann zwar nur in Ausnahmefällen genau
festgelegt werden, im Vergleich zu den organischen Materialien liegen die Emissions-
maxima jedoch im längerwelligen Spektralbereich > 500 nm. Darüber hinaus fallen die
Lumineszenzbanden schmäler aus, was ein weiteres Unterscheidungsmerkmal darstellt.

Daraus lässt sich ableiten, dass die Partikel der Materialklassen #2 (Keramiken und
Mineralien) und #3 (Naturstoffe und synthetische Polymere) anhand des Lumineszenz-

59
signals differenziert werden können. Da die Materialien der Klasse #1 (Metalle) als einzige
Gruppe grundsätzlich keine Lumineszenz aufweisen, ist auch die Selektierung der Metalle
möglich. Somit sind alle drei Bedingungen erfüllt, um auch die Materialklassifizierung in
Tabelle 4-2 positiv zu bewerten.

Partikel
Selektion der Metalle über
das Fehlen der Lumineszenz

Metalle Nichtmetalle
Klasse #1
Differenzierung über die
Lumineszenzcharakteristika

Keramiken und Organik

Mineralien - Klasse #2 Klasse #3

Abbildung 4-11: Klassifizierungsprinzip mittels der Lumineszenzspektroskopie

Durch die theoretische Betrachtung der Lumineszenzeigenschaften der Materialklassen ist

ersichtlich, dass die Lumineszenzspektroskopie alle abgeleiteten Anforderungen aus
Kapitel 3.4 erfüllt. Die weitere Entwicklung des Verfahrens zur vollständigen Bestimmung
der Bauteilsauberkeit erfolgt somit auf Grundlage dieses Prinzip. Das Ablaufschema zur
Differenzierung der einzelnen Materialklassen erfolgt entsprechend Abbildung 4-11.

60
5 Entwicklung eines Versuchsaufbaus zur vollständigen
Klassifizierung von Partikeln

5.1 Erstellung eines Versuchsaufbau-Konzepts

Zur Materialklassifizierung von Partikelproben über deren Lumineszenzverhalten ist die

Umsetzung eines Spektroskops notwendig. Dieses setzt sich aus den Funktionseinheiten
Strahlungsquelle, Probenkammer, Monochromator, Detektor sowie einer Registrier- und
Auswerteeinheit zusammen /Lakowicz/. In dem für die hier beschriebene Anwendung zu
entwickelnden Lumineszenzspektroskop müssen Partikelproben auf Analysefiltern mit
UV-Strahlung bestrahlt werden. Das von den Partikeln emittierte Lumineszenzlicht wird
über ein optisches System einem Spektrometer zugeführt, welches die Strahlung spektral
zerlegt und deren Intensität Wellenlängen dispersiv ermittelt. Die Intensitätswerte werden
an eine Auswerteeinheit weitergegeben, welche die Partikel anhand der Signale der
zugehörigen Materialklasse zuordnet (s. Abbildung 5-1: Bestimmung Materialklasse).

Ziel Anregung Emission Detektion / Auswertung

Größe und Anzahl
Bestimmung

Visualisierung
Kapitel 5.2.1
Beleuchtung

Kapitel 5.2.3
Bildgebung
Detektor

Auswerteeinheit
Registrier- und

Kapitel 5.2.5
Probenraum
Kapitel 5.2.2

Kapitel 5.2.4
Optik
Materialklasse
Bestimmung

Spektroskopie
Kapitel 5.2.1

Kapitel 5.2.3
Beleuchtung
Anregung

Detektor

Automatisierungstechnik
Kapitel 5.2.5

Abbildung 5-1: Instrumentierungsschema des Versuchsaufbaus zur vollständigen Klassifizierung von Partikelproben

Zur vollständigen Charakterisierung des Schädigungspotenzials der Partikel muss

zusätzlich deren Größe und Anzahl bestimmt werden. Um dies zu ermöglichen, muss
eine Bild gebende Einheit, bestehend aus Kamera und Optik, sowie ein digitales
Bildverarbeitungssystem integriert werden (s. Abbildung 5-1: Bestimmung Größe und
Anzahl). Da entsprechend den Anforderungen manuelle Arbeitsschritte nicht zulässig
sind, müssen Komponenten und Software zur Automatisierung des Analyseablaufs
integriert werden. Die Automatisierungstechnik übernimmt die Ansteuerung und
Synchronisierung der Funktionseinheiten, das Abrastern des Analysefilters sowie die
Auswertung der Lichtsignale und die Ausgabe der Ergebnisse.
5.2 Entwicklung der Funktionseinheiten des Versuchsaufbaus

5.2.1 Beleuchtungseinheit

x Auswahl der Lichtquelle

Die Beleuchtungseinheit übernimmt zwei Funktionen im Versuchsaufbau. Zum Einen die

Visualisierung der Partikel für die Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl, zum
Anderen die Lumineszenzanregung. Da für diese beiden Aufgaben Licht unterschiedlicher
Wellenlängen notwendig ist, müssen zwei verschiedene Lichtquellen ausgesucht werden.

Zur Beleuchtung der Partikel zum Zwecke der Abbildung mit einem optischen
Kamerasystem wird sichtbares Licht (VIS) benötigt, da Standardkameras für diesen
Wellenlängenbereich optimiert sind. Als Strahlungsquellen im sichtbaren Spektralbereich
stehen Wolframband- und Halogenlampen sowie LEDs zur Verfügung. Vorteil der LEDs
ist, dass diese mit Kosten von wenigen Cent pro Stück sehr preiswert sind und somit die
Anforderung der Materialkostenminimierung perfekt erfüllen.

Für die gesicherte normkonforme Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl ist es
wichtig, dass das komplette Bildfeld gleichmäßig ausgeleuchtet wird, da ansonsten kein
eindeutiger Helligkeitskontrast zwischen Partikeln und Filtermembran gegeben ist. Da
LEDs eine sehr kleine Bauform sowie eine geringe Wärmeentwicklung aufweisen, werden
mehrere LEDs in eine Beleuchtungseinheit integriert, wodurch eine gleichmäßige Bildfeld-
ausleuchtung ermöglicht wird.

Die Lumineszenzanregung der Partikel muss so erfolgen, dass die Absorptionsbande

sowohl der organischen Stoffgruppen, als auch der anorganischen Mineralien und
technischen Keramiken getroffen werden. Entsprechend Kapitel 4.2 stellt der UV-A
Wellenlängenbereich von 350 nm bis 370 nm eine gemeinsame Absorptionsbande dar.
Folgende Standard-Lampen sind für diesen Wellenlängenbereich erhältlich /LOT 2009/:

x Hg – Quecksilber-Lichtbogenlampe (HBO)

x Xe – Xenon-Lichtbogenlampe (XBO)

x D2 – Deuteriumlampen

x Metall-Halogenlampen

Zur Anregung von Proben mit UV-A Strahlung dieses Wellenlängenbereiches, z. B. in der
Biologie und Medizin, werden XBO und HBO-Lampen mit einer Leistung von 50 bis
100 W eingesetzt. Vorteil von XBO-Lampen ist, dass deren Intensität im UV-A Spektrum
gleichmäßig verteilt ist. Für die hier beschriebene Anwendung muss die Beleuchtung-
seinheit jedoch eine möglichst hohe Intensität im relevanten UV-A Spektralbereich
aufweisen. Entsprechend Abbildung 5-2 ist dies bei der HBO-Lampe gegeben /LOT 2009/.
Die Intensität der HBO-Lampe beträgt im Vergleich zur XBO-Lampe etwa das
Hundertfache. Aus diesem Grund wird die HBO-Lampe standardmäßig bei mikros-

62
kopischen Lumineszenzuntersuchungen bei diesem Wellenlängenbereich in Wissenschaft
und Technik eingesetzt /Lakowicz 1986/.

100 W HBO
102
[mW/m-²nm-1]
Spektrale Bestrahlungsstärke
im Abstand von 0,5 m

100 Halogen
100

30 W D2

10-1 75 W XBO
75 W XBO (OFR)

200 300 400 500 600 700 [nm] 900

Wellenlänge

Abbildung 5-2: Spektrale Verteilung der Bestrahlungsstärke verschiedener Lampentypen /LOT 2009/
- 100 W Quecksilber-Lichtbogenlampe (HBO)
- 75 W Xenon-Lichtbogenlampe (XBO) und (XBO Ozon frei)
- 30 W Deuteriumlampe (D2)
- 100 W Halogenlampe

Nachteil der HBO-Lampe ist, dass die Umsetzung einer Beleuchtungseinheit mit diesem
Lampentyp technisch sehr aufwändig ist. Zur Erzeugung der Gasentladung in der Lampe
ist Hochspannung notwendig, weshalb eine entsprechende Spannungsversorgung
vorgeschaltet werden muss. Des Weiteren emittieren HBO-Lampen viel IR-Strahlung,
welche zu einer starken Wärmeentwicklung führt. Die Wärme muss gezielt, etwa über
eine integrierte Lüftung abtransportiert werden, da die Birne sonst überhitzt. Aus diesem
Grund belaufen sich die Kosten für kommerziell erhältliche Beleuchtungseinheiten auf
Basis von HBO-Lampen auf ca. 3000,- €. Da die Materialkosten damit zu hoch sind, ist
diese Standardbeleuchtung für die umzusetzende Anwendung nicht geeignet.

Alternative Beleuchtungsquellen stellen LASER dar. Diese emittieren einen gebündelten

Lichtstrahl eines schmalbandigen Wellenlängenbereichs, wodurch eine zusätzliche
Fokussierung und optische Filterung überflüssig ist. Jedoch sind die Kosten für UV-Laser
nach derzeitigem Stand der Technik noch höher als bei HBO-Beleuchtungseinheiten.

Als kostengünstige Alternative sind im nahen UV-Bereich LEDs erhältlich. Verglichen mit
einer HBO-Lampe ist deren Lichtleistung jedoch sehr gering. Selbst relativ leistungsstarke
UV-LEDs bei 365 nm weisen Bestrahlungsstärken von maximal einigen mW – einen
Bruchteil einer 100 W HBO-Lampe – auf. Allerdings sind UV-LEDs sehr lichteffizient, da sie
lediglich einen definierten Spektralbereich des Lichts emittieren und nicht in den
kompletten Raum abstrahlen. Da LEDs zudem eine extrem kleine Bauform von wenigen

63
Millimetern mit geringer Wärmeentwicklung aufweisen, können in einer Beleuchtungs-
einheit mehrere LEDs zu einer Lichtquelle zusammengefasst werden.

Ziel ist, die Beleuchtungsstärke und spektrale Verteilung des Emissionslichtes der 100 W
HBO-Lampe annähernd mit UV-LEDs zu generieren. Nur wenn dies möglich ist, kann auf
die wesentlich teurere HBO-Lampe verzichtet werden. Um zu bewerten, ob die
Beleuchtungsstärke einer HBO-Lampe im relevanten Wellenlängenbereich mit einer
technisch vernünftigen Anzahl UV-LEDs nachgestellt werden kann, ist es notwendig die
Beleuchtungsstärke einer 100 W HBO-Lampe in diesem Spektralbereich zu ermitteln und
der Beleuchtungsstärke kommerziell erhältlicher UV-LEDs gegenüberzustellen.

x Bestimmung der Beleuchtungsstärke einer 100 W HBO-Lampe

Zur Bestimmung der Beleuchtungsstärke einer 100 W HBO-Lampe werden die Daten aus
Abbildung 5-2 herangezogen. Hieraus lässt sich die Bestrahlungsstärke der Lampe in
Abhängigkeit der Wellenlänge und Raumfläche bei einem Abstand zur Quelle von 0,5 m.
Da jedoch die Strahlungsleistung auf der Probenoberfläche entscheidend ist, müssen
Umrechnungen durchgeführt werden. Folgende strahlungsphysikalischen Größen müssen
für diese Berechnung herangezogen werden /Schröder 1998, DIN 5031-1/:

Strahlungsfluss)e; Einheit: W

Der Strahlungsfluss )e kennzeichnet die Strahlungsleistung einer Strahlungsquelle.

Strahlstärke Ie; Einheit: W˜sr-1

Die Strahlstärke berechnet sich durch den Quotienten aus Strahlungsleistung )e und
Raumwinkel : in den die Strahlung abgegeben wird. Zwei Lichtquellen mit derselben
Strahlungsleistung weisen in Abhängigkeit der Abstrahlungscharakteristik unterschied-
liche Strahlstärken auf. Wird die Strahlung konzentriert in einen Raumbereich
abgegeben, ist die Strahlstärke größer als bei gleichmäßiger Verteilung in den Raum.

)e
Ie Formel 5-1
:

Strahldichte Le; Einheit: W˜sr-1˜m-2

Die Strahldichte bezeichnet die Intensität des Strahls bezogen auf die zu beleuchtende
Fläche. Sie stellt die Strahlstärke pro Fläche A dar und berechnet sich nach:

Ie
Le Formel 5-2
A ˜ cos H

mit : als dem Winkel unter dem die Fläche A beleuchtet wird.

Beleuchtungsstärke Ee; Einheit: W˜m-2

Die Beleuchtungsstärke kennzeichnet den auf der Fläche eintreffenden Strahlungsfluss:

64
 )e
Ee Formel 5-3
A

Zur Bewertung der Eignung einer Beleuchtungseinheit ist sie die maßgebliche Größe, die
ermittelt werden muss. Für die Bestimmung der Beleuchtungsstärke einer 100 W HBO-
Lampe sind Annahmen und Faktoren zu berücksichtigen, die vom Beleuchtungsaufbau
bestimmt werden. Zur Berechnung und Messung wird der in Abbildung 5-3 skizzierte
Aufbau herangezogen, welcher einen typischen Beleuchtungsaufbau darstellt.

Kondensor und optische Lichtwellenleiter

Lichtbogenlampe Probe
Filterung und Fokussierung

Hohlspiegel UV-Filter

Glasfaser

Linse
Lichtbogen der Linsensystem
HBO-Lampe

Abbildung 5-3: Beleuchtungsschema zur Anregung der Partikelproben von einer HBO-Lampe

Das von der HBO-Birne erzeugte Licht wird in einem Kondensor kollimiert und in eine
Glasfaser fokussiert. Um die nutzbare Lichtleistung zu erhöhen, ist rückseitig zur Birne ein
Hohlspiegel angebracht. Das in den Lichtwellenleiter eingekoppelte Licht wird zur
Probenoberfläche transportiert und über eine Linse auf die Probe fokussiert. Da die HBO-
Birne Licht im Spektralbereich von 200 bis 2500 nm emittiert, muss der sichtbare Anteil
herausgefiltert werden. Ansonsten würde das Lumineszenzlicht der Partikel von dem
gestreuten sichtbaren Anregungslicht der HBO-Lampe überlagert werden. Hierzu wird ein
UV-Bandpassfilter des Typs G365 (Fa. Zeiss) mit einer zentralen Transmissionswellenlänge
von 365 nm und einer Halbwertsbreite von 40 nm (halbe Transmission bei 345 und
385 nm) im Kondensor eingesetzt. Anhand dieser Daten kann die Beleuchtungsstärke auf
der Probenoberfläche näherungsweise berechnet werden.

Bei 365 nm beträgt die spektrale Bestrahlungsstärke einer 100 W HBO-Lampe in 0,5 m
Abstand 200 mW˜m-2˜nm-1 (s. Abbildung 5-2). Bei den Wellenlängen der Halbwertsbreite
(385 und 345 nm) beträgt die Bestrahlungsstärke 1 mW˜m-2˜nm-1. Zur Berechnung der
Bestrahlungsstärke von 345 bis 385 nm muss nun die Fläche der Kurve zwischen diesen
Punkten berechnet werden. Diese kann wie folgt als Dreieck angenähert werden:

 
40nm ˜ 1 3 ˜ 200mW ˜ nm 1 ˜ m 2 | 2667 mW ˜ m 2 Formel 5-4
Die emittierte Strahlung der Bogenlampe ist nicht gerichtet sondern strahlt kugelförmig
in den gesamten Raum. Abhängig von der verwendeten Kondensorlinse wird nur ein
kleiner Teil des Lichts erfasst und der Probe zugeführt. Entsprechend Angaben der

65
Lampenhersteller errechnet sich die Strahlstärke im Kondensor aus der Bestrahlungsstärke
mit einem Umrechnungsfaktor von 0,05 m2. Zusätzlich reflektiert der Hohlspiegel das
rückseitig ausgestrahlte Licht zurück in Richtung des Gehäuse-Ausgangs. Dies führt zu
einem Intensitätsgewinn von ca. 50 % /LOT 2009/. Die absolute Strahlstärke des
kollimierten Strahls im Kondensor (vor dem Bandpassfilter) beträgt nun:

2667 mW ˜ m 2 ˜ 0,05m 2 ˜ 1,5 200mW Formel 5-5

Im weiteren Verlauf vom Einritt der Strahlung in den Kondensor bis zum Auftreffen auf
die Probenoberfläche ergeben sich folgende weitere Verluste:

x An jeder Oberfläche der beiden Linsen im Kondensor wird ein Anteil des Lichts
reflektiert. Der Strahlungsverlust beträgt jeweils etwa 4 % pro Linsenfläche /Krauß
2006/. Zusätzlich schwächt der Bandpassfilter auch das Transmissionslicht mit
einem Faktor von ca. 0,65 ab.

x Bei der Ein- und Auskoppelung des Lichts in die Glasfaser und aus dieser heraus
wird die Strahlstärke aufgrund von Reflexionen und Blendenwirkung weiter redu-
ziert. Diese Abschwächung wird mit jeweils 10 % angenommen. Des Weiteren
wird durch Dämpfung innerhalb der Glasfaser nochmals 10 % der Strahlstärke
eingebüßt (Transmissionsgrad W von 0,9) /LOT 2009/.

x Die Sammellinse zur Fokussierung des Lichts auf die Probenoberfläche schwächt
die Strahlung um weiter 4% pro Linsenoberfläche.

Zur Berechnung der Beleuchtungsstärke Ee muss die Strahlungsleistung ins Verhältnis zur
beleuchteten Fläche gesetzt werden. Ausgehend von einer Fläche mit einem Durchmesser
von ca. 2mm berechnet sich die Beleuchtungsstärke zu:

200mW ˜ 0,96 2 ˜ 0,65 ˜ 0,96 2 ˜ 0,93 ˜ 0,96 2 Formel 5-6

Ee | 24mW ˜ mm 2
S ˜ 1mm
Zur Verifizierung dieser Berechnung wird die Beleuchtungsstärke des skizzierten Aufbaus
zusätzlich messtechnisch bestimmt. Anstelle der Probenoberfläche wird ein Sensor
(Detektor vom Typ »818P« der Firma Newport) zur Bestimmung der Lichtleistung im
Wellenlängenbereich von 190 bis 1100 nm angebracht. Dieser besteht aus einem mit
Lithium dotierten Siliziumdetektor, welcher die eintreffenden Photonen aufgrund des
photoelektrischen Effekts (vgl. Kapitel 4.1.2) in Elektronen umwandelt und als
elektrischen Strom detektiert. Die dazugehörige Auswerteeinheit ordnet die gemessene
Stromstärke dann einer Lichtleistung zu.

Die mit dem beschriebenen Aufbau gemessene Lichtleistung beträgt 69 mW. Mit einer
Größe des Beleuchtungsspots von etwa 2 mm Durchmesser berechnet sich die
messtechnisch ermittelte Beleuchtungsstärke zu:

69mW
Ee | 22mW ˜ mm 2 Formel 5-7
S ˜1mm 2

66
 x Bestimmung der Beleuchtungsstärke von UV-LEDs

Tabelle 5-1 zeigt die Kenndaten kommerziell erhältlicher UV-LEDs im UV-A Bereich. Auf
Grundlage der angegebenen Lichtleistung und des relevanten Wellenlängenbereichs
kommen nur die UVLED 365-10 von Roithner und die NHSU 550B von Nichia in Betracht.
Die RLT350-30 emittiert den breitesten Spektralbereich, ihre Lichtleistung ist jedoch im
Verhältnis zu den anderen Varianten zu gering. Die zentralen Wellenlängen der
RLT370-10 und der NSHU 550A sind hingegen zu groß, weshalb diese ausscheiden.

zentrale Wellen- Halbwertsbreite angegebene

Anbieter Preis [€]
länge ZWL [nm] HWB [nm] Lichtleistung [mW]
UVLED 365-10 Roithner 365 10 1,4 10,-
RLT370-10 Roithner 370 10 0,7 45,-
RLT350-30 Roithner 350 30 0,2 30,-
NHSU 550° Nichia 375 10 1,4 – 2,8 4,-
NHSU 550B Nichia 365 10 1,4 – 2,8 6,-

Tabelle 5-1: Vergleich der Lichtleistung einer 50 Watt HBO-Lampe und einiger UV-LEDs; die Angaben in den grau
hinterlegten Feldern führen zum Ausschluss des LED-Typs

Zur Bewertung der infrage kommenden LEDs müssen die Bestrahlungsstärke und das
Emissionsspektrum der beiden ausgesuchten LED-Typen messtechnisch ermittelt werden.

Zur Untersuchung des Emissionsspektrums der beiden LED-Varianten wird das Licht der
LEDs in ein Spektrometer (Fa. Ocean Optics), bestehend aus einem optischen Gitter und
einer CCD-Zeile eingekoppelt. Das Gitter trennt das einfallende Licht spektral auf und
bildet dieses im Spektralbereich zwischen 200 nm und 1000 nm auf der CCD-Zeile ab. Da
die zu testenden LEDs einen definierten Abstrahlwinkel von 30° aufweisen, wird vor die
zu untersuchende LED eine Linse angebracht, um den Lichtstrahl zu fokussieren. Die
Bestimmung der Beleuchtungsstärke erfolgt unter Verwendung eines Niederleistungs-
Detektors »818-UV« (Fa. Newport) zur Erfassung schwacher Lichtsignale. Der jeweilige
Messaufbau ist in Abbildung 5-4 skizziert.

Schematischer Messaufbau zur Bestimmung der Schematischer Messaufbau zur Bestimmung des
Bestrahlungsstärke Emissionsspektrums

Linse Linse
Spektrometer

UV-LED UV-LED
Detektor

Abbildung 5-4: Schematischer Messaufbau zur Charakterisierung der ausgewählten UV-LEDs

a) Aufbau zur Bestimmung der Beleuchtungsstärke der LEDs
b) Aufbau zur Bestimmung des Emissionsspektrums der LEDs

Abbildung 5-5 zeigt das Emissionsspektrum der beiden UV-LEDs. Beide LED-Typen weisen
dieselbe spektrale Verteilung auf, welche dem geforderten Wellenlängenbereich zur
Lumineszenzanregung der relevanten Materialien entspricht.

67
 100 a) 100 b)

[%]
80 5 80
[%] 6
4 5
relative Intensität

relative Intensität
3
60 2
60 3
2
1 1
40 0 40 0
390 400 410 420 390 400 410 420
20 20

0 0
[nm]
300350400450500550600650700750800 300 400 500 600 700
[nm] 800
Wellenlänge O Wellenlänge O

Abbildung 5-5: Gemessene Emissionsspektren zweier UV-LEDs

a) Spektrum der UVLE D365-10 von Roithner
b) Spektrum der NSHU 550B von Nichia

In Tabelle 5-2 ist die ermittelte Beleuchtungsstärke der beiden UV-LEDs dargestellt. Die
UVLED 365-10 weist mit 0.83 mW/mm² die höhere Beleuchtungsstärke der beiden LED-
Typen auf, weshalb diese die geeignetere LED darstellt.

Lichtleistung und Bestrahlungsstärke

UVLED 365-10 NSHU 550B
gemessene Strahlstärke [mW] 2,6 1,7
errechnete Beleuchtungsstärke [mW/mm²] 0,83 0,54

Tabelle 5-2: Ermittelte Lichtleistungswerte und errechnete Bestrahlungsstärke der UV-LED365-10 von Roithner
und der NSHU 550B von Nichia

Fazit: Die Untersuchungen haben ergeben, dass es theoretisch möglich ist, das Spektrum
und die Beleuchtungsstärke einer 100 W HBO-Lampe bei 365 nm nachzustellen. Hierzu
müssten 27 UV-LEDs zusammengefasst werden. Allerdings kann das Licht einer so
großen Anzahl an LEDs technisch nicht vernünftig zusammengefasst und gleichzeitig
aufeine Fläche von 2 mm Durchmesser gebündelt werden. Der Einsatz von mindestens
zehn UV-LEDs ist jedoch ein geeigneter Kompromiss zwischen technischer Umsetzung
und Nachstellung der 100 W HBO-Lampe und wird daher als ausreichend betrachtet.

x Konzeption der Beleuchtungseinheit auf Basis von LEDs

An den Lichtspektren der beiden UV-LEDs ist zu erkennen, dass diese auch oberhalb von
390 nm Licht emittieren (s. Abbildung 5-5). Dieser sichtbare Lichtanteil ist zwar sehr
gering. Da das Lumineszenzlicht der zu untersuchenden Partikel im Verhältnis zum
gestreuten Anregungslicht sehr schwach ist, wird das Lumineszenzsignal überlagert. Um
dies zu vermeiden, muss das emittierte Licht > 390 nm mit einem optischen Filter blockiert
werden ohne den relevanten Wellenlängenbereich entscheidend abzuschwächen.

Abbildung 5-6 zeigt den spektralen Transmissionsgrad gängiger Filtertypen der Schott AG
auf Basis des Glasfilters »UG11« sowie des Interferenzfilters »365/12« der Fa. Zeiss.
Ausgehend vom »UG11«-Filter werden über eine einfache bzw. zweifache Beschichtung

68
die Filter »DUG11« und »DUG11X« hergestellt. Durch die Beschichtungen wird die
Transmission > 600 nm reduziert bzw. verhindert. Der optische Filter 365/12 der Fa. Zeiss
blockt den sichtbaren Spektralbereich sehr effektiv, allerdings schwächt dieser Filter auch
das relevante UV-Licht am stärksten ab. Da die Sperrung des LED-Lichts zwischen 390 und
420 nm mit einer möglichst hohen Transmission bei 365 nm gefordert ist, ist der »UG11«
Glasfilter für den Versuchsaufbau am geeignetsten. Dieser ist mit wenigen € pro Stück
zusätzlich der kostengünstigste Filter und erhältlich in LED angepassten Größen.

0,96 100
a) [%]
b)
0,90
80
Transmissionsgrad W

0,80
70
0,70
DUG11x

60

Transmission
0,60
0,50
0,40 50
0,30 40
0,20
0,10 UG11 30
0,05
DUG11

0,01 20
10-3 10

10-4 0
200 300 400 500 600 700 800 [nm] 1000 300 400 500 600 700 800 900 [nm] 1100

Wellenlänge O Wellenlänge O

Abbildung 5-6: Spektraler Transmissionsgrad optischer Filter mit Transmission im UV-A Bereich
a) optische Filter »UG11«, »DUG11«, »DUG11X« der Fa. Schott /ITOS 2006/
b) optischer Filter »365/12« der Fa. Zeiss /Zeiss 2009/

Da keine manuellen Umpräparationsschritte erlaubt sind, muss die Materialklassifizierung

und die Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl auf demselben Analysefilter
durchgeführt werden. Da es sich hierbei um einen relativ undurchlässigen Probenträger
handelt, erfolgt die spektroskopische Analyse im Auflicht. Die Partikel werden mit
UV-Strahlung im Auflicht angeregt, der Empfänger zur Detektion des Emissionslichtes ist
senkrecht zur Oberfläche angebracht. Die Beleuchtung kann durch zwei Varianten
erfolgen, entweder unter einem bestimmten Winkel (s. Abbildung 5-7 a) oder durch das
Objektiv des Empfängers, senkrecht zum Analysefilter (s. Abbildung 5-7 b).

a) Optik / b)
Filter Empfänger
LED
Optik /
Empfänger Strahlteiler

LED Linse
Filter

Linse
Linse
Analysefilter Analysefilter

Abbildung 5-7: Schematische Darstellung der Beleuchtungsvarianten zur Anregung von Partikeln
a) im Dunkelfeld unter einem bestimmten Winkel zum Objektträger
b) im Hellfeld senkrecht zum Objektträger

69
Bei Variante a) wird das Emissionslicht jeder UV-LED separat gefiltert und mit einer Linse
auf die Probenoberfläche fokussiert. Bei Variante b) wird das Emissionslicht der UV-LEDs
zu einem Strahlenbündel zusammengefasst, gefiltert und über einen Umlenkspiegel und
die Empfängeroptik auf die Probenoberfläche fokussiert. Aufgrund der Tatsache, dass bei
Variante b) deutlich höhere Lichtverluste zu erwarten sind, allein bis zu 50 % am
Strahlteiler, wird Variante a) gewählt.

Entsprechend der Betrachtung der Beleuchtungsstärke werden zwölf UV-LEDs in den

Beleuchtungsring integriert. Hinzu kommen drei Weißlicht-LEDs mit einer Lichtleistung
von 1000 mW, welche gleichmäßig zwischen den zwölf UV-LEDs eingesetzt werden.
Durch die regelmäßige Verteilung der Weißlicht-LEDs wird eine ungleichmäßige
Beleuchtung des Bildfeldes verhindert.

Optik / a) b)
Empfänger
Fokussiereinheit
VIS-LED
und Halterung
UV-LED

Analysefilter

Abbildung 5-8: Umsetzungskonzept der Ringbeleuchtung zur Anregung und Visualisierung von Partikeln
a) Schematische Integration einer VIS-LED und einer UV-LED mit Filter und Fokussierlinse
b) Beleuchtungsring mit zwölf UV-LEDs, nach jeder vierten UV-LED wird zusätzlich eine Weißlicht-
LED über eine Bohrung eingesetzt

Über einen Einschraubadapter wird für jede UV-LED eine Fokussierlinse UG11-Filter in
den Ring eingebracht. Die UV-LEDs werden über eine Hülse in den Adapter eingeschoben
und mit Madenschrauben fixiert. Durch Veränderung der Hülsenposition im Adapter wird
der Abstand zwischen UV-LED und Linse variiert. Dadurch wird der Lichtstrahl auf den
Bildausschnitt fokussiert. Da bei Fluoreszenzanregung unter einem Winkel < 20° die
Beleuchtungsstärke deutlich abnimmt /Schüle 2004/, werden die LEDs in einem Winkel
von 30° zur Oberfläche angeordnet.

5.2.2 Probenaufnahme und Messkammer

Um eine manuelle Umpräparation nach der Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl
zu vermeiden, muss die Materialklassifizierung der Partikel auf demselben Probenträger
(Analysefilter) erfolgen. Dazu muss das Filtermaterial lumineszenzinaktiv sein, da sonst die
Lumineszenz des Probenträgers das Signal der Partikel überlagert. Kommerziell erhältliche
Filter sind ausschließlich aus organischen Materialen, beispielsweise Zellulose, Polyester
und Polyamid, welche bei Anregung mit UV-A Strahlung blau lumineszieren (vgl. Kapitel
4.2.1). Diese Filtertypen sind daher nicht geeignet.

70
Um bei ramanspektroskopischen Analysen ein Überlagern des Signals durch Lumineszenz
des Probenträgers zu vermeiden, werden die Probenträger mit Gold beschichtet. Dadurch
wird die Anregung des organischen Trägermateriales verhindert. Solche Objektträger sind
von der Fa. rapID Particle Systems GmbH erhältlich /rapID 2009/. Im Speziellen handelt es
sich dabei um geätzte Polycarbonatmembrane (sog. Kernspurmembrane), welche mit
Gold bedampft werden. Um eine bessere Handhabbarkeit des Filters zu ermöglichen,
wird dieses mit einem Aluminiumring gespannt. Die Kosten von ca. 5 € pro Analysefilter
liegen zwar etwas höher als bei den Standardfiltern, sind jedoch finanziell noch tragbar.

a) b)

Abbildung 5-9: Objektträger zur Aufnahme der Partikelproben

a) Gold beschichtete Polycarbonatmembran mit Aluminiumspannring der Fa. rapID /rapID 2009/
b) REM-Aufnahme einer Polycarbonat-Kernspurmembran mit 0,4 μm Lochgröße

Zur Aufnahme des Analysefilters muss eine wiederverwendbare Vorrichtung realisiert

werden, welche den Probenträger fixiert und die Membran spannt. Für den Fall, dass die
Folie Unebenheiten aufweist werden nicht alle Partikel scharf abgebildet, was zu Fehlern
bei der Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl führt.

a) Rundschalttisch b)
Spannring Messkammer

Analysefilter

Auflagestempel
Probehalter

Abbildung 5-10: Filteraufnahmeeinheit und Zuführeinheit

a) Halterung mit Filter und Spannring zur Fixierung und Spannung der Folie
b) Schema des Rundschalttisches zur Zuführung der Filtermembranen in die Messkammer

Die hierzu entwickelte Haltevorrichtung besteht aus einem Auflagestempel und einem
Spannring mit Bajonettverschluss (s. Abbildung 5-10 a). Der Spannring drückt den
Aluminiumring nach unten und fixiert den Filter. Durch eine Erhebung in der
Auflagefläche wird die Folienmembran um 0,2mm nach oben gedrückt und gespannt.

Da das Lumineszenzsignal nicht durch Fremdlicht verfälscht werden darf, muss die
Probenkammer während der Messung lichtdicht verschlossen sein. Die Filtermembran
wird außerhalb der Messkammer in die Halterung eingespannt und anschließend über

71
eine Einschubvorrichtung (Rundschalttisch) in die Probenkammer eingefahren
(s. Abbildung 5-10 b). Um zusätzlich eine Kontaminierung durch Fremdpartikel aus der
Umgebung bei Messung in nicht kontrollierter Umgebung zu vermeiden, wird ein
Reinstluftgebläse (Filter-Fan Unit) über der Probenkammer angebracht.

5.2.3 Empfänger

x Detektor – Bildgebung

Zur Abbildung der Partikel auf der Filtermembran und zur Lokalisierung des Lumineszenz-
signals vor der Spektralanalyse wird aufgrund ihrer Lichtempfindlichkeit und Flexibilität
eine Kamera auf Basis der CCD-Technologie eingesetzt. CCD-Sensoren bestehen aus
einzelnen photosensitiven Elementen (sog. Pixel), in denen auf Grundlage des
photoelektrischen Effekts Elektronen durch elektromagnetische Strahlung freigesetzt
werden. Unter Einwirkung eines elektrischen Feldes können diese Elektronen als
Stromimpuls bzw. Spannung an einem Widerstand erfasst werden. CCD-Sensoren liefern
somit ortsaufgelöst ein zur empfangenen Lichtstärke proportionales elektrisches Signal.

Kameras auf Basis dieser CCD-Technologie sind in verschiedenen Ausführungen

erhältlich, die sich in Bauform, Größe der Sensorfläche, Pixelanzahl, Ausleseverfahren und
Kosten erheblich unterscheiden. Das Kernstück einer CCD-Kamera ist der eigentliche
CCD-Sensor, der in Standardgrößen entsprechend Abbildung 5-11 erhältlich ist.

Abmessungen gebräuchlicher CCD-Sensoren

1/3˝ ½˝ 1/1,8˝ 2/3˝

HxB= HxB= HxB= HxB=

3,6 x 4,8 mm2 4,8 x 6,4 mm2 5,3 x 7,1 mm2 6,6 x 8,8 mm2

Abbildung 5-11: Maße gebräuchlicher CCD-Sensoren /Stemmer 2006/

Hauptkriterien zur Auswahl der Kamera sind Pixelgröße und Pixelanzahl des Sensors.
Um den zeitlichen Aufwand zur Bestimmung der Partikelanzahl und -größe auf dem
Analysefilter so gering wie möglich zu halten, muss der Bildausschnitt und somit die
Sensorfläche möglichst groß gewählt werden. Je weniger Bilder aufgenommen werden
müssen um das Analysefilter vollständig abzurastern, desto schneller ist die Partikel-
analyse beendet. Eine Halbierung des Bildausschnittes bedeutet eine Vervierfachung des
zeitlichen Aufwandes. Des Weiteren müssen die Partikel mit mindestens zehn Pixeln in
ihrer längsten Dimension abgebildet werden, um normkonform vermessen werden zu
können. Um entsprechend der Anforderungen auch kleine Partikel bis minimal 5 μm ohne
hohe Vergrößerungen korrekt zu erfassen, müssen die Pixel möglichst klein sein. Je
kleiner die Pixel, desto kleiner jedoch der Bildausschnitt bei gleicher Vergrößerung.
Deshalb muss der Sensor der zu verwendenden Kamera gleichzeitig viele Pixel aufweisen,
wodurch die Kosten der Kamera steigen. Einen geeigneten Kompromiss zwischen
Sensorgröße, Anzahl der Pixel und Kosten stellen Kameras mit 2/3“ Sensor und einer
Pixelanzahl von ca. 1,4Mio. Pixel dar. Dadurch ergibt sich eine Pixelgröße von 6,5μm.

72
Analoge Videokameras liefern ein genormtes Signal mit einer festen Bildrate von 50 Hz.
Längere Belichtungszeiten als 1/50 s sind somit nicht möglich. Die Auflösung ist mit ca.
750 x 580 Pixel festgelegt und somit ungenügend. Außerdem muss das Signal für die
Weiterverarbeitung digitalisiert werden. Aus diesen Gründen sind analoge Videokameras
nicht geeignet für den Versuchsaufbau. Bei Digitalkameras hingegen findet die
Digitalisierung des Signals bereits in der Kamera selbst statt. Das Bild kann daher mit
einem Bildverarbeitungsprogramm ohne Umwandlung verarbeitet werden. Gängige
Übertragungsstandards sind CameraLinkTM, USB2.0TM und FireWireTM. Kameras mit
firmenspezifischer Datenübertragung sind auszuschließen, da entweder das Signal
umgewandelt werden muss oder nur die firmenspezifische Bildverarbeitungssoftware
eingesetzt werden kann. Beides bedingt höhere Kosten.

Digitalkameras sind in monochromer (Graustufen) und RGB (Rot, Grün, Blau) Ausführung
erhältlich. Da die CCD-Elemente über das gesamte sichtbare Spektrum empfindlich sind,
liefern diese keine Farbinformation. Erst durch Addition dreier Einzelfarbbilder (Rot, Grün,
Blau) wird die Farbinformation rekonstruiert. Da die Aufnahme eines Farbbildes entweder
mit deutlicher Verringerung der Auflösung oder Erhöhung der Messzeit verbunden ist
und die Farbinformation bei der Visualisierung der Partikel zudem nicht notwendig ist,
wird für die Umsetzung des Versuchsaufbaus eine monochrome Kamera bevorzugt.

Um lichtschwache Signale kleiner Partikel aufnehmen zu können, sind hohe Belichtungs-

zeiten notwendig. Durch die damit verbundene Wärmeentwicklung werden freie
Elektronen in den CCD-Elementen erzeugt. Dadurch steigt das Rauschen der Kamera und
es sinkt das Signal-Rausch-Verhältnis. Um dies zu verhindern, muss die Kamera gekühlt
werden. Stand der Technik zur Kühlung von CCD-Kameras ist der Einsatz von Peltier-
Elementen, der einstufig oder mehrstufig erfolgen kann. Die damit verbundenen höheren
Kosten sowie die vorhandenen Bauformen limitieren ihre Einsetzbarkeit im zu
entwickelnden Versuchsaufbau. Als Kompromiss zwischen technischem Aufwand und
Aufnahmequalität lichtschwacher Signale wird eine einstufige Peltierkühlung gewählt.

Bezeichnung Sensorgröße Pixelanzahl Schnittstelle Kühlung Preis

AVT Keine
Dolphin 2/3“ CCD 1392 X 1030 FireWireTM ca. 3.000 €
Kühlung
Hamamatsu Peltierkühlung
ORCA-ER 2/3“ CCD 1392 X 1040 FireWireTM ca. 15.000 €
mehrstufig auf -10°C
Rooper Peltierkühlung
Coolsnap-CF ½“ CCD 1392 X 1040 CameraLinkTM ca. 5.000 €
einstufig
Qimaging Peltierkühlung
RetigaEXI 2/3“ CCD 1392 X 1040 FireWireTM ca. 15.000 €
mehrstufig auf 0°C
Soft Imaging Peltierkühlung
F-View II 2/3“ CCD 1376 X 1032 FireWireTM ca. 5.000 €
einstufig auf 10°C
Zeiss firmenspezifische Peltierkühlung
AxioCam MRm 2/3“ CCD 1388 X 1030 ca. 6.000 €
Schnittstelle einstufig

Tabelle 5-3: Vergleich kommerziell erhältlicher Kameras zur Detektion schwacher Lichtsignale und Bewertung
anhand der relevanten Kriterien

73
Tabelle 5-3 listet die in Frage kommenden kommerziell erhältlichen Kameras auf und
bewertet diese anhand der beschriebenen Kriterien. Die grau hinterlegten Felder
kennzeichnen die Kriterien, die zum Ausschluss der jeweiligen Kamera geführt haben. Da
die monochrome F-ViewII der Soft Imaging Systems GmbH den besten Kompromiss
zwischen den beschriebenen Kriterien darstellt, wird diese im Versuchsaufbau eingesetzt.

x Detektor – Spektraleinheit

Um das Lumineszenzlicht zu charakterisieren, muss dessen Intensität Wellenlängen

dispersiv bestimmt werden. Dies kann durch den Einsatz eines Monochromators vor dem
Detektor erfolgen. Der Monochromator zerlegt das Lichtsignal spektral über ein Gitter
oder Prisma und lässt nur einen bestimmten Wellenlängenbereich zum Detektor. Dort
wird der Strahlungsfluss des einfallenden Lichtes bestimmt. Durch Verstellen des
Monochromators und gekoppelter sukzessiver Messung der Lichtleistung entsteht ein
Spektrum über den gesamten relevanten Wellenlängenbereich.

Zur Bestimmung der Intensität der Strahlung kommen Photozellen und Photomultiplier
(PMT) zur Anwendung, welche auf Grundlage des äußeren photoelektrischen Effekts
basieren. Ein eintreffendes Photon löst aus der Kathode ein Elektron, welches an der
Anode als elektrischer Strom detektiert wird. Beim PMT werden zwischen Kathode und
Anode eine Reihe von Dynoden mit steigendem Potenzial geschaltet, aus denen
kaskadenartig weitere Elektronen herausgeschlagen werden. Dadurch vervielfacht sich
der Elektronenstrom, weshalb auch sehr schwache Lichtsignale erfasst werden können.
Allerdings sind solche Detektoren technisch sehr aufwändig und somit zu teuer. Des
Weiteren muss ein bewegter Monochromator eingesetzt werden, welcher mit dem PMT-
Detektor synchronisiert ist. Dadurch gestaltet sich die Detektoreinheit noch aufwändiger.

Alternativ werden Halbleiterdetektoren (Photodioden oder CCD-Elemente) zur Erfassung

der Lichtsignale eingesetzt. Die Empfindlichkeit dieser Sensoren ist im Gegensatz zu
Photomultiplier-Detektoren deutlich geringer, die Lichtsignale können aber durch
Anordnung mehrerer Halbleiterelemente in einer Zeile (einem sog. CCD-Array)
ortsaufgelöst erfasst werden. Wird der Monochromator so eingestellt, dass der relevante
Spektralbereich des Lichts passend auf die Halbleiterelemente der Zeile fällt, wird das
Lichtsignal Wellenlängen dispersiv detektiert, ohne dass eine Bewegung des Monochro-
mators notwendig ist. Durch zeitliche Integration werden somit auch lichtschwache
Signale aufgenommen. Aufgrund der niedrigeren Kosten wird eine CCD-Zeile als
Detektor gewählt.

Die Anzahl der Pixel der Zeile richtet sich nach Sensitivität und notwendiger spektraler
Auflösung der Lichtsignale. Analog zu CCD-Kameras gilt, dass mehr Elemente auf
gleicher Zeilenlänge eine höhere Auflösung bei niedrigerer Sensitivität der Elemente
bedeuten. Es gibt Ausführungen mit 64 Pixel (6 bit) bis etwa 4096 Pixel (12 bit) pro Zeile.
Um auch schmale Peaks, welche eng beieinander liegen, getrennt abbilden zu können,
sollte die spektrale Auflösung mindestens 1 bis 2 nm betragen. Zu hohe Auflösungen
führen zu einer starken Verminderung der Sensitivität und sollten vermieden werden. Bei
einem Spektralbereich handelsüblicher UV/VIS-Spektrometer von 300 bis 900 nm mit
einer Pixelanzahl von 1024 errechnet sich die spektrale Auflösungsgrenze zu:

74
 (900nm - 300nm)
2 Pixel ˜ 1,17 nm Formel 5-8
1024 Pixel

Die Firma AS & Co. GmbH stellt Spektrometer auf der Basis von CCD-Zeilen und
optischen Gittern her, die den geforderten Kenndaten Auflösung und Pixelanzahl am
Besten entsprechen, weshalb dieses System gewählt wird.

5.2.4 Optik

Das optische System muss für zwei unterschiedliche Anwendungen ausgelegt werden.
Die erste Anwendung ist die Abbildung der Partikel auf dem Sensor der CCD-Kamera.
Wichtigste Randbedingungen für diese Aufgabe sind optische Auflösung und Größe des
Bildausschnitts. Zweite Aufgabe der Optik ist die Fokussierung der Lumineszenzsignale
auf den Empfänger zur spektralen Bewertung. Da es sich hierbei um teilweise sehr
lichtschwache Lichtsignale handelt, ist die Maximierung der Lichtausbeute wichtigstes
Auslegungskriterium.

x Auslegung der Optik für die Partikelabbildung

Um die Messzeit bei der Größenanalyse möglichst gering zu halten, muss ein möglichst
großer Bildausschnitt abgelichtet werden. Je größer der Bildausschnitt, desto geringer ist
das Auflösungsvermögen des optischen Systems. Partikel unterhalb einer bestimmten
Größe werden nicht mehr einwandfrei abgebildet. Entsprechend VDA-Band19 werden
Partikel dann hinreichend korrekt erfasst, wenn diese in ihrer Länge mit wenigstens 10
Pixeln abgebildet werden. Bei Bestimmung der Partikel im Größenbereich 5 – 15 μm darf
die Pixelanzahl pro Partikelabbildung verringert werden, muss aber mindestens fünf
betragen. Daraus folgt, dass die optische Abbildung zwischen 1 und 0,5 μm pro Pixel
betragen muss. Bei einer Pixelgröße von 6,5 μm entspricht dies einer optischen
Vergrößerung zwischen:

6,5Pm Pixel 6,5Pm Pixel

13 und 6,5 Formel 5-9
0,5Pm Pixel 1Pm Pixel

Mit einer gegebenen Pixelanzahl des CCD-Sensors von 1376 in x-Richtung 1032 in
y-Richtung, errechnet sich daraus der minimale Bildausschnitt zu 688 x 516 μm² und der
maximale Bildausschnitt zu 1372 x 1032μm².

x Auslegung der Optik für die Lumineszenzspektroskopie

Da das Lumineszenzsignal bestimmter Partikel im Gegensatz zum sichtbaren Streulicht

deutlich schwächer ist, muss das optische System zusätzlich so ausgelegt werden, dass
dieses – unter Berücksichtigung der Randbedingung zur Partikelabbildung – möglichst
viel Lumineszenzlicht auf den spektroskopischen Empfänger projiziert. Maß für die
Lichtausbeute eines abzubildenden Objekts ist bei Fotoobjektiven die Blendenzahl und bei
Mikroskopobjektiven die numerische Apertur /Schneckenburger 1992, Kühlke 2004/.

75
Die Blendenzahl definiert sich zu:

f'
k Formel 5-10
D

mit der Brennweite f‘ und dem Objektivdurchmesser D /Hering 2006/. Die Bildhelligkeit
ist umgekehrt proportional zum Quadrat der Blendenzahl. Je kleiner die Blendenzahl,
desto höher also die Bildhelligkeit, was durch kleine Brennweiten und große Linsen-
durchmesser erreicht wird. Dies beeinflusst wiederum den Bildausschnitt, welcher durch
den Bildfeldwinkel M beschrieben wird. Dies ist der Winkel, der in der Linse die Filmfläche
umschreibt /Trautsch 2003/. Wie Abbildung 5-12 a) verdeutlicht, wirken geringe
Brennweiten einem großen Bildausschnitt entgegen.

Die numerische Apertur (NA) berechnet sich zu:

NA n ˜ sin D Formel 5-11

mit n als der Brechzahl des Überträgermediums und D als der halbe Winkel des kegel-
förmigen Lichtbündels, das durch die Linse aufgenommen wird (s. Abbildung 5-12 b). Die
Bildhelligkeit ist proportional zum Quadrat der numerischen Apertur. Um schwach
strahlende Objekte abzubilden, müssen somit geringe Abstände zwischen Objekt und
Objektiv (Arbeitsabstand) realisiert werden. Da hierdurch der Öffnungswinkel steigt ist
eine große Eintrittslinse notwendig. In Luft kann maximal eine NA von 1 erzielt werden.

a) b)
Objektiv
M

D
Partikel
Analysefilter
Objekt Objektiv Film / Sensor

Abbildung 5-12: Kenngrößen zur Kennzeichnung eines optischen Systems zur Abbildung von Objekten
a) Bildfeldwinkel M
b) Öffnungswinkel D zur Bestimmung der numerischen Apertur

Aufgrund der Abhängigkeiten zwischen numerischer Apertur, Bildfeldwinkel und

Auflösung ist es nicht möglich, dass alle Größen gleichzeitig einen maximalen Wert
annehmen. Zudem muss der Arbeitsabstand des Objektivs min. 5 mm betragen, da die
Beleuchtung unter einem Winkel von 30° am Objektiv vorbei erfolgt (vgl. Kapitel 5.2.1).
Dies schränkt die Auswahl des Objektivs weiter ein, weshalb, in Bezug auf die
Anwendung, ein optimaler Kompromiss ermittelt werden muss.

Fazit: Zusammenfassend ist festzuhalten, dass für die Lumineszenzspektroskopie ein

Objektiv mit hoher numerischer Apertur aber konstanter Brennweite gesucht ist, was

76
einen großen Bildausschnitt verhindert und einen geringen Arbeitsabstand bedingt. Ein
Optimum für die gegensätzlichen Anforderungen (hohe NA, bei kleinen Vergrößerungen
und großen Arbeitsabständen) stellen Mikroskopobjektive mit großer Sammellinse für
große Arbeitsabstände dar. Dies führt zu verhältnismäßig hohen NA-Werten auch bei
kleinen Vergrößerungen. Tabelle 5-4 listet handelsübliche Objektive mit entsprechenden
Kenndaten auf. Aufgrund der Kosten wird das 20x Objektiv von Nikon gewählt.

Arbeitsabstand Numerische
Objektiv Hersteller Vergrößerung
[mm] Apertur NA
Plan-Neofluar Zeiss 10x 5,5 0,3
Epiplan Zeiss 20x 7,3 0,4
CF IC EPI Plan Nikon 10x 16,5 0,3
CF EPI Plan Achr ELWD Nikon 20x 11 0,4
U Plan FLN Olympus 10x 10 0,3
LM Plan FLN Olympus 20x 12 0,4
HC Plan FL Leica 10x 11 0,3
N Plan L Leica 20x 10,8 0,4

Tabelle 5-4: Vergleich kommerziell erhältlicher Mikroskopobjektive anhand relevanter Kenndaten

Durch zusätzlichen Einsatz einer Verkleinerungslinse direkt vor der CCD-Kamera, kann
der Bildausschnitt vergrößert werden, ohne die NA zu verringern. Die Intensität des zum
Spektrometer umgelenkten Lichts wird somit nicht beeinträchtigt. Rechnerisch ergibt sich
durch die Kombination eines 20fach Mikroskop-Objektivs und einer 2/3 Verkleinerungs-
Korrekturlinse die optische Abbildung zu:

6,5Pm Pixel
0,5Pm / Pixel Formel 5-12
20 ˜ 2 3
Dies entspricht der maximal geforderten Abbildung.

5.2.5 Automatisierungstechnik

x Linearachsen

Da der Bildausschnitt lediglich einen Bruchteil der Fläche der Filtermembran beträgt, muss
für eine Analyse aller Partikel auf der Membran entweder die Position des Filterhalters
oder die der optischen Einheit sukzessive verändert werden. Diese Tatsache bedingt ein
Achssystem, welches aus zwei Linearachsen (x-y-Achssystem) aufgebaut ist. Um
zusätzlich eine Fokussierung zu ermöglichen, ist noch eine dritte Linearachse zur
Änderung des Abstandes zwischen Sammellinse des Objektivs und Filtermembran
(Arbeitsabstand) notwendig. Die Positioniergenauigkeit der x-y-Positionierachsen richtet
sich nach der kleinsten relevanten Partikelgröße, die hier 5 μm darstellt. Da nach VDA-
Band 19 ein Fehler von bis zu zwei Pixeln bei der Größenbestimmung der kleinsten
Partikel toleriert wird, muss die Positioniergenauigkeit der Achsen etwa 1 μm betragen.
Der Verfahrweg der Achsen muss mindestens den Durchmesser des Filters, also 25 mm

77
betragen. Die Positioniergenauigkeit der Fokussierachse z richtet sich nach der Schärfen-
tiefe der Optik und der kleinsten relevanten Partikelgröße. Ausgehend von kugelförmigen
Partikeln sind das ebenfalls 5 μm. Gefordert wird daher eine Positioniergenauigkeit von
5 μm mit einem absoluten Verfahrweg von wenigen Millimetern. Die Fa. Owis-Staufen
bietet Linearachsen mit den entsprechenden Kenndaten und Steuersoftware an.

x Software

Zur Bildaufnahme und Auswertung wird die digitale Bildverarbeitungssoftware

NeuroCheck eingesetzt. Diese steuert über eine I/O-Karte die UV- und VIS-Beleuchtung,
führt die Bildaufnahme mit der F-ViewII Kamera entsprechend der vorgegebenen
Belichtungszeit durch und wertet die Bilder aus.

Das Spektrometer wird über die zugehörige SpektraVision Software angesteuert. Dabei
handelt es sich um ein Messprogramm auf Basis der Automatisierungssoftware LabView.
Über diese Software werden die UV-LEDs sowie die Spektrenaufnahme und -auswertung
angesteuert und synchronisiert.

Zur automatisierten Steuerung des Gesamtablaufes wird als Hauptprogramm die

WinCommander Steuersoftware des Achssystems eingesetzt. Die Programme zur Bild-
und Spektrenaufnahme sowie -auswertung sind der WinCommander Software
untergeordnet. Für die Bildaufnahme übergibt WinCommander die Steuerung an
NeuroCheck. Dieses regelt die VIS- und UV-Beleuchtung sowie die Ansteuerung der
Kamera. Zwischen jeder Bildaufnahme übernimmt erneut WinCommander und verändert
die Messposition der optischen Einheit um einen Bildausschnitt. Nach dem Abrastern der
gesamten Membran werden die Partikel über WinCommander nacheinander ins Zentrum
des Sichtfeldes gefahren. Bei jedem Partikel übernimmt das SpektraVision Modul die
Steuerung für einen definierten Zeitabschnitt und führt die Spektrenaufnahme unter
UV-Beleuchtung durch.

x-y-z Linear-
WinCommander Achsen

SpektraVision NeuroCheck

Spektrometer UV - Kamera UV / VIS -

Beleuchtung Beleuchtung

Abbildung 5-13: Programmstruktur des Versuchsaufbaus

78
5.3 Integration der Funktionseinheiten zu einem Gesamtaufbau

5.3.1 Zusammenführung der optischen Einheit

Da zwei Empfängereinheiten in den Versuchsaufbau integriert werden, muss das

Lichtsignal entweder über einen Klappspiegel dem jeweils benötigten Sensor oder über
einen festen Strahlteiler stets beiden Sensoren gleichzeitig zugeführt werden. Um eine
zusätzliche bewegte Komponente und somit zusätzlichen technischen Aufwand zu
vermeiden, wird die Strahlteilervariante gewählt. Dadurch wird ein Teil des Lichtsignals
dem Spektrometer und gleichzeitig ein Teil des Lichts der Kamera zugeführt.

Das Spektrometer wird über einen Lichtwellenleiter (LWL) optisch integriert. Eine Blende
mit Kollimationsoptik sorgt dafür, dass lediglich das Licht eines definierten Bereichs im
Zentrum des Bildausschnitts in das Spektrometer eingekoppelt wird. Dadurch wird
gewährleistet, dass einzeln vorliegende Partikel selektiv analysiert werden, ohne dass
deren Lumineszenzlicht durch Lichtsignale benachbarter Partikel überlagert wird.

Ein optischer Filter blockt vor dem Strahlteiler Licht im Wellenlängenbereich < 390 μm ab,
um zu verhindern, dass störendes Anregungslicht in die Detektoren gelangt. Zur
optischen Vergrößerung des Bildausschnittes befindet sich direkt vor der Kamera das
Verkleinerungsobjektiv.

Abbildung 5-14 zeigt das Gesamtkonzept des Versuchaufbaus.

CCD-Sensor Kamera

0,67x Linse
Spektrometer

Strahlteiler

Mikroblende und
Fokussierung
Optischer Filter
> 390 nm

20fach Objektiv

UV/VIS - Ring-
Beleuchtung

Analysefilter

Abbildung 5-14: Schema des Versuchsaufbaus zur Klassifizierung von Partikelproben

79
5.3.2 Mechanische Integration

Zur mechanischen Integration werden die Funktionseinheiten wie in Abbildung 5-15

dargestellt an den Linearachssystemen zusammen gefügt.

a) b)
Schiene x-Achse Filter-Fan-Unit

Kamera
Spektrometer Trennwand
y-Achse
z-Achse

LWL
Analyseeinheit

Filteraufnahme
Rundschalttisch

Rundschalttisch

Abbildung 5-15: Mechanische Integration der optischen Einheit in den Versuchsaufbau

a) schematische Darstellung der Anordnung der Achssysteme
b) Integration des Aufbaus in das Gehäuse mit Filter-Fan-Unit und Rundschalttisch

5.4 Realisierung des Versuchsaufbaus

Abbildung 5-16 zeigt die Anordnung der optischen und mechanischen Komponenten
und deren Integration in den Versuchsaufbau.

a) b)

Abbildung 5-16: Umsetzung des Versuchsaufbau

a) optisch-mechanischer Aufbau
b) Gehäuse mit Rundschalttisch zur Probenaufgabe und Filter-Fan-Unit

80
Um zu verhindern, dass die Messung durch Fremdlicht oder Eintrag von Fremdpartikeln
verfälscht wird, befindet sich der Aufbau in einer Einhausung, welche mit einer Reinstluft-
Belüftungseinheit, einer sog. Filter-Fan-Unit (FFU), versehen ist. Zwei Filterhalter befinden
sich stets im abgekapselten Reinluftbereich, Halter #1 in der Warteposition und Halter #2
um 90° versetzt in der Messposition. Die eingelegte Partikelprobe wird direkt nachdem
sie aufgegeben wurde in den Reinluftbereich in die Warteposition eingefahren. So ist
gewährleistet, dass die nachfolgende Probe nicht kontaminiert wird, während die zuvor
eingelegte Probe analysiert wird.

5.5 Überprüfung der prinzipiellen Eignung der Funktionseinheiten

5.5.1 Beleuchtung

x VIS-Beleuchtung

Zur korrekten Bestimmung der Anzahl und Größe der Partikel mittels VIS-Beleuchtung ist
eine gleichmäßige Ausleuchtung der Filteroberfläche des Bildfeldes notwendig.
Ansonsten kann keine einheitliche Binarisierungsschwelle zur digitalen Separierung der
Partikel von der Oberfläche festgelegt werden. Überprüft werden kann die Ausleuchtung
anhand der Binarisierung der Aufnahme der Membran eines leeren Analysefilters. Die
Beleuchtung ist dann ausreichend gleichmäßig, wenn die weiß binarisierten Pixel
gleichmäßig über das Bildfeld verteilt sind. Abbildung 5-17 stellt die Ergebnisse des
Beleuchtungstests mittels Binarisierung dar.

Binarisiertes Bild mit Grauwertschwelle 22 Binarisiertes Bild mit Grauwertschwelle 18

Abbildung 5-17: Binarisierungstest zur Überprüfung der Ausleuchtung des Bildfeldes mit den VIS-LEDs

Fazit: Da die weiß binarisierten Pixel bei den Binärbildern gleichmäßig über das Bild
verteilt sind, ist aus den Beleuchtungstests mit den Weißlicht-LEDs zu schließen, dass das
Bildfeld ausreichend gleichmäßig ausgeleuchtet wird.

x UV-Beleuchtung

Zur Überprüfung der Eignung der UV-Beleuchtung muss die spektrale Verteilung des
Anregungslichtes sowie der Beleuchtungsfokus im Bildfeld überprüft werden.

81
Zur Bestimmung der spektralen Verteilung der UV-Beleuchtungseinheit wurde der
Eingang des Spektrometers in den Fokus des LED-Beleuchtungsrings positioniert
(s. Abbildung 5-18 a). Im Vergleich zu den Messungen der UVLED365-10 ohne UV-Filter
UG11 (vgl. Abbildung 5-5) ist deutlich zu erkennen, dass der Anteil > 390 nm blockiert
wird, während die spektrale Verteilung < 390 nm unverändert ist. Daraus ist ersichtlich,
dass das Anregungslicht die geforderte spektrale Verteilung aufweist.

a) 100 b)

80
[%] 5
4
3

relative Intensität
60 2
1
0
40 390 400 410 420

20

Spektrometer 0
300 400 500 600 [nm]
700 800
Wellenlänge

Abbildung 5-18: Bestimmung der spektralen Verteilung der UV-Beleuchtung aus zwölf UVLEDs365-10 mit UG11-Filter
a) Darstellung des schematischen Messaufbaus
b) Ermitteltes Spektrum der UV-Beleuchtung

Da die Partikel zur Lumineszenzbestimmung in die Bildmitte positioniert werden

(vgl. Kapitel 5.3.1), muss das UV-Licht dort konzentriert werden. Zur Untersuchung der
Ausleuchtung des Bildfeldes mit UV-Licht wird der Beleuchtungstest erneut mit einer
gleichmäßig fluoreszierenden Oberfläche (Zelluloseblatt) durchgeführt. Mit der Kamera
wird ein Bild des lumineszierenden Zelluloseblatts aufgenommen und mit verschiedenen
Grauwertschwellen binarisiert. Anhand der Binärbilder ist ersichtlich an welcher
Bildposition das UV-Licht konzentriert wird (s. Abbildung 5-19).

Binarisiertes Bild mit Grauwertschwelle 24 Binarisiertes Bild mit Grauwertschwelle 20

Abbildung 5-19: Überprüfung der Ausleuchtung des Bildfeldes mit VIS-LEDs

Fazit: Im Binärbild mit dem Schwellwert 20 ist deutlich zu erkennen, dass das UV-Licht
durch die Kollimatoren, wie gefordert auf die Bildmitte fokussiert wird.

82
5.5.2 Bildaufnahme und -auswertung

Die optische Abbildung des Systems und die Anzahl der Pixel des Sensors bestimmen den
Bildausschnitt. Da die Pixelanzahl des CCD-Sensors in x- und y-Richtung bekannt ist, kann
über den Bildausschnitt die tatsächliche optische Abbildung bestimmt werden. Für die
Ermittlung der Auflösung wird ein Mikro-Maßstab, welcher in einen Glasobjektträger
eingraviert wurde, mit dem Versuchsaufbau abgelichtet (s. Abbildung 5-20).

Aufnahme des Maßstabs in x-Richtung Aufnahme des Maßstabs in y-Richtung

Abbildung 5-20: Mikro-Maßstab mit 50 μm Skalenabstand, abgelichtet mit dem realisierten Versuchsaufbau

Der Abstand zweier Linien des Maßstabes beträgt 50 μm. Daraus ergibt sich ein
Bildausschnitt von 900 μm in x- und 675 μm in y-Richtung. Da der verwendete Sensor aus
1376 Pixeln in y- und 1032 in x-Richtung besteht, errechnet sich die tatsächliche optische
Abbildung zu:

900 μm
x  Abbildung Bildausschnitt Pixelanzahl 0,654 μm
1376 Pixel Pixel Formel 5-13

675μm
y  Abbildung Bildausschnitt Pixelanzahl 0,654 μm
1032 Pixel Pixel Formel 5-14

Fazit: Die Untersuchungen mit dem Glasmaßstab ergeben, dass die tatsächliche optische
Abbildung im geforderten Bereich zwischen den Werten 0,5 und 1 μm pro Pixel liegt.
Diese Abbildung garantiert, dass Partikel der Größe 5 μm mit mindestens 7 Pixeln und
somit normkonform abgebildet werden.

5.5.3 Spektroskopie-Einheit

Der Strahlteiler und das Linsensystem vor dem Lichtwellenleiter müssen so justiert
werden, dass das Lumineszenzlicht des Partikels in das Spektrometer eingekoppelt wird.
Um die Größe des Fokuspunktes und dessen Position zu überprüfen, wird anstelle des
Spektrometers eine Lichtquelle angebracht, welche in entgegen gesetzter Richtung den
Fokuspunkt auf dem Objektträger beleuchtet. Dieser Leuchtpunkt kann mit der Kamera
aufgenommen und ausgewertet werden. Abbildung 5-21 verdeutlicht die Testanordnung

83
und zeigt den Fokus des Spektrometers anhand des Leuchtpunktes. Der Mittelpunkt des
Fokusspots befindet sich im Bildfeld bei den Koordinaten (x, y) = (443 μm, 310 μm). Der
Durchmesser des betrachteten Spots beträgt ca. 75 μm. Einzeln auf der Filtermembran
vorliegende Partikel mit einer Größe ab 50 μm können somit selektiv in den Fokus
gefahren und selektiv analysiert werden.

a) b)
CCD-Sensor Kamera

0,67x Linse 443 μm

Lichtquelle
Strahlteiler 75 μm
Mikroblende und

365 μm
Fokussierung
20x Objektiv

Analysefilter

Abbildung 5-21: Schematische Darstellung des Versuchaufbaus zur Bestimmung von

a) Position und Größe des Fokuspunkts des Spektrometers
b) Position und Größe des Fokuspunkts im Bildfeld

Anschließend wird erst ein Zellulosenitratfilter und anschließend eine Gold beschichtete
Polycarbonatmembran in die Halterung eingesetzt und mit der UV-Beleuchtung angeregt.
Das Lumineszenzlicht wird jeweils über den Umlenkspiegel in das Spektrometer
eingekoppelt und bei verschiedenen Belichtungszeiten aufgenommen. Die minimale
Belichtungszeit des Spektroskops beträgt 10 ms, die maximale Belichtungszeit ist auf 5 s
beschränkt, da bei größeren Belichtungszeiten das Rauschen exponentiell zunimmt.

100000 a) 100000 b)
t = 10 ms t = 10 ms
10000 t = 100 ms
10000
t = 50 ms
Intensitätswert

Intensitätswert

t = 1000 ms
1000 1000 t = 100 ms
t = 5000 ms
100 100

10 10

1 1
300 400 500 600 [nm] 700 800 300 400 500 600 [nm]
700 800
Wellenlänge O Wellenlänge O

Abbildung 5-22: Spektrale Verteilung und relative Intensität bei unterschiedlichen Belichtungszeiten
a) Analysefilter des Versuchsaufbaus – Gold beschichtete Polycarbonatmembran
b) Standardfilter – Zellulosenitratmembran

Fazit: Abbildung 5-22 zeigt, dass der Goldfilter kein Lumineszenzsignal erzeugt. Auch bei
Belichtungszeiten von 5 s wird kein Signal mit Werten > 20 erfasst. Die Goldbeschichtung
unterdrückt somit die Lumineszenz des Polycarbonatträgers effektiv. Umgekehrt wird
selbst bei niedriger Belichtungszeit ein starkes Lumineszenzsignal der Zellulosenitrat-

84
membran gemessen. Das Lumineszenzlicht erreicht bereits bei 100 ms Belichtung
Intensitätswerte von knapp 10000.

5.5.4 Mechanik

Die x- und y-Linearachsen sind für die Bewegung des optischen Systems parallel zur
Oberfläche des Objektträgers zuständig, wodurch eine großflächige Untersuchung der
Filtermembran ermöglicht wird. Zu beachten ist, dass die einzelnen Bildfelder genau
aneinander passen. Weisen diese einen Abstand auf, gehen Partikel am Rand des
Bildfeldes verloren. Im Gegenzug werden Randpartikel doppelt bestimmt, wenn sich
einzelne Bilder überlappen. Um dies auszuschließen, wird anhand des Glasmaßstabes
überprüft, ob die zusammengesetzten Bilder benachbarter Felder in x- und y-Richtung
eine Überlappung oder einen Spalt aufweisen.

a)

b)

Abbildung 5-23: Überprüfung der Bildzusammensetzung

a) drei zusammengesetzte Bilder des Glasmaßstabes; zwischen der Aufnahme der beiden Bilder
wurde um ein Bildfeld in x-Richtung verfahren
b) drei zusammengesetzte Bilder des Glasmaßstabes; zwischen der Aufnahme der beiden Bilder
wurde um ein Bildfeld in y-Richtung verfahren

Fazit: Die zusammengesetzten Bilder weisen weder eine Überlappung noch einen Spalt
im Größenbereich von 5 μm auf (s. Abbildung 5-23). Die Positioniergenauigkeit der x-
und y-Achsen und somit die Zusammensetzung der Bilder ist folglich ausreichend genau.

5.6 Abgleich mit den Anforderungen an den Versuchsaufbau

Um zu überprüfen, ob die Konzeption und Umsetzung des Versuchsaufbaus gemäß den

Anforderungen aus Kapitel 3.4.1 durchgeführt wurde, erfolgt abschließend ein Abgleich
der einzelnen Anforderungskriterien mit dem realisierten Versuchsaufbau.

85
 x Materialklassifizierung der Partikel

Signalerzeugung: Zur Lumineszenzanregung der Partikel wurde eine Beleuchtung-

einheit mit einem Emissionsbereich entwickelt, welcher den Absorptionsbanden der
entwickelten Materialklassen entspricht. Zur Detektion des Lumineszenzlichts wird eine
Spektrometereinheit eingesetzt, welche das Signal mit ausreichender Auflösung erfasst.
Zur Aufnahme lichtschwacher Signale sind durch entsprechende Kühlung der Zeile
längere Aufnahmezeiten ohne Rauschen möglich. Der Versuchsaufbau erfüllt somit die
technischen Anforderungen, um eine Materialklassifizierung zu ermöglichen.

Materialbestimmung ab 50 μm: Bei der Erfassung des Lumineszenzlichtes wurden die

notwendigen optischen Komponenten (Blende und Einkopplung in LWL) so gewählt, dass
eine Materialklassifizierung ab 50μm möglich ist.

x Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl

Normkonforme Partikelanalyse: Die optische Einheit wurde in Verbindung mit dem

CCD-Sensor so ausgewählt, dass Partikel der Größe 5 μm mit ausreichender Auflösung
abgebildet werden. Die digitale Bildverarbeitungssoftware analysiert die Partikelgröße auf
Grundlage des Feret-max Prinzips.

x Verfahrensaufwand

Materialkosten: Bei der Auswahl und Entwicklung der Komponenten wurde speziell
darauf geachtet, dass keine technisch aufwändigen Sonderkomponenten für den
Versuchsaufbau verwendet werden. So wurde die UV-Beleuchtungseinheit auf LED-Basis
umgesetzt, um auf den Einsatz einer teuren Quecksilberdampflampe verzichten zu
können. Die gesamten Materialkosten zur Umsetzung des Versuchsaufbaus belaufen sich
auf weniger als die festgelegte Obergrenze von 50T€ und wurde somit eingehalten.

Automatisierung: Der Einsatz der Linearachsen, des Rundschaltisches sowie der Steuer-
und Auswertesoftware garantieren, dass das Einlegen des Analysefilters der einzige
manuelle Arbeitsschritt zur vollständigen Partikelanalyse darstellt.

x Technische Randbedingungen

Integration in Lichtmikroskope: Die optischen Komponenten des Versuchsaufbaus zur

Materialklassifizierung der Partikel – UV-Beleuchtung, Strahlteiler, Mikroblende und
Spektrometer – sind ohne Weiteres direkt in Lichtmikroskope zur Bestimmung der
Partikelgröße und -anzahl integrierbar.

Beeinträchtigung der Messung: Der Probenraum wurde komplett eingehaust,

wodurch eine Verfälschung des Ergebnisses durch Fremdlicht ausgeschlossen werden
kann. Des Weiteren befindet sich auf der Kammer eine Filter-Fan-Unit, welche dafür
sorgt, dass keine Fremdpartikel >5μm in die Messkammer eindringen können.

86
6 Entwicklung einer Methode zur vollständigen Klassifizierung
von Partikeln

6.1 Ablaufplanung zur Entwicklung der Methode

Die Methode legt die Vorgehensweise zur Bestimmung der Materialklasse sowie der
Größe und Anzahl von Partikeln anhand des Versuchsaufbaus fest. Da es sich um zwei
voneinander unabhängige Messaufgaben handelt, welche auf unterschiedliche Prinzipien
basieren, werden die folgenden zwei Methodenschritte getrennt voneinander entwickelt:

1. Ermittlung der Partikelgröße und -anzahl mittels ortsaufgelöster Grauwer-

bestimmung und deren Auswertung mittels digitaler Bildverarbeitung.

2. Materialklassifizierung über Lumineszenzspektren und deren Zuordnung anhand

charakteristischer Merkmale.

Zur Erarbeitung und Festlegung der Messmethode werden die in Abbildung 6-1
beschriebenen Entwicklungsschritte durchgeführt.

Ablauf zur
1. Festlegung der 2. Erarbeitung der 3. Erstellung des
Entwicklung der
Messparameter Messdatenverarbeitung Messablaufes
Messmethode

Festlegung der Umwandlung und

Entwicklungsablauf freien Parameter Auswertung der
zur Bildaufnahme Grauwertbilder Festlegung der Abfolge
Bestimmung von und Verknüpfung der
Anzahl und Größe Kapitel 6.1.1 kapitel 6.1.2
einzelnen Messschritte
der Partikel Kapitel 6.3
Erzeugung Größe und Anzahl
Kapitel 6.1
Grauwertbilder der Partikel
Methode zur
Festlegung der Umwandlung und
vollständigen
Entwicklungsablauf freien Parameter zur Auswertung der
Klassifizierung von
Bestimmung der Spektrenaufnahme Lumineszenzspektren
Partikeln mit dem
Materialklasse der Kapitel 6.2.1 Kapitel 6.2.2
Versuchsaufbau
Partikel
Kapitel 6.2 Erzeugung Materialklasse
Lumineszenzspektren der Partikel

Abbildung 6-1: Ablaufschema zur Entwicklung der Methode zur vollständigen Klassifizierung von Partikelproben

Im ersten Schritt werden die freien Parameter zur Erfassung der Messwerte festgelegt
und deren Einfluss auf das Ergebnis bestimmt. Ergebnisse der Messungen sind
Grauwertbilder und Wellenlängen dispersive Intensitätsspektren. Zur Bestimmung der
Partikelgröße und -anzahl müssen die Grauwertbilder, zur Bestimmung der Materialklasse
die Lumineszenzspektren umgewandelt und ausgewertet werden. Hierzu müssen zwei
separate Vorgehensweisen erarbeitet werden. Abschließend werden die einzelnen Mess-
und Auswerteschritte zu einer Gesamtmethode verknüpft.
6.2 Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl mit dem Versuchsaufbau

6.2.1 Erzeugung von Grauwertbildern

Die Partikelgröße wird mit dem Versuchsaufbau über den Intensitätsunterschied des
Reflexionslichtes von Partikel und Probeträger ermittelt. Erfasst wird die Lichtintensität
ortsaufgelöst von einem CCD-Sensor.

Entsprechend des Dynamikbereichs des Sensors wird jedem Pixel in Anhängigkeit der
Intensität des erfassten Lichtsignals ein Wert zwischen 0 und 255 (8 bit-Skala)
zugeordnet. Jeder dieser sog. Grauwerte steht für eine Graustufe zwischen schwarz und
weiß. Der Wert »255« ist die höchste auflösbare Lichtintensität und stellt die Farbe Weiß
dar. Stärkere Lichtsignale werden detektiert, können aber nicht nach Intensität
differenziert werden und erhalten stets den Wert »255«. Lichtsignale, die zu schwach
sind um erfasst zu werden, erhalten den Wert »0« mit der zugehörigen Farbe Schwarz.
Den Lichtsignalen mit Intensitätswerten dazwischen werden Grauwerte zwischen schwarz
und weiß zugeordnet. Durch das Zusammensetzen der Grauwerte aller Pixel
entsprechend deren Position im Sensor ergibt sich ein Grauwertbild auf BMP-Basis
(Bitmap) als Ausgangsdatei.

Die freien Parameter, welche die Bildaufnahme beeinflussen und mit dem Versuchs-
aufbau festgelegt werden müssen, sind Belichtungszeit und Arbeitsabstand. Die
Belichtungszeit bestimmt die Bildhelligkeit, der Arbeitsabstand die Bildschärfe. Die
weiteren optischen Einflussfaktoren, z. B. Beleuchtungsstärke und Blendenzahl, sind
durch den Aufbau fest vorgegeben und können nicht verändert werden.

x Belichtungszeit

Bei der Festlegung der Belichtungszeit ist zu beachten, dass sämtliche Partikel eindeutig
vom Probenträgeruntergrund unterschieden werden müssen, ohne überbelichtet zu
werden. Wird die Belichtungszeit zu gering gewählt, führt dies zum optischen Verschwin-
den von Partikeln bzw. Teilen von Partikeln. Wird die Belichtungszeit zu hoch gewählt,
werden die Partikel überstrahlt und somit zu groß auf dem Sensor abgebildet.

Weiterhin muss berücksichtigt werden, dass unterschiedliche Materialien das sichtbare

Licht unterschiedlich stark reflektieren. Rußpartikel und schwarze Polymere absorbieren
das Anregungslicht stärker als beispielsweise metallische Partikel und werden bei gleicher
Belichtungszeit dunkler abgebildet. Die Belichtungszeit muss daher einen Kompromiss für
die Abbildung aller relevanten Partikelmaterialien darstellen. Diese Einstellung muss so
gewählt werden, dass auch kleine, schwach lichtstreuende Partikel erfasst werden
können, ohne dass große, stark lichtstreuende Partikel überstrahlt dargestellt werden.
Das gesamte relevante Materialienspektrum muss bei der gewählten Belichtungszeit im
Dynamikbereich der Kamera abgebildet werden.

Um die ideale Belichtungszeit zu erarbeiten, wurden stark reflektierende Edelstahl- und

schwach reflektierende schwarze PS-Partikel jeweils bei verschiedenen Belichtungszeiten
abgelichtet. Gewählt wurden die Belichtungszeiten 100ms, 1s und 5s.

88
Die Auswahl der geeignetsten Belichtungszeit erfolgt anhand der visuellen Differenzier-
barkeit der Partikel vom Objektträger über den Helligkeitsunterschied. Die PS-Partikel
müssen unabhängig von Größe und Material eindeutig und komplett von der
Filteroberfläche differenziert werden können. Gleichzeitig dürfen die Edelstahlpartikel
nicht überstrahlt auf dem Kamerasensor abgebildet werden, da ansonsten deren Größe
bei der anschließenden Partikelvermessung nicht korrekt bestimmt werden kann.

Belichtungszeit t = 0,1 s Belichtungszeit t = 1 s Belichtungszeit t = 5 s

Abbildung 6-2: Grauwertbilder von Edelstahl- (obere Reihe) und PS-Partikel (untere Reihe), jeweils aufgenommen mit
drei unterschiedlichen Belichtungszeiten

Fazit: Die Tests ergeben, dass bei einer Belichtungszeit von 1 s die kleineren schwach
lichtstreuenden Polystyrol-Partikel optisch eindeutig vom Untergrund differenziert werden
können, ohne dass die stark reflektierenden Metallpartikel überstrahlt werden.

x Arbeitsabstand

Die z-Achse ändert den Abstand zwischen Objektträger und Sammellinse des Objektivs
(Arbeitsabstand) und beeinflusst die Fokussierung der Lichtstrahlen auf dem Sensor.
Aufgrund der hohen numerischen Apertur ist die Schärfentiefe niedrig, weshalb relativ
geringe Änderungen des Arbeitsabstandes zu einer unscharfen Abbildung der Partikel auf
dem Sensor und so zu einem Verschwimmen der Partikelkontur im Grauwertbild führen.
Da das Reflexionslicht dann auf mehr Pixel verteilt wird, erfasst jeder angestrahlte Pixel
weniger Strahlung. Als Folge können kleine, schwach reflektierende Partikel optisch
verschwinden und größere, stark reflektierende Partikel hingegen vergrößert abgebildet
werden. Bei ideal scharfer Partikelabbildung werden die ermittelten Partikelwerte in den
kleinsten Partikelklassen daher maximal, in den größeren Klassen nimmt die Anzahl der
erfassten Partikel die geringsten Werte an.

Um den idealen Arbeitsabstand zu ermitteln, wird der Mittelpunkt einer mit SiC-Partikeln
(Größe 15 μm) kontaminierten Membran abgelichtet. Der Arbeitsabstand wird zunächst

89
absichtlich so festgelegt, dass der Fokus oberhalb der Filtermembran liegt. Anschließend
wird die z-Achse um 5 μm nach unten gefahren und erneut ein Bild aufgenommen.
Dieser Vorgang wird so oft wiederholt, bis der Fokus der optischen Einheit unterhalb der
Filtermembran liegt. Der Arbeitsabstand wird anhand der Aufnahme gewählt, in welcher
die Partikel visuell am schärfsten abgebildet werden. Entsprechend Abbildung 6-3 ist dies
bei einem Arbeitsabstand von z=7,935μm gegeben.

Arbeitsabstand z = 7,915 μm Arbeitsabstand z = 7,935 μm Arbeitsabstand z = 7,955 μm

Abbildung 6-3: Grauwertbilder von SiC-Partikel, aufgenommen mit unterschiedlichen Arbeitsabständen

Da es sich bei dieser Vorgehensweise um eine subjektive Festlegung handelt, muss dieser
Wert messtechnisch überprüft werden. Hierzu müssen im weiteren Verlauf Grauwert-
bilder mit Partikeln verschiedener Größen bei unterschiedlichen Arbeitsabständen
aufgenommen und ausgewertet werden.

6.2.2 Auswertung von Grauwertbildern

x Binarisierung

Um über das Grauwertbild die Größe und Anzahl der Partikel zu bestimmen, muss das
Bild binarisiert werden. Den Pixeln mit Grauwerten oberhalb eines bestimmten
Schwellwerts wird der Binärwert »1« und die Farbe Weiß zugeordnet. Pixeln mit Werten
unterhalb dieses Schwellwertes erhalten den Binärwert »0« und die zugehörige Farbe
Schwarz. Das vorherige Grauwertbild mit 256 Abstufungen zwischen schwarz und weiß
besteht jetzt nur noch aus zwei Farbinformationen und wird als Binärbild bezeichnet.

Die Festlegung der Binärschwelle ist abhängig vom Intensitätsunterschied zwischen

Partikel und Untergrund. Analog zur Belichtungszeit muss die Schwelle so gesetzt
werden, dass auch kleine dunkel abgebildete Partikel die Farbe Weiß erhalten, ohne dass
der Untergrund als Partikel deklariert wird. Des Weiteren muss vermieden werden, dass
hell abgebildete Partikel vergrößert dargestellt werden.

Die Binärschwelle wird zunächst anhand einer Grauwertaufnahme bei 1 s Belichtungszeit

eines leeren Analysefilters bestimmt. Der Schwellwert wird auf den kleinsten Grauwert
festgelegt, bei dem keine Pixel weiß binarisiert werden. Dieser liegt bei dem Wert »60«.
Anschließend wird die Eignung dieser Binärschwelle an den Grauwertbildern der
Edelstahl- und PS-Partikeln, aufgenommen mit derselben Belichtungszeit, überprüft.

90
 a)

b)

c)

Grauwertbild mit Belichtungszeit t = 1 s Binärbild erzeugt mit der Binärschwelle 60

Abbildung 6-4: Grauwertbild (links) und zugehöriges Binärbilder (rechts) von

a) einer leeren Filtermembran
b) glänzenden Edelstahl-Partikeln
c) schwarzen Polystyrol-Partikeln

Anhand Abbildung 6-4 ist deutlich zu erkennen, dass mit der gewählten Binärschwelle
sowohl die Edelstahlpartikel, als auch die PS-Partikel, unabhängig von ihrer Größe,
optisch von der Filteroberfläche separiert werden können. Wird die Schwelle tiefer
gesetzt, so wird der Filteruntergrund weiß binarisiert. Wird die Schwelle höher gesetzt,
werden Teile des dunkel abgebildeten PS-Partikels optisch ausgeblendet.

Fazit: Der gewählte Schwellwert stellt den optimaler Kompromiss zur Binarisierung von
Grauwertbildern schwach reflektierender und stark reflektierender Partikel dar und wird
für die weiteren Tests und Messungen festgeschrieben.

x Auswertung der Binärbilder

Zur Bestimmung der Partikelanzahl und -größe müssen die Pixel mit dem Binärwert »1«
(weiß) ausgezählt werden. Jeder weiße Pixel stellt ein Partikel der Größe 0,654 μm dar.

91
Angrenzende weiße Pixel werden zu weißen Bereichen miteinander verbunden. Die
Bestimmung der Partikelgröße erfolgt dann anhand des Feret-max Durchmessers, die der
zusammenhängenden weißen Bereiche. Die Anzahl der separaten weißen Bereiche stellt
Anzahl der abgebildeten Partikel dar. Überlappen sich Partikel auf der Membran, so
verbinden sich auch die weißen Pixelbereiche, weshalb diese nicht als einzelne Partikel
dargestellt werden können. Dieses Phänomen wird als Partikelkoinzidenz bezeichnet.

Zur Differenzierung von Partikeln und Fasern werden folgende Kriterien festgelegt:
Partikel der Materialklasse #2 (Organik) > 200 μm, welche ein Verhältnis von Länge zu
Breite > 10 aufweisen mit einem gleich bleibenden Querschnitt von < 50 μm sind Fasern.
Die Unterscheidung zwischen Fasern und Partikeln mittels digitaler Bildverarbeitung
anhand morphologischer Aspekte entspricht dem derzeitigen Stand der Technik und
kann mit jedem gängigen Bildverarbeitungssystem durchgeführt werden. Die Faser-
klassifizierung wird deshalb im Folgenden nicht weiter untersucht.

x Überprüfung des Arbeitsabstandes

Da der Wert für den Arbeitsabstand rein subjektiv ermittelt wurde, muss dieser
messtechnisch überprüft werden. Hierzu wird eine Filtermembran mit SiC-Partikeln der
Größen 5 – 500 μm kontaminiert und anschließend deren Partikelgrößenverteilung mit
dem visuell festgelegten Arbeitsabstand von z = 7,935 mm bestimmt. Diese Messung wird
acht Mal mit sukzessiver Veränderung des z-Wertes zwischen +0,1 mm und -0,1 mm
wiederholt.

Partikelgrößenklasse [μm]

5– 15 – 25 – 50 – 100 – 150 – 200 – 400 – 600 – >

Messung 'z
15 25 50 100 150 200 400 600 100 1000
#1 -0,1 139 79 101 218 10 4 4 2 0 0
#2 -0,05 405 291 262 186 9 4 4 2 0 0
#3 -0,02 2619 392 259 167 7 4 4 2 0 0
#4 -0,01 3092 334 265 158 7 4 4 2 0 0
#5 0 2235 282 260 161 7 4 4 2 0 0
#6 0,01 1558 248 251 166 7 4 4 2 0 0
#7 0,02 328 143 230 176 6 4 4 2 0 0
#8 0,05 100 74 171 183 8 4 4 2 0 0
#9 0,1 48 33 116 107 11 4 4 2 0 0

Tabelle 6-1: Partikelwerte pro Größenklassen in Abhängigkeit des z-Versatzes gegenüber z = 7,935

Fazit: Die Ergebnisse der Messreihe zeigen, dass bei Messung #4 mit dem Arbeitsabstand
z = 7,925 mm die Partikel schärfer abgebildet werden als mit dem visuell ermittelten Wert
z = 7,935 mm. Dies ist daraus abzuleiten, dass bei Messung #4 die Partikelwerte in den
Größenklassen 5 – 15 μm und 15 – 25 μm maximal sind. Gleichzeitig ist die Partikelanzahl
in den Klassen > 50 μm am geringsten. Im Folgenden wird deshalb der Arbeitsabstand
z=7,925mm für die weiteren Tests und Messungen übernommen.

92
6.3 Bestimmung der Materialklasse mit dem Versuchsaufbau

6.3.1 Erzeugung der Lumineszenzspektren

Der einzige freie Parameter bei der Aufnahme der Lumineszenzspektren ist die
Belichtungszeit. Jedes Element der CCD-Zeile empfängt das Licht eines bestimmten
Wellenlängenbereichs mit einer spektralen Breite von 0,6 nm. Die Lichtintensität wird
anhand einer 16bit-Skala in ca. 65500 Stufen eingeteilt. Analog zur Bildaufnahme erhält
die geringste erfassbare Lichtintensität den Wert »1«, die stärkste auflösbare Intensität
den Wert »65500«. Durch Kombination jedes Wellenlängenbereichs mit der jeweiligen
Intensität über alle Pixel wird die spektrale Verteilung des Lumineszenzlichtes ermittelt
und als csv-Datei ausgegeben.

Die Belichtungszeit muss so gewählt werden, dass die Signale möglichst hoch sind, ohne
über 65500 hinauszugehen. In diesem Fall kommt es zum Überstrahlen der Pixel (vgl.
Kapitel 6.2.1) und die wellenlängenabhängigen Intensitäts-Unterschiede können nicht
mehr aufgelöst werden. Ist die Belichtungszeit zu niedrig, ist das Verhältnis zwischen
Lumineszenzsignal des Partikels und internem Rauschen des CCD-Sensors zu gering. Um
die Abhängigkeit zwischen Signal und internem Rauschen zu bestimmen, wurde mit dem
Versuchsaufbau das Lumineszenzsignal eines Partikels aus Keramik bei verschiedenen
Belichtungszeiten zwischen 0,1 und 5s ermittelt.

5000
4500
Belichtungszeit t=5s
4000 Belichtungszeit t=1s
3500 Belichtungszeit t=0,5s
Intensitätswert I

3000 Belichtungszeit t=0,1s

2500
2000
1500
1000
500
0
400 500 600 [nm]
700 800
Wellenlänge O

Abbildung 6-5: Lumineszenzspektrum eines keramischen Schleifpartikels, aufgenommen bei verschiedenen

Belichtungszeiten

Anhand des in Abbildung 6-5 dargestellten Diagramms ist deutlich die Abhängigkeit
zwischen Belichtungszeit, Signalhöhe und internem Rauschen zu erkennen. Das interne
Rauschen beträgt bei 0,1 s Belichtungszeit ca. 500 und bei 5 s Belichtungszeit etwa 2100
Intensitätswerte, konstant über den gesamten sichtbaren Wellenlängenbereich.

93
Da die Intensität des Lumineszenzsignals in Abhängigkeit des Materials schwankt, muss
dies bei der Festlegung einer einheitlichen Belichtungszeit berücksichtigt werden. Wird
die Belichtungszeit zu gering gewählt, wird von schwach lumineszierenden Materialien
kein auswertbares Signal detektiert. Demgegenüber können Spektren stark lumines-
zierender Partikel nicht mehr Wellenlängen dispersiv aufgelöst werden, wenn die
Belichtungszeit zu hoch gewählt wird. Um einen Überblick über die Belichtungszeit-
Schwankungen zu erhalten, wurden die Signalmaxima unterschiedlich intensiv
lumineszierender Partikelmaterialien (jeweils ca. 100 μm Größe) untersucht. Tabelle 6-2
gibt den höchsten Lumineszenzwert des jeweiligen Spektrums bei 0,5 und 5 s
Belichtungszeit an, jeweils nach Abzug des Grundrauschens.

Lumineszenzwert Lumineszenzwert
Partikelmaterial
bei Belichtungszeit t = 0,5 s bei Belichtungszeit t = 5 s
Messing 27 223
Edelstahl 40 136
SiC 1962 24087
Rubinkorund 15439 61194
Normalkorund 1230 22462
PPSU 1444 9378
Polycarbonat 161 4296
Seide 380 28055

Tabelle 6-2: Maximaler Lumineszenzwert in Abhängigkeit der Belichtungszeit

Von den untersuchten Materialien wird bei Rubinkorund das stärkste Signal detektiert.
Dessen Spektrum erreicht bei 5 s Belichtungszeit einen Intensitätswert von über 60000.
Bei weniger intensiv strahlenden Materialien, wie z. B. Polycarbonat-Partikeln, konnte
lediglich eine Intensität von etwas mehr als 4000 erfasst werden. Edelstahl und Messing
erzeugen kein Lumineszenzsignal. Nach Abzug des Grundrauschens sind sämtliche
Intensitätswerte geringer als 250.

Fazit: Anhand dieser Daten wird die Belichtungszeit auf 5 s festgelegt. Dadurch können
auch schwache Signale erfasst werden, ohne dass die Lumineszenzsignale der hier
betrachteten Partikel überstrahlen. Da jedoch nicht ausgeschlossenen werden kann, dass
stärkere Lumineszenzsignale detektiert werden müssen, muss dies bei der Erarbeitung der
Auswertestrategie berücksichtigt werden.

6.3.2 Auswertung der Spektren

x Erarbeitung der Bewertungsmethode

Da sich gezeigt hat, dass bei Metallen Intensitätswerte von ca. 250 gemessen werden,
wird die Grenze der Lumineszenz inaktiven Materialien bei dieser Belichtungszeit auf 500
Intensitätswerte festgelegt. Partikel, deren Lumineszenzspektrum nach Abzug des
Rauschens keine Intensitätswerte > 500 aufweisen, werden der Materialklasse #1
zugeordnet. Spektren, die Intensitätswerte > 500 aufweisen, werden normiert, um besser

94
miteinander verglichen werden zu können. Hierzu wird der höchste gemessene
Intensitätswert auf den relativen Wert »100« und der niedrigste auf den Wert »0«
gesetzt. Die Zwischenwerte werden entsprechend interpoliert.

Abbildung 6-6 zeigt das absolute und das normierte Lumineszenzspektrum eines
keramischen Polierpartikels (Borax) und einer Seidefaser. Durch die Normierung können
die Spektren trotz der absoluten Intensitätsunterschiede miteinander verglichen werden.

35.000 100
a) b)
30.000 Seide 80
[%] Seide
Intensitätswert I

25.000 Borax Borax

relative Intensität Ir
20.000 60

15.000 40
10.000
20
5.000
0 0
400 500 600 [nm]
700 800 400 500 600 [nm]
700 800
Wellenlänge O Wellenlänge O

Abbildung 6-6: Lumineszenzspektren von Seide und PMMA und Rauschsignal des CCD-Sensors
a) Gemessene Spektren bei einer Belichtungszeit von 5s
b) Normierte Spektren nach Abzug des Grundrauschens

Die Zuordnung eines Partikels zu einer Materialklasse anhand seines Lumineszenz-

spektrums kann über zwei Prinzipien erfolgen:

1. Datenbank: Vergleich der normierten Intensitätswerte Ir eines Spektrums mit

Intensitätswerten Ir aus einer Datenbank.

Ablauf: Die normierten Intensitätswerte Ir des Spektrums werden mit den normierten
Werten bekannter Materialspektren verglichen. Jedes mit dem Versuchsaufbau ermittelte
Spektrum besteht aus 647 wellenlängenabhängigen Intensitätswerten zwischen 400 und
800 nm. Wird eine bestimmte Anzahl übereinstimmender Werte zwischen gemessenem
Spektrum und einem Datenbankspektrum überschritten, wird das Partikel diesem
Material bzw. der zugehörigen Materialklasse zugewiesen.

Bewertung: Befindet sich das zu untersuchende Partikelmaterial in der Datenbank, ist

eine hohe Klassifizierungsgenauigkeit gegeben. Zusätzlich wird in diesem Fall nicht nur
die Materialklasse bestimmt, sondern eine Aussage über das tatsächliche Material des
Partikels ermöglicht.

Wird jedoch ein Partikel untersucht, welches sich nicht in der Datenbank befindet,
besteht die Gefahr einer Falschklassifizierung. Somit müssen vorab die Lumineszenz-
spektren von sämtlichen relevanten Materialien aufgenommen und in eine Datenbank
übertragen werden. Erschwerend kommt hinzu, dass die Spektren der Keramiken und
Mineralien nicht immer eindeutig sind, sondern in Abhängigkeit der Fremdatome oder

95
Gitterfehler variieren können. Es müssten also zusätzlich die Lumineszenzspektren
sämtlicher Variationen der praxistypischen Materialien in die Datenbank eingearbeitet
werden. Angesichts der Vielfalt der Materialien und deren Variationen kann dies nicht
gewährleistet werden.

2. Spektren-Kennwerte: Vergleich von Kennwerten eines Spektrums mit charakteris-

tischen Kennwertbereichen der einzelnen Materialklassen.

Ablauf: Jedem der drei festgelegten Materialklassen werden charakteristische Kennwert-

bereiche zugewiesen. Die Kennwertbereiche eines mit dem Versuchsaufbau ermittelten
Spektrums werden mit den festgelegten Bereichen verglichen und das Partikel der
passenden Materialklasse zugeordnet.

Bewertung: Können jeder Materialklasse, auch den Keramiken und Mineralien,

eindeutige und charakteristische Kennwertbereiche zugewiesen werden, kann auf den
Aufbau einer komplexen Datenbank verzichtet werden. Eine gesicherte Klassifizierung ist
dann auch bei variierenden Lumineszenzsignalen möglich.

Diese Auswertemethode ist jedoch nur dann anwendbar, wenn jeder Materialklasse
eindeutige Kennwertbereiche zugeordnet werden können. Überschneiden sich
Kennwertbereiche der unterschiedlichen Klassen, so sind Lumineszenzspektren mit diesen
Kennwerten uneindeutig, wodurch Falschklassifizierungen unvermeidbar sind.

Entsprechend der theoretischen Betrachtung des Lumineszenzverhaltens in Kapitel 4.2,

weisen die unterschiedlichen Materialklassen spezifische Lumineszenzeigenschaften auf.
Da die Metalle (Klasse #1) als einzige Klasse grundsätzlich keine Lumineszenz aufweisen,
müssen lediglich die Lumineszenzsignale der Materialklassen #2 und #3 anhand von
Spektren-Kennwerten differenziert werden. Aufgrund der unterschiedlichen Entstehungs-
mechanismen der Lumineszenz dieser beiden Materialklassen (vgl. Kapitel 4.2) ist die
Differenzierbarkeit von anhand Spektren-Kennwerten prinzipiell ebenfalls möglich.

Fazit: Eine Klassifizierung anhand charakteristischer Kennwertbereiche der Material-

klassen ist prinzipiell möglich. Da diese Variante die deutlich weniger aufwändig und
zugleich gesichertere Methode darstellt, wird diese Methode gewählt.

x Definition Spektren-Kennwerte

Um ein Spektrum zu charakterisieren, müssen zunächst Kennwerte anhand der Lage und
Form der Emissionsbanden entsprechend Abbildung 6-7definiert werden.

Die Bandenlage wird über den sog. Peak bestimmt, der den oberen Umkehrpunkt
darstellt. Die Steigung beträgt an diesem Punkt Null. Hin zu kleineren Wellenlängen ist
die Steigung positiv, hin zu größeren Wellenlängen negativ. Beschrieben wird die
Bandenlage durch den Spektren-Kennwert zentrale Wellenlänge (ZWL), welches die zum
höchsten Intensitätswert zugehörige Wellenlänge darstellt.

96
Weitere Spektren-Kennwerte ergeben sich aus der Bandenform, gekennzeichnet durch
Breite und Symmetrie. Zur Beschreibung der Breite werden die Spektren-Kennwerte
Halbwertsbreite (HWB) und Zehntelwertsbreite (ZWB) herangezogen, mit:

HWB O1" / 2  O1' / 2 Formel 6-1

ZWB O1" / 10  O1' / 10 Formel 6-2

O‘1/2 O“1/2 Imax = Intensität am oberen Umkehrpunkt

100
Imax Omax = zentrale Wellenlänge (ZWL)
Imax/2 = halbe Intensität bezüglich Omax
[%]
O’1/2 = untere zugehörige Wellenlänge zur
relative Intensität Ir

halben Intensität

50 O“1/2 = obere zugehörige Wellenlänge zur

Imax/2 halben Intensität
Imax/10 = zehntel Intensität bezüglich Omax
O’1/10 = untere zugehörige Wellenlänge zur
zehntel Intensität
Imax/10 O“1/10 = obere zugehörige Wellenlänge zur
0 zehntel Intensität
O‘1/10 Omax O“1/10
Wellenlänge O

Abbildung 6-7: Kennwerte zur Charakterisierung der Bande eines Spektrums

Die Bandensymmetrie bestimmt sich zu:

S HWB
O1" / 2  Omax
Formel 6-3
Omax  O1' / 2

S ZWB
O1" / 10  Omax
Formel 6-4
Omax  O1' / 10

mit SHWB als die Bandensymmetrie bei halber Intensität und SZWB als die Bandensymmetrie
bei einem Zehntel der maximalen Intensität. Sind die Kennwerte SHWB und SZWB = 1, so ist
die Bande absolut symmetrisch. Ist SHWB und SZWB > 1, so wird die Bande hin zu längeren
Wellenlängen breiter, bei Werten <1 schmaler.

x Berechnung der Spektren-Kennwerte bei überstrahlten Spektren

Obwohl die Messzeit anhand praxistypischer Materialien erarbeitet wurde (vgl. Kapitel
6.2.1), kann nicht ausgeschlossen werden, dass das Lumineszenzsignal bestimmter
Materialien nicht doch überstrahlt abgebildet wird. In diesem Fall kann dessen ZWL nicht
aus dem Spektrum ausgelesen werden, sondern muss aus der maximalen und minimalen
Wellenlänge mit der normierten relativen Intensität von 100% angenähert werden.

97
 O‘100 O“100 I100 = maximaler Intensitätswert
100 I100
O’100 = minimale Wellenlänge der Bande mit
dem Wert „100”
[%]
O“100 = maximale Wellenlänge der Bande mit
relative Intensität Ir

dem Wert „100”

50 I50 I50 = halber Intensitätswert
O’50 = untere zugehörige Wellenlänge mit
dem Wert „50”
O“50 = obere zugehörige Wellenlänge mit
dem Wert „50”
0
O‘50 O“50
Wellenlänge O

Abbildung 6-8: Merkmale einer Bande bei überstrahltem Spektrum

Diese berechnete zentrale Wellenlänge ZWL100 berechnet sich zu:

" '
' (O100  O100 )
ZWL100 O100  Formel 6-5
2

Die Halbwertsbreite ergibt sich entsprechend aus der Differenz der beiden Wellenlängen
mit dem normierten relativen Intensitätswert von 50% und wird als HWB50 bezeichnet:

HWB50 O"50  O'50 Formel 6-6

Je stärker ein Spektrum überstrahlt, desto mehr können die errechneten Kennwerte von
den tatsächlichen Werten abweichen. Dieser Effekt verstärkt sich, je breiter und
unsymmetrischer eine Bande tatsächlich ist. Bei Uneindeutigkeiten bei der Klassifizierung
muss das Partikel deshalb der kritischeren Materialklasse zugeordnet.

x Erarbeitung von Kennwertbereichen

Entsprechend der theoretischen Betrachtung des Lumineszenzverhaltens in Kapitel 4.2

können Partikel anhand folgender Kennwertbereiche klassifiziert werden:

1. Partikel ohne Lumineszenzsignal bilden die Materialklasse #1 (Metalle).

Lumineszierende Partikel gehören entweder der Materialklasse #2 oder #3 an.

2. Spektren mit ZWL < 490 nm werden der Materialklasse #3 (Organik) zugeordnet,
Materialien mit Peaks mit ZWL> 500nm der Klasse #2 (Mineralien und Keramik).

Da in Ausnahmefällen auch Partikel der Materialklasse #2 blau lumineszieren, kann die

Klassifizierung ausschließlich auf Grundlage der ZWL zu Uneindeutigkeiten führen. In
diesem Fall muss zusätzlich die Form (Breite und Symmetrie) der Lumineszenzbanden
betrachtet werden.

98
 3. Breite Banden, die zu längeren Wellenlängen hin langsam abfallen, werden von
organischen Partikeln der Klasse #3 erzeugt. Demgegenüber werden schmale
diskrete Peaks mit symmetrischen Banden der Klasse #2 zugeordnet.

Zur Festlegung von Wertebereichen für diese Kennwerte und für eine erste Überprüfung
der Praktikabilität der Klassifizierung der Methode werden mit dem Versuchsaufbau
Lumineszenzmessungen an Praxis typischen Partikelmaterialien durchgeführt. Hierzu wird
das Lumineszenzsignal von jeweils zwei Materialien pro Materialklasse aufgenommen
und deren Peaks mit Intensitätswerten > 500 ausgewertet (s. Abbildung 6-9).

Lumineszenzspektrum Auswertung Banden

P1 ZWL = 446 nm;

100 Peak 1 HWB = 96 nm; ZWB = 202 nm;
SHWB = 2,6; SZWB = 4,8
PPSU
80
[%]
relative Intensität Ir

Peak 2 -
60

40 Peak 3 -

20
Peak 4 -
0
400 500 600 [nm]
700 800
Peak-
Wellenlänge O -
Verhältnis

P1 ZWL = 458 nm;

100 Peak 1 HWB = 98 nm; ZWB = 206 nm;
SHWB = 2,19 ; SZWB = 3,79
80 menschliches Haar
[%]
relative Intensität Ir

Peak 2 -
60

40 Peak 3 -

20
Peak 4 -
0
400 500 600 [nm]
700 800 Peak-
Wellenlänge -
O Verhältnis

P1 ZWL = 682 nm;

100 Peak 1 HWB = 5 nm; ZWB = 9 nm;
SHWB = 0,67; SZWB = 0,8
80 Normalkorund
[%]
ZWL = 702 nm;
relative Intensität Ir

Peak 2 HWB = 31 nm; ZWB = 90 nm;

60 SHWB = 0,24; SZW B = 0,5

40 ZWL = 658 nm;

Peak 3 HWB = 21 nm; ZWB = 267 nm;
SHWB = 2,5; SZW B = 0,59
20
P2
P3
Peak 4 -
0
400 500 600 [nm]
700 800
Peak-
Wellenlänge O IV1/2 = 10,1; IV1/3 = 21,3
Verhältnis

Abbildung 6-9: Lumineszenzspektren unterschiedlicher Materialien und zugehörige Bandenkennwerte

99
 Lumineszenzspektrum Auswertung Banden

P1 ZWL = 567 nm;

100 Peak 1 HWB = 16 nm; ZWB = 191 nm;
P2 SHWB = 0,49; SZWB = 0,27
80 keramische
[%]
Schleifpartikel ZWL = 471 nm;
relative Intensität Ir

Peak 2 HWB = 17 nm; ZWB = 191 nm;

60 SHWB = 0,95; SZWB = 2,53
P3 P4
40 ZWL = 521 nm;
Peak 3 HWB = 120 nm; ZWB = 191 nm;
SHWB = 0,91; SZWB = 0,84
20
ZWL = 693 nm;
0 Peak 4 HWB = 89 nm; ZWB = 152 nm;
SHWB = 2,67; SZWB = 2,12
400 500 600 [nm]
700 800
Peak-
Wellenlänge O Verhältnis
IV1/2 = 1,17; IV1/3 = 2,13; IV1/4 = 2,22

500 Da keine Peaks mit absoluten Intensitätswerten

> 500 gemessen werden konnten, wurden die
400 Messing Spektren nicht normiert. Das Messsignal ist zu
gering, um vom Untergrundrauschen
Intensitätswert I

300 unterschieden zu werden.

Fazit: keine Lumineszenz der untersuchten Probe
200

100

0
400 500 600 [nm]
700 800
Wellenlänge O

500 Da keine Peaks mit absoluten Intensitätswerten

> 500 gemessen werden konnten, wurden die
400 Edelstahl Spektren nicht normiert. Das Messsignal ist zu
gering, um vom Untergrundrauschen
Intensitätswert I

300 unterschieden zu werden.

Fazit: keine Lumineszenz der untersuchten Probe
200

100

0
400 500 600 [nm]
700 800
Wellenlänge O

Abbildung 6-9 Forts.: Lumineszenzspektren unterschiedlicher Materialien und zugehörige Bandenkennwerte

Die Lumineszenzsignale der Materialien der Klasse #3 (Organik), ein menschliches Haar
und PPSU, bestehen aus einer breiten Bande mit einem Peak im blauen Spektrum bei ca.
450 nm und einer HWB von knapp 100 nm. Die Banden fallen zu längeren Wellenlängen
hin langsam ab (SHWB >2).

Das untersuchte Korund (Klasse #2) weist eine intensive rote Lumineszenzfarbe auf. Dies
verdeutlicht sich durch die schmale symmetrische Bande mit einem Peak bei 682 nm,
einer HWB von 5 nm und dem Symmetriewert von 0,9. Es existieren zwei weitere Peaks
bei 702 und 658 nm mit Halbwertsbreiten von 31 und 21 nm.

100
Das keramische Schleifpartikel weist mehrere Peaks auf und kann aufgrund der ZWL
nicht direkt eindeutig klassifiziert werden. Die ZWL des ersten Peaks liegt mit 567 nm im
Bereich der Klasse #2, der zweite Peak mit 471 nm im Bereich der Klasse #3. Da die
beiden Hauptbanden eine schmale Form (HWN < 20 nm) aufweisen und zudem nicht zu
längeren Wellenlängen abfallen (SHWB < 1), besitzt das Spektrum Merkmale, die gegen
eine Einordnung in Klasse #3 (Organik) sprechen.

Von den Edelstahl- und Messingpartikeln der Materialklasse #1 (Metalle) konnte kein
Lumineszenzsignal mit Werten über 500 ermittelt werden.

Fazit: Die Materialklassifizierung anhand der definierten und festgelegten Spektren-

Kennwertbereiche ist möglich.

Erster Spektren-Kennwert zur Selektierung der Materialien der Klasse #1 ist der
maximale Intensitätswert des ermittelten Lumineszenzspektrums. Spektren ohne
absolute Intensitätswerte >500 werden den Metallen zugeordnet.

Zweiter Kennwert ist die zentrale Wellenlänge ZWL der Lumineszenzbanden. Spektren,
welche lediglich Banden mit einer ZWL < 490 nm aufweisen, werden der Organik (Klasse
#3) zugewiesen. Spektren, welche lediglich Banden mit einer ZWL > 500 nm aufweisen,
werden den Keramiken und Mineralien (Klasse #3) zugewiesen.

Bei gleichzeitigem Auftreten von Banden mit ZWL in beiden Klassenbereichen oder im
Übergangsbereich werden die Kennwerte Halbwertsbreite HWB und Symmetriewert
SHWB der Lumineszenzbanden herangezogen. In diesem Fall werden Spektren, die eine
Bande mit HWB < 40 nm und gleichzeitig SHWB < 1,5 aufweisen, der Materialklasse #2
zugeordnet. Spektren, welche ausschließlich HWB > 40 nm oder ausschließlich SHWB > 1,5
aufweisen, werden der Materialklasse #3 zugewiesen.

Auf Grundlage der Zehntelwertsbreite ZWB und des Symmetriewerts SZWB ist keine
Zuordnung der Materialien möglich, weshalb diese nicht weiter betrachtet werden.

In Tabelle 6-3 sind die Kennwertbereiche und deren Rangfolge zur Zuordnung in die
entsprechenden Klassen aufgelistet.

Rangfolge Kennwert Bereich Klasse #1 Bereich Klasse #2 Bereich Klasse #3

1. Kriterium absolute Intensität < 500 > 500 > 500
2. Kriterium ZWL - 500 – 800 nm 400 – 490 nm
HWB - < 40 nm > 40 nm
3. Kriterium
SHWB - < 1,5 > 1,5

Tabelle 6-3: Kennwertbereiche und Gewichtung der Kennwerte zur Zuordnung der Spektren in Materialklassen

Kann ein Partikel nicht klassifiziert werden, da sich sämtliche Kriterien widersprechen
oder die Werte zwischen den Klassenbereichen liegen, so wird das Partikel der für das
Bauteil kritischeren Klasse zugeordnet. Da Lumineszenzspektren hauptsächlich aus einer
breiten Bande bestehen, werden pro Spektrum maximal vier Peaks betrachtet.

101
6.4 Messablauf

6.4.1 Abrastern der Oberfläche

Zur Bestimmung der Bauteilsauberkeit müssen entsprechend VDA-Band 19 alle Partikel

der relevanten Partikelgröße erfasst und vermessen werden. Das bedeutet, dass die
gesamte Fläche der Filtermembran, auf der sich Partikel befinden können, abgelichtet
und ausgewertet werden muss. Da der Bildausschnitt des Kamerasensors lediglich
0,9 x 0,675 mm² beträgt und die Filterfläche deutlich größer ist, muss diese mit dem
optischen System sukzessive abgerastert werden. Das x-y-Achssystem positioniert die
optische Einheit hierzu an einem definierten Startpunkt. Mit den ermittelten
Einstellungen wird an dieser Position ein Grauwertbild aufgenommen und ausgewertet.
Nach Beendigung des Messvorganges verfährt das Achssystem die optische Einheit exakt
um ein Bildfeld. Danach startet die Aufnahme- und Auswerteprozedur erneut.

Abhängig von Halterung und Stützgitter zur Aufnahme der Membran bei der Filtration,
wird nicht die gesamte Membran mit Analyseflüssigkeit durchströmt. Dies hat zur Folge,
dass nicht die komplette Filterfläche mit Partikeln belegt wird, sondern lediglich die sog.
effektive Filtrationsfläche. Die zu rasternde Fläche des Filters richtet sich somit nach der
effektiven Filtrationsfläche und umgekehrt. Wird angenommen, dass die Fläche eines
Quaders abgefahren wird, dessen Diagonale dem Durchmesser des Analysefilters
entspricht, so kann die Anzahl der notwendigen Messfelder in x- und y-Richtung sowie
die maximal zulässige effektive Filtrationsfläche berechnet werden (s. Abbildung 6-10).

Spannring a) Spannring b)

a maximale
r Filtrationsfläche
a Messfläche
y y r Radius
Messfeld
Analysefilter
Abfolge der
a Seitenlänge
Messfelder
x Messfläche
x

Abbildung 6-10: Ablauf zur Bestimmung der Partikelgrößenverteilung auf einer Filtermembran
a) Beispielhaftes Abrastern der Membran mit einem optischen System
b) Messfeld und maximal zulässige Filtrationsfläche

Die Seitenlänge a der Gesamtmessfläche lässt sich über den Radius (r = 12,5 mm) des
Analysefilters bestimmen. Da die Messfläche ein Quadrat mit gleichen Seitenlängen
darstellt, gilt:
2 2
§a· §a· r2
¨ ¸ ¨ ¸ r2 und a 2˜ 17,68mm Formel 6-7
©2¹ ©2¹ 2

Um dieses Messfeld abzulichten, müssen anhand der Bildfeldgröße in x-Richtung 26,19

und in y-Richtung 19,64 Felder abgelichtet werden. Da lediglich eine ganze Zahl an

102
Feldern abgelichtet werden kann, werden 26 Felder in x-Richtung und 19 Felder in
y-Richtung aufgenommen. Insgesamt werden somit 494 Bildfelder aneinander gesetzt.
Daraus ergibt sich ein Messfeld mit 17,5 mm Kantenlänge in x- und 17,1 mm in
y-Richtung mit einer zu scannenden Filteroberfläche von 300 mm².

Der maximal zulässige Filtrationsdurchmesser darf somit maximal 17,1 mm betragen.

Dieser Durchmesser ist bei der Auswahl der Filtrationseinrichtung, insbesondere bei der
Auswahl des Filtrationsstützgitters, zu beachten. Das Stützgitter darf die Analyse-
flüssigkeit lediglich innerhalb des maximal zulässigen Filtrationsdurchmessers passieren
lassen. Werden Partikel auch außerhalb dieses Bereichs auf die Membran übertragen, so
werden diese bei der Messung nicht detektiert und analysiert.

6.4.2 Anfahren der Partikel zur Spektrenaufnahme

Zur Bestimmung des Lumineszenzspektrums muss sich das zu untersuchende Partikel im

Fokus des Spektrometers befinden. Der Mittelpunkt des Partikels muss dazu mit dem
Mittelpunkt des Fokusspots bei den Koordinaten (x, y) = (340 μm, 455 μm) übereinstimmen
(vgl. Kapitel 5.5.3). Bei der VIS-Bildaufnahme zur Bestimmung der Partikelgröße können
gleichzeitig die Koordinaten jedes Partikels auf dem Prüffilter mit erfasst werden.
Nachdem das Filter abgerastert wurde, wird anschließend jedes Partikel in den Fokus des
Spektrometers gefahren. Diese Vorgehensweise bedeutet jedoch, dass auch nicht
lumineszierende Partikel in den Fokuspunkt gefahren werden, obwohl kein Spektrum zu
erfassen ist. Da bei der Prüfung der Bauteilsauberkeit größtenteils metallische, also
Lumineszenz inaktive Partikel anfallen, wird dadurch die Messzeit unnötig erhöht.

Aus diesem Grund wird eine Vorselektion der Partikel in lumineszierende und nicht lumi-
neszierende Partikel mittels Lumineszenzbildaufnahme und -auswertung vorgenommen.
Bei der Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl wird zusätzlich von jedem Bildfeld
eine Aufnahme mit UV-Beleuchtung durchgeführt. Die Belichtungszeit wird, wie bei der
Spektrenaufnahme, zu 5 s festgelegt, die Binärschwelle auf den Wert 26. Dieser
Schwellwert kann im Vergleich zur Grauwertbild-Auswertung so niedrig gesetzt werden,
da von der Filtermembran und von den metallischen Partikeln kein Lumineszenzsignal
erzeugt wird. Bei niedrigeren Schwellwerten wird trotz der optischen Filter VIS-Streulicht
fälschlicherweise als Lumineszenz detektiert. Durch eine Bildauswertung analog zu den
VIS-Aufnahmen, können die lumineszierenden Partikel nun einfach erfasst und von den
nicht lumineszierenden Partikeln optisch getrennt werden. Die nicht lumineszierenden
Partikel werden der Materialklasse #1 (Metalle) zugeordnet und müssen nicht weiter
betrachtet werden. Anschließend werden die restlichen Partikel angefahren, um deren
Lumineszenzspektrum zu ermitteln.

Abbildung 6-11 zeigt das Methodikschema mit den einzelnen Mess- und Auswerte-
schritten. Anhand der dargestellten Vorgehensweise wird mit dem Versuchsaufbau die
Anzahl, Größe und Materialklasse der auf Analysefilter vorhandenen Partikel bestimmt.
Dadurch erfolgt die vollständige Bestimmung des Schädigungspotenzials der Partikel und
somit die vollständige Bestimmung der Bauteilsauberkeit.

103
6.4.3 Methodikschema

Ergebnis Arbeitsschritt Programm

Schritt 1: Anfahren der ersten

WinCommander
Messposition
Bestimmung der
Partikelgröße
und -anzahl Bildaufnahme mit VIS-
Beleuchtung

Anzahl und Bestimmung der Größe,

Größe aller Anzahl und Koordinaten
Partikel aller Partikel anhand von NeuroCheck
Grauwerte

Schritt 2: Bildaufnahme mit UV-

Beleuchtung
Differenzierung
lumineszierender
und nicht Selektierung der
lumineszierender Partikel der
lumineszierenden Partikel
Partikel Klasse #3 anhand von Grauwerten
Position der
lum. Partikel
letzte nein nächste
Bildposition Position
anfahren
ja

lum. Partikel nein Ende der WinCommander

vorhanden Analyse

ja
Schritt 3: größtes lumineszierendes
Partikel anfahren
Bestimmung der
Materialklasse der
lumineszierenden Ermittlung Lumineszenzspektrum
Partikel
mit UV-Beleuchtung
SpektraVision
Klassifizierung des
Materialklasse
Spektrums anhand
aller Partikel
ZWL, HWB und SHWB

nein nächstes
letztes
Partikel WinCommander
Partikel
anfahren
ja
Ende der
Analyse

Abbildung 6-11: Ablaufschema zur vollständigen Bestimmung des Schädigungspotenzials von Restschmutzpartikeln
anhand des Versuchsaufbaus

104
6.4.4 Berechnung der Messzeit

Im ersten Messschritt wird die Anzahl und Größe der Partikel > 5 μm auf der Membran
sowie deren Position bestimmt. Über eine anschließende UV-Bildaufnahme an jeder
Messposition werden lumineszierende und nicht lumineszierende Partikel getrennt. Die
nicht lumineszierenden Partikel werden der Materialklasse #1 zugeordnet. Ausgehend
von den erarbeiteten Messparametern ist dafür pro Messposition eine Messzeit von acht
Sekunden einzukalkulieren. Eine Sekunde zur VIS-Bildaufnahme, fünf Sekunden für die
UV-Bildaufnahme, eine Sekunde um die Messposition zu wechseln und eine Sekunde
Wartezeit, um mögliche Schwingungen des optischen Systems nach dem Verfahren
ausklingen zu lassen. Bei 494 Messpositionen ergibt sich eine Messzeit von zusammen
3952s für die ersten beiden Messabschnitte, was 1h und 6min entspricht.

Im dritten Messabschnitt werden die lumineszierenden Partikel zur Bestimmung des

Lumineszenzspektrums ihrer Größe nach abfolgend nacheinander angefahren und ein
Lumineszenzspektrum aufgenommen. Die unterste Partikelgröße zur Bestimmung der
Materialklasse beträgt 50 μm. Auf einer dicht belegten Filtermembran befinden sich
maximal etwa 1000 Partikel oberhalb dieser Größe ohne sich zu überlappen. Wird davon
ausgegangen, dass mindestens 50 % der Partikel metallischen Ursprungs sind, so müssen
höchstens 500 Partikel angefahren werden. Die Messzeit pro Partikel beträgt fünf
Sekunden. Hinzu kommt wiederum eine Sekunde für den Verfahrweg und eine Sekunde
Wartezeit. Daraus ergibt sich eine Messzeit von sieben Sekunden pro Partikel bzw. eine
Gesamtmessdauer von 3500 s für den zweiten Messabschnitt, was ca. 58 min entspricht.
Müssen alle 1000 Partikel angefahren und lumineszenzoptisch bestimmt werden, so
beträgt diese Messdauer ca. 1h und 56min.

Die gesamte Messzeit für die vollständige Bestimmung von Partikelgröße und -anzahl
sowie Materialklasse beträgt mit dieser Methode etwa zwei Stunden, bei der Annahme,
dass 500 nicht metallische Partikel hinsichtlich ihres Materials klassifiziert werden müssen.
Dies entspricht der Anzahl an nicht metallischen Partikeln eines durchschnittlich belegten
Analysefilters zur Bestimmung der Bauteilsauberkeit dieser Größe. Bei 1000 vorhandenen
nicht metallischen Partikeln > 50 μm steigt die Messzeit auf ca. drei Stunden an. Auf
stärker beladenen Analysefiltern überlagern sich die Partikel, weshalb diese Analysefilter
nicht zur mikroskopischen Restschmutzbestimmung geeignet sind.

6.5 Abgleich mit den Anforderungen an die Methode

Um zu überprüfen, ob die Methode zur Materialklassifizierung von Partikeln mit dem

Versuchsaufbau den Anforderungen aus Kapitel 3.4.2 entspricht, erfolgt abschließend
eine Abgleich der einzelnen Anforderungskriterien mit der Methode.

x Materialklassifizierung der Partikel

Gesicherte Klassenzuordnung: Anhand der entwickelten Methode ist es möglich,

Partikel über deren Lumineszenzverhalten der zugehörigen Materialklasse zuzuordnen.
Hierzu werden Intensitätswerte aus den normierten Lumineszenzspektren ausgelesen und

105
Spektren-Kennwerte berechnet. Da jede Materialklasse charakteristische Bereiche für die
Spektren-Kennwerte aufweist, erfolgt eine gesicherte Zuordnung.

x Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl

Normkonforme Größenanalyse: Die Methode zur Bestimmung der Partikelgröße und

-anzahl ist mit der Materialklassifizierung vollständig kombiniert.

x Verfahrensaufwand

Manueller Aufwand: Sämtliche Arbeitsschritte zur Durchführung der Methode sind

automatisierbar. Das Einspannen des Analysefilters in den Versuchsaufbau ist der einzig
notwendige manuelle Arbeitsschritt zur vollständigen Bestimmung der Bauteilsauberkeit.
Alle weiteren Arbeitsschritte erfolgen mit den Achssystemen, die Auswertung mit den
Software-Programmen.

Messzeit: Der maximal zulässige zeitliche Aufwand zur Bestimmung der Partikelgröße, -
anzahl und der jeweiligen Materialklasse wird eingehalten.

x Technische Randbedingungen

Zerstörungsfreie Prüfung: Die Partikel werden bei Anwendung der eingesetzten

Methode weder zerstört noch wird deren materielle Zusammensetzung verändert. Die
Partikel können somit mehrmals eine Messung durchlaufen oder bei Bedarf mit einem
alternativen Verfahren analysiert werden.

106
7 Erprobung und Bewertung

7.1 Festlegung der Entwicklungsschwerpunkte

Zum Nachweis der Eignung des entwickelten Verfahrens zur vollständigen Bestimmung
des Schädigungspotenzials von Partikeln müssen mit dem Versuchsaufbau Testversuche
entsprechend des Methodikschemas durchgeführt werden. Ziel dieser Untersuchungen ist
zu überprüfen, inwieweit das realisierte Verfahren die Anforderungen zur Material-
klassifizierung sowie zur Bestimmung der Größe und Anzahl von Restschmutzpartikeln
unter praxisähnlichen Bedingungen erfüllt. Da sich die Methode in drei Abschnitte
unterteilt (s. Abbildung 6-11), werden folgende Verfahrensschritte separat untersucht:

x Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl

x Differenzierung lumineszierender und nicht lumineszierender Partikel

x Materialklassifizierung der lumineszierenden Partikel

Entsprechend den Anforderungen müssen mit dem Verfahren Partikel ab einer Größe von
5 μm detektiert und deren Größenklasse bestimmt werden können. Zusätzlich müssen
Partikel ab einer Größe von 50μm in die zugehörige Materialklasse eingeteilt werden.

7.2 Entwicklung des Testprogramms

7.2.1 Auswahl von Testpartikeln

Zur Durchführung der Versuchsreihen müssen Analysefilter gezielt mit Partikeln

kontaminiert werden. Hierzu werden praxistypische Testpartikel entsprechend der
relevanten Materialien und Größen (vgl. Kapitel 3.2) ausgewählt, welche anschließend
auf die mit Gold beschichtete Polycarbonatfilter aufgebracht werden.

Zur Überprüfung und Kalibrierung von Partikelmessgeräten in der Reinraumtechnik

existieren standardisierte Kalibrierpartikel in definierten Größenbereichen. Dabei handelt
es sich zum Einen um mineralische Teststäube mit definierter Größenverteilung sowie um
monodisperse Latex-Kugeln bekannter Größenvarianz /ISO 12103-1, ISO 11171/. Die
Verwendung der Teststäube ist jedoch nicht geeignet, da zur Überprüfung des
entwickelten Verfahrens Partikel bis zu mehreren 100 μm Größe klassifiziert werden
müssen. Der Teststaub mit den größten Partikeln (ISO CTD – Coarse Test Dust) besteht
hingegen aus Staub einer definierten Größenverteilung bis lediglich maximal 150 μm.
Latexpartikel sind zwar bis zu einer Größe von etwa 300 μm erhältlich, allerdings sind
diese Partikel ideal rund und repräsentieren nicht die in der Fertigung der Automobil-
industrie vorkommenden Partikelformen (s. Abbildung 7-1). Darüber hinaus decken diese
Kalibrierpartikel nur einen geringen Teil der zu betrachtenden Materialien ab.
 a) b)

Abbildung 7-1: REM-EDX Aufnahmen käuflich erhältlicher Kalibrierpartikel

a) polydisperser Medium-Test-Dust (MTD) nach ISO 12103-1
b) monodisperse Latexpartikel der Größe 1,6 μm /BS 2009/

Um möglichst praxisnahe Testbedingungen zu generieren, müssen daher für die

Testreihen Partikelproben entsprechend ihrer Entstehung bzw. Herkunft in der
Automobilindustrie hergestellt oder dort entnommen werden.

Repräsentative Metall- und Kunststoffpartikel wurden durch mechanisches Bearbeiten

(Feilen, Fräsen und Drehen) von sauberkeitskritischen Automobilkomponenten erzeugt.
Typische Mineralien und Keramiken wurden von Anwendern von Strahl-, Polier- und
Läpp-Prozessen, Herstellern von Schleif- und Honwerkzeugen sowie von Gießereien zur
Verfügung gestellt. Organische Fasern und Partikel wurden aus Kleidungsstücken und
von Testpersonen entnommen sowie durch Kartonageabrieb hergestellt.

Diese Vorgehensweise soll gewährleisten, dass die Testexperimente so praxisnah wie

möglich durchgeführt werden. Tabelle 7-1 listet die erzeugten Partikelproben und Fasern
entsprechend ihrer zugehörigen Materialklasse auf.

Materialklasse Partikelmaterial Partikelgrößenbereich

#1 Edelstahl, unlegierter Stahl, Messing, Aluminium, Kupfer

Normalkorund weiß, Normalkorund braun, Halbedelkorund,

Edelkorund, Rubinkorund, AlZrO2,
#2 wenige μm bis mehrere
SiC grün, SiC schwarz, SiC grau, diverse keramische Schleif-
und Polierpartikel, Gusssand, Diamant, CBN 100 μm Größe

Schafwolle, Baumwolle, Seide, Polyester, Polyacryl,

#3 menschliche Haare, PE, PP, PVC, PMMA, PPSU, PS, PC,
Zellulose, Holz

Tabelle 7-1: Liste der ausgewählten Partikelsorten für Testversuche

7.2.2 Erstellung von Testanalysefiltern

Zur Erstellung der Testanalysefilter werden die Partikel im trockenen Zustand

entsprechend dem gewünschten Größen- bzw. Sortenverhältnis einem Erlenmeierkolben
zugegeben. Anschließend wird der Erlenmeierkolben mit einem Wasser-/Alkoholgemisch
im Verhältnis 2:3 aufgefüllt. Um unerwünschte Partikelkolloide zu zerschlagen, wird der
Kolben in ein Ultraschallbecken eingetaucht und das Flüssigkeits-/Partikelgemisch durch
Behandlung mit einem Vortex-Rüttler suspendiert.

108
Über einen Filtrationsschritt werden die Partikel von der Flüssigkeit auf das Analysefilter
übertragen. Das Filter wird hierzu in eine Nutsche eingespannt und die Flüssigkeit über
Vakuum durch die Poren der Membran gesaugt. Partikel, welche größer als die
Porengröße sind, bleiben dabei auf der Membran zurück. Nach Beendigung des
Filtrationsschritts wird die Membran im Ofen getrocknet und in Petrischalen verpackt.

Um eine Einzelpartikeldetektion gewährleisten zu können, müssen die Partikel vereinzelt

auf der Filtermembran vorliegen. Überlappen sich die Partikel, können sie nicht mehr
selektiv erfasst, vermessen und klassifiziert werden. Um dies zu verhindern, darf die
Gesamtpartikelmenge einen bestimmten Wert nicht überschreiten. In Vorversuchen hat
sich gezeigt, dass eine maximale Gesamtmasse von 1 mg für mineralische und metallische
Partikel praktikabel ist. Organische Partikel dürfen eine Gesamtmasse von 0,5 mg pro
Filtermembran nicht überschreiten. Die Partikelmenge wird jeweils vor der Suspendierung
mit einer Mikrowaage abgewogen.

7.3 Experimente und Ergebnisse

7.3.1 Ablauf des Testprogrammes

Entsprechend der einzelnen Messabschnitte aus Abbildung 6-11 unterteilen sich die
Untersuchungen wie folgt in drei voneinander unabhängige Experimente:

x Überprüfung der Größen- und Anzahlbestimmung nach VDA-Band 19 anhand von

Grauwertbildern mit VIS-Beleuchtung (Kapitel 7.3.2)

An Testmembranen mit Partikeln bekannter Größenfraktionen derselben Partikelsorte

wird zunächst die Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl überprüft. Die
Partikelwerte pro Größenklasse werden ermittelt und mit den vorgegebenen Größen
verglichen. Zusätzlich erfolgen Vergleichsmessungen mit einem etablierten Messsystem
zur Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl auf Analysefiltern.

x Test der Differenzierung lumineszierender und nicht lumineszierender Partikel

anhand von Grauwertbildern mit UV-Beleuchtung (Kapitel 7.3.3)

Für die Tests zur Differenzierung der lumineszierenden und nicht lumineszierenden
Partikel wird die Partikelgröße und -anzahl mit reinen Partikelsorten bei VIS und UV-
Beleuchtung bestimmt. Die Bewertung der Selektierung der lumineszierenden und nicht
lumineszierenden Partikel erfolgt anhand des Vergleichs der Partikelwerte.

x Verifizierung der Zuordnung der lumineszierenden Partikel zur jeweils korrekten

Materialklasse anhand charakteristischer Spektren-Kennwerte (Kapitel 7.3.4)

Zur Verifizierung der Zuordnung der lumineszierenden Partikel werden auf den zuvor
hergestellten Testanalysefiltern willkürlich Partikel angefahren und deren Lumineszenz-
spektren ermittelt. Anhand der Spektren-Kennwerte werden diese Partikel der jeweiligen
Materialklasse zugewiesen und mit der tatsächlichen Materialklasse verglichen.

109
7.3.2 Überprüfung der Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl

x Überprüfung der Partikelgrößenverteilung

SiC-Partikel werden zur Herstellung von Schleifwerkzeugen eingesetzt und sind in sog.
FEPA F Mesh-Korngrößen erhältlich. Diese Kennzahl beschreibt die Anzahl der Maschen
eines Siebgitters pro Zoll (2,54 cm), mit dem die Partikel fraktioniert wurden /FEPA 2006/.
Je größer die Kennzahl, desto feiner die Maschen und dementsprechend die Korngröße.

Zur Überprüfung der Partikelgrößenbestimmung wird jeweils ein Analysefilter mit SiC-
Partikeln einer Korngrößen entsprechend Tabelle 7-2 kontaminiert.

Filternummer Partikelmaterial Mesh (FEPA F) mittlere Korngröße [μm]

#1 SiC grau F800 6,5
#2 SiC grau F230 53
#3 SiC grau F60 260

Tabelle 7-2: Material und Korngröße für die Tests zur Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl

Nach der Filterherstellung wird die Partikelgröße und -anzahl mit dem Versuchsaufbau
ermittelt und mit den tatsächlichen Korngrößen entsprechend FEPA F verglichen.

100
90
80
[%] SiC F800
70 SiC F230
relativer Anteil

60 SiC F60
50
40
30
20
10
0
5 bis 15 bis 25 bis 50 bis 100 bis 150 bis 200 bis 400 bis 600 bis
[μm]
15 25 50 100 150 200 400 600 1000
Partikelgröße

Abbildung 7-2: Gemessene Partikelgrößenverteilung der mit SiC kontaminierten Filter mit dem Versuchsaufbau

Wie aus Abbildung 7-2 ersichtlich, werden die Partikel der F800 Fraktion (6,5 μm) fast
ausschließlich der angegebenen Korngröße zugeordnet. 90 % der detektierten und analy-
sierten Partikel befinden sich im Größenbereich 5 – 15 μm. Die Zählergebnisse in der
Größenklasse 15 – 25 μm können aus Überlagerung einzelner Partikel auf dem
Analysefilter herrühren (Koinzidenz).

Die Partikel der F230 Fraktion (53 μm) wurden lediglich zu knapp 50 % in die richtige
Größenklasse eingruppiert. Etwa 1/3 wurde der Klasse 25 – 50 μm zugeordnet. Da die

110
mittlere Größe dieser Partikel jedoch nahe der Größenklassengrenze von 50 μm liegt und
die verwendeten Schleifpartikel eine natürliche Streuung um den angegebenen Wert
aufweisen, wird diese Einteilung ebenfalls als korrekt betrachtet. Somit werden ca. 80 %
der Partikel der richtigen Größenklasse zugewiesen. Die Werte in den kleineren Klassen
(s. Abbildung 7-2) lassen vermuten, dass die verwendete SiC-Partikelfraktion
Verunreinigungen kleiner Partikel aufweist. Die wenigen Zählergebnisse in der größeren
Klasse weisen dahingegen auf eine mögliche Partikelüberlagerung hin.

Die Partikel der F60 Fraktion (260 μm) werden nur teilweise in die richtige Größenklasse
eingruppiert (< 20 %). Auffallend ist, dass sich über 50 % der detektierten Partikel in der
Größenklasse 5 -15 μm befinden. Diese Fehlklassifizierung kann weder durch zufällige
noch durch systematische Fehler erklärt werden. Um zu überprüfen, ob diese Werte
durch Verunreinigungen mit kleineren Partikeln herrühren können, wurde eine REM-
Aufnahme eines Partikels dieser Fraktion durchgeführt. Diese ergab, dass die F60 Partikel
eine Vielzahl an kleinen Partikeln auf deren Oberflächen aufweisen (s. Abbildung 7-3).
Durch die Suspendierung und Beaufschlagung mit Ultraschall werden diese
Verunreinigungen abgelöst und als einzelne Partikel mit auf die Membran übertragen.

Primärkorn
(ca. 260 μm)

Begleit-
verunreinigung
(ca. 10 μm)

Abbildung 7-3: REM Aufnahme eines SiC Partikel der Korngröße F60 μm

Aufgrund dieser Tatsache können keine Aussagen zur Klassifizierungsgenauigkeit unter

Verwendung dieser Partikelgrößenfraktion gemacht werden. Da zu erwarten ist, dass
größere Partikelfraktionen ebenfalls kleinere Fremdpartikel aufweisen, wird die
Versuchsreihe nicht weiter durchgeführt.

Um eine zusätzliche Beurteilung der Größen- und Anzahlbestimmung der Partikel mit
dem Versuchsaufbau durchführen zu können, werden Vergleichsanalysen mit einem
etablierten Filterauszählmikroskop durchgeführt. Hierzu wird ein Stereomikroskop SZX9
der Fa. Olympus mit der Partikelanalysesoftware PicEd Cora der Fa. Jomesa eingesetzt.
Dieses Messgerät ist speziell für die Anwendung entwickelt worden, die Größe und
Anzahl von Partikeln auf Analysefiltern zum Zwecke der Bauteilsauberkeitsprüfung nach
VDA-Band 19 zu analysieren und stellt den derzeitigen Stand der Technik dar.

Verwendet wird ein Testanalysefilter, welches mit Partikeln der Körnung F800 und F230
kontaminiert wurde. Auf die Verwendung der Körnung F60 wurde aufgrund der hohen
Begleitverunreinigung verzichtet. Die Partikel auf dem Testanalysefilter werden zunächst

111
mit dem Versuchsaufbau bestimmt. Danach werden die Partikel für die Vergleichs-
messung von der Polycarbonatmembran in den Erlenmeierkolben zurück gespült, über
eine Zellulosenitratmembran abfiltriert und mit dem Vergleichssystem analysiert.

Die mit dem Versuchsaufbau und mit dem Vergleichssystem ermittelte Partikelgrößen-
verteilungen sind in Abbildung 7-4 gegenübergestellt. Grundsätzlich ist zu erkennen,
dass die beiden Messergebnisse eine ähnliche Größenverteilung aufweisen, vor allem
unter Berücksichtigung, dass eine Veränderung der Probe – z. B. durch Partikelverlust bei
der Umpräparation – nicht ausgeschlossen werden kann. Des Weiteren ist deutlich
ersichtlich, dass mit dem Versuchsaufbau in den Größenklassen 5 – 15 μm sowie
50 – 100 μm, welche den vorgegebenen Korngrößen entsprechen, mehr Partikel erfasst
wurden als mit dem Vergleichssystem. Dies lässt darauf schließen, dass die Bestimmung
der Partikelgröße und -anzahl mit dem Versuchsaufbau in diesen Partikelgrößenklassen
sogar genauer ist als mit dem Vergleichssystem.

40
35 Ergebnis mit dem
Versuchsaufbau
30
[%]
Ergebnis mit dem
25 Vergleichssystem
relativer Anteil

20
15
10
5
0
5 bis [μm]
15 bis 25 bis 50 bis 100 bis 150 bis 200 bis 400 bis 600 bis
15 25 50 100 150 200 400 600 1000
Partikelgröße
Abbildung 7-4: Vergleich der Partikelwerte pro Größenklasse des Jomesa-Systems mit dem Versuchsaufbau

x Überprüfung Reproduzierbarkeit

Die Bestimmung der Partikelgrößenverteilung wird entsprechend VDA-Band 19 als

normkonform angesehen, wenn die gemessenen Partikelwerte höchstens 10 % vom
realen Wert abweichen. Dies setzt voraus, dass weder eine relevante systematische
Abweichung, noch eine zufällige Streuung der Messwerte vom realen Wert vorliegt.
Anhand der vorherigen Versuche konnte nachgewiesen werden, dass die Messwerte den
vorgegebenen Partikelgrößen entsprechen und somit kein systematischer Messfehler
vorliegt. Im weiteren Schritt wird die zufällige Streuung ermittelt. Diese muss unter 10 %
liegen, damit eine normkonforme Messung vorliegt.

Zur Überprüfung der Streuung bzw. der Reproduzierbarkeit der Ergebnisse wird eine
Membran mit SiC-Partikeln kontaminiert und die Partikelgröße und -anzahl zehn Mal
nacheinander analysiert. Anhand dieser Messungen wird der 95 %-Vertrauensbereich
ermittelt, ausgehend von der Student-t Verteilung. Ist die zufällige Streuung mit einer
Wahrscheinlichkeit von 95% kleiner als 10%, so kann diese vernachlässigt werden.

112
 Partikelgrößenklasse [μm]
Messung 5– 15 – 25 – 50 – 100 – 150 – 200 – 400 – 600 –
15 25 50 100 150 200 400 600 100 > 1000

#1 1061 2789 3903 800 210 131 15 4 0 0

#2 1065 2815 3934 785 206 128 15 4 0 0
#3 1093 2794 3932 785 203 128 15 4 0 0
#4 1071 2791 3932 796 200 127 15 4 0 0
#5 1056 2790 3952 788 197 129 15 4 0 0
#6 1070 2774 3951 795 199 125 15 4 0 0
#7 1078 2793 3948 790 198 126 15 4 0 0
#8 1057 2808 3947 789 203 124 15 4 0 0
#9 1083 2805 3934 794 199 125 15 4 0 0
#10 1006 2650 3850 817 221 138 16 4 0 0

Tabelle 7-3: Partikelwerte pro Größenklassen der zehn Wiederholungsmessungen

Anhand der zehn Wiederholungsmessungen (n = 10) wird für jede Partikelklasse der
Mittelwert x und darauf aufbauen die Varianz s² und Standardabweichung s berechnet:

1 n
s2 ¦ ( x  xi ) 2 Formel 7-1
n 1 i 1
Der obere (xO) und untere (xU) Vertrauensbereich ergeben sich zu:

D s Formel 7-2
xO / U x r t (1  )
2 n

mit t (1  D 2) als dem Stundent-t Quantil und der erlaubten Abweichung D von 5%. Das
Stundent-t Quantil beträgt bei einem D =5% und 10 Wiederholungsmessungen 2,228.

Partikelgrößenklasse [μm]
Statistische 5– 15 – 25 – 50 – 100 – 150 – 200 – 400 – 600 –
> 1000
Kenngröße 15 25 50 100 150 200 400 600 100

x 1064 2780 3931 793 203 128 15,1 4 0 0

s² 552 2249 973 90 54 17 0,1 0 0 0

s 24 47 31 10 7 4 0,3 0 0 0

xo 1081 2814 3954 800 208 131 15,3 x x x

xu 1047 2746 3909 786 198 125 14,9 x x x

Tabelle 7-4: Statistische Kennwerte pro Größenklassen, berechnet anhand der zehn Wiederholungsmessungen

Die aus den Messwerten berechneten statistischen Kenngrößen für jede Größenklasse
sind in Tabelle 7-4 aufgelistet. Von besonderem Interesse sind der obere (xO) und untere
(xU) Vertrauensbereich, da diese Kenngrößen angeben, in welchem Bereich die
Messwerte mit einer Wahrscheinlichkeit von 95% maximal streuen.

113
Die Grenzen des 95 %-Vertrauensbereichs weichen für die Partikelgrößenklassen
< 200 μm maximal um 2 – 3 % vom Mittelwert ab. Bei der Größenklasse 200 – 400 μm ist
die Abweichung ebenfalls vernachlässigbar (< 2 %). Da in der Größenklasse 400 –600 μm
weniger als 10 Partikel detektiert wurden, kann für diese Klasse keine statistisch sinnvolle
Berechnung durchgeführt werden.

Fazit Bestimmung Partikelgröße und -anzahl: Anhand der Versuche mit definierten
Korngrößen und den Vergleichsmessungen mit einem etablierten Partikelanalysesystem
konnte nachgewiesen werden, dass keine systematische Abweichung zwischen realem
und tatsächlich bestimmtem Messwert vorliegt. Anhand der Wiederholungsmessungen
konnte zudem gezeigt werden, dass die zufällige Messwertabweichung mit einer
Wahrscheinlichkeit von 95 % höchstens 3 % beträgt. Die Bestimmung der Partikelgröße
und -anzahl mit dem Versuchsaufbau ist somit als normkonform zu betrachten.

7.3.3 Überprüfung der Differenzierung lumineszierender und nicht

lumineszierender Partikel

Zur Überprüfung der Vorselektierung der lumineszierenden (Materialklassen #2 und #3)

und nicht lumineszierenden Partikel (Materialklasse #1), wird nochmals der in Kapitel
7.3.2 beschriebene Analyseablauf durchgeführt. Zusätzlich zur Bestimmung der Größe
und Anzahl der Partikel mit VIS-Beleuchtung wird dieser Schritt an jedem Testanalysefilter
mit UV-Beleuchtung wiederholt. Eine Gegenüberstellung der erfassten Partikelanzahl mit
VIS-Beleuchtung und der erfassten Partikelanzahl mit UV-Beleuchtung macht deutlich, ob
es sich um lumineszierende oder nicht lumineszierende Partikel handelt. In den Abbildung
7-5 bis Abbildung 7-7 ist die optische Differenzierung lumineszierender und nicht
lumineszierender Partikel für je ein Beispiel pro Materialklasse (keramische Polierpartikel,
Seidepartikel und Edelstahlpartikel) anhand des Vergleichs der Partikelerfassung mit VIS-
Beleuchtung und UV-Beleuchtung dargestellt. In der linken Spalte ist das Grauwertbild zu
sehen, in der rechten Spalte das erzeugte Binärbild.

Die keramischen Partikel (Materialklasse #2) in Abbildung 7-5 werden sowohl mit VIS-,
als auch mit UV-Beleuchtung ausreichend hell auf dem CCD-Sensor abgebildet, um nach
der Binarisierung mit den Schwellenwerten entsprechend Kapitel 6.1.2 erfasst zu werden.
Es werden somit bei beiden Beleuchtungsarten jeweils vier Partikel detektiert.

Die Aufnahmen mit den Seidepartikeln (Materialklasse #3) in Abbildung 7-6 zeigen,
dass es sich auch hier um lumineszierende Partikel handelt. Mit beiden Beleuchtungsarten
werden zwei Partikel detektiert. Da dieses Material sehr stark lumineszenzaktiv ist,
werden die Seidepartikel bei UV-Beleuchtung größer auf dem Sensor abgebildet als mit
VIS-Beleuchtung. Da die Partikelabbildung bei UV-Beleuchtung lediglich der Erfassung
und Lokalisierung lumineszierender Partikel dient und nicht der Bestimmung der
Partikelgröße, ist diese überstrahlte Abbildung nicht relevant.

Die Edelstahlpartikel (Materialklasse #1) in Abbildung 7-7 lumineszieren hingegen nicht

und können bei UV-Beleuchtung nicht erfasst werden. Mit VIS-Beleuchtung hingegen
werden zwei Partikel detektiert.

114
 VIS-Bildaufnahme mit Belichtungszeit t = 1 s Binarisiertes Bild mit Binärschwelle 60

UV-Bildaufnahme mit Belichtungszeit t = 5 s Binarisiertes Bild mit Binärschwelle 22

Abbildung 7-5: Bildaufnahme und Binärbild zur Analyse der Größe und Anzahl von keramischen Partikeln
(Materialklasse #2) mit unterschiedlichen Beleuchtungsarten

VIS-Bildaufnahme mit Belichtungszeit t = 1 s Binarisiertes Bild mit Binärschwelle 60

UV-Bildaufnahme mit Belichtungszeit t = 5 s Binarisiertes Bild mit Binärschwelle 22

Abbildung 7-6: Bildaufnahme und Binärbild zur Analyse der Größe und Anzahl von Seidepartikel (Materialklasse #3)
mit unterschiedlichen Beleuchtungsarten

115
 VIS-Bildaufnahme mit Belichtungszeit t = 1 s Binarisiertes Bild mit Binärschwelle 60

UV-Bildaufnahme mit Belichtungszeit t = 5 s Binarisiertes Bild mit Binärschwelle 22

Abbildung 7-7: Bildaufnahme und Binärbild zur Analyse der Größe und Anzahl von Edelstahl (Materialklasse #1) mit
unterschiedlichen Beleuchtungsarten

In Abbildung 7-8 sind die erfassten Partikelwerte der drei Materialien bei VIS- und UV-
Beleuchtung nach Scannen der gesamten Filtermembran in Form von Balkendiagrammen
dargestellt. Da kleinere Partikel nicht anhand ihres Materials klassifiziert werden müssen,
beginnen die Diagramme bei einer Größe von 50μm.

Zur Beurteilung der Eignung der Lumineszenzbildaufnahmen zur Selektierung der

lumineszierenden und nicht lumineszierenden Partikel, müssen die Partikelwerte der
jeweiligen Materialien bei VIS- und UV-Beleuchtung miteinander verglichen werden. Die
Partikelwerte der Materialklassen #2 und #3 müssen bei VIS-Beleuchtung den Werten bei
UV-Beleuchtung entsprechen. Da Partikel je nach Lumineszenzintensität bei Anregung
mit UV-Licht jedoch auch kleiner oder größer auf dem Sensor abgebildet werden als mit
VIS-Beleuchtung (s. Abbildung 7-6), gibt der nominale Vergleich der Partikelwerte pro
Größenklasse lediglich einen ersten Anhaltspunkt über deren Lumineszenzverhalten.
Zusätzlich ist der Vergleich der Summe der Partikel aller Größenklassen je Material mit
VIS- und UV-Beleuchtung von Bedeutung.

Die Werte bei Untersuchung der keramischen Partikel (s. Abbildung 7-8 a) ergeben,
dass diese Partikel gesichert lumineszieren und anhand von Lumineszenzbildern erfasst
werden können. Abgesehen von der Größenklasse 50 - 100 μm stimmen die Partikelwerte
der detektierten Partikel bei VIS- und UV-Beleuchtung nominal sehr gut überein. Die
hohen Partikelwerte zwischen 50 und 100 μm deuten darauf hin, dass kleinere Partikel
stark lumineszieren und daher größer abgebildet werden als bei VIS-Beleuchtung.

116
 50 a)
VIS-Beleuchtung
40
UV-Beleuchtung
Partikelanzahl 30

20

10

0
50 bis 100 100 bis 150 bis 200 bis 400 bis
[μm] 600 bis
150 200 400 600 1000
Partikelgröße
35 b)
30 VIS-Beleuchtung

25 UV-Beleuchtung
Partikelanzahl

20

15

10

0
50 bis 100 100 bis 150 bis 200 bis [μm]
400 bis 600 bis
150 200 400 600 1000
Partikelgröße
40 c)
35 VIS-Beleuchtung
30 UV-Beleuchtung
25
Partikelanzahl

20
15
10
5
0
50 bis 100 100 bis 150 bis 200 bis [μmbis
400 ] 600 bis
150 200 400 600 1000
Partikelgröße
Abbildung 7-8: Detektierte Partikel mit VIS- und UV-Beleuchtung in Abhängigkeit der Partikelgröße
a) Keramikpartikel (Materialklasse #2)
b) Seidepartikel (Materialklasse #3)
c) Edelstahlpartikel (Materialklasse #1)

117
Die Partikel aus Seide werden ebenfalls gesichert über die Lumineszenzbildaufnahme
erfasst und so den lumineszierenden Materialklassen zugeordnet (s. Abbildung 7-8 b).
Die starke Lumineszenz dieses Materials ist daran zu erkennen, dass die Partikel deutlich
größer abgebildet als es deren tatsächlicher Größe entspricht. Da dies auch für Partikel
< 50 μm zutrifft, werden mit UV-Beleuchtung somit insgesamt mehr Partikel detektiert
als mit VIS-Beleuchtung.

Bei der Untersuchung der Partikel aus Edelstahl (s. Abbildung 7-8 c) wurden, mit
Ausnahme der kleinsten Größenklasse von 50-100 μm, keine Partikel bei UV-Beleuchtung
gefunden. Daraus leitet sich ab, dass diese Partikel über die Lumineszenzbildaufnahme
eindeutig der Materialklasse #1 zugeordnet werden. Da ausschließlich kleine
lumineszierende Partikel detektiert wurden, ist zu vermuten, dass es sich um
Verunreinigungen von Partikeln anderer Materialien handelt, welche bei der Herstellung
und Handhabung der Probe (z.B. Feilen und Filtration) erzeugt oder eingetragen wurden.

In Tabelle 7-5 bis Tabelle 7-7 sind die gemessenen Partikelwerte mit VIS- und UV-
Beleuchtung der weiteren relevanten Partikelsorten getrennt nach Materialklassen
aufgelistet. Dargestellt sind jeweils die nominalen Partikelwerte je Größenklasse ab 50 μm
sowie die gesamte erfasste Partikelanzahl.

Partikelgrößenklasse [μm]

100 – 150 – 200 – 400 – 600 –

Material Licht 50 – 100 > 1000 6
150 200 400 600 1000
VIS 11 22 22 37 2 0 0 94
Edelstahl
UV 10 0 0 0 0 0 0 10

VIS 238 151 103 228 69 15 0 804

Messing
UV 47 8 2 0 0 0 0 57
VIS 2 7 9 25 1 0 0 44
Aluminium
UV 7 0 0 0 0 0 0 7

VIS 27 58 70 38 2 0 0 195
Kupfer
UV 5 0 0 0 0 0 0 5

Tabelle 7-5: Messwerte der Materialklasse #1, gemessen mit VIS- und UV-Beleuchtung

Anhand Tabelle 7-5 ist deutlich zu erkennen, dass auch die weiteren untersuchten
Partikel der Materialklasse #1 keine Lumineszenz aufweisen. Es werden zwar
lumineszierende Partikel im Größenbereich 50 - 100 μm und vereinzelt auch größere
Partikel erfasst (bei Messing), im Gegensatz zu den absoluten Werten sind diese jedoch
sehr gering. Darüber hinaus ist zu vermuten, dass es sich dabei um Verunreinigungen
handelt, welche bei der Partikelherstellung und anschließender manueller Präparation der
Testanalysefilter mit eingebracht wurden.

Sämtliche untersuchten Partikel der Materialklasse #3 weisen hingegen eine intensive

Lumineszenz auf (s. Tabelle 7-6). Dies ist an den teilweise deutlich höheren Partikelwerten
pro Größenklasse bei UV-Beleuchtungen gegenüber VIS-Beleuchtung abzuleiten.

118
Beispiele für eine extreme Lumineszenzintensität der untersuchten Materialien sind neben
Seide Polyamid und Baumwolle. Auch die Summe aller mit UV-Beleuchtung erfassten
Partikel pro Material stimmt entweder mit der Anzahl bei VIS-Beleuchtung überein oder
übersteigt diese. Einzige Ausnahme ist Holz.

Partikelgrößenklasse [μm]

100 – 150 – 200 – 400 – 600 –

Material Licht 50 – 100 > 1000 6
150 200 400 600 1000
VIS 16 9 9 30 1 0 0 65
Schafwolle
UV 46 14 8 42 4 0 0 114
VIS 11 23 16 13 0 0 0 63
Baumwolle
UV 25 16 9 30 5 0 0 85
VIS 23 30 20 8 0 0 0 81
Seide
UV 29 22 30 23 0 0 0 104
VIS 15 12 20 28 0 0 0 75
Polyester
UV 13 6 3 13 16 21 0 72

menschl. VIS 22 2 5 1 0 0 0 30
Haare UV 14 8 5 4 0 0 0 31
VIS 6 1 4 15 13 4 0 43
PS
UV 11 0 5 16 9 4 0 45
VIS 19 19 27 38 0 0 0 103
PA
UV 41 36 35 70 2 0 0 184
VIS 27 9 7 39 30 29 0 141
PVC
UV 43 9 10 38 29 36 0 165
VIS 10 12 12 74 36 7 0 151
PE-LD
UV 25 21 12 71 30 4 0 163
VIS 41 26 15 52 30 1 0 165
PPSU
UV 42 12 12 40 41 9 0 156
VIS 8 3 2 12 8 2 0 35
PC
UV 14 6 3 9 11 2 0 45
VIS 316 156 44 83 31 10 0 640
Holz
UV 252 60 22 40 36 18 0 428
VIS 17 5 4 13 6 9 0 54
Kartonage
UV 27 3 6 12 9 12 0 69

Tabelle 7-6: Messwerte der Materialklasse #3, gemessen mit VIS- und UV-Beleuchtung

Der Vergleich der Werte der Partikel der Materialklasse #2 bei UV- und VIS-Beleuchtung
zeigt, dass auch diese Materialien eindeutig lumineszieren (s. Tabelle 7-7). Allerdings ist
die Lumineszenzintensität, mit Ausnahme des Rubinkorunds, etwas geringer als bei den
organischen Materialien. Wird die Summe der Partikel über alle Klassen pro Material
betrachtet, stimmen die Werte mehrheitlich überein.

119
Geringere Partikelwerte (50 bis 60 % gegenüber VIS-Beleuchtung) sind bei SiC grün,
AlZrO2 und dem Edelkorund zu erkennen. Wobei davon ausgegangen werden kann, dass
einige Partikel aus diesen Materialien aufgrund einer geringen Lumineszenzintensität bei
UV-Beleuchtung zwar erfasst, aber zu den Größenklassen < 50 μm gezählt werden. Diese
Partikel werden trotzdem richtig den lumineszierenden Materialien zugeordnet.

Partikelgrößenklasse [μm]

100 – 150 – 200 – 400 – 600 –

Material Licht 50 – 100 > 1000 6
150 200 400 600 1000
VIS 10 6 4 1 30 6 0 57
Keramik #1
UV 20 8 2 1 31 6 0 68
VIS 30 29 34 44 2 0 0 139
Keramik #2
UV 46 28 36 39 4 0 0 153
VIS 63 155 33 61 3 0 0 315
Keramik #3
UV 138 107 31 53 2 0 0 331

Normalko- VIS 13 8 7 32 13 0 0 73
rund braun UV 12 7 9 23 6 1 0 58

Halbedel- VIS 32 47 58 122 6 0 0 265

Korund UV 60 58 54 69 3 0 0 244
VIS 252 179 132 267 76 32 0 938
Edelkorund
UV 107 84 108 217 59 30 0 605

Rubin- VIS 141 128 115 94 7 0 0 485

korund UV 120 76 70 65 48 37 0 416
VIS 166 139 105 399 56 3 0 868
AlZrO2
UV 73 60 82 229 32 2 0 478
VIS 17 12 9 14 33 2 0 87
SiC grün
UV 5 5 7 31 0 0 0 48
VIS 104 23 5 2 1 0 0 135
SiC grau
UV 123 19 3 3 0 0 0 148
VIS 28 27 71 21 0 0 0 147
CBN
UV 13 3 0 3 3 1 0 23
VIS 34 61 159 171 8 0 0 433
Diamant
UV 13 10 1 2 0 0 0 26
VIS 72 20 14 113 43 5 0 267
Gusssand
UV 304 28 14 78 48 21 0 493

Tabelle 7-7: Messwerte der Materialklasse #2, gemessen mit VIS- und UV-Beleuchtung

Sehr gering lumineszierende Ausnahmen der Klasse #2 bilden die Diamant- und CBN-
Partikel. Bei diesen Materialien ist die Lumineszenzintensität so gering, dass mit UV-
Beleuchtung lediglich 5 bzw. 20 % der tatsächlich vorhandenen Partikel >50 μm zu finden
sind. Auch wenn einige Partikel mit UV-Beleuchtung kleiner abgebildet werden und in

120
den Klassen < 50 μm aufgeführt sind, werden sicher einige CBN- und Diamant-Partikel
fälschlicherweise der Materialklasse #1 (Metalle) zugeordnet. Eine Erklärung für die
geringe Lumineszenzintensität kann sein, dass es sich bei Diamant und CBN um Partikel
für besonders anspruchsvolle Anwendungen handelt, welche aufwändig hergestellt
werden. CBN und Diamant müssen spezielle Eigenschaften aufweisen, z.B. extreme Härte
und Beständigkeit, was eine hohe Reinheit – und somit fehlende Fremdatome – bedingt.
Dadurch findet keine Lumineszenzaktivierung zwischen Valenz- und Leitungsband statt.

Fazit Differenzierung lumineszierender und nicht lumineszierender Partikel: Der

Vergleich der Partikelabbildung zwischen Beleuchtung mit VIS- und UV-Beleuchtung
zeigt, dass Partikel der Materialklassen #2 und #3 über deren Lumineszenz erfasst
werden können. Auch wenn die Abbildung bei UV-Beleuchtung nicht der realen Größe
der Partikel entspricht, kann durch die Binarisierung die Position lumineszierender Partikel
bestimmt werden. Dahingegen werden die Partikel der Materialklasse #1 optisch
ausgeblendet, wodurch diese effektiv selektiert werden.

Nur bedingt anwendbar ist diese Methode zur Materialklassifizierung von CBN- und
Diamant-Partikeln. Ein Großteil der untersuchten Partikel konnte nicht von den Metallen
selektiert werden. Diese Partikel werden zur Oberflächenbearbeitung von Bauteilen in
mechanischen Funktionssystemen eingesetzt, etwa Honen von Zylinderlaufflächen. Da bei
diesen Anwendungen jedoch lediglich die mechanischen Materialeigenschaften der
Partikel relevant sind, ergibt die falsche Zuordnung von CBN und Diamant zu den
Metallen trotzdem eine richtige Aussage bezüglich ihres Schädigungspotenzials.

7.3.4 Überprüfung der Materialklassifizierung mittels Lumineszenzspektren

Zur Überprüfung der Zuordnung der Partikel in die entsprechenden Materialklassen über
die Lumineszenzspektren, werden von jedem der Partikelmaterialien aus Tabelle 7-1
Lumineszenzspektren erstellt. Die Materialklassifizierung erfolgt anschließend über die
zugehörigen Spektren-Kennwerte maximaler Intensitätswert I, zentrale Wellenlänge ZWL,
Halbwertsbreite HBW und Banden-Symmetrie SHWB, indem die ermittelten Kennwerte mit
den festgelegten Kennwertbereichen entsprechend Tabelle 6-3 verglichen werden.

x Absoluter Intensitätswert

Die Betrachtung des absoluten Intensitätswerts der Spektren dient der weiteren
Selektierung der lumineszierenden und nicht lumineszierenden Materialien für den Fall,
dass bei der Vorselektion über die Grauwertbildaufnahmen mit UV-Beleuchtung ein
Metallpartikel falsch klassifiziert wurde. Dies kann etwa dadurch eintreten, dass ein stark
lumineszierendes organisches Partikel ein metallisches Partikel teilweise überstrahlt. Da
bei der Spektrenaufnahme das Lumineszenzlicht über eine Blende nur von einem kleinen
Bereich aufgenommen wird, trifft nun kein Lumineszenzlicht des benachbarten Partikels
in das Spektrometer und das Metallpartikel wird korrekt nachklassifiziert.

Abbildung 7-9 zeigt den maximalen Intensitätswert der Lumineszenzspektren in

Abhängigkeit des Materials. Als Grenzwert gilt nach Abzug des Grundrauschens der
Intensitätswert 500. Materialien mit Spektren, deren Peaks vor der Normierung keine

121
Intensitätswerte > 500 aufweisen, werden den Metallen zugeordnet, alle anderen
Materialien den lumineszierenden Materialklassen #2 und #3.

100000

Klasse #2 und #3
absoluter Intensitätswert I

10000

1000 Grenzwert

Klasse #1

100

PE-LD

Edelstahl
PC
PA
PVC

PPSU
Kartonage

Stahl
CBN

Gussand

Seide
AlZrO2
Keramik #1
Keramik #2
Keramik #3
Keramik #4

Messing
Schafwolle

PET
PP

PS
Holz

Haare Mensch

Polyester
Baumwolle
Diamant

Kupfer
Aluminium
Normalkorund
SiC grau
Rubinkorund
SiC schwarz

Edelkorund
SiC grün

Halbedelkorund

Abbildung 7-9: Differenzierung von lumineszierenden (Materialklasse #2 und #3) und nicht lumineszierenden
(Klasse #1) Materialien anhand der maximalen Intensitätswerte

Ergebnis: Die metallischen Partikel werden anhand des festgelegten Grenzwertes

eindeutig der Materialklasse #1 zugeordnet. Sämtliche organischen Polymere und Natur-
stoffe weisen hingegen ein eindeutiges Lumineszenzsignal auf, weshalb diese korrekt den
lumineszierenden Klassen zugewiesen werden. Gleiches gilt für die Keramiken und
Mineralien. Eine Ausnahme bildet wiederum das CBN, welches wie bei der Vorselektion
über Lumineszenz-Bilder zu den Metallen gruppiert wird. Der hier untersuchte Diamant
konnten hingegen den lumineszierenden Klassen zugewiesen werden.

x Zentrale Wellenlänge

Zur weiteren Differenzierung der lumineszierenden Partikel muss die zentrale Wellen-
länge ZWL der Lumineszenzbanden betrachtet werden. Pro Spektrum werden maximal
vier Banden betrachtet. Materialien mit ZWL von ausschließlich unterhalb 490 nm werden
in Materialklasse #3 eingruppiert, Materialien mit ZWL ausschließlich > 500 nm in
Materialklasse #2. Werden in einem Spektrum Banden mit ZWL im Übergangs- oder in
beiden Bereichen detektiert, so ist eine eindeutige Klassifizierung allein auf Grundlage
dieses Spektren-Kennwertes nicht möglich.

Anhand Abbildung 7-10 ist zu erkennen, dass sämtliche untersuchten organischen

Materialien nur eine oder maximal zwei Peaks mit ZWL < 490 nm aufweisen. Einzige
Ausnahmen bilden PC und PP, die Banden mit ZWL in beiden Kennwertbereichen zeigen.

122
Gleiches gilt für die vier keramischen Polierpartikel. Ansonsten werden sämtliche weiteren
keramischen und mineralischen Materialien eindeutig in Materialklasse #2 eingruppiert.

800

750 Klasse #2 zentrale Wellenlänge #1

[nm]
zentrale Wellenlänge #2
700
zentrale Wellenlänge ZWL

zentrale Wellenlänge #3
650 zentrale Wellenlänge #4

600

550 Grenzbereich

500

450 Klasse #3

400

Kartonage
Diamant

Baumwolle

Polyester
Gusssand
Holz
AlZrO2

Haare Mensch

PPSU
Schafwolle

PET
Seide

PP

PS
PVC
Keramik #1
Keramik #2
Keramik #3
Keramik #4

PE-LD
PC
PA
Normalkorund

Edelkorund
Rubinkorund

Halbedelkorund
SiC schwarz

SiC grau
SiC grün

Abbildung 7-10: Differenzierung von Partikeln der Materialklasse #2 und #3 anhand der zentralen Wellenlängen; die
schwarz umrandeten Materialien sind auf Grundlage der ZWL nicht eindeutig klassifizierbar

Ergebnis: Die Mehrheit der betrachteten Materialien wird anhand des Spektren-
Kennwerts ZWL der korrekten Materialklasse zugeordnet. Nicht eindeutig konnten die
keramischen Polierpartikel sowie PP und PC klassifiziert werden. Um diese Materialien zu
klassifizieren, müssen die weiteren Kennwerte HWB und SHWB herangezogen werden.

x Halbwertsbreite HWB und Symmetriewert SHWB

Spektren mit schmalen (HWB < 30 nm) und gleichzeitig symmetrischen (SHWB < 1,5) Banden
werden der Materialklasse #2 zugeordnet. Spektren, welche ausschließlich breite
(HWB > 40 nm) oder zu längeren Wellenlängen langsamer abnehmende Banden
aufweisen (SHWB <1,5), werden in Materialklasse #3 klassifiziert.

In Abbildung 7-11 und Abbildung 7-12 sind die Halbwertsbreiten HWB und Symmetrie-
werte SHWB der untersuchten Materialien dargestellt. Die keramischen Materialien, welche
über die ZWL nicht klassifiziert werden konnten, erfüllen die Kriterien zur Zuordnung in
Materialklasse #2. Die Spektren dieser Materialien weisen schmale Peaks auf, die
symmetrisch sind oder hin zu kürzeren Wellenlängen langsamer abnehmen. PC und PP,
welche ebenfalls nicht eindeutig über die ZWL klassifiziert werden konnten, zeigen
hingegen breite Banden mit HWB > 50 nm, die zu längeren Wellenlängen langsam
anfallen (SHWB >1,5). Diese werden somit korrekt der Materialklasse #3 zugeordnet.

123
Die keramischen und organischen Materialien, welche anhand der Halbwertsbreite und
des Symmetriewertes nicht klassifizierbar sind (z. B. SiC und Gussand), wurden bereits
über die ZWL der richtigen Materialklasse zugeordnet. Dies ist somit zu vernachlässigen.

300
Halbwertsbreite #1 Klasse #3
[nm]
250 Halbwertsbreite #2
Halbwertsbreite #3
200
Halbwertsbreite HWB

Halbwertsbreite #4

150

100
Grenzwert

50
Klasse #2
0

Baumwolle

Kartonage
Diamant

Schafwolle

PPSU
Seide

Polyester
Keramik #1
Keramik #2
Keramik #3
Keramik #4

PE-LD

PVC
Gusssand
Holz

PC
PA
AlZrO2

Haare Mensch
PET
PP

PS
Edelkorund
Normalkorund
Rubinkorund

Halbedelkorund
SiC schwarz
SiC grün
SiC grau

Abbildung 7-11: Differenzierung von Partikeln der Materialklasse #2 und #3 anhand der Halbwertsbreiten HWB

6
Symmetriewert #1 Klasse #3
5 Symmetriewert #2
Symmetriewert #3
Banden-Symmetriewert SHWB

4 Symmetriewert #4

3
Grenzwert
2

1
Klasse #2

0
Kartonage
Diamant

Baumwolle

Polyester
Holz
AlZrO2

Gusssand

Haare Mensch
Schafwolle

PET

PPSU
Seide

PP

PS
PVC
Keramik #1
Keramik #2
Keramik #3
Keramik #4

PE-LD
PC
PA
Normalkorund

Edelkorund
Halbedelkorund
Rubinkorund
SiC grau
SiC schwarz
SiC grün

Abbildung 7-12: Differenzierung von Partikeln der Materialklasse #2 und #3 anhand der Symmetriewerte SHWB

Ergebnis: Die Materialien, welche nicht eindeutig über die ZWL klassifiziert wurden,
konnten über die Halbwertsbreite und Bandensymmetrie korrekt nachklassifiziert werden.

124
Fazit Klassifizierung der lumineszierenden Materialien: Die Klassifizierung der
lumineszierenden Materialien anhand der erarbeiteten Kennwerte zentrale Wellenlänge
ZWL, Halbwertsbreite HWB und Symmetriewert SHWB ist möglich und konnte anhand der
untersuchten Materialien nachgewiesen werden. Darüber hinaus konnte gezeigt werden,
dass die Metalle über die absolute Intensität klassifiziert werden können. Ausnahme
bildet bei den hier untersuchten Partikeln wiederum das CBN, welches ein zu geringes
Lumineszenzsignal erzeugt und so den Metallen zugeordnet wird.

7.4 Bewertung der Partikelklassifizierung mit dem entwickelten Verfahren

Die Untersuchungsreihen mittels praxisrelevanter Partikelproben haben gezeigt, dass die

vollständige Klassifizierung von Partikeln anhand des entwickelten Verfahrens möglich ist.
Zusätzlich zur Größe und Anzahl der Partikel wird mit diesem Verfahren über das
Lumineszenzsignal die Materialklasse der Partikel bestimmt. Diese einfache Material-
klassifizierung ermöglicht eine direkte Aussage der Materialeigenschaften und somit des
vollständigen Schädigungspotenzials von Restschmutzpartikeln in der Automobilindustrie.

Entsprechend Stand der Technik müssen derzeit REM-EDX Analysen durchgeführt

werden. Diese sind erstens sehr teuer, zweites liefern sie lediglich die Elementverteilung
der Partikel, anhand derer das Partikelschädigungspotenzial und somit die vollständige
Beschreibung der Bauteilsauberkeit nur bedingt bestimmt werden kann.

Neben den deutlich geringeren Kosten ist ein weiterer Vorteil des Lumineszenzverfahrens
gegenüber der REM-EDX-Analyse dessen direkte und einfache Integrierbarkeit in
Lichtmikroskopsysteme. Da bereits mehrere hundert Lichtmikroskope in Prüflaboren der
Automobilindustrie zur Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl im Einsatz sind,
eröffnet die Möglichkeit der einfachen Aufrüstung dem Verfahren einen großen Markt.
Mit einer technisch einfachen Aufrüstung, die deutlich günstiger ist als die Anschaffung
eines REM-EDX-Systems, ist es diesen Labors prinzipiell möglich, genauere Aussagen über
das tatsächliche Schädigungspotenzial von Partikeln zu treffen.

Erfasst und vermessen werden mit dem entwickelten Verfahren Partikel ab einer Größe
von 5 μm. Die Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl erfolgt gemäß VDA-Band 19
und entsprechend normkonform. Partikel ab 50μm werden in Materialklassen eingeteilt.

Die Messzeit liegt im Bereich einer REM-EDX-Analyse (< 4 h). Des Weiteren ist kein
manueller Präparationsschritt für die Analyse notwendig. Diese lässt sich komplett
automatisieren, weshalb das Einlegen des Analysefilters in den Versuchsaufbau den
einzigen manuellen Arbeitsschritt darstellt. Durch Kapselung der Anlage und Ausstattung
mit einem Reinstluftgebläse (Filter-Fan-Unit) wird gewährleistet, dass auch bei
Bestimmung der Partikel ab 5 μm keine Verfälschung durch Partikeleintrag aus der
Umgebung stattfindet.

Da das Verfahren zerstörungsfrei abläuft, können die Partikel darüber hinaus bei Bedarf
von der Filtermembran entnommen und weiterführenden Analysen zugeführt werden.

125
8 Zusammenfassung und Ausblick

Die technische Entwicklung in der Automobilindustrie hat in jüngster Vergangenheit eine

verstärkte Anfälligkeit funktionsrelevanter Komponenten gegenüber Partikelverunreini-
gungen – sog. Restschmutz – mit sich gebracht. Ausfälle von Funktionssystemen
aufgrund kritischer Verunreinigungen haben sich zu einem bedeutenden Qualitäts-
problem entwickelt. Beispiele für diese Schadensfälle sind Verstopfen von Ventilen und
Düsen im Einspritzsystem, Verklemmen von Schiebern im Getriebe, Beschädigung von
Lagerlaufflächen, Leckagen in hydraulischen und pneumatischen Dichtungssystemen
sowie Kurzschlüsse in elektronischen Steuersystemen. Im Extremfall beeinträchtigen
Partikel ab einer Größe von 50 μm deren korrekte Funktion. Aus diesem Grund müssen
partikuläre Rückstände auf sauberkeitskritischen Komponenten gemäß VDA-Band 19 zum
Zweck der Bauteilsauberkeitsprüfung messtechnisch erfasst und analysiert werden.

Erstes Kriterium zur Bewertung der Partikel auf Bauteiloberflächen ist die Kenntnis deren
Anzahl und Größe. Darüber hinaus sind die mechanischen und elektrischen
Eigenschaften der Partikel für deren Schädigungspotenzial und somit das Eintreten eines
Schadensfalls entscheidend. Elektronische Komponenten reagieren nur kritisch auf
elektrisch leitende Partikel. In mechanischen Aggregaten hingegen können lediglich
Partikel mit einer gewissen Härte zu Beschädigungen führen. Zur vollständigen
Beschreibung der Bauteilsauberkeit ist somit die Bestimmung der Anzahl und Größe der
vorhandenen Partikel notwendig und – je nach Anwendungsfall – deren mechanische
oder elektrische Materialeigenschaften. Das derzeitige Verfahren nach Stand der Technik
stellt die energiedispersive Röntgenanalyse am Rasterelektronenmikroskop (REM-EDX)
dar. Dieses Verfahren ist jedoch technisch sehr aufwändig und liefert darüber hinaus nur
die Elementverteilung des Materials. Die Materialeigenschaften, die sich aus der
Molekülstruktur des Materials ergeben, können somit nur abgeschätzt werden.
Diesbezüglich hat sich die Polarisationsmikroskopie zur Materialklassifikation etabliert.
Mit dieser Technik können jedoch nur metallisch glänzende Partikel selektiert werden.
Nicht metallische Partikel, z. B. Polymere, Mineralien und Keramiken können nicht weiter
differenzieret und bewertet werden. Ein technisch einfaches Verfahren, mit dem
Restschmutzpartikel automatisiert entsprechend ihrer Materialeigenschaften klassifiziert
werden können, fehlt somit derzeit, trotz hohen Bedarfs.

Zur Entwicklung eines solchen Verfahrens wurden zunächst die in der Automobilindustrie
auftretenden Partikelquellen betrachtet und die daraus resultierenden Partikel nach
Werkstoffen gruppiert. Anhand der relevanten Materialeigenschaften der praxistypischen
Restschmutzpartikel wurden aus den Werkstoffgruppen vereinfachte Materialklassen
abgeleitet. Zur vollständigen Bestimmung des Schädigungspotenzials von Restschmutz-
partikeln ist somit neben der Größen- und Anzahlbestimmung lediglich deren Einordnung
in die zugehörige Materialklasse notwendig. Um eine möglichst industrietaugliche
Umsetzung eines Verfahrens zur Materialklassifizierung zu gewährleisten, wurden
abschließend Anforderungen zur Entwicklung des Verfahrens, getrennt nach
Versuchsaufbau und Methode, erarbeitet.
Zur Auswahl des Messprinzips, auf dessen Grundlage die Materialklassifizierung erfolgt,
wurden Analyseverfahren anhand der Anforderungen einander gegenübergestellt. Durch
diese Betrachtung wurde ersichtlich, dass die Lumineszenzspektroskopie die aufgestellten
Anforderungen komplett erfüllt. Dieses Prinzip ermöglicht eine direkte Aussage über die
Materialklasse und somit die Materialeigenschaften der Partikel. Des Weiteren bedarf die
Lumineszenzspektroskopie keiner teuren Gerätetechnik und ist mit der Lichtmikroskopie
zur Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl kombinierbar.

Auf Basis dieses Messprinzips wurde ein Lumineszenzspektroskop als Versuchsaufbau zur
Materialklassifizierung von Partikeln konzipiert und umgesetzt. Die Partikel werden in der
Probenkammer mit ultravioletter Strahlung zwischen 360 und 370 nm auf einem
Lumineszenz inaktiven Analysefilter angestrahlt und das Lumineszenzsignal zeitgleich
über eine Kamera und ein Spektrometer erfasst und ausgewertet. Die Kamera dient der
Lokalisierung der Partikel, das Spektrometer der Erfassung der Wellenlängen dispersiven
Intensität des Lumineszenzsignals. Zusätzlich werden mit der Kamera Grauwertbilder von
den Partikeln auf dem Analysefilter unter VIS-Beleuchtung aufgenommen, welche die
Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl ermöglichen. Mit Hilfe von Funktionstests
wurden die aufgestellten Anforderungen an den Versuchsaufbau verifiziert.

Im nächsten Schritt wurde eine Prüfmethode entwickelt, welche die Vorgehensweise zur
Bestimmung der Materialklasse sowie der Größe und Anzahl von Partikeln anhand des
Versuchsaufbaus festlegt. Die Materialklassifizierung erfolgt über die gemessenen
Lumineszenzspektren. Aus diesen Wellenlängen dispersiven Intensitätswerten werden die
Spektren-Kennwerte Zentrale Wellenlänge ZWL, Halbwertsbreite HWB und Banden-
symmetrie SHWB berechnet. Da jeder Materialklasse charakteristische Kennwertbereiche
zugeordnet werden können, erfolgt die Materialklassifizierung anhand des Vergleichs der
ermittelten Spektren-Kennwerte mit den Kennwertbereichen der einzelnen Klassen.
Darüber hinaus beschreibt die Prüfmethode, wie mit dem Versuchsaufbaus die
Partikelgröße und -anzahl bestimmt wird. Mit der Kamera werden Grauwertbilder von
der gesamten Analysefilteroberfläche aufgenommen. Über eine Umwandlung der
Grauwertbilder entstehen Binärbilder, anhand derer die Partikel nach Größe und Anzahl
ausgewertet werden. Zur Verminderung der Messzeit werden über eine Grauwertbild-
aufnahme bei UV-Beleuchtung die Metalle aussortiert. Dadurch müssen beim Erfassen
der Lumineszenzspektren lediglich die lumineszierenden Partikel betrachtet werden.

Zur Erprobung und Bewertung des entwickelten Verfahrens wurde ein Prüfplan erstellt,
welcher die Überprüfung der Erfüllung der Anforderungen anhand von definiert
kontaminierten Analysefiltern festlegt. Um möglichst praxisnahe Testbedingungen zu
generieren, wurden typische Partikel aus der Produktion in der Automobilindustrie
herangezogen. Mit dem Versuchsaufbau wurde entsprechend der Prüfmethode die
Anzahl, Größe und Materialklasse auf den Testanalysefiltern bestimmt. Über den
Vergleich der verwendeten Partikel mit den Messergebnissen konnte die Eignung der
Bestimmung der Partikelgröße, -anzahl und Materialklasse verifiziert werden.

Zusammenfassen ergab die Erprobung des Verfahrens mit den Testanalysefiltern sowie
die Bewertung des Versuchsaufbaus und der Methode, dass folgende Anforderungen
erfüllt wurden:

127
 x Partikel ab 50 μm werden anhand ihres Lumineszenzverhaltens den relevanten
Materialklassen zugeordnet.

x Partikel ab 5μm werden normkonform detektiert und nach Größe analysiert.

x Die Materialkosten zur Umsetzung der Lumineszenzklassifizierung sind deutlich

geringer als bei der REM-EDX. Das Prinzip kann problemlos in bestehende Licht-
mikroskopsysteme zur Anzahl- und Größenanalyse von Partikeln integriert werden.

x Das Verfahren ist komplett automatisierbar. Der einzige notwendige manuelle

Arbeitsschritt ist das Einsetzen des Filters in den Versuchsaufbau.

x Das Partikelmaterial wird weder zerstört, noch findet eine Veränderung der Probe
statt. Ausgewählte Partikel können somit weiteren Analysen unterzogen werden.

x Eine Beeinträchtigung der Messergebnisse durch Umgebungseinflüsse kann

ausgeschlossen werden.

Diese Bewertung zeigt, dass das entwickelte Verfahren für den industriellen Einsatz in der
Qualitätssicherung der Automobilindustrie geeignet ist. So kann durch eine einfache
Aufrüstung bestehender Mikroskopsysteme die Bestimmung der Bauteilsauberkeit
genauer erfolgen, ohne dass hierzu eine aufwändige REM-EDX Analyse notwendig wäre,
welche darüber hinaus nicht denselben Informationsgehalt liefern kann.

Durch den Nachweis der prinzipiellen Erfüllung der Anforderungen sowie über den
Bedarf in der Industrie ergeben sich Potenziale für weitere Entwicklungen des Verfahrens.

x Kombination von Lumineszenzspektroskopie und Polarisationsmikroskopie

Aufgrund der einfachen technischen Umsetzbarkeit der Lumineszenzklassifizierung kann

dieses Verfahren problemlos mit der Polarisationsmikroskopie mit Differenzbildanalyse
kombiniert werden. Die zusätzliche Selektierung metallisch glänzender Partikel über die
Polarisationstechnik führt dazu, dass auch Partikel aus technischer Keramik mit geringer
Lumineszenzaktivität, im Speziellen Diamant und kubisch kristallines Bornitrid (CBN),
nicht den Metallen zugeordnet werden. Dies würde die Akzeptanz des hier entwickelten
Verfahrens zusätzlich erhöhen.

x Detektion von Restschmutzpartikeln direkt auf metallischen Bauteiloberflächen

über die Lumineszenzanregung

Da die Extraktion der Partikel von der Bauteiloberfläche nach wie vor ein manueller und
zeitintensiver Vorgang ist, bietet die Direktinspektion ein hohes Optimierungspotenzial.
Partikel auf Bauteiloberflächen können aufgrund der üblichen Rauigkeit von mechanisch
bearbeiteten Metallbauteilen nicht mit üblichen Lichtmikroskopsystemen erfasst werden
(zu geringer optischer Kontrast). Durch Verwendung der optischen Komponenten des
entwickelten Verfahrens können nicht metallische Partikel über deren Lumineszenz
optisch hervorgehoben und selektiert werden. Dies ermöglicht die Erfassung und
Klassifizierung nicht metallischer Partikel direkt auf den Bauteilen.

128
9 Summary

Technical developments in the automotive industry are making functionally-relevant

components increasingly sensitive towards particulate contamination – so-called residual
contamination. The failure of functional systems due to critical contamination has
become a serious quality problem. Examples of such failures include clogged injection
system valves and nozzles, jammed sliders in gear boxes, damaged bearing surfaces, leaks
in hydraulic and pneumatic sealing systems and shorts in electronic control systems. In
extreme cases, particles 50μm in size or larger may prevent components from functioning
correctly. As a result, in order to assess component cleanliness, particulate residues
present on contamination-sensitive components need to be analyzed and recorded in
compliance with VDA Volume19.

To evaluate particles on component surfaces, the first step to is gain information about
the quantity and size of particles present. Knowledge of the mechanical and electrical
characteristics of the particles is also essential in order to assess their damage potential
and thus failure risks. For example, electronic components only react critically to
electrically-conductive particles; on the other hand, mechanical aggregates are only
damaged by particles possessing a certain degree of hardness. Therefore, to fully describe
component cleanliness, not only is it necessary to know the size and count of particles
present but also – depending on the application at hand –their mechanical or electrical
material properties. The current state-of-the-art method applied is to use scanning
electron microscope in combination with energy-dispersive X-ray analysis (SEM-EDX).
However, this method is technically complex and only supplies information about the
element distribution of particles. The material properties of a material can only be
estimated from its molecular structure. Although polarization microscopy is now used to
classify materials, this technique only enables shiny metallic particles to be selected. Non-
metallic particles, e.g. polymers, minerals and ceramics cannot be further differentiated
and assessed. Despite high demands, there is still no technically simple method available
for automatically classifying the material properties of residual particles.

In order to develop such a method, particle sources encountered in the automotive

industry were first observed and the resulting particles grouped into material types.
Simplified material classes were then derived from the material groups based on the
relevant material properties of residual contamination particles typically found in practice.
Thus, as well as determining the size and count of residual contamination particles, the
damage potential of such particles can be completely assessed by classifying them into
appropriate material classes. To enable a suitable material classification technique to be
implemented in industry in practice, requirements regarding the development of such a
technique were then determined. These were grouped according to test set-up and
method.

To select a measuring principle to form the basis of the material classification, analysis
techniques were compared with one another considering the requirements ascertained.
This showed clearly that luminescence spectroscopy fulfilled all requirements. The
principle enables direct information about the material class and thus the material
properties of the particles to be gained. Furthermore, luminescence spectroscopy does
not require any expensive devices and can be combined with light microscopy to
ascertain particle size and count.

Based on the measuring principle, a luminescence spectroscope was then designed and
implemented in a test set-up to classify the materials forming the particles. In the sample
chamber, on an analysis filter inactive to luminescence particles are illuminated by a beam
of ultraviolet light between 360 and 370 nm. The luminescence signal is recorded
simultaneously by a camera and a spectrometer and subsequently analyzed. The camera
serves to localize the particles and the spectrometer records the wavelengths of the
dispersive intensity of the luminescence signals. Gray value images of the particles on the
analysis filter are also recorded by the camera under visible illumination to enable particle
size and count to be ascertained. The requirements of the test set-up were verified with
the aid of function tests.

The next step was to develop the test method in order to establish a procedure for
assessing the material class, size and count of particles using the test set-up. Materials
were classified by way of the luminescence spectra measured. The spectral variables of
the central wavelength CWL, full width at half maximum FWHM and band symmetry at
half maximum SFWHM were calculated from the wavelengths of dispersive intensity values.
As characteristic value ranges can be assigned to each material class, materials can be
classified by comparing the spectral variables recorded with the characteristic value
ranges for each material class. The test method also enables particle sizes and counts to
be ascertained using the test set-up. Gray value images of the complete surface of the
analysis filter are recorded by the camera. The gray value images are converted into
binary images, thus permitting the size and quantity of particles present to be
determined. In order to reduce measuring times, gray-value imaging with UV illumination
is used to identify metals separately. In this way, only luminescent particles are taken into
consideration when recording the luminescence spectra.

To assess the method developed and verify that requirements are fulfilled, a test plan was
drawn up with analysis filters contaminated in a defined manner. In order to obtain
realistic test conditions in practice, only particles typically found in manufacturing in the
automotive industry were utilized. The quantity, size and material class of the particles on
the test analysis filters were ascertained by applying the inspection method and test set-
up. The suitability of the method for determining particle size, count and material class
was then verified by comparing the test results with the particles used.

In summary, through testing the procedure with the test analysis filters and by assessing
the method and test set-up, it could be proved that the following requirements were
fulfilled:

x Particles sized 50μm and above can be classified into their relevant material classes
through their luminescence behavior.

130
 x Particles sized 5 μm and above can be detected norm-conform and analyzed
according to size.

x Material costs involved in order to implement the luminescence classification are

much lower than for SEM-EDX. The principle can be easily integrated into existing
light microscope systems for analyzing particle counts and sizes.

x The technique can be fully automated. The only manual process step involved is
insertion of the filter in the test set-up.

x Particulate material is neither destroyed nor altered by the procedure. As a result,

selected particles can be further analyzed if desired.

x Test results are not affected by environmental influences.

The assessment demonstrated that the method developed is suitable for industrial
implementation for the purpose of quality control in the automotive industry. Simple
refitting of existing microscope systems is all that is required to obtain more accurate
information regarding component cleanliness. Expensive SEM-EDX analysis is not required
and the latter method is anyway unable to supply the same amount of information.

Having proved in principle that the method fulfills requirements and also due to industrial
demand, there is a potential for further development.

x Combining luminescence spectroscopy with polarization microscopy

Due to the technical simplicity of implementing luminescence classification, the method

can be easily combined with polarization microscopy with differential image analysis. The
additional selection of shiny metallic particles using polarization also means that technical
ceramic particles with a low level of luminescent activity, especially diamonds and cubic
crystalline boron nitride (CBN), are not classified as metals. This would further increase
acceptance of the method.

x Direct detection of residual contamination particles on metallic component

surfaces using luminescence excitation

As the extraction of particles from component surfaces is still a manual and time-
consuming procedure, direct inspection provides a high optimization potential. Because
mechanically-processed metallic surfaces typically possess a high degree of roughness,
particles present on component surfaces cannot be detected using conventional light
microscope systems (too little optical contrast). By using the optical elements of the
method developed, non-metallic particles can be optically highlighted and selected via
their luminescence. This makes it possible to detect and classify non-metallic particles on
components directly.

131
10 Literaturverzeichnis

Allen 1976 Allen, N. S.; Homer J.; McKellar J. F.: The Use of Luminescence
Spectroscopy in Aiding the Identification of Commercial Polymers.
In: Analyst 101 (1976) Nr.1201, S. 260-264

Allen 1978 Allen, N. S. ; McKellar, J. F. : Luminescence applications in commercial

polymers.
In: Chemistry and Industry 97 (1978) Nr. 23, S. 907-913

Allen 1982 Allen, N. S.: Analysis of Polymer Systems by Luminescence Spectroscopy.

In: Bark, L. S.; Allen, N. S.: Analysis of polymer systems.
London: Applied Science, 1982, S. 79 – 102

Arzt 2006 Arzt, E.; Mohrdieck. C.: Einführung in die Werkstoffphysik.

Stuttgart, Univ., Inst. Für Materialwissenschaft, Vorlesungsmanuskript
WS 2006

Badertscher Badertscher, M.; u.a.: Analytische Chemie für Biologen und

2006 Pharmazeuten – Einführung in spektroskopische Methoden der
Strukturaufklärung organischer Verbindungen. Zürich, ETH, Inst. Für
Pharmazeutische Wissenschaften, Vorlesungsmanuskript WS 2006

Bandow 1950 Bandow, F.: Lumineszenz – Ergebnisse und Anwendungen in Physik,

Chemie und Biologie. Stuttgart: Wiss. Verlagsges., 1950

Bargel 2008 Bargel, H-J.: Werkstoffkunde. Heidelberg u.a.: Springer, 2008

Berger 2006 Berger, K.: Funktionsrelevante Bauteile und Aggregate –

Sauberkeitsdesign.
In: Technische Sauberkeit von Bauteilen – Herausforderung für den
Produktionsprozess. Fraunhofer IPA Workshop F 127, 16. März 2006.
Stuttgart, 2006, 17 S.

Kraus 2004 Kraus, J.: Schieblehre der Reinigungstechnik.

In: MM- das Industriemagazin 110 (2004), Nr. 27, S. 16-18

Blasse 1994 Blasse, G.; Grabmaier, B. C.: Luminescent Materials.

Heidelberg u.a.: Springer, 1994

Bosch 2008 Robert Bosch GmbH: Anlage zu Prüfvorschrift Technische Sauberkeit

PV 1 279 921 536 Stanz- und Tiefziehbleche für Airbag/DCU
Steuergeräte. 2008
BMW 2006 BMW QV 33 019: Restschmutzmenge für Vorder- und
Hinterachsgetriebe und deren Einzelteile. 2006

BMW 2008 BMW QV 11 111: Anforderungsgerechte Technische Sauberkeit von

Bauteilen und Fluiden in BMW Antrieben – Prüfung und
Vorgehensweisen. 2008

BS 2009 BS Partikel GmbH: Partikelgrößenstandards: Serie LS.

Wiesbaden, 2009 – Firmenschrift

Buttenhauser Buttenhauser, R.: Technische Sauberkeit an funktionsgestaltenden

2004 Automobilteilen – Erfahrungsbericht des Audi Konzerns, Forum Messe
parts2clean, 26.10.2004, Friedrichshafen, 17 Folien

Continental Continental ATE N 543 80.03 Blatt 200: Produktspezifikation

2007a Innensauberkeit von Bremsaggregaten und montagefertigen
Einzelteilen. 2007

Continental Continental BN 181 – 01 Sauberkeitsgerechte Montage von

2007b Bremssystemen mit Reinraumanforderung. 2007

Daimler 2003 Daimler DBL 6516: Festlegung von Restschmutzgrenzwerten. 2003

Daimler 2004 Daimler DBL 6515: Bestimmung der Technischen Sauberkeit von
Bauteilen. 2004

Danckwortt Danckwortt, P.W.; Eisenbrand J.: Lumineszenzanalyse im filtrierten

1964 Ultravioletten Licht. Leipzig: Akad. Verlagsges., 1964

David 1999 David, S. K.; Pailthorpe, M. T.: Classification of Textile Fibres:

Production, Structure, and Properties.
In: Robertson, J.; Grieve, M.: Forensic examination of fibres. London:
Taylor & Francis, 1999, S. 1-35

Demuth 1977 Demuth R., Kober F.: Grundlagen der Spektroskopie. 1. Aufl.
Frankfurt a. Main: Diesterweg-Salle, 1977

DIN 843-4 DIN EN 843-4 2005-08: Hochleistungskeramik – Mechanische

Eigenschaften monolithischer Keramik bei Raumtemperatur – Teil 4:
Härteprüfung nach Vickers, Knoop und Rockwell.

DIN 1319-1 DIN 1319-1 1995-01: Grundlagen der Messtechnik – Teil 1:

Grundbegriffe

133
DIN 5031-1 DIN 5031-1 1992-03: Strahlungsphysik im optischen Bereich und
Lichttechnik; Größen, Formelzeichen und Einheiten der Strahlungsphysik

DIN 8200 DIN 8200 1982-10: Strahlverfahrenstechnik – Begriffe, Einordnung der

Strahlverfahren

DIN 8580 DIN 8580 2003-09: Fertigungsverfahren, Begriffe, Einteilung

DIN 8589-0 DIN 8589-0 2003-09: Fertigungsverfahren Spanen

DIN 8592 DIN 8592 2003-9: Fertigungsverfahren Reinigen

Dörffel 1987 Dörffel, K.; Geyer, R.: Analytikum, Methoden der analytischen Chemie
und ihre theoretischen Grundlagen.
Leipzig: VEB Deutscher Verlag für Grundstoffindustrie, 1987

Dorr 2007 Dorr, N.: Montage Sauberkeit (MontSa). Internes Kickoff-Meeting des
Industrieverbund MontSa am Fraunhofer IPA in Stuttgart, 30.03.2007,
22 Folien

Destatis 2008 Statistisches Bundesamt: Im Blickpunkt – Verkehr in Deutschland 2006.

Wiesbaden: Statistisches Bundesamt, 2008

Ernst 2003 Ernst, Ch.: Steigende Sauberkeitsanforderungen am Beispiel der

Automobilindustrie – Standardisierte Sauberkeitsanalytik. Forum Messe
parts2clean, 28. Oktober 2003, Friedrichshafen, 20 Folien

Ernst 2006 Ernst, Ch.: Sauberkeitsqualität als Ganzes. In: Fertigungstechnik im

Reinraum – Messtechnisches Praktikum. Stuttgart: Fraunhofer IPA
Workshop, 9. Und 10. Mai 2006, 25 S.

Ernst 2008 Ernst, Ch.: Technische Sauberkeit in der Automobilindustrie.

In: Aktuelle Verfahren der Teilereinigung – Bauteile-Reinigung auf
wässriger Basis. Stuttgart: VDI / Württembergischer Ingenieurverein,
2008, 27 Folien

Ernst 2009 Ernst, Ch.: Luftgetragene Partikel in industriellen Montagen.

Stuttgart: Fraunhofer IPA internes Statustreffen des Industrieverbunds
MontSa, 23. Juni 2009, 27 S.

FEPA 2006 FEPA Standard 42: Körnungen aus Elektrokorund und Siliciumcarbid für
Schleifkörper aus gebundenem Schleifmittel. Paris: Federation of
European Producers of Abrasives, 2006

134
Flegler 1995 Flegler, S. L.; Heckman, J. W.; Klomparens, K. L.:
Elektronenmikroskopie: Grundlagen, Methoden, Anwednungen.
Heidelberg u.a.: Spektrum, 1995

Ford 2000 Ford Engineering Specification: Specification for Cleanliness Best

Practices for Ford Assembly of Delphi Common Rail Systems. 2000

Förster 1951 Förster, Th.: Fluoreszenz organischer Verbindungen.

Göttingen: Vandenhoeck und Ruprecht, 1951

Gachkovskii Gachkosvkii V. F.: Universal Fluorescence of Polymers, Part I Results of

1962 quantitative Measurements. Übersetzt aus: Zhurnal Strukturnoi Khimii,
4 (1962) Nr. 3, S. 424-432; Original vom 4. Mai 1962

Getrag 2006 GETRAG GN 4340-Teil 2: Spezifikation 436 und Verfahrensanweisung

zur Bestimmung des Restschmutzes bei Bauteilen mit erhöhten
Sauberkeitsanforderungen. 2006

Gommel 1998 Gommel, U.: Grundlagen der Reinraumtechnik und Personalverhalten -

Trends in der reinen Produktion.
In: Fertigungstechnik im Reinraum - Messtechnisches Praktikum.
Stuttgart: Fraunhofer IPA, 1998, 50 Folien

Gommel 2006 Gommel U.: Verfahren zur Bestimmung der Reinraumtauglichkeit von
Werkstoffpaarungen. Heimsheim, Jost-Jetter Verlag, 2006
Stuttgart, Univ., Fak. Maschinenbau, Diss. 2006

Gösel 2005 Gösel, C.-H.: Anforderung hinsichtlich Restverschmutzung,

Teilesauberkeit bei Lenksystemen.
In: Deutsche Gesellschaft für Galvano- und Oberflächentechnik:
Oberflächentage 2005: Mehrländertagung, 21.-23.September 2005,
Innsbruck. Innsbruck, 2005, S. 84-91

Gottstein 2007 Gottstein, G.: Physikalische Grundlagen der Materialkunde. 3. Aufl.

Berlin u.a.: Springer, 2007

Grossmann 2003 Grossmann, A.: Steigende Reinheitsanforderungen, Konsequenzen für

die Produktion aus Sicht eines Herstellers. Forum Messe parts2clean, 28.
Oktober 2003, Friedrichshafen, 14 Folien

Grossmann 2008 Grossmann, A.: Bauteilsauberkeit in der Automobilindustrie,

Anforderungen, Entwicklungen. Forum CleanRooms Europe, 13. März
2008, Stuttgart, 20 Folien

135
Haitinger 1959 Haitinger, M.; Eisenbrand, J.; Werth, G.: Fluoreszenz-Mikroskopie.
2., erw. Aufl. Leipzig: Akad. Verlagsges., 1959

Henderson 1989 Henderson, B.; Imbusch, G. F.: Optical Spectroscopy of inorganic Solids.
Oxford: Clarendon, 1989

Hennecke, 1988 Hennecke, M.: Fluoreszenzmessung zur Anregungsenergieübertragung

in Polymerfilmen. Clausthal, TU, Habil-Schrift, 1988

Hercules 1966 Hercules, D. M.: Fluorescence and Phosphorescence Analysis - Principles

and Applications. New York: Interscience Publishers, 1966

Hering, 1999 Hering, E.; Martin, R.; Stohrer, M.: Physik für Ingenieure.
7. Aufl. Berlin u.a.: Springer, 1999

Hydac 2005 Hydac International GmbH: Contamination Management in der Praxis -

Teil 2: Von der Verarbeitung bis zur Auslieferung. Sulzbach (Saar), 2005
- Firmenschrift

IPC 2006 IPC - Association Connecting Electronic Industries: International

Technology Roadmap for Electronic Interconnections 2006 – 2007.
Bannockburn (USA): IPC 2006

ISO 11171 ISO 11171 1999-12: Fluidtechnik - Hydraulik - Kalibrierung

automatischer Partikelzählgeräte für Druckflüssigkeiten

ISO 11171 TC1 ISO 11171 Technical Corrigendum 1 2001-10: Fluidtechnik - Hydraulik -
Kalibrierung automatischer Partikelzählgeräte für Druckflüssigkeiten,
Korrektur 1

ISO 12103-1 ISO 12103-1 1997-12: Straßenfahrzeuge - Prüfstaub zur Bewertung von
Filtern - Teil 1: Arizona-Prüfstaub.

ISO 14644-1 DIN EN ISO 14644-1 1999-07: Reinräume und zugehörige

Reinraumbereiche

ISO 16232 ISO 16232 2007-06 Teil 1-10: Road vehicles Cleanliness of components
of fluid circuits.

ITOS 2009 ITOS Gesellschaft für Technische Optik: Produktkatalog - Schott UV-
Breitbandfilter. Mainz, 2009 - Firmenschrift

136
Jankowiak 2000 Jankowiak, R.; u.a.: Probing the crystalline environment of alpha-
alumina via luminescence of metal ion impurities: an optical method of
ceramic flaw detection.
In: Materials Science and Engineering 281(2000), Nr. 1, S. 45–55

Jomesa 2008 Jomesa Meßsysteme GmbH: Partikelanalysesoftware PicEd Cora.

München 2008 - Firmenschrift

Kaindl 2008 Kaindl, J.: Messtechniken für den Sauberraum.

Stuttgart: Forum CleanRooms Europe, 13. März 2008, 18 Folien

Kayser 1908 Kayser, H.: Handbuch der Spectroscopie. Leipzig: Hirzel, 1908

Köberle 2004 Köberle, K.: Anforderungen an die Reinigungstechnik für Erzeugnisse

mit hoher Sauberkeit. In: Industrielle Reinigung - Fachtagung. München,
12. und 13. 01. 2004, 8 Folien

Krasovitskii 1988 Krasovitskii, B.M.: Organic Luminescent Material. Weinheim: VCH, 1998

Krauss 2006 Krauss, A.: Entwicklung eines Prüfgeräts zur Erkennung von
Mikroorganismen auf technischen Oberflächen.
Aalen: Hochschule für Technik und Wirtschaft, Diplomarbeit, 2006

Krieg 2007 Krieg, M.: Markt- und Trendanalyse in der industriellen Teilereinigung.
Berlin: Fraunhofer Allianz Reinigung, 2007

Krines 2006 Krines P.: Das Vorgehen bei der Restschmutz-Grenzwertfestlegung von
Bauteilen. In: Das 15. Deutsche Kühlschmierstoff-Forum:
Jahresfachtagung 2006 der KSS-Hersteller und -Anwender.
Bad Nauheim, 1. Dezember 2006, 31 Folien.

Kühlke 2004 Kühlke, D.: Optik - Grundlagen und Anwendungen.

2., überarb. und erw. Aufl. Frankfurt am Main: Deutsch, 2004

Lakowicz 1986 Lakowicz, J. R.: Principles of fluorescence spectroscopy.

New York: Plenum Pr., 1986

Lankers 2008 Lankers, M., rapID Particle Systems GmbH, Köpenicker Straße 325,
12555 Berlin. Diskussion über die wirtschaftlichen Kosten eines
Materialanalysegeräts, Berlin, 12.02.2008

Latscha 2004 Latscha, H. P.; Linti, G. W..; Klein, H. A.: Analytische Chemie. Chemie-
Basiswissen III. 4. Aufl. Berlin u.a.: Springer 2004

137
Lieber 1957 Lieber, W.: Die Fluoreszenz von Mineralien - 5. Sonderheft zur Zeitschrift
Der Aufschluss. Heidelberg: Vereinigung der Freunde der Mineralogie
und Geologie (VFMG), 1957

Lenard 1928 Lenard, P.; Schmidt, F.; Tomaschek, R.: Phosphoreszenz und
Fluoreszenz. Handbuch der Experimentalphysik XXIII 1. Teil.
Leipzig: Akad. Verlagsges., 1928

Liu 1998 Liu, R.; Yang, B.; Fu, Z.; He, P.; Ruan, Y.: Stable blue-green and
ultraviolet photoluminescence from silicon carbide on porous silicon.
In: Solid State Communications, 106 (1998) Nr. 4, S. 211-214

LOT 2008 LOT-Oriel: Auswahl der richtigen Lichtquelle.

Darmstadt, 2009 - Firmenschrift

MAN 2006 MAN Werknorm M 3360: Bauteile mit besonderen Anforderungen an

die Sauberkeit - Technische Lieferbedingung. 2006

Martens 1898 Martens, A.: Handbuch der Materialienkunde für den Maschinenbau –
Teil1: Materialprüfungswesen, Probiermaschinen und Messinstrumente.
Berlin: Springer, 1898

Meins 1989 Meins, W: Handbuch der Fertigungs- und Betriebstechnik.

Braunschweig: Vieweg, 1989

Metzger 2008 Metzger, J., Jomesa Meßsysteme GmbH, Adalperostr. 29,

D-85737 Ismaning. Diskussion über die Verbreitung von
Lichtmikroskopen zur Bestimmung der Partikelgröße und -anzahl auf
Analysefiltern. Stuttgart, Fraunhofer IPA; Januar 2008

Niehren 1995 Niehren, S.; Kinzelbach, W.: An all-solid-state flow cytometer for
counting fluorescent microspheres.
In: Analytical Chemistry 67 (1995), Nr. 15, S. 2666 - 2671

Otto 2006 Otto, M.: Analytische Chemie.

3. Aufl. Weinheim: WILEY-VCH, 2006

Pringsheim 1951 Pringsheim, P.; Marcel V.: Lumineszenz von Flüssigkeiten und
Festkörpern – wissenschaftliche Grundlage und praktische Anwendung.
Weinheim/Bergstraße: Verl. Chemie, 1951

Przibram 1953 Przibram, K.: Verfärbung und Lumineszenz: Beiträge zur Mineralphysik.
Wien: Springer, 1953

138
Raman 1928 Raman, C. V.: Krishnan, K. S.; A New Type of Secondary Radiation.
In: Nature 121(1928) Nr. 3048, S. 501-502

rapID 2009 rapID Particle Systems GmbH: Produktkatalog, FiltrAiD Probenträger.

Berlin, 2009 - Firmenschrift

Rayleigh 1899 Lord Rayleigh: On the Scattering of light by small Particles.

In: Scientific Papers by Lord Rayleigh, Vol. I. Dover Publications, 1899

Riehl 1941 Riehl, N.; Physik und technische Anwendung der Lumineszenz.
Berlin u.a.: Springer, 1941

Riehl 1971 Riehl, N.: Einleitung: Einführung in die Lumineszenz.

In: Riehl, N.; Fischer, F.: Einführung in die Lumineszenz.
München: Thiemig, 1971, S. 1-34

Rochowicz 2003 Rochowicz, M.: Auf dem Weg zur Restschmutznorm - Vorstellung des
Industrieverbundprojektes "Technische Sauberkeit funktionsgestaltender
Automobilteile“.
In: Industrielle Reinigung 2003: Münchner Werkstofftechnik-Seminar,
27. und 28.03.2003. München, 2003, S. 2-15.

Rochowicz Rochowicz, M.; Ernst, Ch.: Technische Sauberkeit als messbares

2006b Qualitätsmerkmal.
In: JOT. 46 (2006), Nr. 9, S. 60-63.

Rochowicz 2007 Rochowicz, M.; Ernst, Ch.: Partikelschmutz trotz sauberer Bauteile:
Produkt-Reinheit in der Montage
In: JOT. 47 (2007), Nr. 3, S. 48-51

Rücker 1992 Rücker, G.; Neugebauer, M.; Willems, G. G.: Instrumentelle

pharmazeutische Analytik - Lehrbuch zu spektroskopischen,
chromatographischen und elektrochemischen Analysemethoden.
Stuttgart: Wiss. Verlagsges., 1992

Schäfer 1988 Schäfer, K.: Die natürliche Fluoreszenz von Wolle und ihre Rolle bei der
Photovergilbung. In: Int. Wool Textile Organisation, Technical
Committee. Palm Beach, 1988 S.1 -24

Schatt 2003 Schatt, W.: Werkstoffwissenschaft.

9. Aufl. Weinheim: Wiley-VCH, 2003

139
Schmauz 2005 Schmauz, G.: Partikelverunreinigung - Standardisierte
Sauberkeitsprüfung in der Automobilindustrie (VDA 19).
In: Deutsche Gesellschaft für Galvano- und Oberflächentechnik:
Oberflächentage 2005: Mehrländertagung, 21.-23.September 2005,
Innsbruck. Innsbruck, 2005, S. 96-101

Schmauz 2008a Schmauz, G.: Einflussgrößen auf die Bauteilsauberkeit.

In: Aktuelle Verfahren der Teilereinigung - Bauteile-Reinigung auf
wässriger Basis: Seminar, 4. und 5. Dezember 2008, Stuttgart. Stuttgart:
VDI / Württembergischer Ingenieurverein, 2008, 27 Folien

Schmauz 2008b Schmauz. G.: Trend in der Automobilindustrie.

Stuttgart: Forum CleanRooms Europe, 13. März 2008, 16 Folien

Schmauz 2009 Schmauz. G.; Ernst, Ch.: Planung und Betrieb eines Sauberraumes in der
feinwerktechnischen Produktion - Anforderungen und Lösungen.
In: Gail, L.; Weißieker, H.; Gommel, U.: Praxiswissen Reinraumtechnik.
Heidelberg: Hüthig, 2009, S. 307 – 315

Schmillen 1967 Schmillen, A.; Legler R.: Lumineszenz organischer Substanzen.

In: Landolt, H.; u.a.: Zahlenwerte und Funktionen aus
Naturwissenschaften und Technik. Gruppe 2: Atom- und
Molekularphysik. Band 3. Berlin u.a.: Springer, 1967

Schmillen 1971 Schmillen, A.: Physikalische Grundlagen und Anwendungen der

Lumineszenz organischer Stoffe.
In: Riehl, N.; Fischer, F.: Einführung in die Lumineszenz.
München: Thiemig, 1971, S. 276-330

Schneckenburger Schneckenburger, H.; König, K.: Fluorescence decay kinetics and

1992 imaging of NAD(P)H and flavins as metabolic indicators.
In: Optical Engineering 31 (1992), Nr. 7, S. 1447-1451

Schröder 1998 Schröder, G.: Technische Optik: Grundlagen und Anwendungen.

8. Aufl. Würzburg: Vogel, 1998

Schüle 2004 Schüle, A.: Prüfverfahren zur in-situ-Erkennung von Biokontamination

auf technischen Oberflächen.
Heimsheim: Jost-Jetter Verlag, 2006
Stuttgart, Univ., Fak. Maschinenbau, Diss., 2004

Schwarz 2004 Schwarz, O.; Ebeling, F.-W.: Kunststoffkunde.

Würzburg: Vogel, 2004

140
Senske 2008 Senske, W.: Technische Sauberkeit von Verbindungselementen,
Anforderung der Automobilindustrie.
In: Arnold Umformtechnik: Kundenseminar Technische Sauberkeit.
Forchtenberg, 12. Juni 2008, 22 Folien

Somersall 1975 Somersall, A. C.: Guillet, J. E.; Photoluminescence of Synthetic Polymers.

In: Polymer Reviews 13 (1975), Nr. 2, S.135-187

Steffen 2000 Steffen, G.: Farbe und Lumineszenz von Mineralien - Einführung in die
kristallchemischen und kristallphysikalischen Ursachen.
Stuttgart: Thieme, 2000

Steffen 1999 Steffen, G.: Leuchtende Mineralien - Aktivatoren und Killer.

In: Der Aufschluss 50 (1999), Nr. 6, S.353-356

Stemmer 2007 Stemmer Imaging GmbH: Produktkatalog Kameras.

Puchheim, 2007 - Firmenschrift

Stöhr 2003 Stöhr, C.: Sauberer Motor: Reinigungs- und Analyseverfahren für
kompakte Bauteile.
In: QZ Qualität und Zuverlässigkeit 48 (2003), Nr.1, S. 49 - 51

Stokes 1852 Stokes, G. G.: On the Change of Refragibility of Light.

In: Philos. Trans. of the Royal Soc. of London 142 (1852) Nr. 2,
S. 463-562

Stübel 1913 Stübel, H.: Die Fluoreszenz tierischer Gewebe in ultraviolettem Licht.
In: Pflügers Arch. ges. Physiol. d. Menschen u. Tiere 142 (1911), S. 1-14

Trautsch 2003 Trautsch, M.: Eignung eines neuen Schnelltests zur Prüfung der
Oberflächenreinheit im Rahmen betrieblicher Eigenkontrolle in
Lebensmittelbetrieben.
München, Ludwig-Maximilians-Univ., Diss., 2003

Trinkler 1997 Trinkler, M.: Optisch aktive Zentren in natürlichen Fluoriten und
Scheeliten und ihre Beziehungen zu Chemismus und Genese.
Freiberg, TU Bergakademie, Diss., 1997

Valet 2006 Valet, O.: Bauteilsauberkeit - sicher und simpel.

In: MO Metalloberfläche 60 (2006), Nr.11, S.32-34

Van Basshuysen Van Basshuysen, R.; Schäfer, F.: Lexikon Motorentechnik: Der
2006 Verbrennungsraum A – Z.
2. Aufl. Wiesbaden: Vieweg, 2006

141
Vohrer 2004 Vohrer, U.: Oberflächenanalytik: Methoden, Möglichkeiten und Grenzen
im industriellen Einsatz.
Friedrichshafen: Forum Messe parts2clean, 28. Oktober 2004, 15 Seiten

VDA 4500 VDA 4500 2006 01: Kleinladungsträger (KLT-)Systeme.

VDA 19 Verband der Automobilindustrie: Band 19; Prüfung der Technischen

Sauberkeit - Partikelverunreinigung funktionsrelevanter Automobilteile.
Frankfurt, 2004

Wedler 2004 Wedler, G.: Lehrbuch der physikalischen Chemie.

5. Aufl. Weinheim/Bergstraße: WILEY-VCH, 2004

VW 2006 Volkswagen PV3370: Automatikgetriebe, Schaltgetriebe mit besonderen

Anforderungen - Prüfung auf Restschmutz / Innenraumsauberkeit. 2006

Wolff 2006 Wolff, O.: Bauteilsauberkeit in der Automobilindustrie, ein

Qualitätsmerkmal macht Karriere.
In: Quality Engineering (2006), Nr. 9, S. 10-12

Zander 1981 Zander, M.: Fluorometrie.

Berlin u.a.: Springer, 1981

Zeiss 2009 Carl Zeiss AG: Produktkatalog Mikroskopie und Imaging: Zubehör
Filtersätze. Oberkochen, 2009 - Firmenschrift

ZF 2004 ZF Friedrichshafen ZFN 5008-1: Sauberkeit von ZF-Produkten. 2004

142