Metalografia

TECNOLOGICO NACIONAL DE MEXICO
INSTITUTO TECNOLOGICO DE LEON

INGENIERIA EN ELECTROMECANICA
Profesor: No Cesar Estrada Quiroz
Alumnos:
Arenas Bonilla Daniel
4rt semestre
Hernndez Rivera Adrin Jess
3er semestre
Olivares Gutirrez Christian Alexis
2sdo semestre
Trabajo: Practica #1.
Fecha de entrega: 23/06/16
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
GRUPO: Verano 7:00 am
23 de Junio del 2016.
FECHA:
Introduccin.
Con la realizacin de esta prctica, se pondr en aprendizaje el mtodo
para el pulido de probetas metlicas en un laboratorio, adems de realizar un
ataque qumico para resaltar el lmite de grano para su posterior observacin en el
microscopio metalogrfico.
De esta manera se podr hacer una comparacin entre las fotomicrografas del
marco terico y las tomadas en el ensayo. As, se identificar el tipo de metal
basndose en la forma del lmite de grano, y formar una investigacin exhaustiva
sobre la posible falla de un material o tratamiento trmico a que haya sido
sometido.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
PRCTICA No. 1
NOMBRE:
Metalografa
a) Pulido
b) Ataque para resaltar lmite de grano.
c) Uso del microscopio metalogrfico.
OBJETIVO:
Realizar los pasos necesarios para la preparacin de probetas

metlicas a observar en este tipo de ensayes.
Atacar correctamente los materiales con los elementos qumicos
necesarios.
Identificar los lmites de grano de cada material.
Comparar y diferenciar las fotomicrografas de los metales y
aleaciones durante el desarrollo de la prctica.
Identificar los mtodos de estudio metalogrfico.
Utilizar la microscopa ptica en la caracterizacin de los materiales.
Preparacin de las muestras para su observacin metalogrfica.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
MARCO TERICO:
1.- Qu es la metalografa?
La metalografa es la ciencia que estudia las caractersticas estructurales o
constitutivas de un metal o aleacin relacionndolas con las propiedades fsicas y
mecnicas.
Estudia tambin microscpicamente las caractersticas estructurales de un
metal o de una aleacin.
Consiste en realizar un estudio de la microestructura del material, adems
de que una vez realizada conoceremos ciertas caractersticas de la aleacin,
como lo es el tamao de grano, los granos de frontera, la fase o fases
caractersticas de la aleacin, etc.
2.- Cuales son los tipos de microscopios y su uso?

MICROSCOPIO PTICO
La parte mecnica del microscopio, tornillo micromtrico. Estos elementos
sostienen la parte ptica y de iluminacin; adems permiten los desplazamientos
necesarios para el enfoque del objeto.
La microscopa comienza con la necesidad del hombre de ver cosas que a
simple vista no puede ver pero que ha deducido que existen. El microscopio ptico
ms simple es la lente convexa doble con una distancia focal corta. Estas lentes
pueden aumentar un objeto hasta 15 veces. Por lo general se utilizan
microscopios compuestos, que disponen de varias lentes con las que se
consiguen aumentos mayores. Algunos microscopios pticos pueden aumentar un
objeto hasta 2,000 veces. Utiliza la luz visible de 500nm (verde amarilla) para
crear una imagen aumentada del objeto.
El microscopio compuesto consiste en dos sistemas de lentes: el objetivo y
el ocular. Cuando se mira a travs del ocular se ve una imagen virtual aumentada
de la imagen real.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
(a)
(b)
(c)
Figura 1-1. (a) Esquema del funcionamiento de un microscopio ptico. (b)

Esquema de un microscopio ptico compuesto con sus partes auxiliares.
Fotografa de un microscopio ptico compuesto.
(c)
MICROSCOPIO ESTEREOSCPICO
Dentro de la evolucin de los microscopios pticos, est el microscopio
estereoscpico, este consiste en un par de microscopios de baja potencia unidos y
colocados de forma que convergen en el espcimen (Figura 1-2). El microscopio
estereoscpico hace posible la visin tridimensional de los objetos. Consta de dos
pares oculares y de dos objetivos pares para cada aumento.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
Figura 1-2. Fotografas de un microscopio estereoscpico.
MICROSCOPIO DE LUZ ULTRAVIOLETA

A pesar que consideramos a la luz como un ente sin tamao, sta est limitada
por su longitud de onda y resulta imposible que nos permita observar objetos con
tamaos inferiores a esta medida, hecho que ha propiciado la creacin de
microscopios que rompan con esta limitante. El rango ultravioleta del espectro
luminoso en lugar del rango visible, lo que permite aumentar la resolucin con una
longitud de onda menor o para mejorar el detalle, absorbiendo selectivamente
distintas longitudes de onda de la banda ultravioleta a 250nm. Dado que la
radiacin ultravioleta es invisible, la imagen se muestra con fluorescencia, en
fotomicrografa o con un monitor (Figura 1-3).
Figura 1-3. Fotografas de microscopio de luz ultravioleta
MICROSCOPIO PETROGRFICO O DE POLARIZACIN

Es un microscopio ptico diseado para identificar y estimar cuantitativamente los
componentes minerales de las rocas gneas y las rocas metamrficas (Figura 14). Cuenta con un prisma para polarizar la luz que pasa a travs del espcimen
examinado. Otro prisma Nicol o analizador determina la polarizacin de la luz que
ha pasado a travs de espcimen.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
Figura 1-4. Fotografa de microscopio petrogrfico o de polarizacin.

MICROSCOPIO EN CAMPO OSCURO
Este microscopio ptico, utiliza una luz muy intensa en forma de cono hueco
concentrado sobre el espcimen. El campo de visin del objetivo se encuentra en
la zona hueca del cono de luz y solo recoge la luz que se refleja en el objeto. Esta
forma de iluminacin se utiliza para analizar elementos biolgicos transparentes y
sin manchas, invisibles con iluminacin normal. Este microscopio est provisto de
un condensador ovalado, que hace que los rayos luminosos no penetren
directamente en el objetivo, sino que iluminan oblicuamente la preparacin
(Figura 1-5).
(a)
(b)
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
Figura 1-5. (a)Fotografa de microscopio de campo oscuro. (b)Esquema de

funcionamiento de microscopio de campo oscuro.
MICROSCOPIO DE CONTRASTE DE FASES
En el campo de la biologa, para poder observar una clula o tejido al microscopio
de campo claro convencional hay que fijarla y hacerle una tincin, lo que implica,
la muerte de la clula en cuestin. El microscopio de contraste de fase permite
observar clulas sin colorear y resulta especialmente til para clulas vivas.
El microscopio de contraste de fases se basa fundamentalmente en el retraso que
se produce en las ondas de luz al atravesar objetos de distintos ndices de
refraccin, aprovechando y amplificando dichos retrasos.
Este aprovecha las pequeas diferencias de los ndices de refraccin en las
distintas partes de una clula y en distintas partes de una muestra de tejido. La luz
que pasa por regiones de mayor ndice de refraccin experimenta una deflexin y
queda fuera de fase con respecto al haz principal de ondas de luz que pasaron la
muestra. Aparea otras longitudes de onda fuera de fase por medio de una serie de
anillos pticos del objetivo y del condensador, anula la amplitud de la porcin fuera
de fase inicial del haz de luz y produce un contraste til sobre la imagen. Las
partes oscuras de la imagen corresponden a las porciones densas del espcimen;
las partes claras de la imagen corresponden a porciones menos densas. Por lo
tanto estos microscopios se utilizan para observar clulas vivas, tejidos vivos y
cortes
semi-finos
no
coloreados
(Figura
1-6).Dos
modificaciones
del
microscopio de fase son el microscopio de interferencia o contraste y el

microscopio de interferencia diferencial.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
(Figura 1-6). Configuracin de microscopio de contraste de foco
MICROSCOPIO DE LUZ POLARIZADA

Se basa en la propiedad de ciertas sustancias (anistropas) que tienen distinto
ndice de refraccin segn la direccin que se considere, y puede estudiar
molculas. Contiene dos filtros polarizantes:
Polarizador y analizador. Las estructuras istropas no dividen la luz polarizada
plana (que solo vibra en un plano), pero las estructuras anistropas son
birrefringentes (Figura 1-7).
Figura 1-7. Fotografas de microscopios de luz polarizada.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
MICROSCOPIO DE CAMPO CERCANO

Se pueden ver detalles menores a la longitud de onda de la luz. Se hace pasar un
haz de luz a travs de un orificio diminuto y se proyecta a travs de un orificio
diminuto y se proyecta a travs del espcimen a una distancia equivalente a la
mitad del dimetro del orificio, formando una imagen completa (Figura 1-8).
Figura 1-8. Fotografa de microscopio de campo cercano.
MICROSCOPIO DE FLUORESCENCIA
Para poder observar estructuras invisibles con otros microscopios, se han
aprovechado las propiedades de distintas sustancias para provocar contrastes en
la composicin de ciertas estructuras, un ejemplo de ella es el microscopio de
fluorescencia. Su caracterstica fundamental es la incorporacin de una lmpara,
que excita al fluorocromo, y un filtro especial, que presenta altos valores de
transmisin para las ondas emitidas. La fluorescencia es la propiedad que tiene
algunas sustancias de emitir luz propia cuando inciden sobre ellas radiaciones
energticas. El tratamiento de material biolgico con fluorocromos facilita la
observacin al microscopio. Una sustancia natural en las clulas o un colorante
fluorescente aplicado al corte es estimulado por un haz de luz, emitiendo parte de
la energa absorbida como rayas luminosas: esto se conoce como fluorescencia.
La luz fluorescente de mayor longitud de onda se observa como si viniera
directamente del colorante. (Figura 1-9).
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
Figura 1-9. Fotografa de microscopio de fluorescencia.
MICROSCOPIO CONFOCAL
En la gama de posibilidades de las que pueden disponerse para observar cosas
que la longitud de onda de la luz visible no permite, se han utilizado distintas
fuentes de iluminacin, obteniendo distintos resultados en la observacin de
estructuras microscpicas. Producto de la utilizacin de distintas fuentes de
iluminacin, existe el microscopio confocal, este es un microscopio ptico que
utiliza lseres como fuente luminosa, e incorpora dos diafragmas:
1. Un diafragma de iluminacin localizado tras la fuente luminosa,
denominado pinhole de excitacin, para eliminar la luz proveniente de
planos superiores e inferiores al plano focal, aumentando con ello la
claridad y la resolucin de la imagen.
2. Un diafragma de deteccin, de tamao variable, situado delante del
fotoprotector, denominado pinhole de emisin.
El microscopio confocal se usa para detectar la expresin o localizacin de
molculas en dos o tres dimensiones, tanto en tejidos celulares como en
tejidos histolgicos; para estudiar el transporte intracelular y endocitosis;
para medir concentraciones de iones intracelulares.
MICROSCOPIO
METALRGICO
PTICO
En comparacin con uno de tipo biolgico, el

microscopio empleado habitualmente para
materiales difiere en la manera en que la
muestra es iluminada. Como una muestra
metalografa es opaca a la luz, la misma
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
debe ser iluminada por luz reflejada. Un haz de luz horizontal, de alguna fuente de
luz, es reflejado por medio de un reflector de vidrio plano, hacia abajo a travs del
objetivo del microscopio sobre la superficie de la muestra. Un poco de esta luz
incidente reflejada desde la superficie de la muestra se amplificar al pasar a
travs del sistema inferior de lentes, el objetivo, y continuar hacia arriba a travs
del reflector de vidrio plano; luego, una vez ms lo amplificar el sistema superior
de lentes, el ocular (Figura 1-11).
Este tipo de microscopio difiere de los biolgicos en que el objeto a estudiar se
ilumina con luz reflejada, ya que las muestras cristalogrficas son opacas a la luz.
Su funcionamiento est basado en la reflexin de un haz de luz horizontal que
proviene de la fuente, dicha reflexin se produce, por medio de un reflector de
vidrio plano, hacia abajo, a travs del objetivo del microscopio sobre la superficie
de la muestra. Parte de esta luz incidente, reflejada desde la superficie de la
muestra se amplificar al pasar a travs del sistema inferior de lentes, llegar al
objetivo y continuar hacia arriba a travs reflector de vidrio plano.
Figura 1-11. Fotografas de microscopios ptico metalrgicos.
MICROSCOPIO ELECTRNICO
Aun con la utilizacin luz de distintas longitudes para ver cosas que la luz visible
no permite, siguen existiendo cosas ms pequeas que no son visibles por estos
mtodos, por lo que se tuvo que buscar medios que permitieran la observacin
PRCTICA No. 1
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FECHA:
que por deducciones se saba que existan, aunque no haban sido vistas an.
Para estudiar la estructura interna de las clulas procariotas es esencial el uso del
microscopio electrnico. En este microscopio se utilizan electrones en vez de
rayos de luz, y como lentes funcionan unos electroimanes. Cuando los electrones
pasan a travs de la preparacin algunos son difractados creando entonces una
imagen que se hace visible en una pantalla sensible a los electrones. La longitud
de onda de la radiacin de los electrones es mucho ms pequea que la de la luz
visible y, como el poder resolutivo de un microscopio es inversamente proporcional
a la longitud de onda utilizada, la resolucin obtenida con el microscopio
electrnico es mucho mayor que la conseguida con el microscopio ptico.
Mientras que con el microscopio ptico ordinario o el de contraste de fases las
estructuras ms pequeas que pueden observarse tienen unos 0,2 m, con el
microscopio electrnico pueden verse fcilmente objetos de 0,001 m. Con el
microscopio electrnico es posible ver muchas sustancias incluso de tamao
molecular. Sin embargo, a causa de la naturaleza de este instrumento slo pueden
examinarse objetos muy delgados: si se est interesado en ver estructuras
internas, incluso una sola bacteria es demasiado gruesa para ser observada
directamente.
Por consiguiente, para preparar muestras para el microscopio electrnico se
necesitan tcnicas especiales de cortes ultra-finos. Para seccionar las clulas,
primero deben ser fijadas y deshidratadas, realizndose habitualmente esto ltimo
transfiriendo las clulas a un disolvente orgnico. Despus de la deshidratacin, la
muestra es incluida en plstico y en este plstico se cortan secciones finas
utilizando un ultra micrtomo, por lo general equipado con una cuchilla de
diamante. Una sola clula bacteriana, por ejemplo, puede cortarse en cinco o seis
secciones muy finas, que son examinadas despus individualmente con el
microscopio electrnico (Figura 1-12).
Figura 1-12. Fotografas de microscopios electrnicos.
MICROSCOPIO ELECTRNICO DE TRANSMISIN (MET )
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
Este microscopio electrnico, reemplaza la luz visible por un haz de electrones

que produce un muy alto poder de resolucin. En este sistema se reemplazan los
lentes (cristales) por campos electromagnticos, estos producen la amplificacin
de la imagen. Este haz de electrones viaje en un tubo de alto vaco, la imagen
formada es registrada en la pantalla (monitor) o en una placa fotogrfica. La
formacin de la imagen depende de la dispersin de los electrones. La imagen se
debe a la ausencia de esos electrones.
El microscopio electrnico de transmisin emite un haz de electrones dirigido
hacia el objeto que se desea aumentar. Una parte de los electrones rebotan o son
absorbidos por el objeto y otros lo atraviesan formando una imagen aumentada de
la muestra. Para utilizar un microscopio electrnico de transmisin debe cortarse
la muestra en capas finas, no mayores de un par de miles de angstroms. Los
microscopios electrnicos de transmisin pueden aumentar un objeto hasta un
milln
de
veces.
Permite la observacin de muestra en cortes ultra finos. Un MET dirige el haz de
electrones hacia el objeto que se desea aumentar. Una parte de los electrones
rebotan o son absorbidos por el objeto y otros lo atraviesan formando una imagen
aumentada del espcimen. Para utilizar un MET debe cortarse la muestra en
capas finas, no mayores de un par de miles de angstroms. Se coloca una placa
fotogrfica o una pantalla fluorescente detrs del objeto para registrar la imagen
aumentada. Los microscopios electrnicos de transmisin pueden aumentar un
objeto
hasta
un
milln
de
veces.
La resolucin de la imagen depende del nmero atmico y del grosor del objeto.
Los cortes de las muestras son de 1/40 micras (250 Armstrong) de espesor. Con
un MET se pueden obtener aumentos de hasta 160.000 veces.
MICROSCOPIO
ELECTRNICO
DE
BARRIDO (MEB )
En el microscopio electrnico de barrido la
muestra es recubierta con una capa de metal
delgado, y es barrida con electrones enviados
desde un can. Un detector mide la cantidad de
electrones enviados que arroja la intensidad de la
zona de muestra, siendo capaz de mostrar
figuras en tres dimensiones, proyectado en una
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
imagen de TV. Su resolucin est entre 3 y 20 nm, dependiendo del microscopio.

Permite obtener imgenes de gran resolucin en materiales ptreos, metlicos y
orgnicos. La luz se sustituye por un haz de electrones, las lentes por
electroimanes y las muestras se hacen conductoras metalizando su superficie.
Crea una imagen ampliada de la superficie de un objeto. No es necesario cortar el
objeto en capas para observarlo con un MEB (MICROSCOPIO ELECTRNICO
DE BARRIDO), sino que puede colocarse en el microscopio con muy pocos
preparativos. El MEB explora la superficie de la imagen punto por punto, al
contrario que el MET, que examina una gran parte de la muestra cada vez. Su
funcionamiento se basa en recorrer la muestra con un haz muy concentrado de
electrones, de forma parecida al barrido de un haz de electrones por la pantalla de
una televisin. Los electrones del haz pueden dispersarse de la muestra o
provocar la aparicin de electrones secundarios. Los electrones perdidos y los
secundarios son recogidos y contados por un dispositivo electrnico situado a los
lados del espcimen. Cada punto ledo de la muestra corresponde a un pxel en
un monitor de televisin. Cuanto mayor sea el nmero de electrones contados por
el dispositivo, mayor ser el brillo del pxel en la pantalla. A medida que el haz de
electrones barre la muestra, se presenta toda la imagen de la misma en el monitor.
Los microscopios electrnicos de barrido pueden ampliar los objetos 200.000
veces o ms. Este tipo de microscopio es muy til porque, al contrario que los
MET o los microscopios pticos, produce imgenes tridimensionales realistas de la
superficie del objeto
MICROSCOPIO ELECTRNICO DE ALTA ACELERACIN
Tiene hasta diez metros de altura y pesa 22 toneladas. Los electrones se
aceleran a travs de una campo de un milln de voltios. Esto les confiere la
energa cintica necesaria para atravesar muestras gruesas de hasta varios
micrmetros de espesor.
MICROSCOPIO DE SONDA DE BARRIDO
En los microscopios de sonda de barrido se utiliza una sonda que recorre la
superficie de una muestra, proporcionando una imagen tridimensional de la red de
tomos o molculas que la componen. La sonda es una afiliada punta de metal
que puede tener un grosor de un solo tomo en su extremo (Figura 1-15).
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
Figura 1-15. Fotografa de microscopio electrnico de barrido.
MICROSCOPIO DE EFECTO TUNEL

Un tipo importante de microscopio de sonda de barrido es el microscopio de tnel
de barrido (siglas en ingles de Scanning Tunelling Microscope, STM)
Este microscopio utiliza un fenmeno de la fsica cuntica, denominado efecto
tnel, para proporcionar Imgenes detalladas de substancias conductoras de
electricidad. La sonda se coloca a una distancia de pocos angstroms de la
superficie de material y se aplica un voltaje pequeo entre la superficie y la sonda.
A causa de la escasa distancia entre el material y la sonda, algunos electrones se
escapan a travs del hueco, generando una corriente. La magnitud de la corriente
del efecto tnel depende de la distancia entre la superficie y la sonda.
El flujo de corriente es mayor cuando la sonda se acerca al material, y disminuya
cuando la sonda se aleja. A medida que el mecanismo de barrido mueve la sonda
por encima de la superficie, se ajusta de modo automtico la altura de la sonda
para mantener constante la corriente del efecto tnel. Estos ajustes minsculos
permiten dibujar las ondulaciones de la superficie. Despus de muchas pasadas
hacia delante y hacia atrs, se utiliza un computador para crear una
representacin tridimensional del material.
Desde el punto de vista de la mecnica clsica un electrn no puede superar

una barrera de potencial superior a su energa.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
Sin embargo, segn la mecnica cuntica, los electrones no estn definidos por
una posicin precisa, sino por una nube de probabilidad. Esto provoca que en
ciertos sistemas esta nube de probabilidad se extienda hasta el otro lado de una
barrera de potencial. Por tanto el electrn puede atravesar la barrera, y contribuir a
generar una intensidad elctrica.
Esta intensidad se denomina intensidad de tnel y es el parmetro de control que
nos permite realizar la topografa de superficie.
MICROSCOPIO DE FUERZA ATMICA

El microscopio de fuerza atmica, ha sido muy importante en el desarrollo de la
nanotecnologa y para una precisa interpretacin y apreciacin de dimensiones
manomtricas, posndose en la cspide de la microscopia poderosa.
Otro tipo de microscopio de sonda de barrido es el microscopio de fuerza
atmica (Atomic Force Microscope, AFM), que no emplea la corriente de efecto
tnel y que por lo tanto puede utilizarse tambin en materiales no conductores.
El Microscopio de Fuerza Atmica (AFM) es un instrumento mecano-ptico que
detecta fuerzas a nivel atmico (del orden de los nano Newton) a travs de la
medicin ptica del movimiento sobre la superficie de un cantilver muy sensible
terminado en una punta con un cristal de forma piramidal, usualmente duro.
La longitud del cantilver es de 200um, y tiene una punta muy aguda de cristal en
el extremo. La muestra es movida en el barrido en las tres direcciones, mientras el
cantilver traza la superficie de la muestra en detalle. Todos los movimientos son
controlados por una computadora. La resolucin del instrumento es de menos de
1nm, y la pantalla de visualizacin permite distinguir detalles en la superficie de la
muestra con una amplificacin de varios millones.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
Figura 1-16.
microscopio de
FECHA:
Fotografa
de
fuerza atmica.
La obtencin de
imgenes en el
ordenador es posible mediante la interpretacin del movimiento del cantilver
producto del equilibrio de la fuerza del cantilver, las fuerzas de Van der Waals y la
tensin superficial generada por la humedad, al momento del barrido sobre la
muestra
La resolucin vertical del instrumento es de menos de 1 nm, y permite distinguir
detalles tridimensionales en la superficie de la muestra con una amplificacin de
varios
millones
de
veces.
Las fuerzas involucradas mencionadas anteriormente se detallan a continuacin:
-Fuerza de van der waals: es la fuerza estabilizadora de los tomos que forma
uniones no covalentes en las que estn involucradas tanto las fuerzas de atraccin
como
de
repulsin
-Fuerza de capilaridad ejercida por una delgada capa de humedad que esta a
menudo
presente
en
el
ambiente
y
muestra.
-Fuerza
ejercida
por
el
cantilver
La fuerza total ejercida sobre la muestra vara entre 10 -8 y 10 -6 N.
Formas
de
uso:
Modo de contacto: la punta del cantilver realiza un barrido en contacto con la
muestra manteniendo una fuerza constante, usando la deflexin de la punta
esttica como seal. Su principal problema es la generacin de friccin y el
consecuente desgaste tanto de la muestra como de la puta del microscopio
Modo de no-contacto: el barrido se efecta a una distancia manomtrica de la
muestra valindose de las fuerzas e van der waals para la cartografa de la
superficie
Modo de repiqueteo (tapping mode): se hace vibrar la punta en s punto de
resonancia produciendo un contacto intermitente con la muestra.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
3.- EXPLIQUE LAS ETAPAS PARA LA REALIZACIN DE UN

ENSAYO METALOGRFICO.
EXTRACCIN DE LA MUESTRA
Cortar la muestra con una cortadora metalogrfica: es un equipo capaz de cortar
con un disco especial de corte por abrasin, mientras suministra un gran caudal de
refrigerante, evitando as el sobrecalentamiento de la muestra. De este modo, no
se alteran las condiciones micro-estructurales de la misma.
MONTAJE
Si la muestra que va a examinarse es lo suficientemente grande como para que
pueda sujetarse bien con la mano, no es necesario montarla. Siempre que se
pueda se eligen probetas de 20 x 20 mm y alturas de 15 mm. La muestra puede
tambin encerrarse en una resina epxica de dos compuestos, que se solidifican
despus de que se mezclan y se vacan.
DESBASTE Y PULIDO
Desbaste grueso: Este se logra mejor en un esmeril hmedo de banco o en
una acabadora de superficies de bandas hmedas, usando bandas de granos 120,
140, 160. El objetivo del esmerilado es obtener una superficie plana, libre de toda
huella de marcas de herramientas, y en la que todas las marcas del esmerilado
sigan la misma direccin. Se puede esmerilar en seco a condicin de no producir
cambios estructurales por el calentamiento de la muestra. Tambin se deben evitar
presiones excesivas que calienten o distorsionen la superficie a observar. Luego,
la muestra se lava y se seca antes de pasar a la prxima etapa de esmerilado.
Desbaste fino: Este proceso se efecta utilizando granos cada vez ms finos
de lija
Metalogrfica para esmerilar. Se utilizan papeles de grano 320 en adelante. La lija
se sostiene sobre una superficie plana y dura, que puede ser acero o vidrio, y la
muestra se pasa sobre el papel de lija SIN seguir un movimiento rotatorio. Cuando
se termina de esmerilar con un papel de lija, las marcas deben estar todas en la
misma direccin.
Antes de proseguir con la siguiente lija ms fina, deben lavarse la muestra como
las manos del operario. Ahora la muestra debe desplazarse en forma tal que las
rayas hechas por las distintas lijas formen ngulos rectos con las del
inmediatamente anterior. As, puede verse con claridad si se han eliminado las
rayas ms gruesas que se hicieron en la operacin anterior.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
El desbaste se da por terminado cuando se obtiene una cara perfectamente plana,

con rayas muy finas en toda la superficie, producidas en un solo sentido, por el
papel de esmeril de mayor finura. Cuando ms blando es el material, mayor es la
finura del grano del papel de esmeril utilizado en ltimo trmino.
Pulido: Se procede a hacer el pulido solo despus de lavar con sumo cuidado
tanto las manos del operario, como la muestra, a fin de evitar cualquier
contaminacin de la rueda de pulido. Este procedimiento se basa en el uso de una
rueda cubierta con una tela, cargada con una suspensin de almina. Al principio,
la muestra se sostiene en una posicin sobre la rueda, sin hacerla girar, hasta que
se hayan eliminado la mayora de las rayas anteriores. Luego puede hacerse girar
con lentitud en sentido contrario al de rotacin de la rueda, hasta que solo puedan
verse las marcas de almina. La rotacin de la muestra reduce a un mnimo el
peligro de formacin de ranuras. La muestra se hace girar con lentitud en sentido
contrario al de giro de la rueda tendiendo a obtener una superficie especular. Si los
pasos descriptos se realizan debidamente, este pulido no debe requerir ms de
dos minutos. Los resultados del pulido pueden mejorarse si esta ltima etapa de
pulido se realiza sobre la rueda girando a baja velocidad.
Para pulir aceros dulces, casi siempre es conveniente usar una almina de grano
600.
En otros metales y aleaciones pueden lograrse mejores resultados si se acaba con
almina rebajada, xido de magnesio, diamante en polvo o cualquier otro tipo de
compuesto pulidor que se disponga.
El electro pulido es adecuado para el acabado de gran nmero de muestras
idnticas, puesto que requieren ajustes y control cuidadoso. Por otro lado alguno
de los mejores electrolitos constituyen un peligro de explosin.
ATAQUE:
Este permite poner en evidencia la estructura del metal o aleacin. Existen
diversos mtodos de ataque pero el ms utilizado es el ataque qumico. El ataque
qumico puede hacerse sumergiendo la muestra con cara pulida hacia arriba en un
reactivo adecuado, o pasar sobre la cara pulida un algodn embebido en dicho
reactivo. Luego se lava la probeta con agua, se enjuaga con alcohol o ter y se
seca en corriente de aire. El fundamento se basa en que el constituyente
metalogrfico de mayor velocidad de reaccin se ataca ms rpido y se ver ms
oscuro al microscopio, y el menos atacable permanecer ms brillante, reflejar
ms luz y se ver ms brillante en el microscopio.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
OBSERVACIN:
En esta etapa con el uso de un microscopio metalogrfico, se pueden apreciar las
caractersticas estructurales microscpicas de las superficies de las probetas, lo
que permite hacer un anlisis de dichas estructuras, as como tambin tomar
fotomicrografas para su posterior revisin, anlisis y comparacin con otras
muestras.
4.-Coloque la tabla con los diferentes reactivos que se utilizan

para resaltar los lmites de grano.
REACTIVOS DE ATAQUE PARA PRUEBA MICROSCOPICA
Reactivo de ataque
Composicin
Usos
cido Ntrico (NITAL)
cido-Ntrico 5cc
Aceros y hierros
Alcohol etlico 95 cc
cido Pcrico (PRICRAL) cido-pcrico
4gm
Aceros de baja aleacin
Alcohol etlico 100 ml
Cloruro frrico y acido Cloruro-frrico 5 gm
Aceros
autnticos
al
hidroclrico
Acido hidroclrico 50 ml nquel
y
aceros
Agua
10 ml
inoxidables
Persulfato de amonio
Persulfato de amonio Cobre,
latn,
bronce
10 gm
aluminico, nquel, plata
Agua 90 ml
cido Hidrofluorico
cido-hidrofluorico
0.5 Aluminio y sus aleaciones
ml
Agua 99.5 ml
cido Hidrofluorico
cido-hidrofluorico
0.5 Aluminio y sus aleaciones
ml
Agua 99.5 ml
Hidrxido de amonio y Hidrxido de amonio 5 gr. Cobre y muchas de sus
perxido de hidrogeno
Perxido de hidrogeno:
aleaciones
2-5 ml.
Reactivo de Palmerton
Oxido crmico: 200 g
Zinc y sus aleaciones
Sulfato de sodio: 15 g
Agua: 1000 ml
Molibdato de amonio
cido-molbdico: 100 g
Ataque rpido para plomo
Hidrxido de amonio: 140 y
sus
aleaciones,
ml
apropiado para remover
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
Agua: 240 ml
la capa gruesa del metal
Filtrar y aadir el cido
ntrico: 60 ml
5.-- Coloque las fotomicrografas de los siguientes metales y

aleaciones (con: ampliacin, reactivo de ataque, que se
observa en la micrografa).
a) Acero 1018, 1045, inoxidable 13% Cr o similar
Acero 1018
Acero 1018. Calentado por 75 min a
900C y enfriado en el horno
(recocido). Atacado con Nital al 2%.
100X. Las reas claras son ferrita
proeutectoide. Las reas oscuras son
perlita.
Acero 1018. Calentado por 75 min. A 900C. y enfriado al aire (Normalizado).

Atacado con Nital al 2%. 100X. Las reas claras son ferrita preoeutectoide. Las
reas oscuras son perlita. La estructura es similar pero considerablemente ms
fina.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
Acero 1045
Acero 1045. Calentado a 900C por

75 min y enfriado en el horno (Recocido). Atacado con Nital al 2%. 100X. La micro
estructura consiste en ferrita mas perlita. La cantidad de perlita es mayor que la
que se encuentra en el acero 1018.
Acero inoxidable 13% Cr
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
Acero inoxidable extra suave: contiene un

13% de Cr y un 0,15% de C. Atacado con Cloruro frrico y acido hidroclrico.
b) Latn
Fotomicrografa de un latn alfa policristalino. La probeta se atac con cido-sulfrico diluido para revelar el color
despus de un ataque suave. De este modo se colorean convenientemente los
granos y las maclas x 100.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
c) Bronce al estao
Bronce al estao. Excelente en donde

el esfuerzo del impacto y desplazamiento sea el conveniente a solucionar, se
destaca su uso en ciertos engranajes o coronas, para que pueda realizar una
mejor aplicacin del producto. Reactivo de ataque rpido (50% cido clorhdrico
puro y 50% de agua destilada).
d) Aluminio
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
Fotomicrografas de los cordones superiores (diferentes contenidos de aluminio)

En la figura se muestran ms detalles que ilustran regiones columnares. La ferrita
con segunda fase resulta especialmente evidente en S y parece haberse
producido el engrosamiento de las varillas de ferrita acicular y las micros fases
asociadas.
e) Cobre
Cobre 99 % atacada con cloruro frrico 200X.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
6.- Cules son las investigaciones que pueden realizarse con

este tipo de ensaye?
El ensayo metalogrfico permite determinar el tamao de grano, forma y
distribucin de varias fases e inclusiones que tienen gran efecto sobre las
propiedades mecnicas del metal. La microestructura revelar el tratamiento
mecnico y trmico del metal y, podr predecir su comportamiento frente a
distintas condiciones a que los metales estudiados pudieran ser sometidos.
La experiencia ha demostrado que el xito en el estudio microscpico depende en
mucho del cuidado que se tenga para preparar la muestra. El microscopio ms
sofisticado no revelar la estructura de una muestra que haya sido preparada en
forma deficiente. El procedimiento que se sigue en la preparacin de una muestra
es comparativamente sencillo y requiere de una tcnica desarrollada slo despus
de prctica constante. El ltimo objetivo es obtener una superficie plana, sin
ralladuras, semejante a un espejo.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
MATERIAL Y EQUIPO:
Probetas metlicas de 3/4 o 1 de dimetro y 2 cm de altura (en su defecto
pequeos trozos 0.5 cm por lado) representativos de la zona de anlisis.
a) Acero 1018, 1045, inoxidable 13% Cr o similar
b) Latn
c) Bronce al estao
d) Aluminio
e) Cobre
-
Esmeril
Torno (carear si es necesario la probeta)
Sierra cinta, segueta
Lijas No. 240, 400, 600, 1000, 1500 y 2000
Brazo en crema o polish crema
Termmetro bulbo de mercurio (0 200 C)
Pulidora de especmenes metalogrficos
Compresora
Alcohol
Reactivos
Pao
Vaso con agua
Gafas
Guantes de ltex
Guantes con aislante trmico
Guantes de carnaza
Cubre boca
Microscopio metalogrfico
Cmara fotogrfica
Bakelita
Algodn
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
Desarrollo de la prctica.
Encapsulado en caliente.
No realizada.
Pulido.
La colocacin de lijas en la pulidora de especmenes metalogrficos
(batidora de lija, su nombre/apodo de taller) no fue muy complicada, en s, es una
mquina con corriente de 120V que cuenta con solo un interruptor de encendido y
apagado.
Para su uso, se utilizaron lijas No. 240, 400, 600
100 y 1500. Vaso de agua y conexin monofsica.
1.- Retirar la tapa matriz o de concentricidad.
2.- Retirar la argolla sujetadora
3.- Retirar el plato.
4.-Cortar la lija
1/3 de su rea, de forma
rectangular o posar el plato en la lija y dibujarlo
tras la misma para cortar el rea total. (Esta
ltima desgastaba mucho material)
5.- Colocar el plato.
6.- Colocar la lija sobre el plato y poner la argolla
sujetadora.
7.- Colocar la tapa Matriz.
8.- Seleccionar alguno de los materiales. (En esta mquina solo se pulieron los
aceros) 1018, 1045 o Inoxidable.
9.- Encender la pulidora.
El mtodo de movimiento de las probetas.
Al tomar alguna de las probetas, se tiene que seleccionar alguna de las
caras del material, en este caso, debido a algunos de las imperfecciones de
los materiales, se seleccionar la que menos poros tenga o menos indicios
de experimentacin en el durmetro.
Al seleccionar la cara para el pulido, el material se sujeta de forma que la
cara quede perpendicular al plato con la lija y as la lija limpie toda la
superficie de la cara seleccionada.
Realizar un recorrido con en material de modo que sea un pulido uniforme
en una sola direccin, esto se logra con un punto base a la orilla del plato y
el centro del plato, y desplazando el material por ese radio, mientras se
mantiene mojada esa rea del plato.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
Mojar el rea de pulido del plato ayudara as, a evitar incrustaciones en el

material de la misma lija.
Fuera de la Pulidora.
Algunos de los materiales (la mayora) se pulieron de una forma ms
rudimentaria pero, aun se siguieron los mismos pasos que con la pulidora.
Al tomar alguna de las probetas, se tiene que seleccionar alguna de las
caras del material, en este caso, debido a algunos de las imperfecciones de
los materiales, se seleccionar la que menos poros tenga o menos indicios
de experimentacin en el durmetro.
Posicionar la lija en una mesa lo ms uniforme posible
Al seleccionar la cara para el pulido, el material se sujeta de forma que la
cara quede perpendicular a la mesa con la lija y as la lija limpie toda la
superficie de la cara seleccionada.
Humectar la lija
El recorrido del material en la superficie de la lija tiene que ser en una sola
direccin, de tal manera que el pulido quede uniforme
Repetir la accin con las dems lijas, girando el material 90 y eliminar las
lneas de acabado del pulido anterior.
Al final limpiar con brasso brillametal para dejar un acabado espejo.
Cambios de lija para diferentes materiales.
Los cambios de lija son importantes para evitar que los materiales se
contaminen. No se puede mezclar una lija que se utiliz para un acero 1018 y
utilizarla para un material de latn, esto podra afectar en el mapeo de los
materiales y obtendramos resultados indeseables.
La secuencia del cambio de lijas es simple, se empieza por la lija ms
rugosa, en un ngulo de pulido y se sigue con la siguiente a 90 del pulido anterior,
eliminando todas las lneas de pulido anteriores y volvindola a dejar uniforme
para que entre la siguiente lija y as, convertirlo en un siclo de lijas, hasta llegar a
la 2500. Y por ltimo, pulir con brasso brillametal para dejar un acabado espejo,
despus de esto, limpiar con fieltre y agua.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
Reactivos.
Reactivo sobre probeta, se deja actuar 20 segundos.
Con el algodn con alcohol se interrumpe la reaccin y sumerge en

agua.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
Se seca la probeta con aire comprimido.
Un microscopio metalogrfico se identifica por que el haz luminoso pasa a travs

del objetivo.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
Fotomicrografa despus del pulido.

*La fotomicrografa no se realiz hasta despus del ataque, por lo que la
fotomicrografa fue sacada de artculos de internet.
Acero Inoxidable
Acero 1018
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
Acero 1045
Aluminio
Bronce al estao
Cobre
FECHA:
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
Latn
Ataque.
Material
Reactivo
Tiempo de
ataque
Min:Seg
Acero Inoxidable
Cloruro frrico y
cido hidroclrico.
00:45
cido ntrico (Nital)
00:30
cido ntrico (Nital)
00:30
cido Hidroflurico
00:15
Cloruro frrico y
cido hidroclrico.
00:20
Acero 1018
Acero 1045
Aluminio
Bronce al estao
Procedimient
o despus del
ataque
Limpieza inmediata
con algodn
remojado en
alcohol, seguido de
inmersin en agua y
limpieza con aire a
presin.
Limpieza inmediata
con algodn
remojado en
alcohol, seguido de
inmersin en agua y
limpieza con aire a
presin.
Limpieza inmediata
con algodn
remojado en
alcohol, seguido de
inmersin en agua y
limpieza con aire a
presin.
Limpieza inmediata
con algodn
remojado en
alcohol, seguido de
inmersin en agua y
limpieza con aire a
presin.
Limpieza inmediata
con algodn
remojado en
alcohol, seguido de
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
Cobre
Cloruro frrico y
cido hidroclrico.
00:25
Cloruro frrico y
cido hidroclrico.
00:20
Latn
inmersin en agua y
limpieza con aire a
presin.
Limpieza inmediata
con algodn
remojado en
alcohol, seguido de
inmersin en agua y
limpieza con aire a
presin.
Limpieza inmediata
con algodn
remojado en
alcohol, seguido de
inmersin en agua y
limpieza con aire a
presin.
Observaciones.
Funcionamiento del microscopio metalogrfico.
Su funcionamiento est basado en la reflexin de una luz horizontal que
proviene del cabezal, dicha reflexin se produce, por medio de un reflector de
vidrio plano, hacia abajo, a travs del can del microscopio sobre la superficie de
la muestra. Parte de esta luz que sale, reflejada desde la superficie de la muestra
se amplificar al pasar a travs de un sistema de lentes, llegar al objetivo y
continuar hacia arriba a travs reflector de vidrio plano; despus, de nuevo se
amplificar en el sistema superior de oculares.
Encendido del microscopio.
Antes de conectarse, se debe verificar que el microscopio este en el
mnimo nivel de intensidad para as evitar daos a la lmpara y al
microscopio.
La lmpara puede que encenderse hasta despus de conectar el
microscopio.
Ajustar el regulador a un punto deseado.
La mesa el microscopio cuenta con una plataforma cristalina que
asla el enfoque de la luz, a su vez, este se encuentra en un sistema
de ejes coordenados X y Y, cuales son usados para el mapeo del
material usando las perillas de movimiento.
El cabezal del microscopio es el eje Z el cual cuenta con 2 perillas de
movimiento, una de movimiento abrupto, cual deja correr el
microscopio en un movimiento libre (esta puede provocar el choque
del ocular con el objeto a observar y por lo tanto puede daar el
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
ocular) y una perilla de movimiento fino cual corre el cabezal de una

forma ms segura y evitando golpes.
El lente utilizado fue un lente x40, ya que era el nico con el que se
contaba por el momento.
No hubo cambios de ocular.
El enfoque se realiza con la perilla fina del eje Z observando el haz
de luz que se refleja en el material y despus, aadiendo precisin
observando a travs del lente.
El mapeo es una bsqueda de una mejor visualizacin, ajustando
con la mesa de trabajo (Ejes Y y X).
Los posibles nmeros oculares eran: x10, x20, x40, x100.
Objetivos: marca hecha por los reactivos en los materiales.
Para apagar el microscopio, se requiere apagar la lmpara, y ajustar
el regulador al punto mnimo. Apagar y despus desenchufar.
Fotomicrografa.
Cmara de celular 10 MPX
Material
Acero
Inoxidable
X100
X40
Fotomicrografa
esperada (Marco
terico)
Fotomicrografa
Obtenida
Reactivo
de ataque
Cloruro
frrico y
cido
hidroclrico.
Es la micrografa esperada, el trabajo de

ataque del grupo resulto muy eficaz,
evitando que se quemara el material.
El tiempo de ataque fue el justo.
Se observan pequeas muestras
indeseables de grano de lija por falta de
la humectacin de la misma.
cido ntrico
(Nital)
En este caso se alcanza a percibir un

poco de los rastros del nital, aun as el
resultado es como el esperado.
cido ntrico
(Nital)
Restos de lija se presentan como

imperfecciones.
Resultado esperado.
Acero 1018
X100
X40
Acero 1045
X40
X40
Comparacin.
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
cido
Hidroflurico
Al ser un lente ms alto, no se distingue

con claridad una exactitud 100% pero se
muestra dentro de los parmetros
aceptados debido a los recursos que
tenemos
Cloruro
frrico y
cido
hidroclrico.
Apreciacin casi perfecta de la

micrografa del material, sin duda una
muy buena muestra.
Cloruro
frrico y
cido
hidroclrico.
Resultado esperado, la cmara del

celular fallo en el enfoque pero entra en
lo aceptable, es una muy buena toma
del material.
Cloruro
frrico y
cido
hidroclrico.
En este caso, se muestra diferente del

esperado, posiblemente se trate de
alguna otra aleacin la del marco terico
Aluminio
X200
X40
Bronce
al estao
X100
X40
Cobre
X40
X40
Latn
X100
X40
Conclusiones y recomendaciones.
Competencias Adquiridas
Observar la micrografa de los materiales para obtener una visin clara de
la estructura del material.
Aprendizaje del uso y objetivo de algunas reas del taller.
Aprendizaje de uso del microscopio metalogrfico
Nocin de comportamiento de los materiales de la prctica para la solucin
de problemas con los materiales en la aplicacin de la carrera
Aplicacin
En la industria metalmecnica para el conocimiento bsico de los
materiales ms comerciales.
En la solucin de problemas con materiales de cualquier maquinaria.
Investigacin y solucin de problemas de fundicin.
Importancia en la carrera
Esta es una prctica base y fundamental que servir a futuro a la resolucin
de problemas como en la implementacin de mecanismos al saber cmo se
puede comportar un material, es de gran importancia en la carrera, una
base
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
Limitaciones del ensayo

Una recomendacin futura seria para el uso de los 2 microscopios con los
que se cuenta: tenerlos trabajando y tener diferentes lentes en cada uno,
as se podra observar las diferencias de lentes.
Purgar la compresora.
Uso de las pulidoras para los materiales blandos o por lo menos para el
aluminio debido a la maleabilidad del mismo.
Se recomienda la bsqueda de la superficie ms plana de la mesa de
trabajo para obtener mejores resultados con el pulido a mano.
Bibliografa y Fuentes:
Snchez, D. J. & Trejo, N. I. (2006). Biologa Celular y Molecular. (1 ed.).

Mxico, D. F.: Editorial Alfil.
Borras, V. (2009). Tecnologa de los materiales (2da ed., Vol. 1, pp. 25-26).
Tlalnepantla, Estado de Mxico: Pearson.
Askelan, D. (2007). CIENCIA E ING. DE LOS MATERIALES (sexta ed., Vol.
1, pp. 23-32). Tlalnepantla, Estado de Mxico: Mc. Graw. Hill.
Mayagoitia Barragn, Jos de Jess. (2007). Tecnologa de los materiales.
Len, Mxico: Mc. Graw Hill, Educacin de Mxico S.A. de C.V.
http://es.wikipedia.org/wiki/Metalograf%C3%ADa
http://morfoudec.blogspot.com/2008/07/microscopa-de-contraste-defase.html
http://www.anatomohistologia.uns.edu.ar/plantilla.asp?zona=modmicro
http://www.biologia.edu.ar/microscopia/microscopia1.htm
http://www.anatomohistologia.uns.edu.ar/plantilla.asp?zona=modmicro
PRCTICA No. 1
EQUIPO: XXXXXX
FECHA:
http://www.buenastareas.com/ensayos/Microscopia-DeInterferencia/158485.html
http://danival.org/600%20microbio/6000notasmicro/microscopio/microscop_
40_microelectr.html
http://morfoudec.blogspot.com/2008/07/microscopio-electrnico.html
http://morfoudec.blogspot.com/2008/07/microscopia-de-fuerza-atmica.html
http://www.mty.itesm.mx/dia/deptos/im/m00-862/Lecturas/SEM_ICP.pdf
http://www.tiposdemicroscopio.com/electronico_escaneando/
http://www.elergonomista.com/microbiologia/11s01.htm
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40_microelectr.html
http://morfoudec.blogspot.com/2008/07/microscopio-electrnico.html
http://morfoudec.blogspot.com/2008/07/microscopa-de-contraste-defase.html#uds-search-results

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TECNOLOGICO NACIONAL DE MEXICO

INSTITUTO TECNOLOGICO DE LEON

Profesor: No Cesar Estrada Quiroz

Hernndez Rivera Adrin Jess

Olivares Gutirrez Christian Alexis

Trabajo: Practica #1.

Fecha de entrega: 23/06/16

Realizar los pasos necesarios para la preparacin de probetas

2.- Cuales son los tipos de microscopios y su uso?

Figura 1-1. (a) Esquema del funcionamiento de un microscopio ptico. (b)

Figura 1-2. Fotografas de un microscopio estereoscpico.

MICROSCOPIO DE LUZ ULTRAVIOLETA

Figura 1-3. Fotografas de microscopio de luz ultravioleta

MICROSCOPIO PETROGRFICO O DE POLARIZACIN

Figura 1-4. Fotografa de microscopio petrogrfico o de polarizacin.

Figura 1-5. (a)Fotografa de microscopio de campo oscuro. (b)Esquema de

microscopio de fase son el microscopio de interferencia o contraste y el

(Figura 1-6). Configuracin de microscopio de contraste de foco

MICROSCOPIO DE LUZ POLARIZADA

Figura 1-7. Fotografas de microscopios de luz polarizada.

MICROSCOPIO DE CAMPO CERCANO

Figura 1-8. Fotografa de microscopio de campo cercano.

Figura 1-9. Fotografa de microscopio de fluorescencia.

En comparacin con uno de tipo biolgico, el

Figura 1-11. Fotografas de microscopios ptico metalrgicos.

Figura 1-12. Fotografas de microscopios electrnicos.

MICROSCOPIO ELECTRNICO DE TRANSMISIN (MET )

Este microscopio electrnico, reemplaza la luz visible por un haz de electrones

imagen de TV. Su resolucin est entre 3 y 20 nm, dependiendo del microscopio.

Figura 1-15. Fotografa de microscopio electrnico de barrido.

MICROSCOPIO DE EFECTO TUNEL

Desde el punto de vista de la mecnica clsica un electrn no puede superar

MICROSCOPIO DE FUERZA ATMICA

3.- EXPLIQUE LAS ETAPAS PARA LA REALIZACIN DE UN

El desbaste se da por terminado cuando se obtiene una cara perfectamente plana,

4.-Coloque la tabla con los diferentes reactivos que se utilizan

5.-- Coloque las fotomicrografas de los siguientes metales y

a) Acero 1018, 1045, inoxidable 13% Cr o similar

Acero 1018. Calentado por 75 min. A 900C. y enfriado al aire (Normalizado).

Acero 1045. Calentado a 900C por

Acero inoxidable extra suave: contiene un

Bronce al estao. Excelente en donde

Fotomicrografas de los cordones superiores (diferentes contenidos de aluminio)

Cobre 99 % atacada con cloruro frrico 200X.

6.- Cules son las investigaciones que pueden realizarse con

Mojar el rea de pulido del plato ayudara as, a evitar incrustaciones en el

Reactivo sobre probeta, se deja actuar 20 segundos.

Con el algodn con alcohol se interrumpe la reaccin y sumerge en

Se seca la probeta con aire comprimido.

Un microscopio metalogrfico se identifica por que el haz luminoso pasa a travs

Fotomicrografa despus del pulido.

cido ntrico (Nital)

cido ntrico (Nital)

ocular) y una perilla de movimiento fino cual corre el cabezal de una

Es la micrografa esperada, el trabajo de

En este caso se alcanza a percibir un

Restos de lija se presentan como

Al ser un lente ms alto, no se distingue

Apreciacin casi perfecta de la