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Silicon copperとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 けい素銅; 珪銅; 珪素銅
「Silicon copper」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 312件
COPPER CLAD SILICON NITRIDE CIRCUIT BOARD例文帳に追加
銅貼り窒化珪素回路基板 - 特許庁
REMOVAL TREATMENT METHOD FOR SILICON-CONTAINING COPPER ALLOY MATERIAL例文帳に追加
シリコン含有銅合金材の酸化膜除去処理方法 - 特許庁
Silicon-containing copper forming the silicon solid solution 106 is kept in a state in which silicon is introduced as an interstitial element or a substitutional element while the silicon-containing copper maintains a copper crystal structure (face-centered cubic lattice;lattice constant 3.6Å).例文帳に追加
シリコン固溶層106を構成するシリコン含有銅は、銅の結晶構造(面心立方格子;格子定数3.6オングストローム)を維持しつつ格子間元素または置換元素としてシリコンが導入された状態となっている。 - 特許庁
A silicon nitride film 23 is formed above the copper wiring 22 and the silicon oxide film containing carbon.例文帳に追加
銅配線22および炭素含有シリコン酸化膜の上方にはシリコン窒化膜23が形成されている。 - 特許庁
Further, in order to prevent the reaction of the copper with a silicon component, a copper compound layer is further formed under the copper layer.例文帳に追加
さらに、銅がシリコン成分と反応することを防止するために、銅層の下部に銅化合物層をさらに形成した構成を有している。 - 特許庁
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「Silicon copper」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 312件
STABILIZED ALKAENE COPPER COMPLEX CONTAINING SILICON AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
安定化された珪素含有アルケン銅錯体及びその製造方法 - 特許庁
A copper interconnect line 107 is composed of a silicon low-concentration region 104 and a silicon solid solution 106 provided on the silicon low-concentration region 104.例文帳に追加
銅配線107を、シリコン低濃度領域104と、その上部に設けられたシリコン固溶層106からなる構成とする。 - 特許庁
A silicon nitride film 23 of several nm in thickness, the cavity 24 of 50 nm in width, a silicon nitride film 23, a silicon oxide film 25 containing carbon, a silicon nitride film 23, a cavity 24, a silicon nitride film 23, and copper wiring 22, are formed in order between the copper wirings 22.例文帳に追加
銅配線22の間には、数nmのシリコン窒化膜23、幅50nmの空洞24、シリコン窒化膜23、炭素含有シリコン酸化膜25、シリコン窒化膜23、空洞24、シリコン窒化膜23、銅配線22が順に形成されている。 - 特許庁
A copper fuse 1 and a copper wiring 5 that could be cut by a laser beam are formed on a silicon substrate so that the film thickness of the copper fuse 1 is thinner than that of the other copper wiring 5 in the same layer.例文帳に追加
レーザ光により切断可能な銅ヒューズ1と銅配線5をシリコン基板上に形成したものにおいて、銅ヒューズ1の膜厚が同層の他の銅配線5の膜厚よりも薄くなるように形成する。 - 特許庁
After forming on a silicon substrate 1 a copper-plated film containing impurities, the copper-plated film is so subjected to a crystal growth as to form a first copper film 9c comprising a plurality of copper grains and the impurity layers distributed in their grain boundaries.例文帳に追加
不純物を含む銅めっき膜をシリコン基板1の上に成膜した後、銅めっき膜を結晶成長させて、複数の銅結晶粒とそれらの粒界に分布する不純物層とで構成された第一銅膜9cを形成する。 - 特許庁
A copper thin film (base layer) 1 is formed on the surface of the silicon substrate 2, and a Mo/Si multilayer film 3 is formed on the copper thin film 1.例文帳に追加
シリコン基板2の表面には、銅薄膜(下地層)1が成膜されており、銅薄膜1の上にMo/Si多層膜3が成膜されている。 - 特許庁
To provide a method for removing silicon nitride film on a copper interconnection by etching, while suppressing generation of copper fluoride.例文帳に追加
銅配線上のシリコン窒化膜をエッチング除去する際に、銅フッ化物の生成を抑制したエッチング方法を提供する。 - 特許庁
The first surface treatment is preferably a process to selectively remove at least either copper compounds or silicon compounds from the copper film.例文帳に追加
第1の表面処理は、銅化合物及びシリコン化合物の少なくとも一方を銅膜に対して選択的に除去する処理であることが好ましい。 - 特許庁
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