teg-2とは 意味・読み方・使い方

A flip chip mounting evaluating TEG chip 1 having locations as a wiring width and a wiring interval of a minimum pitch part of a semiconductor chip in which the wiring connecting electrodes 2 with each other is an object of evaluation is combined with a TEG substrate 4 forming a wiring electrode 5 opposing to the electrode 2 of the TEG chip 1.例文帳に追加

電極２同士をつなぐ配線が評価対象となる半導体チップの最小ピッチ部の配線幅、配線間隔となる箇所を持つフリップチップ実装評価用ＴＥＧチップ１と、ＴＥＧチップ１の電極２と相対する配線電極５を形成したＴＥＧ基板４を組み合わせた。 - 特許庁

When the electric measurement of the TEG 1 is carried out, and conductive foreign matters are brought into contact with two or more electric wiring 4, the wiring units 2 of the TEG 1 is short-circuited.例文帳に追加

このＴＥＧ１の電気的測定を行うと、導電性の異物が２つ以上の電気配線４と接触している場合には、ＴＥＧ１の配線ユニット２の間が短絡する。 - 特許庁

This TEG for foreign matter detection is provided with one linear electric wiring 4, and a wiring unit 2 equipped with a measuring electrode 3 at one side of the electric wiring 4, and electric measurement is performed by the TEG 1 where the wiring units 2 are arranged like a comb with the measuring electrodes 3 alternately lined up.例文帳に追加

１つの直線状の電気配線４と、その電気配線４の片側に測定電極３を備えた配線ユニット２を備え、その配線ユニット２を測定電極３が互い違いになるように櫛型に配置したＴＥＧ１で電気的測定を行う。 - 特許庁

First electrode pad 12 to third electrode pad 14 are respectively contacted with first probe pin 31 to third probe pin 33, and a TEG chip 1 is electrically connected to a measuring apparatus 2.例文帳に追加

第１電極パッド１２〜第３電極パッド１４と第１プローブピン３１〜第３プローブピン３３とを夫々接触して、ＴＥＧチップ１と測定装置２とを電気的に接続する。 - 特許庁

The semiconductor device includes a plurality of evaluated elements (TEG) 2, a monitoring element 4 for monitoring a current value or voltage value applied to the plurality of evaluated elements 2 respectively, a plurality of first electrode pads 1 connected to respective one ends of the plurality of evaluated elements 2, and a second electrode pad 3 connected to one end of the monitoring element 4.例文帳に追加

半導体装置は、複数の被評価素子（ＴＥＧ）２と、複数の被評価素子２のそれぞれに印加される電流値又は電圧値をモニタするモニタ用素子４と、複数の被評価素子２のそれぞれの一端と接続された複数の第１の電極パッド１と、モニタ用素子４の一端と接続された第２の電極パッド３とを有している。 - 特許庁