transfer device failとは 意味・読み方・使い方

To increase overall operation efficiency of a semiconductor memory inspection device by obtaining only necessary fail information from a fail memory to transfer and store it in an external storage device.例文帳に追加

必要なフェイル情報だけをフェイルメモリから取得して外部記憶装置に転送格納することにより、半導体メモリ検査装置全体の稼働効率を高めること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device in which a test time can be shortened by improving transfer efficiency of fail information.例文帳に追加

主として、フェイル情報の転送効率を改善することで試験時間の短縮を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A semiconductor test device 100 determines pass/fail by applying a test signal from a data generator 12 to a DUT 40 and comparing the output signal and an expected value at a comparator 51, and improves testing efficiency by performing burst transfer of the fail data obtained at this time to a collection memory 18.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、データジェネレータ１２からＤＵＴ４０に対して試験信号を印加し、その出力信号と期待値とをコンパレータ５１で比較してパス／フェイルを判定するが、このとき得られるフェイルデータを収集メモリ１８にバースト転送して試験効率を向上する。 - 特許庁

To obtain a portable terminal device and a data transfer control program with which a user can select data to be transferred from among a plurality of data to be transferred and easily start transfer without fail, even if the plurality of data are to be transferred.例文帳に追加

転送の対象となるデータが複数存在する場合にも、その中から転送するデータを選択して、しかも転送の開始自体は間違いない操作で簡易に行うことのできる携帯端末装置およびデータ転送制御プログラムを得る。 - 特許庁

Concerning the serial data transfer device for a microcomputer having a bus connecting interface with an external device, a bus connecting data terminal is not always driven but is not used at all when there is no bus cycle, and a fixed non-using period exists even during a bus cycle period without fail.例文帳に追加

外部デバイスとのバス接続インターフェースを有するマイコンのシリアルデータ転送装置において、バス接続データ端子は、常にドライブされているわけではなくバスサイクルが無い場合は全く使われず、バスサイクル期間中でも必ず一定の未使用期間が存在する。 - 特許庁

The semiconductor memory test device, which is configured to transfer failure data to the buffer memory from a fail memory, is provided with a failure counter part for counting the total number of failures for every page at the same time when failure data is transferred to a buffer memory.例文帳に追加

フェイルメモリからバッファメモリへフェイルデータを転送するように構成された半導体メモリ試験装置において、バッファメモリへのフェイルデータの転送と同時にページ毎の総フェイル数をカウントするフェイルカウンタ部を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

A semiconductor test device 10 is provided with an address generator 13 generating a two-dimensional address given to a DUT 40, an address conversion part 16 converting the two-dimensional address A2 generated by the address generator 13 to one-dimensional address A4, and a collection memory controller 17 performing burst-transfer of fail data D3 output from a comparator 14 using an address A4 to a correction memory 18.例文帳に追加

半導体試験装置１０は、ＤＵＴ４０に与える二次元アドレスを生成するアドレスジェネレータ１３、アドレスジェネレータ１３が生成した二次元のアドレスＡ２を一次元のアドレスＡ４に変換するアドレス変換部１６、及びアドレスＡ４を用いてコンパレータ１４から出力されるフェイルデータＤ３を収集メモリ１８にバースト転送する収集メモリコントローラ１７を備える。 - 特許庁