Microscopia electronica

Un microscop electronic este un tip de microscop care folosete electroni pentru a

ilumina specimenul i a crea o imagine mrit a acestuia. Microscoapele electronice au rezoluie
superioar microscoapelor cu lumin, i pot mri de mult mai multe ori imaginea. Unele microscoape
electronice ajung s mreasc de 2 milioane de ori, pe cnd cele mai bune microscoape cu lumin
mresc de 2 000 de ori.
Microscopul electronic de transmisie (TEM)
Forma original a microscopiei electronice, microscopia electronic cu transmisie implica o
raz de electroni la tensiune nalt emis de un catod, de regul filament de tungsten, i focalizat de
lentile electrostatice i electromagnetice. Raza de electroni care a fost transmis printr-un specimen
parial transparent pentru electroni transport informaie despre structura intern a specimenului n raza
care ajunge la sistemul de formare a imaginii. Variaia spaial a acestei informaii ("imaginea") este
apoi mrit de o serie de lentile electromagnetice pn cnd este nregistrat la coliziunea cu un ecran
fluorescent, plac fotografic, sau senzor de lumin cum ar fi un senzor CCD. Imaginea detectat de
CCD poate fi afiat n timp real pe un monitor sau transmis pe loc unui calculator.
Rezoluia unui microscop electronic cu transmisie este limitat n principal de aberaia de
sfericitate, dar o nou generaie de sisteme de corecie a aberaiilor a avut ca efect depirea parial a
aberaiilor sferice i creterea rezoluiilor. Coreciile din software ale aberaiei de sfericitate pentru
microscoapele electronice cu transmisie de nalt rezoluie a permis producerea unor imagini cu
rezoluie suficient de bun pentru a evidenia atomi de carbon n diamante, aflai la distane de doar
0.89 ngstrmi (89 picometri) unii de alii i atomi din silicon la distane de 0.78 ngstrmi (78
picometri), mrind de 50 de milioane de ori. Capacitatea de a determina poziiile atomilor n cadrul
materialelor a fcut din acest tip de microscop o unealt important pentru cercetarea i dezvoltarea din
domeniul nanotehnologiilor.
Prin utilizarea grafenului ca purttor de specimen rezoluia acestui tip de microscop a putut fi
mrit recent (2008) n mod foarte eficient.
Microscopia electronica de transmisie este determinata de interactiunea campurilor electromagnetice
produse de lentile cu electronii si de interactiunea electronilor cu proba. Pentru ca electronii sa poata
traversa proba este necesara o grosime suficient de mica a ei si totodata energii de accelerare suficient
de mari ale electronilor.
Din acest punct de vedere deosebim:
Tip
microscopul electronic de transmisie
conventional (CTEM)
Microscopul electronic de voltaj inalt
(HVEM)

Tensiune de accelerare a electronilor

20-125 kV
3+ MeV

Alcatuire:
Sistemul electronooptic este responsabil de realizarea imaginii, localizat in coloana
microscopului, alcatuit din:
Sistemul de iluminare, alcatuit din:
Tunul electronic=ansamblul catod-filament, cilindru Wehnelt si anod, este plasat in partea cea
mai inalta de sus a coloanei microscopului, in prelungirea cablului de inalta tensiune. Filamentul, care
joaca rol de catod, realizat din tungsten, wolfram sau hexaborura de lantan, sub forma literei V este
sursa de radiatii X si se gaseste in vecinatatea cilindrului Wehnelt, electrodul cu rol de focalizare si
care se aseamana intrucatva cu cel al grilei dintr-o trioda, tetroda sau pentoda. Anodul, in general, este
0

confectionat dintr-un disc metalic avand un orificiu central cu diametrul de 3-5 mm, care dirijeaza
electronii in axul optic al coloanei microscopului. Energia ridicata a electronilor necesara traversarii
sectiunilor preparatului se realizeaza prin aplicarea unei tensiuni de accelerare anod catod, specifica
tipului de microscop, dar si naturii si grosimii probelor
Lentilele condensor servesc la focalizarea fasciculului electronic pe proba si constau dintr-un
ansamblu de 2 lentile, prima cu distanta focala scurta care creeaza o imagine micsorata a sursei de
electroni, deci a filamentului, a 2-a cu distanta focala marita , care transfera imaginea micsorata in
planul obiect. Pentru compensarea aberatiilor optice care sunt prevazute si in microscopia electronica,
lentilelor condensoare li se adauga sisteme de corectare si compensare (deflectorul, stigmatorul si
compensorul de deplasare).
Camera probei spatiul din interiorul coloanei microscopului, dintre lentilele condensor si
lentilele de formare a imaginii, marginita de 2 diafragme. Accesul se face printr-o camera ecluza pentru
adaptarea presiunii la cea ambientala sau la vidul din colana, iar proba, introducandu-se intr-un
oriificiu in lungul axului optic prevazut in masuta preparatului.
Sistemul de formare a imaginii realizat prin intermediul a 4 lentile: obiectiv, intermediara
(1+2) si proiector, toate fiind de tip electromagnetic.
Camera de observatie situata la nivelul panoului de comanda, este prevazuta cu 3 ferestre de
vizualizare a imaginii, fiind in legatura in partea superioara cu lentila proiector, iar in partea inferioara
cu caseta fotografica. In interiorul ei se afla ecranul, format dintr-o placa metalica circulara acoperita
cu o susbtanta fluorescenta (monocristale de sulfura de zinc si cadmiu).
Camera fotografica se gaseste sub camera de observatie si este prevazuta cu o caseta cu 12
sau 24 de placi fotografice a caror emulsie este specifica radiatiei X.
Sistemul electronic si consola de comanda este alcatuit din 2 blocuri: unul responsabil de
realizarea unei tensiuni inalte, care sa permita obtinerea rezolutiei propuse (sub 10 ), al doilea fiind
responsabil de realizarea unui curent bine stabilizat pentru alimentarea lentilelor, micsorand pe cat
posibil aberatiile lor.
Sistemul de vid impiedica interactiunile dintre radiatiile X si moleculele de aer pentru
obtinerea unui fascicul coerent cu o deplasare perfect rectilinie pana la ecranul fluorescent; vidul este
de aproximativ 10-4-10-6 torr.
Microscopul electronic cu voltaj inalt (HVEM)
Este un microscop de transmisie ce foloseste o tensiune >300 kV, ajungand, la unele tipuri, pana la 3-5
MeV.
Primul microscop electronic cu o tensiune de accelerare de 1 MeV a fost construit in 1960 de
catre Dupony si Perrier in laboratorul de optica electronica din Toulouse.
Folosindu-se microscopul electronic Toulouse 3000 cu o tensiune de accelerare de 1 MeV s-au
obtinut fotografii ale unor bacterii, ale moleculelor de acizi nucleici.
Acest tip de microscop se bazeaza pe acelasi principiu constructiv ca si la microscoapele
conventionale de 100 kV. Inalta tensiune utilizata presupune insa realizarea unei coloane cu mult mai
inalta, iar inlaturarea vibratiilor din coloana necesita si realizarea unei fundatii cu mult mai stabila
decat in mod obisnuit. Astfel, intreg ansamblul poate atinge inaltimea nei cladiri pe 3 nivele.
Microscopul electronic analitic de transmisie (TEAM)
Este format dintr-un microscop electronic de transmisie de inalta rezolutie, la care se ataseaza un
microanalizator de raze X din clasa spectrometrelor.
Noutatea adusa de TEAM consta in posibilitatea de a culege si informatii cu privire la elementele
chimice cuprinse in preparat, pe langa cele de ordin morfo-structural, prin difractie de electroni
continute de CTEM.
1

El functioneaza pe baza analizei lungimii de unda dispersate, sau mai nou pe baza analizei
energiei dispersate. Astfel, bombardarea printr-un fascicul de electroni a unor preparate determina
emisia de radiatii X a caror lungime de unda este caracteristica atomilor bombardati; spectrometrul
masoara aceste lungimi de unda, permitand determinarea compozitiei chimice elementare a unor
volume extrem de mici de materie.
Pana in prezent s-au conturat cateva directii de cercetare, prin utilizarea TEAM, cum ar fi:
Localizarea elementelor chimice existente in conditii normale in tesuturi, in special a ionilor de Na+ si
de K+
Detectarea unor elemente in anumite stari patologice cum ar fi de ex: intoxicatiile sau carentele
fiziologice
Aprecierea distributiei unor elemente poluante in diferite verigi ale lantului biologic
Indetificarea unor reactii chimice intre diferite elemente pe baza analizarii unor precipitate ce se
formeaza in tesuturi
Microscopul electronic de baleiaj/cu scanare (SEM)
Spre deosebire de TEM, unde raza de electroni la tensiune nalt formeaz imaginea
specimenului, microscopul electronic cu scanare produce imagini prin detecia electronilor secundari,
cu energie sczut, emisi de pe suprafaa specimenului datorit excitrii acestuia de ctre raza
principal de electroni. n SEM, raza de electroni parcurge ntreg specimenul, detectorii construind o
imagine prin maparea semnalelor detectate la poziia razei.
n general, rezoluia TEM este de regul cu un ordin de mrime mai mare dect cea a SEM, dar,
datorit faptului ca imaginea produs de microscoapele cu scanare se bazeaz pe procese de suprafa
i nu pe transmisie, este capabil s vizualizeze probe mai mari, i are o adncime de penetrare mult mai
mare, producnd astfel imagini care sunt o bun reprezentare tridimensional a probei.
Spre deosebire de TEM furnizeaza imagini tridimensionale ale suprafetelor probelor cercetate,
ale caror dimensiuni sunt de ordinul centimetrilor, dar nu pot furniza informatiile morfo-structurale ce
se regasesc in grosimea materialului.
Formarea imaginii se bazeaza pe principiul emisiei electronilor secundari, reflectati in urma
bombardrii probei de catre fasciculul primar de radiatii X.
De aceasta data, fasciculul de electroni cade sub un anumit unghi pe proba producand refleii
sub unghiuri diferite in functie de incidenta particulei cu zona de impact. Spotul de radiatii baleiaza in
timp intreaga suprafata a probei, astfel incat pe ecran apare imaginea, la scara dorita, a zonei scanate.
Constructiv, SEM are in ples un detector al electronilor secundari emisi in urma interactiunii cu
suprafata probei. Curentul produs de aceasta este modulat si trimis in final spre blocul de baleiere al
unui tub cinescopic dintr-un monitor.

Bibliografie:
http://ro.wikipedia.org/wiki/Microscop_electronic
https://ro.scribd.com/doc/48659551/Microscopia-electronica