IV Examen Parcial Control de Calidad

IV EXAMEN PARCIAL DE CONTROL Y ASEGURAMIENTO DE LA
CALIDAD
X
1. Los datos siguientes son los valores de
y R para 24 muestras de tamao
n=5 obtenidas de un proceso de fabricacin de envases de hojalata. Las
mediciones se realizan para el dimetro interior :
Muestr
a
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
R
3
4
4
4
5
6
4
3
7
8
3
9
Muestr
a
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
Obtenga los diagramas de control

R
8
6
5
7
4
3
8
4
2
1
3
2
X
de
y R para este proceso. Si es
necesario revise los lmites de
control si existe algn punto fuera
de especificacin, considerando
que la causa que lo origina es
asignable y determine los lmites
de control revisados. (pg. 218 de
las copias en fotocopiadora
Revisin de los lmites de control
y las lneas centrales) Si la
especificacin del cliente es 35
0.5, cuales son las conclusiones acerca de la capacidad del proceso.
34.5
34.2
31.6
31.5
35.0
34.1
32.6
33.8
34.8
33.6
31.9
38.6
35.4
34.0
37.1
34.9
33.5
31.7
34.0
35.1
33.7
32.8
33.5
34.2
SOLUCIN
1 EMPEZAMOS POR CON LA CARTA R
24
Ri
= i=1 = 113 =4.7083

R
24
24
2Para muestras con n = 5, usamos valores de
D 3=0
D 4 =2.115 . Por lo tanto
los lmites de control para la carta R son:

LCL=R D3 =4.7083 ( 0 ) =0
UCL=R D4 =4.7083 ( 2.115 )=9.9581
3 En la figura 1 se muestra la carta R. Cuando los 24 rangos muestrales se grafican en
esta carta, no hay indicios de una condicin fuera de control.
12
10
8
6
UCL = 9.9581
LCL = 0
R (Promedio)
4
2
0
10
15
20
25
30
35
Nmero de muestra
Figura 1. Carta R.
4 Puesto que la carta R indica que la variabilidad del proceso est bajo control, puede
construirse ahora la carta x . La lnea central es:
24
xi
816.1
x = i=1 =
=34.0042
24
24
5 Para encontrar los lmites de control de la carta
x , se usa
A 2=0.577
valor
fijado para muestras de tamao n = 5 y la ecuacin para encontrar el UCL y LCL es:
( 0.577 )( 4.7083 )=36.7209

UCL= x + A2 R=34.0042+
( 0.577 )( 4.7083 )=31.2875

LCL= x A 2 R=34.0042
6 La carta
x se muestra en la Figura 2.
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
UCL = 36.7209
LCL = 312875
10
15
X( Promedio del promedio x)
20
25
30
35
Nmero de muestra
Figura 2. Carta
x .
7 Cuando los promedios muestrales preliminares se grafican en esta carta, se puede

apreciar un indicio de condicin fuera de control, en el nmero de muestra 12 y 15.
8 Si las especificaciones del cliente es 35 0.05, cuales son las conclusiones acerca
de la capacidad del proceso.
=
4.7083
R
=
=2.0242
d2 2.326
Se puede expresar la capacidad del proceso en trminos del ndice de capacidad del
proceso (PCR, por sus siglas en ingles) C p , que para una caracterstica de la calidad
con lmites tanto superior como inferior de la especificacin (USL y LSL,
respectivamente)
es:
Cp=
USLLSL 35.534.5
=
=0.0823
6
6(2.0242)
Esto implica que los lmites de tolerancia natural en el proceso estn muy dentro de
los lmites inferior y superior de la especificacin.
2. En una fbrica de botones durante una semana se program una inspeccin
por atributos (roturas de los bordes) y la produccin diaria es del orden de
10,000 unidades. En la siguiente tabla se ven los resultados obtenidos en la
inspeccin de botones en una de las lneas de produccin cuando el tamao

del lote es de 200 unidades. Se solicita realizar el grafico n
N
lote
np
23
15
17
10
11
12
15
41
25
31
29
16
N LOTE
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
TOTAL
np
23
15
17
15
41
0
25
31
29
0
8
16
220
p
0.115
0.075
0.085
0.075
0.205
0
0.125
0.155
0.145
0
0.04
0.08
1.1
A) DIAGRAMA DE INSPECCION POR ATRIBUTOS DE

Proporcin media de unidades no conformes
12
p= i=1 = 1.1 =0.092

12
12
Lmites de control de p:
p :
p :
LSCp= p +3
p ( 1 p )
=0.092+3
n
0.092 ( 10.092 )
=0.34
12
LICp= p 3
p ( 1 p )
=0.0923
n
0.092 ( 10.092 )
=0.16
12
Figure 3. Grfica de inspeccin por atributos de
p .
Interpretacin de grfica:
En la figura 3, se observa que la proporcin de unidades defectuosas de una de las lneas
de la fbrica de botones si est dentro de los limites, esto se debe a que se trabaja en
orden y cumpliendo con los requisitos que se les pide, por lo que se puede seguir
realizando la actividad con normalidad.
3. Se presenta abajo el nmero de interruptores disconformes en muestras de
tamao 150. Construir una carta de control para la fraccin disconforme de
estos datos. El proceso parece estar bajo control? De no ser as, detalle
cuales pueden ser las posibles causas asignables de todos los puntos fuera de
los lmites de control y calcular los lmites de control revisados.
N muestra
N interruptores
N muestra
N interruptores
disconforme
8
1
3
0
2
4
0
1
10
6
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
disconformes
6
0
4
0
3
1
15
2
3
0
Clculo de fraccin disconforme (p), lmite superior (UCL) y lmite inferior (LCL)
Clculo del promedio de la fraccin disconforme (p)
p=
D
n
Donde: n =150 y D= n interruptores disconformes; determinamos fraccin
disconforme muestral para cada muestra, luego hallamos el promedio.
p=0.02
Calculo del lmite superior (UCL)

UCL= p +3
UCL=0.02+3
p (1 p )
n
0.02(10.02)
150
UCL=0.0543
Calculo del lmite inferior (LCL)
UCL= p 3
UCL=0.023
UCL=0.0143
p (1 p )
n
0.02(10.02)
150
0.12
0.10
0.08
0.06
Fraccion disconforme muestral
0.04
UCL=0.0543
0.02
LCL=-0.0143
0.00
0 5 10 15 20 25
-0.02
-0.04
Nmero de muestra
Figura 4. De disconformidades vs nmero de muestras de interruptores

Como se observa en la Figura 4 .En la muestra 9 y 17, exceden el lmite UCL=0.0543
de disconformidades, lo cual debe deberse a que hubo un cambia del operador o el
equipo no estuvo en buen estado y necesita mantenimiento, o puede deberse a diferentes
factores. Por lo cual se dice que el proceso no est bajo control, y es necesario aplicar
medidas correctivas.
4. Se toman muestras de n= 8 artculos de un proceso de manufactura en

intervalos regulares. Se mide una caracterstica de la calidad y se calcula
los valores de
tiene:
n
i 1
y R para cada muestra. Despus de 5o muestras se
xi 2000
R 250
i 1
Suponer que la caracterstica de la calidad tiene una distribucin normal.

a) Calcule los lmites de control para
y R.
b) Todos los puntos de ambas cartas de control se localizan entre los lmites
de control calculados en el inciso Cules son los lmites de tolerancia
natural del proceso?
c) Si los lmites de especificacin son 415.0 A qu conclusiones puede
llegarse respecto de la habilidad del proceso para producir artculos
dentro de estas especificaciones?
Desarrollo
Para entender mejor los datos, se ha diseado la Tabla 01, en la cual se
muestran cmo se ha determinado el valor promedio para cada muestra,
y as de la misma manera para con los rangos.
Tabla 01. Ordenamiento de los datos para resolucin del problema
Lmites de control para
X
Para graficar las cartas de control para
, se ubican los coeficientes D3.
D4. A2 y d2 (ver tabla 02) en la Apndice VI: Factores para construir
cartas de control para variables.
Lmites de control para R
Lmites de control para
X
a) Para graficar las cartas de control para
, se ubican los coeficientes
D3. D4. A2 y d2 (ver tabla 02) en la Apndice VI: Factores para
construir cartas de control para variables.
Tabla 02. Coeficientes necesarios para el clculo respectivo.
(01)
UCL X = X + A2 R
LCL X = X A2 R (02)
De las ecuaciones (01) y (02); y, al considerar los coeficientes de la Tabla
02, se determinan los lmites de control superior e inferior para la media:
UCL X
= 40 + (0.373)(5) = 41.865
LCL X
= 40 (0.373)(5) = 38.135
Lmites de control para R

De igual manera que en el caso anterior, se determinan los coeficientes
para hallar los lmites de control superior e inferior para R (ver tabla 02).
UCLR =R D3 (03)
LCL R =R D4 (04)
De las ecuaciones (03) y (04); y, al considerar los coeficientes de la Tabla
02, se determinan los lmites de control superior e inferior para el rango:
UCLR
= (5)(0.136) = 0.68
LCL R = (5)(1.864) = 9.32
b) Para hallar los lmites de tolerancia, se usan las siguientes

ecuaciones:
+3 (05)
LRS= X
LRI= X3
(06)
Entonces, para hallar el valor de , se usa la siguiente forma:
=
R
5
=
=1.756
d2 2.847
Luego, entonces se calculan los lmites de tolerancia superior e inferior:
LRS = 40 + (3)(1.756) = 45.268 (Lmite inferior de tolerancia)
LRI = 40 (3)(1.756) = 34.732 (Lmite superior de tolerancia)
c) Dado que la especificacin dada es: 41 5.0; se usa la siguiente

ecuacin:
Cp=
USLLSL 4636
=
=0.949
6
6(1.756)
Conclusin: El proceso de manufactura evaluado carece de habilidad para producir

artculos dentro de las especificaciones dadas. De ah, que es necesario que el rea
encargado de la calibracin de instrumentos y/o equipos dentro de la empresa los evale
y pueda hallar la causa al respecto para s poder cumplir con las especificaciones
requeridas.
5. Los siguientes datos fueron tomados por un operador durante un estudio

de capacidad de instrumentos de medicin:
Numero
de parte
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
Mediciones
1
20
19
21
24
21
25
18
16
20
23
2
20
20
21
20
21
16
17
15
20
22
11
12
13
14
15
28
19
21
20
18
22
25
20
21
18
a) Estimar la capacidad del instrumento de medicin

b) El anlisis de la carta de control de estos datos indica algn problema potencial
al utilizar el instrumento?
SOLUCIN
No
parte
s
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
Mediciones
1
20
19
21
24
21
25
18
16
20
23
28
19
21
20
18
20
20
21
20
21
16
17
15
20
22
22
25
20
21
18
20.0
19.5
21.0
22.0
21.0
20.5
17.5
15.5
20.0
22.5
25.0
22.0
20.5
20.5
18.0
0
1
0
4
0
9
1
1
0
1
6
6
1
1
0
De donde:
X = 20.367
R
= 2.067
De tablas (n=2)
d2 =
1.128
D4 =
3.267
D3 =
0
A2 =
1.880
a) Estimar la capacidad del instrumento de medicin.
UCL X 20.367+ ( 1.88 ) ( 2.067 ) =24.252

LCL X =20.367( 1.88 ) (2.067 )
Carta de control X
28
23
18
13
9 10 11 12 13 14 15 16
Nmero de parte
UCLR 3.267 ( 2.067 ) =6 .753

LCL R ( 0 ) (2.067 )=0
Carta de Control de Rangos

10
9
8
7
6
5
4
3
2
1
0
1
10
11
12
13
14
15
DE instrumento
1.8322
6 * DE
10.993
b) El anlisis de la carta de control de estos datos indica algn problema potencial

al utilizar el instrumento?
La carta de medias nos indica que hay unos puntos fuera de control por el lmite
superior e inferior.
La carta de rangos nos indica problemas ya que hay puntos fuera de control y se
tiene la mayor parte de los datos por debajo de la media.
6. Un producto se surte en lotes de tamao N = 10,000. El AQL se ha

especificado en 0.10 %. Encontrar los planes de muestreo nico con
inspeccin normal, rigurosa y reducida para esta situacin a partir de la
MIL STD 105E, suponiendo que se usa el nivel II de inspeccin general.
SOLUCIN:
Para N=10 000
AQL=0.1%
Trabajamos con la tabla 03 (12.6) verificando las letras cdigos para el
tamao de muestra, obtenindose, para nivel II de inspeccin general : L
Para inspeccin normal, para la letra L segn la tabla 04 (12.7) el plan de
muestreo indica que:
Tamao de la muestra: 125
Se acepta lote: 0
Se rechaza lote: 1
Para inspeccin rigurosa o severa, para la letra L segn la tabla 05 (12.8)

el plan de muestreo indica que:
Se acepta lote: 0
Se rechaza lote: 1
Para inspeccin reducida, para la letra L segn la tabla 06 (12.9) el plan

de muestreo indica que:
Se acepta lote: 0
Se rechaza lote: 1
7. Un inspector de una agencia militar quiere un plan de muestreo por

variables para usarlo para un AQL de 1.5 %, suponiendo que los lotes
son de tamao 7000. Derivar un plan de muestreo utilizando la MIL STD
414.
SOLUCIN:
Para N= 7000
AQL=1.5%
De la tabla... con el nivel de inspeccin IV normal la letra cdigo es M.
Con la tabla 07 (inspeccin normal), para M:
Tamao de muestra: 50
K para inspeccin normal: 1.8%
Con la tabla 08 para inspeccin reducida, para M:

Tamao de la muestra = 20
K= 1,51%
Con la tabla 07 para inspeccin rigurosa, para M:

Tamao de muestra = 50
K = 1.93 %
8. Cul es el resultado de la comparacin del tamao de muestra

encontrado en el ejercicio 7 con el que se hubiera utilizado con la MIL
STD 105 E? De sus comentarios al respecto.
El tamao de muestra encontrado con la MIL STD 414 es mucho mayor que el
que se hall con la MIL STD 105 E, por ejemplo en el caso de la inspeccin
normal la primera arroj una muestra de 125 elementos, mientras que la segunda
50. Los tamaos de lotes no distan mucho de 10000 a 7000 por lo que podemos
decir que el uso de la MIL STD 414 es mucho ms riguroso.
ANEXOS
Tabla 03 Letras cdigo MIL STD 105E.
Tabla 04 Tabla para inspeccin normal MIL STD 105E.
Tabla 05 Tabla para inspeccin rigurosa MIL STD 105E.
Tabla 06 Tabla para inspeccin reducida MIL STD 105E.
Tabla 07 Letras para el tamao de muestras para MIL STD 414
Tabla 08 Tabla muestra de inspeccion normal y rigurosa B1 MIL STD 414
Tabla 09 Tabla muestra de inspeccion reducida B2 MIL STD 414

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IV EXAMEN PARCIAL DE CONTROL Y ASEGURAMIENTO DE LA

Obtenga los diagramas de control

= i=1 = 113 =4.7083

D 4 =2.115 . Por lo tanto

los lmites de control para la carta R son:

( 0.577 )( 4.7083 )=36.7209

( 0.577 )( 4.7083 )=31.2875

X( Promedio del promedio x)

7 Cuando los promedios muestrales preliminares se grafican en esta carta, se puede

inspeccin de botones en una de las lneas de produccin cuando el tamao

A) DIAGRAMA DE INSPECCION POR ATRIBUTOS DE

p= i=1 = 1.1 =0.092

Figure 3. Grfica de inspeccin por atributos de

Calculo del lmite superior (UCL)

Calculo del lmite inferior (LCL)

Figura 4. De disconformidades vs nmero de muestras de interruptores

4. Se toman muestras de n= 8 artculos de un proceso de manufactura en

y R para cada muestra. Despus de 5o muestras se

Suponer que la caracterstica de la calidad tiene una distribucin normal.

Lmites de control para

Lmites de control para R

Lmites de control para

Tabla 02. Coeficientes necesarios para el clculo respectivo.

Lmites de control para R

LCL R = (5)(1.864) = 9.32

b) Para hallar los lmites de tolerancia, se usan las siguientes

c) Dado que la especificacin dada es: 41 5.0; se usa la siguiente

Conclusin: El proceso de manufactura evaluado carece de habilidad para producir

5. Los siguientes datos fueron tomados por un operador durante un estudio

a) Estimar la capacidad del instrumento de medicin

a) Estimar la capacidad del instrumento de medicin.

UCL X 20.367+ ( 1.88 ) ( 2.067 ) =24.252

UCLR 3.267 ( 2.067 ) =6 .753

Carta de Control de Rangos

b) El anlisis de la carta de control de estos datos indica algn problema potencial

6. Un producto se surte en lotes de tamao N = 10,000. El AQL se ha

Para inspeccin rigurosa o severa, para la letra L segn la tabla 05 (12.8)

Para inspeccin reducida, para la letra L segn la tabla 06 (12.9) el plan

7. Un inspector de una agencia militar quiere un plan de muestreo por

Con la tabla 08 para inspeccin reducida, para M:

Con la tabla 07 para inspeccin rigurosa, para M:

8. Cul es el resultado de la comparacin del tamao de muestra

Tabla 04 Tabla para inspeccin normal MIL STD 105E.

Tabla 05 Tabla para inspeccin rigurosa MIL STD 105E.

Tabla 06 Tabla para inspeccin reducida MIL STD 105E.

Tabla 07 Letras para el tamao de muestras para MIL STD 414

Tabla 08 Tabla muestra de inspeccion normal y rigurosa B1 MIL STD 414

Tabla 09 Tabla muestra de inspeccion reducida B2 MIL STD 414

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