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    Mapa Conceptual U3 y U4 CE

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    Mario Chavez
    El documento describe diferentes tipos de microscopía electrónica. Explica que la microscopía electrónica de barrido requiere ultra alto vacío y que cuanto mayor sea la imagen, menor será la resolución. También describe que la microscopía electrónica de transmisión permite obtener imágenes con alta resolución al transmitir electrones a través de una muestra ultradelgada y detectar los electrones transmitidos y desviados.

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    El documento describe diferentes tipos de microscopía electrónica. Explica que la microscopía electrónica de barrido requiere ultra alto vacío y que cuanto mayor sea la imagen, menor será la resolución. También describe que la microscopía electrónica de transmisión permite obtener imágenes con alta resolución al transmitir electrones a través de una muestra ultradelgada y detectar los electrones transmitidos y desviados.

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    El documento describe diferentes tipos de microscopía electrónica. Explica que la microscopía electrónica de barrido requiere ultra alto vacío y que cuanto mayor sea la imagen, menor será la resolución. También describe que la microscopía electrónica de transmisión permite obtener imágenes con alta resolución al transmitir electrones a través de una muestra ultradelgada y detectar los electrones transmitidos y desviados.

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    Microscopia

    electrónica de Microscopio electrónico de


    Fundamento
    barrido barrido de emisión NOVA

    - Requiere de ultraalto vacío • Resolución de 1nm a 30Kv


    Ecuación de Aplicaciones
    - Entre mas grande sea la • Detector de electrones
    Abbe Ecuación de
    imagen a tomar se reduce Secundarios
    Broglie
    Es la resolución en un • Determinación • Voltaje Acelerador: 200 V a 30
    sistema óptico elemental de Kv
    Son las partículas en • Transferencia de energía al
    perfecto se puede contaminantes en
    movimiento tienen átomo de la muestra
    describir materiales sólidos
    propiedades ondulatorias y
    matemáticamente • Estudio de interfase en
    Rayos X que su longitud de onda se
    materiales
    puede calcular, en función
    Los rayos X de su masa y su nivel de
    proporcionan energía
    información analítica
    de un volumen Electrones retro
    considerable de la dispersados
    muestra

    • Imágenes con contraste


    depende del numero Catodioluminiscencia
    atómico
    Electrones
    secundarios • Estructura electrónica y
    la composición química
    de los materiales
    • Topografía Se generan 3 Por interacciones Electrones
    mecanismos de electrones transmitidos

    • Estructura interna y la
    cristalografía de la
    BSE que impacten
    con las piezas
    Por interacciones
    de alta energía
    retrodispersados
    muestra
    UNIDAD 3
    polares del
    microscopio
    Microscopia Tipos de señales
    Transmisión de
    electrónica de emitidas por una
    electrones
    transmisión muestra

    Ondas
    electromagnéticas Electrones Fuerza
    Electrones no Resolución electromotriz
    Se clasifican
    desviados
    Estos
    generan Microscopio Microscopio
    Electrones imagen óptico electrónico
    desviados Emisión de
    Electrones elásticamente campo
    inelásticos
    La tomografía Se emplean campos
    Estos generan Imágenes electromagnéticos que
    EFTEM
    ruido de promueven la salida de
    fondo electrones del sólido
    • BF, Bright field: se STEM
    recogen los electrones
    del haz directo Técnica de
    Técnicas
    • DF, Dark field, se Campo Claro
    • Microanálisis de rayos X
    seleccionan los
    • WDX mide y cuenta los
    electrones dispersados
    rayos x según su longitud
    de onda Técnica de
    • EELS analiza electrones Espectroscopía Contraste Z
    transmitidos para de Rayos X (EDS
    Para el STEM
    determinar la cantidad o EDX)
    hay dos tipos de Técnica de alta
    electrones de energía perdida resolución
    (HRTEM)
    • Espectroscopía
    por EELS
    El grosor de materia es la principal
    Los electrones de haz Para electrones dispersados fuente de contraste en materiales
    directo emplea un detector se emplea un detector Contraste
    amorfos. Este contraste está causado
    situado en el eje del haz (on
    axis)
    anular alrededor (off axis) en muestras
    principalmente por la dispersión de
    Rutherford
    UNIDAD 4

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