37070-Texto Do Artigo-166522-1-10-20170525
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VETERINÁRIA
Introdução
O termo microscópio é derivado da palavra em latim micro, que significa pequeno, e da palavra grega
skopos, que significa olhar. Ou seja, a função de qualquer microscópio é tornar visível ao olho humano os
micro-organismos que são muito pequenos para tal (KESTENBACK, 1994).
A microscopia iniciou-se com uma pequena lente, similar a uma lupa, e posteriormente foi substituída
pelo microscópio óptico, que utiliza a luz para observar as amostras. Sua resolução se mostra limitada devido
ao comprimento de onda da radiação incidente, surgindo a necessidade de corrigir este problema surge a
microscopia eletrônica (KESTENBACK, 1994).
Após a descoberta da ótica geométrica, por Busch em 1926, e da ótica eletrônica de ondas, por
French, surge o primeiro microscópio eletrônico de transmissão, descrito por Max Knoll e Ernst Ruskar em
1931, e em 1935 é construído o primeiro microscópio eletrônico de varredura (BOGNER et al., 2007).
A microscopia eletrônica de transmissão (MET) permite observar e caracterizar microestruturas
internas de materiais com alta resolução, já a microscopia eletrônica de varredura (MEV) apesar de
assemelhar-se ao MET é aplicada a observar a superfície das amostras, ou seja, sua principal aplicação
baseia-se na análise topográfica das superfícies (HINKS, 2009).
O microscópio eletrônico de varredura possui uma grande profundidade de foco, atingindo 3 nm de
resolução (300 vezes maior que o microscópio óptico), consiste em uma sonda de elétrons que é focada
sobre a amostra, fazendo uma varredura em linhas paralelas (BORGNER et al., 2007).
As principais vantagens no seu uso incluem a fácil preparação da amostra, ampla variedade de
magnitude, alta profundidade de campo e fácil interpretação das micrografias que são geradas e a diversidade
do tipo de informação. Já as desvantagens estão na dificuldade de examinar amostras isoladas e a
impossibilidade em examinar amostras hidratadas (JAMES, 2009).
A MEV tem evoluído e além de apresentar informações estruturais, tem apresentado informações
analíticas das amostras. Há vários modelos e aplicações, através do MEV com detector de espectroscopia
de energia dispersiva (EDS) com raios X, microanálise de raios X, pode-se além de gerar imagens, determinar
a composição química da amostra (RAMOS, 2013).
Esta microanálise de raio X permite a análise qualitativa e quantitativa, permitindo mensurar os
elementos de interesse, como por exemplo, detectar o elemento e determinar sua localização na amostra
estudada, utilizada principalmente por pesquisadores das áreas de engenharia, química e afins (RAMOS,
2013).
Paralelamente ao desenvolvimento da microscopia eletrônica é importante destacar o
desenvolvimento de computadores, softwares e imagens digitais que facilitou a análise e a publicação dos
achados do microscópio (DEDAVID et al., 2007)
Desenvolvimento
Princípios de Funcionamento
Segundo Dedavid et al (2007), os componentes do MEV são: canhão eletrônico, coluna composta
por uma série de lentes eletrônicas, uma câmara para amostras, detectores e sistema de vácuo.
Utiliza-se um feixe de elétrons, que explora a superfície da amostra de ponto a ponto, fazendo uma
varredura, através de uma bobina de deflexão o feixe pode ser guiado e o sinal da imagem resulta da interação
deste feixe com a superfície da amostra. O detector é quem recebe o sinal e o modula, permitindo a
observação, conforme observa-se na Figura 1 (DEDAVID et al., 2007).
A maioria dos equipamentos utiliza como fonte de elétrons um filamento de tungstênio (W) aquecido,
operando em uma faixa de 1 a 50 kV de aceleração, o feixe é acelerado através da tensão entre o filamento
e o ânodo, mm seguida ele é focalizado por uma série de três lentes eletromagnéticas com diâmetro menor
que 4 nm (DEDAVID et al., 2007). A câmera de amostra é dotada de controles para mover o material em
exame e localiza-se na base da coluna (GRIMSTONE, 1980)
Então os detectores coletam as diferentes interações entre o feixe primário e a amostra, resultando
em elétrons secundários ou retroespalhados, que originam os principais sinais utilizados na obtenção da
imagem (DEDAVID et al., 2007).
A interação entre o feixe eletrônico e a amostra resulta em vários efeitos, na técnica de energia
dispersiva (EDS) pode-se obter informações sobre a estrutura ou composição da amostra através da emissão
de raio-x de comprimento de onda característicos. Estes raios-x podem ser coletados através de um detector
específico (GRIMSTONE, 1980)
Conclusão
O microscópio eletrônico de varredura possui uma grande profundidade de foco, atingindo resolução
300 vezes maior que o microscópio óptico. O MEV utiliza um feixe de elétrons, que explora a superfície da
amostra de ponto a ponto, resultando em uma imagem a partir da interação deste feixe com a superfície da
amostra.
As amostras devem ser representativas e as etapas se dividem em coleta, seleção, limpeza,
estabilização da forma (fixação) e desidratação com acetona ou etanol.
As principais vantagens no seu uso incluem a fácil preparação da amostra, ampla variedade de
magnitude, alta profundidade de campo e fácil interpretação das micrografias que são geradas e a diversidade
do tipo de informação.
Em suma, o microscópio eletrônico de varredura (MEV) revela uma riqueza de detalhes, podendo ser
utilizado em uma infinidade de amostras, como: identificação de espécies, morfologia e identificação de
elementos químicos, grãos de pólen, esporos de fungos, superfícies de folhas, sementes de frutos, cutículas
e ovos de insetos, pequenos fósseis, organismos inteiros, tecidos e órgãos, organelas subcelulares, distinção
de fósseis, fungos fitopatogênicos, esporos de ferrugem, ramos, folhas ou frutos, tecidos animais ou vegetais,
que apresentem infecção externa por bactérias, mucosas e até mesmo, dentes e cabelos.
REFERÊNCIAS BIBLIOGRÁFICAS
BOGNER, A. et al. A history of scanning eléctron microscopy developments: towards “wet-stem” imaging.
Micron, New York, v. 38, n. 4, p. 390-401. July, 2007.
CASTRO, L. A. S. Processamento de mostras para microscopia eletrônica de varredura. Luis Antônio
Suita de Castro. - Pelotas: Embrapa Clima Temperado, 2001.
DEDAVID, B.A.; GOMES, C. I.; MACHADO, G.. Microscopia eletrônica de varredura: aplicações e
preparação de amostras: materiais poliméricos, metálicos e semicondutores. Porto Alegre: EDIPUCRS,
2007.
GRIMSTONE, A.V. O Microscópio Eletrônico em Biologia. Editora Pedagógica e Universidade Ltda;
Editora da Universidade de São Paulo: São Paulo, 1980.