CDM UNINA Lecture6
CDM UNINA Lecture6
CDM UNINA Lecture6
A.A. 2016/2017
Prof. Luca Esposito
Risposta:
Con l’approccio classico della meccanica dei materiali non
siamo in grado di farlo
Sforzo Sforzo
applicato ammissibile
Tensione
• Un materiale incline a sviluppare
plasticità è meno sensibile al
s
rischio di clivaggio;
n
Distanza dal fondo cricca
Tensione , deformazione
grani
cricca
zona plastica
frattura transgranulare
Clivaggio - innesco
• Cercare di evitare
l’innesco del
clivaggio con metodi
propri della
meccanica classica è
stato un fallimento;
banda di scorrimento
grano
fase
fragile
Clivaggio - frattografia
• La superficie di frattura
interessata da clivaggio risulterà
multisfaccettata e più lucente
rispetto a quella interessata da
grandi scorrimenti plastici
• Un aspetto radiale o a foglia di
lattuga consente di individuare il
punto di innesco della frattura
Foro ellittico: soluzione di Inglis
• Inglis nel 1913 studiò l’effetto di un foro ellittico in una lastra
piana sottile
max K t
a a
Kt 1 2 1 2
b
b2
a
Se 0 K t max
1
2
1
P P V
2
Ws 2 A s 4aB s
Teoria di Griffith
2 2
0 a B
2
2 a B
E a E
Ws 2 A s 4aB s Ws
4 sB
a
R: resistance
W 2
s a 2 s
a a E
Note le dimensioni
2E s del difetto trovo la
f tensione critica
2 a
a 2 s
E
2E s
ac Nota la sollecitazione
2
trovo la massima
dimensione del
difetto accettabile
Teoria di Irwin
La moderna MFLE si basa solla conoscenza del campo tensionale nell’intorno
dell’apice del difetto. L’approccio tensionale si deve a Irwin che lo formulò nel
1957
Teoria di Irwin
La moderna MFLE si basa solla conoscenza del campo tensionale nell’intorno
dell’apice del difetto. L’approccio tensionale si deve a Irwin che lo formulò nel
1957
Teoria di Irwin
KI
2
G
E
Propagazione a fatica del difetto
da
C K n
dN
Legge di Paris
• Al di sotto di Kth non si verifica propagazione (≈4MPam0.5 per acciai)
• Nella regione I la crescita del difetto è microscopica
• La regione II è il regime dove vale la legge di Paris
• Nella regione III il difetto cresce molto rapidamente fino a diventare
instabile
• La legge di Paris può essere integrata analiticamente o numericamente per
calcolare il numero di cicli (durata) o la crescita del difetto dopo un certo
numero di cicli
af
n N f N i
af Nf
1 da
da
a C K n dN
Y a
n n
i Ni
C ai
a1fn /2 ai1n /2
N f Ni n per n 2
Ipotesi di Y
n pressappoco
1 C Y n
indipendente da a
2
Legge di Paris
ln a f ai
N f Ni
CY
2 2
per n 2