Probador Diodos Rapidos
Probador Diodos Rapidos
Probador Diodos Rapidos
SABER ELECT RÓNICA
uso general que se puede usar como generador deprueba de etapas driver para TVy monitores ademásde su uso original
como medidor de velocidad dediodos.
Veamos completa la variante con compuerta. Enla figura 43 se puede observar el circuito correspon-diente realizado
en un Workbench Multisim.
En la parte superior se puede observar el circuitode la fuente de alimentación y en la inferior el gene-rador. Cuando
se conecta la tensión de fuente a lacompuerta el capacitor C1 de .001µF se encuentradescargado, esto significa que la
salida estará a po-tencial de 12Vy el capacitor se irá cargando a travésde R1 y R2 (aproximadamente 950 Ohm). Cuando
sesupere los 6 volt, la compuerta bajará la salida rápi-damente y el capacitor se descargará por intermediode R1 (18k Ω)
solamente ya que el diodo D1 está eninversa. De este modo, se consigue diseñar un gene-rador de señal rectangular con
un período de activi-dad ajustado al valor deseado. La segunda compuer-ta recibe la señal de salida de la primera y la
invier-te de modo que el semiperíodo bajo sea el más cor- to.
Por lo tanto, el transistor recibirá un pulso cortode potencial de masa y todo el resto del tiempo unpulso de 12V. El
acoplamiento a base se realiza a tra-vés de un divisor de tensión formado por R3 y R4para no sobreexcitar al transistor.
Para reforzar la ve-
locidad de crecimiento del transistor compensado lacapacidad por efecto Miller, se agrega un capacitorde 56 pF sobre el
resistor R3. La señal de base se am-plifica y termina saliendo invertida por el colectordel transistor TR1 sobre el resistor
R5 de 39 Ohm.
Precisamente en el colector se conecta el ánododel diodo a probar y su emisor se conecta al capaci-tor C3
de .022µF con un resistor de descarga R6 de2k2. El resistor R7 de 33 Ohm se agrega para podermedir la corriente
circulante por el diodo medianteun osciloscopio.
Sobre el capacitor C3 se puede obtener la tensiónde salida rectificada, que será fuertemente depen-diente de la
velocidad del diodo bajo prueba ya quela constante de tiempo R6 C3 fue elegida baja contoda premeditación, para
exagerar la calidad del dio-do.
El prototipo requiere un transformador que sumi-nistre 12V eficaces a 200mAo más y un puente derectificadores
cualquiera que admita estos valores.En las figuras 44 y 45 se pueden observar el circuitoimpreso de este probador.
El proyecto con microprocesador PIC se indica alfinal como un apéndice. La lista de materiales delprobador es la
siguiente:
1 Transformador 12V 200mA o mejor
1 Puente de rectificadores 50V 250mA o mejor
R E P A R A C I Ó N D E TE L E V I S O R E S D E U L T I M A G E N E R A C I Ó N
Figura 43
1 Regulador 7812
1 Transistor BC369
1 Diodo 1N4148
4) La tensión continua sobre C3 con un téster di-gital o analógico para todos aquellos reparadoresque no tienen
osciloscopio.
Las mediciones 2 y 3 se repetirán para el diodode muestra (1N4148) y para el diodo dudoso BY228(ver figuras 46 a
50).
Analicemos primero, el funcionamiento con eldiodo de muestra. Cuando aplicamos el pulso de 12Vel diodo conduce
y carga al capacitor con una señalde rampa creciente. Que lleva la tensión desde 6,8Vhasta 9,34V (el téster indicará un
valor medio deaproximadamente 8,47V).
Cuando el pulso de entrada cae a cero, el capaci-tor mantiene la carga y sólo se produce la descargacorrespondiente
al resistor R6 con forma de rampadescendente.
La forma de señal de corriente por el diodo se
puede observar como una caída de tensión en la re