Superficies y Vacío 19(4), 1-4, diciembre de 2006 ©Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales

Sistema analógico y digital para el control de un obturador con aplicaciones a la

espectroscopia de lente térmica

R. Gutiérrez Fuentes, J.L. Jiménez Pérez

Cicata-IPN, Legaria 694, Col. Irrigación, 11500, México D.F.

A. Cruz-Orea
Physics Department, CINVESTAV-IPN, A.P. 14-740, 07360 México D.F., México
(Recibido: 31 de octubre de 2006; Aceptado: 3 de noviembre de 2006)

Se diseño y construyo un circuito electrónico analógico para controlar un dispositivo electrónico, para el disparo de un
obturador (modelo UNIBLITZ VMM-D1). Paralelamente se desarrollo un programa en Labview para el control
computarizado de este mismo dispositivo. El circuito analógico proporciona un tiempo de abertura mínimo de 10 ms. Por
su parte el programa en Labview nos proporciona un tiempo de abertura de 5 ms y con la opción de regular el número y la
frecuencia de los pulsos del obturador. Este obturador es utilizado para proporcionar pulsos de 40 mW de potencia de un
haz láser de Ar+, generando gradientes térmicos en muestras líquidas. En este trabajo reportamos la aplicación de este
obturador para generar los gradientes térmicos en una solución conteniendo nanopartículas de oro en agua con la finalidad
de obtener su difusividad térmica mediante la técnica de lente térmica. Finalmente discutimos las ventajas y desventajas
de los dos modos de control.

Palabras clave: Efecto térmico; Técnicas fototérmicas; Líquidos; Instrumentación electrónica

It was designed and performed an analogical electronic circuit to control a shutter driver (model UNIBLITZ VMM-D1).
Parallel to this it was developed a Labview program for a computerized control of the same device.The analogical circuit
provides a minimum opening time of 10 ms. On the other hand the program in Labview provides a minimum time for
opening of 5 ms and also with the option to regulate the number and the frequency of the shutter pulses. This shutter is
used to provide pulses with 40mW of power from an Ar+ laser beam, generating thermal gradients in liquid samples. In
this work we reported the application of this shutter to generate thermal gradients in a solution containing gold
nanoparticles in water with the purpose of obtaining its thermal diffusivity by means of the thermal lens technique. Finally
we discussed the advantages and disadvantages between the performed shutter controls.

Keywords: Termal effects; Phototermal techniques; Liquids; Electronic Instrumentation

1. Introducción Para optimizar nuestros recursos se mejoro un dispositivo

que dispara el obturador (modelo UNIBLITZ VMM-D1)
En las técnicas fototérmicas es importante la generación [7]. Este dispositivo carece de un control de disparo
de gradientes térmicos y el control de estos gradientes para interno, y por lo tanto se debe proporcionar en forma
diferentes aplicaciones en la caracterización térmica y externa en diferentes modos. Utilizamos dos de estos
ópticas de materiales [1]. Una forma de generar estos modos para controlar este equipo, uno de forma análoga y
gradientes es por medio de pulsos de luz, los cuales otro de forma digital. De los dos controles podemos
pueden controlarse con diferentes dispositivos como: generar, por medio del shutter un pulso de luz láser de Ar+.
shutter (obturador), chopper (modulador) y Q-Switching Este pulso incide sobre una muestra liquida en la que
(obturador) etc., que pueden producir pulsos luminosos del genera un gradiente térmico, haciendo variar su índice
orden de milisegundos y con sistemas mas complejos se refracción del liquido con su temperatura, esto nos induce a
pueden generar pulsos que llegan al orden de 100 fs formar una lente térmica, al hacer incidir un segundo láser
(femtosegundos) [2,3]. de prueba de He-Ne en esta región donde es posible
detectar la variación de intensidad por medio de un
fotodetector. Esta señal de voltaje es registrada a través de
un osciloscopio y después llevada a una computadora
donde se registran y se procesan los datos [4,5], En la Fig.
1 se muestra el montaje experimental de la lente térmica.
En este trabajo presentamos el diseño y construcción de
un circuito que controla el obturador y un programa en
Labview para el mismo propósito. Un circuito analógico
compuesto de un circuito astable y otro monoestable
genera pulsos con intervalos de tiempo de 10 ms a 2 s
permitiendo variar la frecuencia de estos pulsos con una

Figura 1. Montaje experimental típico para la lente térmica.

1
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resistencia variable en el circuito astable y la elección de la

duración del pulso variando otra resistencia en el circuito
monoestable. Por su parte el programa en Labview
proporciona pulsos desde de 5 ms hasta cientos de
segundos, y frecuencia de los pulsos desde 50 Hz. También
cuenta con la opción de programar el número de pulsos que
deseemos aplicar sobre la muestra. Esto puede servir para
tomar medidas de la difusividad térmica de la muestra
seleccionando el tiempo de exposición, en forma
automática. Finalmente se presenta la señal típica de lente
térmica de una muestra de agua conteniendo nanopartículas
de oro.
Figura 2. Esquema del circuito electrónico controlador del shutter; RA,
RB, C1, son calculados de acuerdo a la ecuación 1; RC, C2, se calculan con 2. Diseño del circuito y programa para el dispositivo de
la ecuación 2; Vcc = 10 volts, C3 y C4 = 10 nF disparo.

En las Figs. 1-4 mostramos el esquema experimental

típico para la técnica de la lente térmica, el circuito
electrónico, el diagrama de bloques del programa en
Labview y en panel frontal para el control del shutter
utilizado en esta técnica respectivamente. En el circuito
electrónico utilizamos dos integrados LM555 (U1 y U2), en
la configuración astable y monoestable respectivamente
[8]. En la salida del circuito astable (terminal 3) obtenemos
un tren de pulsos negativos que provocan que el circuito
monoestable se dispare. La ecuación 1 nos indica la
frecuencia de este tren de pulsos, que es la frecuencia en la
Figura 3. diagrama de bloques del programa para el control del
dispositivo de disparo, en labview 7. que el circuito astable estará operando, si deseamos que el
tiempo entre pulsos este en el rango de 8 s a 23 s, entonces
C1 será de 2.2 μF, RB= 270 KΩ y RA será un resistor
variable de 1 MΩ por lo tanto la frecuencia de operación
del circuito ira de 0.125 Hz a 0.04 Hz. En el momento que
el circuito monoestable recibe un pulso negativo
proveniente del circuito astable (ver Fig. 5), este se dispara
y de acuerdo a la ecuación 2 podemos operar en tiempos de
10 ms a 2 s si hacemos que C2 sea igual a 2.2 μF y Rc sea
una resistencia variable de 1 MΩ. La salida del controlador
se toma de la terminal 3 de U2 (ver Fig. 2) y se conecta al
dispositivo de disparo UNIBLITZ VMM-D1 en la terminal
de disparo análogo (Fig. 8).

1 1.44
f = =
t (R A + 2 R B )C1 (1)

Talto = 1.1RC C 2 (2)

Por otra parte el diagrama de bloques programa en

Labview es mostrado en la Fig. 3. Este sistema consiste en
dos bloques encerrados en un lazo de repetición del número
de veces que sea requerido. El primer bloque proporciona
el carácter @ por el puerto serie, que es el comando que
abre el obturador, además de tener un tiempo de retardo
después de escribir @ y pasar al siguiente bloque, este
Figura 4. panel frontal del programa en labview 7 para el control del tiempo es escrito en milisegundos y su duración depende
dispositivo de disparo.
de la muestra que se analice. El bloque dos escribe un
carácter “A” que proporciona el cierre del obturador,
también cuenta con un tiempo de retardo después de

2
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escribir “A”, este segundo tiempo es el que se interpone

entre cada uno de los pulsos de abertura. El programa
entrega los datos al puerto serie, y son enviados hasta el
conector RS-232C del dispositivo de disparo (ver Fig. 9).
En la figura 4 se muestra el panel frontal del programa en
Labview para el control del dispositivo de disparo.

3. Resultados.

En la figura 5 mostramos la Señal de las diferentes

etapas del control electrónico del obturador y la curva
característica de la lente térmica. Tomado con un
osciloscopio Hewlett-Packard 54502A, grabado y enviado
a una PC, a través de una tarjeta GPIB. En la figura 6
mostramos las señales dadas por el programa en Labview
medido con el mismo osciloscopio. Con el circuito
electrónico obtenemos pulsos en el rango de tiempo de 10
ms a 2 s, que podría variar si cambiamos los elementos
electrónicos, pero para nuestra aplicación este rango de
tiempo es óptimo. También el rango de tiempo entre los
pulsos de 8 s a 23 s podría cambiarse, pero de igual forma
este rango es óptimo para nuestra aplicación. Para el caso
del control con el programa en Labview podemos obtener
pulsos que se pueden medir por el detector a partir de 5 ms
hasta cientos de segundos y la frecuencia de estos pulsos
puede ir de igual forma de 5 ms a cientos de segundos.
Estos pulsos corresponden al láser de Ar+, operando en 514
Figura 5. Señal de las diferentes etapas del control electrónico del
obturador y la curva característica de la lente térmica. Tomado con un nm y potencia de 40 mW. Con uno de estos pulsos
osciloscopio Hewlett-Packard 54502A, grabado y enviado a una PC, a obtenemos un calentamiento de la muestra generando una
través de una GPIB interface bus. variación del índice de refracción en la región que da
origen al gradiente térmico, su duración dependerá del
tiempo critico de la muestra [6]. En la figura 7 mostramos
una curva típica experimental para la lente térmica, después
de que el láser de prueba He-Ne atraviesa una muestra de
agua con nanopartículas de oro, y después de ser irradiada
por un pulso de láser de Ar+ con una duración de 35 ms.
Como observamos el gradiente térmico de la muestra
decrece exponencialmente con el tiempo [5,6]. De este
gradiente térmico obtuvimos la difusividad térmica de la
muestra dando un valor de 13.5±0.2 (10-4 cm2/s) [6]. Estos
experimentos serán utilizados para la determinación de la
difusividad térmica en líquidos que contengan
nanopartículas metálicas.

4. Conclusiones

En este trabajo se ha presentado el funcionamiento de

dos modos de controlar el dispositivo de disparo de un
obturador. El circuito electrónico tiene la ventaja de no
necesitar una computadora para ser operado, tampoco
necesita una fuente externa pues el dispositivo de disparo
proporciona un voltaje de 10 V. para alimentar circuitos de
control. El programa en Labview cuenta con la ventaja de
proporcionar tiempos mas exactos y de mayor duración,
Figura 6. Señal de un pulso dado por el obturador controlado por el
además queda la posibilidad de optimizar el programa para
programa en Labview. Y su respuesta en la lente térmica. la adquisición de datos de forma automática y lograr un
muestreo a diferentes tiempos además de almacenar esos
datos en la computadora para su posterior análisis. Estos

3
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datos experimentales dos modos de controlar el dispositivo de disparo del

0,415 Ajuste del modelo teorico obturador se utilizaran para generar gradientes térmicos y
a los datos experimentales determinar difusividades térmicas por medio de la técnica
Intensidad de la señal (V)

0,410 de lente térmica.

-3
0,405 q=0.10±0.2x10
-4
Agradecimientos
tc (10 )=29.4±0.6 s
0,400
-4 2
D(10 cm )=13.56±0.23 Los autores agradecemos al CONACYT, CGPI-IPN,
0,395
COFAA por el apoyo a través de los proyectos para la
realización de este trabajo.
0,390

Referencias
0,0 0,5 1,0

Tiempo (s) [1] M. Franko, C.D. Tran, Rev. Sci. Instrum. 67, 1 (1996).
Figura 7. Curva experimental de la respuesta de la lente térmica, para [2] J.C., W. Radolph, Ulltrashort laser pulse phenomena,
una muestra de agua con nanopartículas de Au. (Academic Press, San Diego 1996).
[3] M. A. Garcia Arthur, R. R. Rojo, N. Jamasbi and M.
Mohebi, Rev. Méx. Fis. 49, 258 (2003).
[4] J. P. Gordon, R.C.C. Leite, R.S. Moore, S.P.S. Porto and J.R.
Whinnery, J. Appl. Phys. 36, 3 (1965).
[5] J. Shen, R.D. Lowe and R.D. Snook, Chemical Physics 165,
385 (1992).
[6] J. F. Sanchez Ramirez, J.L. Jimenez Perez, A. Cruz Orea, R.
Gutierrez Fuentes, A. Bautista, and U. Pal, J. of Nanoscience
and Nanotechnology, 6, 1 (2006).
[7] UNIBLITZ, VMM-D1, User Manual, 14-0020, Version 1.4.
USA 2002..
[8] R. Boylestad, Electronica teoria de circuitos. Ed. Prentice
Figura 8. Panel de control del dispositivo de disparo, Terminal 1 de Hall 1992.
control a tierra y Terminal 3 entrada de disparo.

Figura 9. Terminales de control del dispositivo de disparo.