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    Práctica1 Carreño Juan 1711D

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    CARREÑO VARGAS JUAN ALBERTO
    Este documento presenta una práctica de laboratorio sobre herramientas de prueba para sistemas mínimos. El objetivo es implementar un módulo de visualización con LEDs para probar los buses de un microprocesador y una "punta lógica" para probar los estados lógicos 0, 1 y el tercer estado Z. Se detallan los materiales, el equipo y los procedimientos para construir los circuitos, probarlos y completar un cuestionario sobre conceptos como compuertas de tercer estado y OR alambrada.

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    Este documento presenta una práctica de laboratorio sobre herramientas de prueba para sistemas mínimos. El objetivo es implementar un módulo de visualización con LEDs para probar los buses de un microprocesador y una "punta lógica" para probar los estados lógicos 0, 1 y el tercer estado Z. Se detallan los materiales, el equipo y los procedimientos para construir los circuitos, probarlos y completar un cuestionario sobre conceptos como compuertas de tercer estado y OR alambrada.

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    U. N. A. M.

    F. E. S. C.

    Laboratorio de: MICROPROCESADORES


    Grupo: 1711D No. de Práctica: 1
    Nombre de Práctica: HERRAMIENTAS DE PRUEBA PARA EL SISTEMA MÍNIMO
    Profesor: ERNESTO AGUILAR RODRIGUEZ
    Alumno: JUAN ALBERTO CARREÑO VARGAS
    Fecha de realización: 30/09/2021 Fecha de entrega: 07/10/2021
    Semestre: 2022-I

    Práctica 1
    Herramientas de prueba para el sistema mínimo

    Tema

    - 1.1 Elementos de un microcomputador

    Objetivo

    - Implementar un módulo de visualización con leds para probar el estado de las salidas de los
    buses del microprocesador.
    - Implementar un dispositivo de prueba denominado “punta lógica” para probar los estados
    digitales de “0” lógico, “1” lógico y tercer estado “Z”.
    - Comprobar las mediciones de tercer estado sobre un circuito 74LS125.

    Introducción

    Material

    8 Diodo LED Rojo ó barra de 10 leds (deberán adicionarse 2 resistencias de 0.47 kΩ a 1⁄2 W.)
    1 Diodo LED Rojo
    1 Diodo LED Verde
    1 Diodo LED Amarillo
    10 Resistencias de 0.47kΩ a 1⁄2 W.
    1 Resistencias de 1kΩ a 1⁄2 W.
    1 Resistencias de 0.22kΩ a 1⁄2 W.
    1 Resistencias de 47kΩ a 1⁄2 W.
    1 Circuito Integrado 74LS00
    1 Circuito Integrado 74LS125
    1 Transistor BC547
    2 Bananas
    Cables de conexión
    Cable plano (30 cm.)

    Equipo

    1 Multímetro
    1 Tableta de conexiones
    Alambres de conexión

    Procedimiento Experimental
    1. Realizar la simulación del circuito de la figura 1.8 considerando que las entradas de la punta
    serán los estados “1” y “0” lógico a través de las 2 posiciones superiores del switch mostrado
    en la figura 1.7 y el estado de alta impedancia definido por la posición inferior del switch y
    simulada a través de un voltaje de entrada de 3.8 V, entregar al profesor los resultados en forma
    impresa o en formato electrónico.
    2. Alimente el circuito con 5V, así como la compuerta 74LS00 (terminal 14 = 5V. y terminal 7
    = 0V.)
    3. Compruebe el comportamiento del circuito llevando la punta de prueba a los 3 posibles
    estados de un circuito lógico, “1” lógico igual a 5V., “0” lógico igual a 0V. y “Z” alta
    impedancia o tercer estado igual a punta al aire o desconectada y proceda al llenando de la tabla
    1.2.
    4. Implemente el circuito de la figura 1.9 manteniendo el circuito anterior, figura 1.8.
    5. Alimente el circuito 74LS125 con 5V en terminal 14 y 0V en la terminal 7.
    6. Compruebe la tabla de verdad del buffer empleando para ello el circuito de punta lógica
    armado en el punto 1.8.

    Cuestionario

    1. Explique el comportamiento de la compuerta lógica de tercer estado mostrada en la figura


    1.9 considerando la tabla 1.3.
    2. Explique el concepto de compuertas con salida de colector abierto incluyendo el diagrama de
    una compuerta comercial de este tipo.
    3. Explique el concepto de OR alambrada (Wired OR) e indique a través de un diagrama de
    conexiones la forma en que funciona.
    4. Explique porque se requiere que los circuitos de memoria y microprocesadores tengan
    salidas de tercer estado.

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