INFORME DE LABORATORIO #5

CAPACITOR DE CARAS PLANAS PARALELAS CON DIELECTRICO

Y CONSTANTE DE LA PERMITIVIDAD DEL VACIO

1. OBJETIVO.

Los objetivos de la presente práctica son los siguientes:

a) Establecer las propiedades del capacitor de placas planas

en vacío y con dieléctrico.
b) Verificar la constante de permitividad del vacío o para ello
se utilizarán dos métodos, identificando cual de ellos es
que menor error reporta.
c) Determinar la constante dieléctrica de cualquier material
no conductor.
d) Esta experiencia ayudará a comprender la importancia de
los materiales dieléctricos y, en los experimentos
posteriores ya se tendrá conocimiento sólido sobre todas
las propiedades que presenta un capacitor de tipo
industrial.

2. FUNDAMENTO TEORICO.

Para obtener el modelo matemático del capacitor en función de sus

dimensiones geométricas, se deben hacer algunas suposiciones en el
sistema del capacitor, como: despreciar las líneas marginales ( efecto de
borne), asumir que el campo eléctrico entre ambas placas es constante.
Para el siguiente objetivo, usamos la Ley de GAUSS.
Por la Ley de Gauss, tenemos:

qn
E u n d s
 o

El campo eléctrico es constante, por tanto:

qn qn
E s E
 o
 o s

También conocemos que el potencial, es:

V
V E d E
d

La capacitancia en función de sus magnitudes eléctricas es:

V 1
C V q
q C

Por tanto, estas dos últimas ecuaciones reemplazando en la anterior

igualdad, obtenemos la capacidad en función de sus dimensiones
geométricas:
Por tanto la capacidad es:

qn V qn V d
E
 o s d  s
o
qn  o s

1 d
C  s
o
  o s
C
d

2.1. DETERMINACION DE LA CONSTANTE DIELECTRICA (K) DE UN

MATERIAL.

La primera experimentación consiste en determinar la constante

dieléctrica de los materiales no conductores con la utilización del
capacitor de placas planas paralelas.
Cuando el capacitor tiene un dieléctrico en medio de sus placas, la
ecuación de la capacidad con dieléctrico es proporcional a la capacidad en
vacío, considerando que ambos están sometidos al mismo voltaje.
Entonces la constante del dieléctrico k es el cociente entre la
capacitancia con dieléctrico y la capacitancia en vacío, por tanto k es
proporcional a la permitividad del vacío.

Cd
Cd Co  k  material
k
Co
Qd Qo
Cd Co
V v

Cd es la capacitancia con dieléctrico (F).

Co es la capacitancia sin dieléctrico (F).
Qd es la carga con dieléctrico (C).
Qo es la carga sin dieléctrico (C).

2.2. VERIFICACION DE LA PERMITIVIDAD DEL VACIO.

Para éste objetivo se utilizarán dos métodos de obtener la permitividad

del vacío.
a) Primer método.
Si obtenemos una función de la carga del capacitor vs voltaje, que como
sabemos es una línea recta, cuya constante es la capacitancia; podremos
determinar la permitividad del vacío si conocemos las dimensiones
geométricas del capacitor, por tanto tendremos.

Q bV

Q OS
b C
V d

 O S
Q V
d

Por tanto la permitividad del vacío será:

bd
 O
S

b) Segundo método.
Para este método se deben registrar so cargas eléctricas del capacitor
para distancias diferentes a una tensión constante. Estas distancias
deben ser las más pequeñas para lograr acercarse al valor deseado.
La ecuación para este caso será:

4 Q1  Q2
 O
2 1 1
V   D 
d1 d2

Q1 es la carga a la distancia d1 (C).

Q2 es la carga a la distancia d2 (C ).
d1 distancia (m).
d2 distancia (m).
V Tensión constante (V).
d1 < d2
3. SISTEMA DE EXPERIMENTACION.

N° DESCRIPCION CANTIDAD
1 Capacitor de placas 1
planas y paralelas.
2 Amplificador lineal 1
de carga.
3 Fuente de 1
alimentacion.
4 Voltímetro. 1
5 Vidrio 1

4. MONTAJE DEL SISTEMA DE EXPERIMENTACION.

1 3
0
4

Fuente de
alimentacion Amplificador
Placas planas
lineal de carga

+
-
V
- +

As

V
5. EJECUCION.

Una vez realizado el montaje del sistema de experimentación,

energizado y calibrado de los instrumentos se sigue los siguientes pasos:

5.1. PRIMER METODO PARA VERIFICAR LA o

Este resultado es muy aceptable cuando la distancia de separación entre

las placas es muy pequeña.
- Las placas del capacitor se colocan a una distancia de
separación de algo menos de 1mm. Para obtener buenos
resultados.
- Se registran los valores iniciales para aplicar el criterio de
las condiciones iniciales del experimento.
- La tensión se incrementa a intérvalos regulares, y para
cada intérvalo, se mide la respectiva carga eléctrica en una
de las placas. Después de cada lectura se debe tener
cuidado de descargar la carga eléctrica del sistema.

5.2. SEGUNDO METODO PARA VERIFICAR o

Se debe tener en cuenta, que la distancia debe ser muy pequeñas para
evitara la influencia del efecto de borne.
- Se elige una distancia pequeña, de 1mm.
- Se aplica una tensión continua al capacitor.
- Se registra las cargas eléctricas por medio del amplificador
lineal de carga, luego se descarga.
- Aplicando la misma tensión a las placas se aumenta lla
distancia de separación en 1mm.
- Se registra nuevamente las cargas eléctricas de una de las
placas.
5.3. CAPACIDAD EN VACIO Y CON DIELECTRICO.
- La distancia de separación entre placas lo constituye el
espesor del material dieléctrico, de manera que se
introduce primero, el dieléctrico y se cierran las placas
hasta eliminar la holgura, luego se registra con el nonius el
espesor d(mm).
- Luego se extrae el material dieléctrico, y el capacitor queda
en vacío.
- Se suministra una tensión entre placas, el cual se
mantendrá constante en toda la experimentación.
- Por medio del recolector de cargas, se obtiene la carga
eléctrica almacenada en un a de las placas en vacío.
- Luego, sin hacer ninguna modificación se introduce
cuidadosamente el material dieléctrico entre las placas.
- Con el cable recolector se obtiene la carga eléctrica, el cuál
se registra.

6. REGISTRO DE DATOS.

6.1. DATOS PARA EL PRIMER METODO DE VERIFICACION DE o

DIAMETRO D(mm) DISTANCIA d(mm)

25.5 3

N° TENSION (V) CARGA (C.)

1 0 0
2 25 0.18*E-8
3 50 0.4*E-8
4 75 1.05*E-8
5 100 1.42*E-8
6 125 1.75*E-8
7 150 2.1*E-8
8 175 2.35*E-8
9 200 2.75*E-8
10 225 3.1*E-8
6.2. DATOS PARA EL SEGUNDO METODO DE VERIFICACION.

Distancia d1 Q1 carga (c) Distancia d2 mm Q2 carga Tension (v)

3 1.5*E-8 4 1.31*E-8 110

6.3. DETERMINACION DE LA CONST. DIELECTRICA DEL MATERIAL.

N MATERIAL Vo (V) Qo (c) Vd (V) Qd (C)

1 Vidrio 100 0.15*E-8 100 0.75*E-8

7. PROCESAMIENTO DE DATOS Y GRAFICOS.

7.1. DIAGRAMA DE DISPERSION Y AJUSTE A UNA FUNCIÓN ANALITICA.
a. Diagrama de dispersión.
b. Coeficiente de correlación 0.995948
c. Modelo matemático:
Q= 1.433E-1 V

7.2. DETERMINACION DE o PRIMER METODO.

 O S
Q V b  10
1.43310 d 3 D 25.5
d

 D
2
S S  510.705
4

bd 13
o  o  8.418 10
S
7.3. DETERMINACION DE o SEGUNDO METODO.

1.5 10 1.31 10
8 8
Q1 Q2 d1 3 d2 4

V 110 D 25.5

4  Q1 Q2

2 1 1
V   D 
d1 d2
13
  4.059 10

7.4. CONSTANTE DIELECTRICA DELMATERIAL.

N MATERIAL Vo (V) Qo (c) Vd (V) Qd (C) K

1 Vidrio 100 0.15*E-8 100 0.75* E-8 5

8. PROPIEDADES DEL SISTEMA DE EXPERIMENTACION.

a. Cómo varía la capacidad del capacitor con y sin dieléctrico.

La capacidad del capacitor aumenta con un diléctrico. Como
sabemos un aterial dieléctrico no tiene electrones libres pero si
tienen moléculas dipolares en mayor o menor cantidad,
dependiente del material .

b. El significado físico del dieléctrico en el capacitor,

El material dieléctrico induce más cargas (movimiento de
cargas), de una de las placas, debido a que sus moléculas
polares toman una dirección cuando son sometidas al campo
eléctrico existente entre las placas.

c. El significado físico de la constante de permitividad del vacio.

 La permitividad del vacío es una barrera que impide que los
electrones se muevan libremente a través del aire. La
resistencia de la permitividad del vacío puede ser vencida
cuando existe un desequilibrio eléctrico demasiado grande
entre un punto y otro.

9. CUESTIONARIO
.
9.1. Por qué, la realizar el procesamiento de datos para obtener
el valor de la permitividad, por el primer método no es igual al
valor real de la permitividad del vacío?
Debemos considerar que en un experimento siempre se
presentan errores, mucho más si en éste experimento
hemos supuesto que no hay efecto de borne.
9.2. Que condiciones o suposiciones permiten que la capacidad
en función de sus dimensiones geométricas y la capacidad en
función de sus magnitudes eléctricas se iguale para obtener el
valor de la permitividad del vacío.
Las consideraciones que se hacen, es el de considerar que
las dimensiones del capacitor son infinitas, de ésta manera
estamos eliminando el efecto de borne, y el campo eléctrico
entre las dos placas es perfectamente constante.
9.3. Cuando se introduce el dieléctrico en el interior del
capacitor, se observó que la carga aumenta o disminuye?.
Explique según su respuesta, como influye en el valor de la
capacidad y el porqué del aumento o disminución
Cuando se introduce un dieléctrico entre las placas de un
capacitor éste siempre aumentará su capacitancia, en
mayor o menor magnitud, dependiendo del material del
dieléctrico.
El material dieléctrico induce más cargas (movimiento de
cargas), de una de las placas, debido a que sus moléculas
 polares toman una dirección cuando son sometidas al campo
eléctrico existente entre las placas.
.
9.4. Se prodría usar un dieléctrico de material conductor para el
capacitor?
La función de un capacitor es almacenar la energía, en el
campo que se establece entre las dos placas, si colocamos
un conductor en medio de las placas, éste conducirá los
electrones de una placa a otra hasta lograr el equilibrio, y
no existirá un campo eléctrico entre las dos placas.
9.5. Si se toma como ejemplo el dieléctrico de vidrio, éste tiene
un solo valor de permitividad del material?, por qué?
El vidrio puede tener muchos valores de permitividad,
porque existen muchas clases de vidrio, los cuales poseen
mayor o menor cantidad de moléculas polares.
9.6. Si se colocan dieléctricos unos a continuación de otros de la
mismas dimensiones geométricas, el valor de la capacidad
aumenta o disminuye?
Por su puesto que aumenta, ya que se aportará con mayor
número de moléculas polares.