Diodes À Jonction PN
Diodes À Jonction PN
Diodes À Jonction PN
I. DIODES À JONCTION PN
I.1 Symbole – Constitution
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Les Diodes
𝑁𝑁
𝑈 𝑈 ln
𝑛
NA est la concentration des atomes accepteurs de la zone P. ND est la concentration des
atomes donneurs de la zone N. ni est la concentration intrinsèque du matériau (par exemple le
silicium). UT est la tension thermodynamique (ou thermique) définie par :
⁄
𝑈 (UT ≈ 26 mV à 300 K) Unités : 𝑉
avec
k ≈ 1,38・10−23 J/K : Constante de Boltzmann en joules par kelvin.
q ≈ 1,6・10−19 C : Valeur absolue de la charge de l’électron en coulombs.
T : Température absolue en Kelvin (0◦C = 273,15 K).
Question : Soit une jonction PN au silicium à 300 K avec une concentration intrinsèque du
silicium ni = 1,45・1010 cm−3, un dopage NA = 1018 cm−3 dans la région P et un dopage
ND = 1016 cm−3 dans la région N. Calculer sa tension de contact à 300 K.
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Les Diodes
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Les Diodes
𝑖 𝐼 𝑒 1
2) Fonctionnement dans la zone de claquage (uD est négative, voir Fig. I.5)
𝑖 𝐼 𝑒
UBV est la tension de retournement (breakdown voltage) définie positive. IBV est le courant
inverse de retournement défini positif. NBV est le facteur « d’idéalité » d’ajustement.
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Exemple I.1
Un des modèles SPICE de la diode 1N4148 spécifie IS = 2,68 nA, N = 1,84, UBV = 100 V,
IBV = 100 µA et NBV = 1.
Remarque : Le courant inverse réel d’une diode est plus élevé que le courant IS car
l’expression précédente ne rend pas compte des courants de fuite et de recombinaison en
surface et dans la zone de charge d’espace. SPICE permet de rendre compte de ces
imperfections et également de quelques autres...
b) Caractéristique
La caractéristique (Fig. I.5) iD = f (uD) passe par l’origine ; une diode est un dipôle passif.
L’échelle des courants est dilatée pour les courants négatifs.
c) Schémas équivalents
• Schéma équivalent « larges signaux » (Fig. I.6). C’est une source de courant iD
commandée par la tension uD selon les équations du modèle de base.
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• Schéma équivalent « petits signaux » (Fig. I.7). C’est une résistance dynamique rd
fonction du point de polarisation (UD1, ID1) de la diode. Pour simplifier, on note
respectivement id et ud à la place de diD et duD.
1) Fonctionnement normal
D’où
𝑁𝑈 𝑁𝑈
𝑟
𝐼 𝐼 𝐼
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uD = uD1 = uD2
1) Fonctionnement normal. La répartition du courant iD1 + iD2 entre iD1 et iD2 dépend
beaucoup des courants de saturation IS1 et IS2 (qui dépendent fortement de la température). La
répartition n’est pas équilibrée.
2) Claquage. La répartition du courant iD1 + iD2 entre iD1 et iD2 dépend très fortement des
tensions de retournement UBV1 et UBV2. La répartition n’est pas du tout équilibrée.
I.5 Limites et imperfections
a) Comportement en température
• Comportement en température du courant de saturation
avec
T et T0 sont les températures absolues (en Kelvin) de la jonction. IS et IS0 sont les courants de
saturation respectivement à T et T0. EG est la largeur de la bande interdite (band gap) qui
dépend du matériau : EG = 1,43 eV pour l’arséniure de gallium (GaAs), 1,11 eV pour le
silicium (Si) et 0,66 eV pour le germanium (Ge). X est un exposant (3 pour le silicium).
Généralement, X/N vaut 2 pour le germanium, 1,5 pour le silicium et l’arséniure de gallium.
Variation relative de IS en fonction de la température :
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Attention ! Le courant IS double tous les 7 ◦C environ pour du silicium et tous les 11 ◦C
environ pour du germanium. En conséquence, le courant iD varie beaucoup avec la
température en polarisation inverse.
• Comportement en température de la tension de jonction en polarisation directe.
On suppose EG indépendante de la température et uD > 3NUT.
Avec
Attention ! Le courant ID doit être maintenu constant pour que UD0 le soit aussi. Il permet de
régler dUD/dT. Le terme ln T/T0 modifie légèrement dUD/dT.
Question : Calculer UD0 et dUD/dT d’une diode 1N4148 (IS0 = 2,68 nA, X = 3, N = 1,84 et
EG = 1,11 eV) pour un courant ID = 5 mA autour de 300 K.
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où τ est la durée de vie moyenne des porteurs minoritaires (ou temps de transit).
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Fig. I.12 Diode en commutation Fig. I.13 Schéma équivalent à la (Fig. I.12)
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• Temps de recouvrement direct (tfr : forward recovery time). C’est le temps que met une
diode pour passer de l’état bloqué à l’état passant. Une impulsion positive est correctement
transmise si sa durée est suffisamment supérieure au temps de recouvrement direct.
• Temps de recouvrement inverse (trr : reverse recovery time, trr = ts + tr). C’est le temps que
met une diode pour passer de l’état passant à l’état bloqué. Les constructeurs spécifient ce
temps comme le temps que met le courant à s’annuler dans la diode lorsque celle ci est
polarisée en inverse dans des conditions de polarisation déterminées. C’est la charge stockée
qui limite fortement la vitesse de commutation de la diode. Une impulsion négative est
correctement transmise si sa durée est suffisamment supérieure au temps de recouvrement
inverse.
Remarque : Pour compenser la capacité C, il faut mettre un condensateur en parallèle sur la
résistance R. La capacité C dépendant de la polarisation, la compensation sera performante
uniquement pour des tensions EH et EL fixes. La bonne solution est d’utiliser des diodes
« rapides », c’est à dire à faible temps de recouvrement (diodes Schottky en particulier).
Remarque : La capacité est fixe. Elle est calculée autour d’un point de polarisation (UD1, ID1)
donné.
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• Description. C’est une diode à jonction PN utilisée en inverse dans la zone de claquage. Ce
claquage n’est pas destructif si le courant maximal IZ Max et la puissance maximale PZ Max ne
sont pas dépassés.
• Caractéristique et modèle de base (voir § I.4). Toutes les équations générales et schémas
équivalents restent valables. Il suffit d’effectuer le changement de variables iZ = −iD et
uZ = −uD et de se rappeler que le fonctionnement normal d’une Zener est obtenu pour uZ
positif (uD négatif). Pour le schéma équivalent « petits signaux », on définit la résistance
dynamique rZ = duZ/diZ fonction du point de polarisation (UZ1, IZ1).
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Variation de CT
• Description. C’est une jonction PN très fortement dopée. Cela se traduit par une zone à
résistance dynamique négative dans la caractéristique iD = f (uD) de la diode. Elles sont
utilisées pour réaliser des oscillateurs en hautes fréquences jusqu’à 2 GHz.
• Caractéristique (Fig. I.23). On distingue trois zones. Une zone de faible résistance entre
l’origine et le pic (UP, IP), une zone à résistance dynamique négative entre le pic et la vallée
(UV, IV), et une zone qui rejoint la caractéristique classique d’une diode (en pointillés) après la
vallée.
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