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ファイル:Simple-TEM-beam-path.jpg

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元のファイル (787 × 653 ピクセル、ファイルサイズ: 101キロバイト、MIME タイプ: image/jpeg)

ウィキメディア・コモンズ
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概要

解説
English: This is a simple sketch of the beam path of the electrons in a TEM after the illumination system. A Parallel beam of electrons enters the speciemen and are scattered in varius directions. The objective lens is used to collect all scattered beams originating from the same point on the sample in one point in the image plane (bottom). Note also that in the back focal plane (marked 'diffraction pattern') electrons originating at different point on the sample, but scattered in the same direction, are collected. Observing the electrons in this plane gives the diffraction pattern, containing information on the angular scattering distribution of the electrons. The diffraction pattern and the image are related through a Fourier transform.
日付 2005年10月20日 (当初のアップロード日)
原典 en.wikipedia からコモンズに移動されました。 Transfer was stated to be made by User:gretana.
作者 英語版ウィキペディアのOysteinpさん
その他のバージョン
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w:ja:クリエイティブ・コモンズ
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元のアップロードログ

元のファイルページはこちら。以下の利用者は全てen.wikipediaに属します。
  • 2005-10-20 06:21 Oysteinp 787×653×8 (103055 bytes) This is a simple sketch of the beam path of the electrons in a TEM after the illumination system. A Parallell beam of electrons enters the speciemen and are scattered in varius directions. The objective lens is used to collect all scattered beams originat

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現在の版2007年12月7日 (金) 00:072007年12月7日 (金) 00:07時点における版のサムネイル787 × 653 (101キロバイト)Gretana{{Information |Description={{en|This is a simple sketch of the beam path of the electrons in a TEM after the illumination system. A Parallel beam of electrons enters the speciemen and are scattered in varius directions. The objective lens is used to colle

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