参照試料の英語

次いで、測定部位１３の近傍に、試料２０を貫通する参照光用穴２４を形成する。例文帳に追加

Next, a hole 24 for reference light penetrating through the sample 20 is formed near the measuring part 13. - 特許庁

生物学的材料の試料が寄託されている寄託機関及び機関が試料に付与した参照番号例文帳に追加

The depositary institution with which a sample of biological material has been deposited and the reference number that the institution has accorded the sample; - 特許庁

これにより、未知試料のイオンと参照標準試料のイオンは同一条件で質量分離される。例文帳に追加

Hereby, mass spectrometry of both the ions of the unknown sample and the ions of the reference standard sample can be executed under the same conditions. - 特許庁

試料セル２００は、入射する光ビームの一部を透過するとともに残りを反射することにより、試料２０６を通る試料光ビームと試料２０６を通らない参照光ビームとを作り出す参照面２０２と、試料２０６を間に挟んで参照面２０２に対して平行に位置する反射面２０４とを有している。例文帳に追加

The sample cell 200 has a reference surface 202 for generating sample light beams passing through the sample 206 and reference light beams not passing through the sample 206 by transmitting a part of the incident light beams and reflecting the residual part, and a reflection surface 204 positioned in parallel with the reference surface 202 across the sample 206. - 特許庁

また、バッファーロッドと、固体試料（或いは固体参照試料）との間にスペーサを設置することにより、バッファーロッドと固体試料（或いは固体参照試料）との距離、及び、平行度を調節する機構を不要とし、装置の小型化と計測の簡便化を可能とする。例文帳に追加

Further, a mechanism for regulating the distance and parallelism of a buffer rod and a solid sample (or a solid reference sample) is dispensed with by installing a spacer between the buffer rod and the solid sample (or the solid reference sample) to enable the miniaturization of the measuring instrument and the simplification of measurement. - 特許庁

参照電極を二つに分け、試料が該二つに分けた参照電極の一方にしか接触していない場合に、不十分な試料であるとして使用者に知らせる電気化学的センサ。例文帳に追加

The electrochemical sensor having two split reference electrodes informs a user of a fact that a specimen is insufficient when the specimen is in contact with only one of the two split reference electrodes. - 特許庁

試料を分析装置に注入する際は、サンプリングニードル５を試料容器３上まで移動させた後（（Ａ）を参照。）、サンプリングニードル５を先端部がセプタム２６を貫通するまで降下させる（（Ｂ）を参照。）。例文帳に追加

When the sample is injected into an analyzing apparatus, a sampling needle 5 is moved to a position above a sample container 3 (see (A)), and then the sampling needle 5 is moved down so that the tip of the sampling needle 5 penetrates the septum 26 (see (B)). - 特許庁

参照画像には、画像取得部４によって得られた試料表面の画像、セル参照画像生成部３０１からの画像、ＣＡＤデータ参照画像生成部３０２からの画像が含まれる。例文帳に追加

The reference image includes an image of a sample surface acquired by an image acquiring section 4; an image from a cell reference image producing section 301; and an image from a CAD data reference image producing section 302. - 特許庁