Informe 6 Mosfet Int
Informe 6 Mosfet Int
Informe 6 Mosfet Int
Si VR>Vcomp entonces V0 = 0V
Si Vcomp>VR entonces V0 = V2
Ciclo de dureza
B. Simulacin.
4
3
U1A
LM324
V+
OUT
+
1
V3
- 11
7Vdc
V-
R1
D1
D1N4002
V1
R6
110
1k
D2
D1N4002
R7
0 0.8K
R2
470
FREQ = 60
VAMPL = 15
D3
D4
VOFF = 0.000000001
D1N4002
D1N4002
M1
R5
4.7k
R4
1k
IRF150
0
0
V2
7Vdc
10V
5V
0V
-5V
0s
V(D2:2)
10ms
V(R2:2)
20ms
30ms
40ms
50ms
60ms
70ms
80ms
90ms
100ms
Time
4.0V
Voltaje Umbral
: 4V
Resistencia DS
: 0,4
El voltaje mximo
de dreno fuente: 200V
La corriente Mxima de dreno : 9A
El voltaje Mximos de compuerta fuente
: 20V
La potencia mxima disipada : 75W
Se determina la relacin entre la resistencia R4 y el ciclo de
dureza.
-4.0V
0s
V(R2:2)
10ms
V(R7:2)
20ms
V(U1A:OUT)
30ms
40ms
50ms
60ms
70ms
80ms
90ms
100ms
Time
8.0V
4.0V
-4.0V
0s
V(U1A:OUT)
10ms
20ms
V(R6:2)- V(M1:d)
30ms
40ms
50ms
Time
60ms
70ms
80ms
90ms
100ms
C. Experimento.
CONCLUSIONES
Los errores obtenidos se deben a que no se usaron los valores
de las resistencias calculados y se usaron resistencias
aproximados que se encontraban en el laboratorio.
Se pudo observar experimentalmente el
funcionamiento del transistor MOSFET en las regiones de
corte y saturacin.
Se logro establecer el concepto de detector de cruce por cero y
de circuitos sncronos.
Se implement un circuito de regulacin de velocidad
sncrono que simula el comportamiento elemental de un motor
en AC
Es preferible usar transistores de canal N dado que en estos
los portadores mayoritarios de carga son los electrones y
tienen una mayor movilidad que los huecos y en el canal P y
Lo que se traduce en mejor velocidad de cambio de estado,
menor y menor capacitancia
en la compuerta. Ademas debido a que los transistores canal N
son mas comunmente utilizados, causan que
sean mas baratos que los de canal P.
Se tener en cuenta la limitaciones de Corriente y de voltaje
que tiene el MOSFET para manejar